一種顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供一種顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法，所述檢測(cè)電路包括：第一掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k+1行像素單元的主掃描線(xiàn)，第二掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k行像素單元的主掃描線(xiàn)，根據(jù)第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)；當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第一時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)連接至第k行像素單元的主掃描線(xiàn)，當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第二時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)斷開(kāi)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)不能檢測(cè)顯示面板異常的技術(shù)問(wèn)題，提高了顯示效果。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示器領(lǐng)域，特別是涉及一種顯示面板的檢測(cè)電路及使用方法。

【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的顯示面板包括多個(gè)像素單元，每個(gè)像素單元包括主像素部和子像素部，為了解決大視角色偏的問(wèn)題，通常將主像素部的亮度設(shè)置成大于子像素部的亮度，從而提高顯示效果。
[0003]現(xiàn)有的檢測(cè)電路1，如圖1所示，其包括第一掃描檢測(cè)線(xiàn)11和第二掃描檢測(cè)線(xiàn)12、公共檢測(cè)線(xiàn)13，像素單元101-105，每行像素單元對(duì)應(yīng)設(shè)置有公共電極線(xiàn)14、主掃描線(xiàn)15和次掃描線(xiàn)16，其中奇數(shù)行的像素單元101、103、105的主掃描線(xiàn)連接第一掃描檢測(cè)線(xiàn)11，偶數(shù)行的像素單元102或者104的主掃描線(xiàn)連接第二掃描檢測(cè)線(xiàn)12，且第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)連接第k行像素單元的主掃描線(xiàn)(k彡0，m彡I)?，F(xiàn)有的檢測(cè)電路，只能檢測(cè)主像素部和子像素部能否發(fā)亮。
[0004]但是，如果在制程中分享電容與子像素部的像素電極之間存在著ITO(透明導(dǎo)電層)殘留，會(huì)造成子像素部的像素電極和分享電容之間出現(xiàn)短路，從而使得子像素部的亮度不能被拉低。當(dāng)子像素部的像素電極充電時(shí)，分享電容也充電，使得兩者電位相同，當(dāng)子像素部的像素電極充完電時(shí)，由于分享電容的上極板與子像素部的像素電極電位相同，使得子像素部不能向分享電容分享一部分電荷，導(dǎo)致子像素部的電位無(wú)法被拉低，此時(shí)子像素部的亮度出現(xiàn)異常，即顯示面板出現(xiàn)異常。因此有必要對(duì)顯示面板的異常進(jìn)行檢測(cè)；而使用現(xiàn)有的檢測(cè)電路并不能檢測(cè)顯示面板的異常。
[0005]故，有必要提供一種顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)電路不能檢測(cè)顯示面板異常的技術(shù)問(wèn)題，以提高顯示效果。
[0007]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板的檢測(cè)電路，所述顯示面板包括陣列基板，所述陣列基板包括:
[0009]數(shù)據(jù)線(xiàn)、掃描線(xiàn)、以及由所述數(shù)據(jù)線(xiàn)和所述掃描線(xiàn)限定的多個(gè)像素單元，所述多個(gè)像素單元組成多行像素單元，所述像素單元對(duì)應(yīng)設(shè)置有主掃描線(xiàn)、次掃描線(xiàn)、公共電極線(xiàn)；
[0010]其中每個(gè)所述像素單元包括主像素部和子像素部；所述主掃描線(xiàn)，用于控制所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，使所述主像素部和所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)；所述次掃描線(xiàn)，用于控制所述子像素部進(jìn)行電荷分配，使所述子像素部轉(zhuǎn)換為第二顯示狀態(tài)；
[0011]所述檢測(cè)電路包括:
[0012]第一掃描檢測(cè)線(xiàn)和第二掃描檢測(cè)線(xiàn)，分別用于向所述像素單元提供掃描信號(hào)；
[0013]公共檢測(cè)線(xiàn)，連接每行所述像素單元的公共電極線(xiàn)，用于向每行所述像素單元提供公共信號(hào)；
[0014]其中所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k+l行像素單元的主掃描線(xiàn)，所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k行像素單元的主掃描線(xiàn)，根據(jù)第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)；
[0015]當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第一時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)連接至第k行像素單元的主掃描線(xiàn)；當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第二時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)斷開(kāi)，其中所述第一時(shí)間段大于所述第二時(shí)間段，k彡0，m彡I。
[0016]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路中，所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)上設(shè)置有薄膜晶體管；根據(jù)所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制所述薄膜晶體管的斷開(kāi)和閉合。
[0017]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路中，所述薄膜晶體管的柵極連接所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)；所述薄膜晶體管的源極連接所述第k行像素單元的主掃描線(xiàn)；所述薄膜晶體管的漏極連接所述第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)。
[0018]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路中，所述檢測(cè)電路包括亮度檢測(cè)裝置，所述亮度檢測(cè)裝置用于將所述次像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成檢測(cè)結(jié)果。
[0019]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路中，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度異常。
[0020]本發(fā)明還提供一種上述檢測(cè)電路的使用方法，其包括:
[0021]向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，向所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，以對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，且在所述第一時(shí)間段內(nèi)，所述第2k+l行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和；
[0022]在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓，以對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述主像素部繼續(xù)充電，對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述子像素部不進(jìn)行充電；
[0023]檢測(cè)所述第2k+l行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果。
[0024]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法中，所述方法還包括:
[0025]向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，向所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，以對(duì)所述第2k行像素單元的所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，且在所述第一時(shí)間段內(nèi)，所述第2k行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和；
[0026]在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓，以對(duì)所述第2k行像素單元的所述主像素部繼續(xù)充電，對(duì)所述第2k行像素單元的所述子像素部不進(jìn)行充電；
[0027]檢測(cè)所述第2k行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果。
[0028]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法中，將所述次像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成所述檢測(cè)結(jié)果。
[0029]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法中，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度異常。
[0030]在本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法中，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度小于或等于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度正常。
[0031]本發(fā)明的顯示面板的檢測(cè)電路及其使用方法，通過(guò)薄膜晶體管控制其中一行像素單元的次掃描線(xiàn)和另一行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)，解決了現(xiàn)有檢測(cè)電路不能檢測(cè)顯示面板異常的技術(shù)問(wèn)題，從而提高顯示效果。
[0032]為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉優(yōu)選實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說(shuō)明如下:

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0033]圖1為現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034]圖2為本發(fā)明的液晶顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0035]以下各實(shí)施例的說(shuō)明是參考附加的圖式，用以例示本發(fā)明可用以實(shí)施的特定實(shí)施例。本發(fā)明所提到的方向用語(yǔ)，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內(nèi)」、「外」、「?jìng)?cè)面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語(yǔ)是用以說(shuō)明及理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。
[0036]在圖中，結(jié)構(gòu)相似的單元是以相同標(biāo)號(hào)表示。
[0037]請(qǐng)參照?qǐng)D2，圖2為本發(fā)明的液晶顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0038]所述液晶顯示面板包括陣列基板、彩膜基板以及設(shè)置在所述陣列基板和所述彩膜基板之間的液晶層，所述陣列基板包括:
[0039]數(shù)據(jù)線(xiàn)、掃描線(xiàn)、以及由所述數(shù)據(jù)線(xiàn)和所述掃描線(xiàn)限定的多個(gè)像素單元，所述多個(gè)像素單元組成多行像素單元201-205，每行所述像素單元對(duì)應(yīng)設(shè)置有公共電極線(xiàn)24、主掃描線(xiàn)25、次掃描線(xiàn)26 ；
[0040]其中每個(gè)所述像素單元包括主像素部和子像素部；所述主掃描線(xiàn)24控制所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電:當(dāng)所述主掃描線(xiàn)24輸入信號(hào)為高電平時(shí)，向所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，當(dāng)所述主掃描線(xiàn)24輸入信號(hào)為低電平時(shí)，不向所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，使所述主像素部和所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)；其中在第一顯示狀態(tài)時(shí)，所述主像素部和所述子像素部都處于充電狀態(tài)。
[0041]所述次掃描線(xiàn)，用于控制所述子像素部進(jìn)行電荷分配，使所述子像素部轉(zhuǎn)換為第二顯示狀態(tài)；其中在第二顯示狀態(tài)時(shí)，所述子像素部的電荷進(jìn)行重新分配即分享電容分享子像素部上的電荷，使得所述子像素部的亮度小于主像素部的亮度。
[0042]所述檢測(cè)電路包括:
[0043]第一掃描檢測(cè)線(xiàn)21和第二掃描檢測(cè)線(xiàn)22，分別用于向所述像素單元提供掃描信號(hào)；公共檢測(cè)線(xiàn)23，連接每行所述像素單元的公共電極線(xiàn)24，用于向每行所述像素單元提供公共信號(hào)；
[0044]所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)21連接第2k+l行(奇數(shù)行)像素單元的主掃描線(xiàn)，所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)22連接第2k行(偶數(shù)行)像素單元的主掃描線(xiàn)，根據(jù)第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)；當(dāng)然所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)22也可連接第2k+l行像素單元的主掃描線(xiàn)，所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)21連接第2k行(偶數(shù)行)像素單元的主掃描線(xiàn)。
[0045]當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第一時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)連接至第k行像素單元的主掃描線(xiàn)，其中所述第一時(shí)間段內(nèi)所述第k+2m行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和；當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第二時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)斷開(kāi)。第二時(shí)間段內(nèi)，不再對(duì)所述子像素部進(jìn)行充電，其中k>0，m多1，所述第一時(shí)間段大于所述第二時(shí)間段。
[0046]優(yōu)選地，所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)上設(shè)置有薄膜晶體管；根據(jù)所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制所述薄膜晶體管的斷開(kāi)和閉合，從而控制第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接或者斷開(kāi)。
[0047]所述薄膜晶體管的柵極連接所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)；所述薄膜晶體管的源極連接所述第k行像素單元的主掃描線(xiàn)；所述薄膜晶體管的漏極連接所述第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)。
[0048]譬如第3行像素單元203的子掃描線(xiàn)，通過(guò)其公共線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管31連接至第I行像素單元201的主掃描線(xiàn)，第4行像素單元204的子掃描線(xiàn)，通過(guò)其公共線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管32連接至第2行像素單元202的主掃描線(xiàn)，第5行像素單元205的子掃描線(xiàn)，通過(guò)其公共線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管33連接至第3行像素單元203的主掃描線(xiàn)。(圖2僅以5行像素單元舉例說(shuō)明)
[0049]可以理解的是，上述連接方式也可以是，第k+2m行像素單元的主掃描線(xiàn)通過(guò)薄膜晶體管連接第k行像素單元的次掃描線(xiàn)，譬如第3行像素單元203的主掃描線(xiàn)，通過(guò)其公共線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管連接至第I行像素單元201的次掃描線(xiàn)。
[0050]譬如所述主像素部和子像素部達(dá)到電荷飽和的時(shí)間為10秒鐘，在前8秒內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入電壓為高電平，使所述薄膜晶體管閉合，在最后2秒內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入電壓為低電平，使所述薄膜晶體管斷開(kāi)。
[0051]所述檢測(cè)電路包括亮度檢測(cè)裝置(圖中未示出)，所述亮度檢測(cè)裝置用于將所述次像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成檢測(cè)結(jié)果。當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度異常。當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度小于或等于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度正常。
[0052]本發(fā)明的檢測(cè)電路的使用方法流程，包括以下步驟:
[0053]在檢測(cè)過(guò)程中分別對(duì)奇數(shù)行和偶數(shù)行像素單元的子像素部的亮度異常進(jìn)行檢測(cè)，首先，檢測(cè)奇數(shù)行像素單元的子像素部的亮度異常；
[0054]S201、向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，向所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓；
[0055]由于奇數(shù)行像素單元的主掃描線(xiàn)連接第一掃描檢測(cè)線(xiàn)，當(dāng)所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為高電平時(shí)(將輸入兩條掃描檢測(cè)線(xiàn)的高電平電壓稱(chēng)為第一高電平電壓，所述第一高電平譬如為8v或者6v)，能夠?qū)λ龅?k+l行像素單元的所述主像素部進(jìn)行充電；由于偶數(shù)行像素單元的主掃描線(xiàn)連接第二掃描檢測(cè)線(xiàn)，當(dāng)所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第一低電平電壓時(shí)(將輸入兩條掃描檢測(cè)線(xiàn)的低電平電壓稱(chēng)為第一低電平電壓，所述第一低電平譬如小于等于Ov)，不能夠?qū)λ龅?k行像素單元的所述主像素部進(jìn)行充電。
[0056]且由于公共檢測(cè)線(xiàn)連接每行所述像素單元的公共電極線(xiàn)，當(dāng)所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第二高電平電壓(將輸入所述公共檢測(cè)線(xiàn)的高電平電壓稱(chēng)為第二高電平電壓，譬如6v)時(shí)，此時(shí)所述公共檢測(cè)線(xiàn)上的薄膜晶體管閉合，從而也能夠?qū)λ龅?k+l行像素單元的所述子像素部進(jìn)行充電。由于僅在所述第一時(shí)間段內(nèi)(所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)中的第一時(shí)間段內(nèi))，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，所述第2k+l行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和，即奇數(shù)行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的并未充滿(mǎn)電；
[0057]結(jié)合圖2，此時(shí)第1、3、5行像素單元的主掃描線(xiàn)以及公共電極線(xiàn)的輸入電壓都為高電平，第3、5行像素單元的公共電極線(xiàn)上的薄膜晶體管31、33閉合，因此第I行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)能夠傳遞到第3行像素單元的次掃描線(xiàn)上，第3行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)能夠傳遞到第5行像素單元的次掃描線(xiàn)上，對(duì)第1、3行像素單元的所述主像素部和所述子像素部同時(shí)充電。
[0058]S202、在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓；
[0059]由于此時(shí)所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓仍為第一高電平電壓，能夠?qū)λ龅?k+l行像素單元的所述主像素部繼續(xù)進(jìn)行充電，但是所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第二低電平電壓(譬如Ov)時(shí)，此時(shí)所述公共檢測(cè)線(xiàn)上的薄膜晶體管斷開(kāi)，第k行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)不能傳遞到第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)上，從而不能夠?qū)λ龅?k+l行像素單元的所述子像素部繼續(xù)進(jìn)行充電。
[0060]此時(shí)雖然第1、3、5行像素單元的主掃描線(xiàn)的輸入電壓為高電平，但是它們的公共電極線(xiàn)的輸入電壓為低電平，使得第3、5行像素單元的公共電極線(xiàn)上的薄膜晶體管31、33斷開(kāi)，因此第I行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)不能傳遞到第3行像素單元的次掃描線(xiàn)上、第3行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)不能傳遞到第5行像素單元的次掃描線(xiàn)上，因此僅對(duì)所述第1、3、5行像素單元的所述主像素部繼續(xù)進(jìn)行充電。
[0061]譬如所述主像素部和子像素部達(dá)到電荷飽和的時(shí)間為10秒鐘，在前8秒內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入6v電壓，使所述薄膜晶體管閉合，在最后2秒內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入Ov電壓，使所述薄膜晶體管斷開(kāi)。
[0062]S203、檢測(cè)所述第2k+l行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果O
[0063]在S202結(jié)束后，所述第2k+l行像素單元的所述主像素部充電結(jié)束，使得所述主像素部的電壓大于所述子像素部的電壓。
[0064]當(dāng)顯示面板正常時(shí)，由于公共電極線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管的控制作用，使得所述主像素部和所述子像素部的電壓不同，因此所述主像素部的亮度大于所述子像素部的亮度。當(dāng)顯示面板異常時(shí)，由于子像素部出現(xiàn)短路，使得公共電極線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管的控制作用失效，在第二時(shí)間段內(nèi)，所述子像素部也在充電，最終所述主像素部的亮度等于所述子像素部的亮度。
[0065]在判斷顯示面板是否異常時(shí)，將奇數(shù)行像素單元的所述子像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成所述檢測(cè)結(jié)果，所述預(yù)設(shè)亮度閾值譬如為整個(gè)顯示面板的全部像素單元的子像素部亮度的平均值，當(dāng)其中有一個(gè)像素單元的子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，就判定該子像素部的亮度異常，表明顯示面板異常，從而便于及時(shí)維修或者處理，以提尚顯不面板的質(zhì)量。
[0066]其次，檢測(cè)偶數(shù)行像素單元的子像素部的亮度異常的檢測(cè):
[0067]S204、向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，向所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓；
[0068]由于奇數(shù)行像素單元的主掃描線(xiàn)連接第一掃描檢測(cè)線(xiàn)，當(dāng)所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第一低電平電壓時(shí)，不能夠?qū)λ龅?k+l行像素單元的所述主像素部進(jìn)行充電；由于偶數(shù)行像素單元的主掃描線(xiàn)連接第二掃描檢測(cè)線(xiàn)，當(dāng)所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第一高電平電壓時(shí)，能夠?qū)λ龅?k行像素單元的所述主像素部進(jìn)行充電。
[0069]由于公共檢測(cè)線(xiàn)連接每行所述像素單元的公共電極線(xiàn)，當(dāng)所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓也為第二高電平電壓(譬如6v)時(shí)，此時(shí)所述公共檢測(cè)線(xiàn)上的薄膜晶體管閉合，從而也能夠?qū)λ龅?k行像素單元的所述子像素部進(jìn)行充電；由于僅在所述第一時(shí)間段內(nèi)(所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)中的第一時(shí)間段內(nèi))，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，所述第2k行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和，即偶數(shù)行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的并未充滿(mǎn)電；
[0070]結(jié)合圖2，此時(shí)第2、4行像素單元的主掃描線(xiàn)和公共電極線(xiàn)輸入的電壓為高電平，使得第4行像素單元的公共電極線(xiàn)上的薄膜晶體管32閉合，因此第2行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)能夠傳遞到第4行像素單元的次掃描線(xiàn)上，對(duì)第4行像素單元的所述主像素部和所述子像素部同時(shí)充電。
[0071]S205、在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓；
[0072]由于此時(shí)所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓仍為第一高電平電壓，能夠?qū)λ龅?k行像素單元的所述主像素部繼續(xù)進(jìn)行充電，但是所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入的電壓為第二低電平電壓(譬如Ov)時(shí)，此時(shí)所述公共檢測(cè)線(xiàn)上的薄膜晶體管斷開(kāi)，第k行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)不能傳遞到第k+2行像素單元的次掃描線(xiàn)上，從而不能夠?qū)λ龅?k行像素單元的所述子像素部繼續(xù)進(jìn)行充電。
[0073]此時(shí)第2、4行像素單元的主掃描線(xiàn)的輸入電壓為高電平，而它們的公共電極線(xiàn)的輸入電壓為低電平，使得第4行像素單元的公共電極線(xiàn)上的薄膜晶體管32斷開(kāi)，因此第2行像素單元的主掃描線(xiàn)上的信號(hào)不能夠傳遞到第4行像素單元的次掃描線(xiàn)上，因此僅對(duì)第2、4行像素單元的所述主像素部繼續(xù)充電。
[0074]S206、檢測(cè)所述第2k行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果O
[0075]在S205結(jié)束后，所述第2k行像素單元的所述主像素部充電結(jié)束，使得所述主像素部的電壓大于所述子像素部的電壓。
[0076]當(dāng)顯示面板正常時(shí)，由于公共電極線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管的控制作用，使得所述主像素部和所述子像素部的電壓不同，因此所述主像素部的亮度大于所述子像素部的亮度。當(dāng)顯示面板異常時(shí)，由于子像素部出現(xiàn)短路，使得公共電極線(xiàn)上設(shè)置的薄膜晶體管的控制作用失效，在第二時(shí)間段內(nèi)，所述子像素部也在充電，最終所述主像素部的亮度等于所述子像素部的亮度。
[0077]在判斷顯示面板是否異常時(shí)，將偶數(shù)行像素單元的所述子像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成所述檢測(cè)結(jié)果，所述預(yù)設(shè)亮度閾值譬如為整個(gè)顯示面板的全部像素單元的子像素部亮度的平均值，當(dāng)其中有一個(gè)像素單元的子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，就判定該子像素部的亮度異常，表明顯示面板異常，從而便于及時(shí)維修或者處理，以提尚顯不面板的質(zhì)量。
[0078]當(dāng)然可以先進(jìn)行偶數(shù)行像素單元的檢測(cè)，再進(jìn)行奇數(shù)行像素單元的檢測(cè)。
[0079]本發(fā)明顯示面板的檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法，通過(guò)薄膜晶體管控制其中一行像素單元的次掃描線(xiàn)和另一行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)，解決了現(xiàn)有檢測(cè)電路不能檢測(cè)顯示面板異常的技術(shù)問(wèn)題，從而提高顯示效果。
[0080]綜上所述，雖然本發(fā)明已以?xún)?yōu)選實(shí)施例揭露如上，但上述優(yōu)選實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種顯示面板的檢測(cè)電路，其特征在于，所述顯示面板包括陣列基板，所述陣列基板包括: 數(shù)據(jù)線(xiàn)、掃描線(xiàn)、以及由所述數(shù)據(jù)線(xiàn)和所述掃描線(xiàn)限定的多個(gè)像素單元，所述多個(gè)像素單元組成多行像素單元，所述像素單元對(duì)應(yīng)設(shè)置有主掃描線(xiàn)、次掃描線(xiàn)、公共電極線(xiàn)； 其中每個(gè)所述像素單元包括主像素部和子像素部；所述主掃描線(xiàn)，用于控制所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，使所述主像素部和所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)；所述次掃描線(xiàn)，用于控制所述子像素部進(jìn)行電荷分配，使所述子像素部轉(zhuǎn)換為第二顯示狀態(tài)； 所述檢測(cè)電路包括: 第一掃描檢測(cè)線(xiàn)和第二掃描檢測(cè)線(xiàn)，分別用于向所述像素單元提供掃描信號(hào)； 公共檢測(cè)線(xiàn)，連接每行所述像素單元的公共電極線(xiàn)，用于向每行所述像素單元提供公共信號(hào)； 其中所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k+l行像素單元的主掃描線(xiàn)，所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)連接第2k行像素單元的主掃描線(xiàn)，根據(jù)第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)的連接狀態(tài)； 當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第一時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)連接至第k行像素單元的主掃描線(xiàn)；當(dāng)所述子像素部轉(zhuǎn)換為第一顯示狀態(tài)的第二時(shí)間段內(nèi)，使得第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)與第k行像素單元的主掃描線(xiàn)斷開(kāi)，其中所述第一時(shí)間段大于所述第二時(shí)間段，k彡O，m彡I。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)電路，其特征在于，所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)上設(shè)置有薄膜晶體管；根據(jù)所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)的公共信號(hào)控制所述薄膜晶體管的斷開(kāi)和閉合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板的檢測(cè)電路，其特征在于，所述薄膜晶體管的柵極連接所述第k+2m行像素單元的公共電極線(xiàn)；所述薄膜晶體管的源極連接所述第k行像素單元的主掃描線(xiàn)；所述薄膜晶體管的漏極連接所述第k+2m行像素單元的次掃描線(xiàn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)電路，其特征在于，所述檢測(cè)電路包括亮度檢測(cè)裝置，所述亮度檢測(cè)裝置用于將所述次像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成檢測(cè)結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板的檢測(cè)電路，其特征在于，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度異常。
6.一種如權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法，其特征在于， 向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，向所述第二檢掃描測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，以對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，且在所述第一時(shí)間段內(nèi)，所述第2k+l行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和； 在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓，以對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述主像素部繼續(xù)充電，對(duì)所述第2k+l行像素單元的所述子像素部不進(jìn)行充電；以及 檢測(cè)所述第2k+l行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法，其特征在于， 向所述第一掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一低電平電壓，向所述第二掃描檢測(cè)線(xiàn)輸入第一高電平電壓，以及在所述第一時(shí)間段內(nèi)向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二高電平電壓，以對(duì)所述第2k行像素單元的所述主像素部和所述子像素部進(jìn)行充電，且在所述第一時(shí)間段內(nèi)，所述第2k行像素單元的所述主像素部和所述子像素部的電荷并未飽和； 在所述第二時(shí)間段內(nèi)，向所述公共檢測(cè)線(xiàn)輸入第二低電平電壓，以對(duì)所述第2k行像素單元的所述主像素部繼續(xù)充電，對(duì)所述第2k行像素單元的所述子像素部不進(jìn)行充電；以及 檢測(cè)所述第2k行像素單元的所述子像素部的亮度是否異常，生成檢測(cè)結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法，其特征在于，將所述子像素部的亮度與預(yù)設(shè)亮度閾值比較，生成所述檢測(cè)結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法，其特征在于，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度大于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度異常。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示面板的檢測(cè)電路的使用方法，其特征在于，當(dāng)所述檢測(cè)結(jié)果為所述子像素部的亮度小于或等于所述預(yù)設(shè)亮度閾值時(shí)，所述子像素部的亮度正常。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK104505011SQ201410784898
【公開(kāi)日】2015年4月8日 申請(qǐng)日期:2014年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月17日
【發(fā)明者】鄭娜 申請(qǐng)人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司