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      雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽的制作方法

      文檔序號:11730489閱讀:291來源:國知局
      雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽的制作方法與工藝
      本發(fā)明涉及商品防偽
      技術(shù)領(lǐng)域
      ,尤其涉及一種雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽。
      背景技術(shù)
      :目前,防偽已經(jīng)是商品流通、銷售等不可缺少的技術(shù)。當(dāng)前的商品防偽技術(shù)方法主要有二維碼或其他類型的語義圖形碼,激光全息技術(shù),熒光材料,水印紙等。二維碼或其他類型的語義圖形碼的語義信息易于解讀但也易于被復(fù)制;激光全息技術(shù),熒光材料,水印紙等方法將主要精力放在防偽材料和復(fù)雜的紋理上面,生產(chǎn)成本高、技術(shù)復(fù)雜且不利于大規(guī)模推廣,且對于普通消費者來說,難以辨別。技術(shù)實現(xiàn)要素:本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,提供一種雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽,包括:第一標(biāo)簽和第二標(biāo)簽;所述第一標(biāo)簽與第二標(biāo)簽的位置關(guān)系如下:第一標(biāo)簽整體邊界處在第二標(biāo)簽的邊界范圍內(nèi)或第一標(biāo)簽部分覆蓋了第二標(biāo)簽;所述第二標(biāo)簽包括紋理信息,所述第二標(biāo)簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息。按上述方案,所述第一標(biāo)簽為印刷標(biāo)簽。按上述方案,所述第一標(biāo)簽為噴印標(biāo)簽。按上述方案,所述第一標(biāo)簽為上層標(biāo)簽,第二標(biāo)簽為下層標(biāo)簽,第一標(biāo)簽以噴印的形式附在第二標(biāo)簽之上。按上述方案,所述噴印標(biāo)簽為有立體觸感的噴印標(biāo)簽。按上述方案,所述第一標(biāo)簽包括紋理信息,第一標(biāo)簽的紋理信息為包括商品信息的紋理信息。按上述方案,所述第一標(biāo)簽為二維碼或其他類型的語義圖形碼標(biāo)簽。按上述方案,所述第一標(biāo)簽中包括的商品信息包括商品名稱、商品產(chǎn)地和制造商信息中的一種或多種。按上述方案,所述第二標(biāo)簽的紋理信息包括豐富的灰度梯度特征信息。本發(fā)明還提供一種雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽的制作方法,包括以下步驟:1)在物品本身或物品印刷包裝表面印制或粘貼第二標(biāo)簽;所述第二標(biāo)簽包括紋理信息,所述第二標(biāo)簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息;2)根據(jù)第二標(biāo)簽的位置,使用印制或粘貼方式制作第一標(biāo)簽,所述第一標(biāo)簽在第二標(biāo)簽的邊界范圍內(nèi)或第一標(biāo)簽部分覆蓋了第二標(biāo)簽。按上述方案,所述步驟2)中使用噴印方式制作第一標(biāo)簽,制作時控制噴印機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時的震動、噴頭噴墨時的抖動或標(biāo)簽紙張走紙時的位置變化,使每個第一標(biāo)簽和第二標(biāo)簽的相對位置存在差別。本發(fā)明的工作原理如下:1)取真實的商品樣本和待檢測的商品樣本記為s1,s2;s1的下層標(biāo)簽記為d1,s2的下層標(biāo)簽記為d2,d1和d2分別貼在商品s1,s2表面;s1的上層標(biāo)簽記為u1,s2的上層標(biāo)簽記為u2。將商品s1的雙標(biāo)簽記為t,以t為模板雙標(biāo)簽,t={u1,d1},u1以噴印的形式附在下層標(biāo)簽d1上;商品s2的雙標(biāo)簽記為p,p作為待檢驗的雙標(biāo)簽,p={u2,d2},u2也是以噴印的形式附在下層標(biāo)簽d2上。然后,對雙標(biāo)簽t,p拍攝形成兩幅圖片記為img1,img2;2)分別讀取img1,img2中上層標(biāo)簽的語義信息,獲得商品的信息,也可獲得商品的產(chǎn)地、制造商等信息。并進(jìn)行信息比對,進(jìn)行第一次防偽判別;3)分別提取img1中上下標(biāo)簽d1,u1和img2中上下標(biāo)簽d2,u2的sift特征點;4)對d1和d2進(jìn)行sift特征配準(zhǔn),取出d1和d2中配準(zhǔn)的sift特征點集記為f1,f2;以d1作為參照的標(biāo)準(zhǔn),利用sift特征點集f1和f2的位置坐標(biāo),構(gòu)建d2到d1的仿射變換矩陣記為m,m包含旋轉(zhuǎn),平移,尺度變換因子等參數(shù)。此步驟是將d2變換到與d1同一個位置,削弱不同拍攝角度和商品擺放位置帶來的干擾。5)對u1和u2進(jìn)行sift特征配準(zhǔn),取出配準(zhǔn)的sift特征點集f1’,f2’;將u2的sift特征點集f2’按照步驟3)計算出的m矩陣進(jìn)行仿射變換得到特征點集f2”。6)根據(jù)f1’和f2”的位置坐標(biāo),計算sift特征點集f1’和f2”的距離d,d是點集f1’和f2”對應(yīng)點距離之和。此d反映了商品s2待測雙標(biāo)簽p的上層標(biāo)簽u2相對下層標(biāo)簽d2的相對位移信息。7)根據(jù)d與給定距離閾值的比較并結(jié)合上層標(biāo)簽的語義信息,綜合判斷待測雙標(biāo)簽p是否是真實商品的雙標(biāo)簽,進(jìn)而判定商品s2的合法性。本發(fā)明產(chǎn)生的有益效果是:本發(fā)明由于采用了雙層標(biāo)簽,上下層標(biāo)簽的紋理特征特殊但不復(fù)雜且上下層標(biāo)簽的相對幾何位置信息不易物理簡單重復(fù),避免了引入復(fù)雜紋理和復(fù)雜材料所帶來的高昂成本和復(fù)雜技術(shù)要求。附圖說明下面將結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明,附圖中:圖1是本發(fā)明實施例的物品真實雙標(biāo)簽圖;圖2是本發(fā)明實施例的物品待核驗雙標(biāo)簽圖;圖3真品商品經(jīng)過sift特征提取后的示意圖;圖4是待檢驗商品經(jīng)過sift特征提取后的示意圖;圖5是本發(fā)明實施例的雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽示意圖。具體實施方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合實施例,對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。如圖5所示,一種雙標(biāo)簽型防偽標(biāo)簽,包括:第一標(biāo)簽和第二標(biāo)簽;第一標(biāo)簽與第二標(biāo)簽的位置關(guān)系如下:第一標(biāo)簽整體邊界處在第二標(biāo)簽的邊界范圍內(nèi)或第一標(biāo)簽部分覆蓋了第二標(biāo)簽;第二標(biāo)簽包括紋理信息,所述第二標(biāo)簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息。其中,第一標(biāo)簽的紋理信息為包括商品信息的紋理信息。在本實施例中,第一標(biāo)簽為上層標(biāo)簽,第二標(biāo)簽為下層標(biāo)簽。常用的,上層標(biāo)簽選用二維碼或其他類型的語義圖形碼標(biāo)簽,上層標(biāo)簽中包括的商品信息包括商品名稱、商品產(chǎn)地和制造商。下層標(biāo)簽的紋理信息包括豐富的灰度梯度特征信息。上層標(biāo)簽為噴印標(biāo)簽,上層標(biāo)簽以噴印的形式附貼在下層標(biāo)簽之上。噴印標(biāo)簽為有立體觸感的噴印標(biāo)簽。實施實例,參閱圖1,2,3,4本實例提供一種可用于商品防偽的雙標(biāo)簽。圖1和圖2分別是包裝盒物品真實雙標(biāo)簽和待核驗雙標(biāo)簽的圖片,其中灰白方形紋理區(qū)域代表下層標(biāo)簽,表面紋理主要用作參考背景,其豐富的局部特征信息如灰度梯度等可用于sift特征提取;二維碼或其他類型的語義圖形碼代表上層標(biāo)簽,表面紋理主要包含商品的語義信息。圖3和圖4中分別是真品和待檢驗商品經(jīng)過sift特征提取后的圖片,紅色點為sift特征點。本發(fā)明使用時是通過上層標(biāo)簽和下層標(biāo)簽的相對位置關(guān)系來進(jìn)行防偽檢測的,因為使用噴印方式印刷上層標(biāo)簽,由于噴印機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時的震動、噴頭噴墨時的抖動及標(biāo)簽紙張走紙時的位置變化,導(dǎo)致其上層標(biāo)簽和下層標(biāo)簽的相對位置都會有差別,無法完全一致,檢測具體包括以下步驟:取真實的商品樣本和待檢測的商品樣本記為s1,s2;s1的下層標(biāo)簽記為d1,s2的下層標(biāo)簽記為d2,d1和d2分別貼在商品s1,s2表面;s1的上層標(biāo)簽記為u1,s2的上層標(biāo)簽記為u2。將商品s1的雙標(biāo)簽記為t,以t為模板雙標(biāo)簽,t={u1,d1},u1以噴印的形式附貼在下層標(biāo)簽d1上;商品s2的雙標(biāo)簽記為p,p作為待檢驗的雙標(biāo)簽,p={u2,d2},u2也是以噴印的形式附貼在下層標(biāo)簽d2上。然后,對雙標(biāo)簽t,p拍攝形成兩幅圖片記為img1,如圖1所示,img2如圖2所示。分別讀取img1,img2中上層標(biāo)簽的語義信息,獲得商品的信息,也可獲得商品的產(chǎn)地、制造商等信息。并進(jìn)行商品信息比對,進(jìn)行第一次防偽判別;分別提取img1中上下標(biāo)簽d1,u1和img2中上下標(biāo)簽d2,u2的sift特征點。其中,img1的下層標(biāo)簽典型sift特征點坐標(biāo)如下表所示:68.74110.9167.39111.2171.95105.75……60.05109.11img1上層標(biāo)簽典型sift特征點坐標(biāo)如下表所示:70.13111.2266.91113.2680.18104.4475.19108.18……83.44108.82img2的下層標(biāo)簽典型sift特征點坐標(biāo)如下表所示:70.51113.9068.73111.0271.08104.14……61.39106.48img2上層標(biāo)簽典型sift特征點坐標(biāo)如下表所示:70.91113.5270.24111.2573.11106.0469.85105.66……61.79109.21對d1和d2進(jìn)行sift特征配準(zhǔn),取出d1和d2中配準(zhǔn)的sift特征點集記為f1,f2;以d1作為參照的標(biāo)準(zhǔn),利用sift特征點集f1和f2的位置坐標(biāo),構(gòu)建d2到d1的仿射變換矩陣記為m,m包含旋轉(zhuǎn),平移,尺度變換因子等參數(shù)。此步驟是將d2變換到與d1同一個位置,削弱不同拍攝角度和商品擺放位置帶來的干擾。對u1和u2進(jìn)行sift特征配準(zhǔn),取出配準(zhǔn)的sift特征點集f1’,f2’;將u2的sift特征點集f2’按照3)計算出的m矩陣進(jìn)行仿射變換得到的特征點集f2’。根據(jù)f1’和f2’’的位置坐標(biāo),計算sift特征點集f1’和f2’’的距離d,d是點集f1’和f2’’對應(yīng)點距離之和。此d反映了商品s2待測雙標(biāo)簽p的上層標(biāo)簽u2相對下層標(biāo)簽d2的相對位移信息。根據(jù)d與給定距離閾值的比較并結(jié)合上層標(biāo)簽的語義信息,綜合判斷待測雙標(biāo)簽p是否是真實商品的雙標(biāo)簽,進(jìn)而判定商品s2的合法性。應(yīng)當(dāng)理解的是,對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說,可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換,而所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。當(dāng)前第1頁12
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