顯示裝置及其測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及顯示設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示裝置及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于⑶G(chip on glass，芯片被直接綁定在玻璃上)技術(shù)可以明顯減小LCM(LCDModule，IXD顯示模組)的體積，且易于大批量生產(chǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于各類終端的顯示屏幕中。
[0003]對于LCM來說，其除了綁定有芯片外，還包括有FPC(Flexible Printed Circuit，柔性電路板)和背光等組成部分。在現(xiàn)有技術(shù)中，如果碰到LCM黑屏或無顯等問題，通常需要分別對FPC和COG芯片進(jìn)行更換并檢測LCM，才能確定該芯片能否正常工作，整個檢測過程非常繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷或不足，期望能夠提供一種快速檢測控制芯片是否正常的方案。為了實(shí)現(xiàn)上述一個或多個目的，本申請實(shí)施例提供了一種顯示裝置及其測試方法。
[0005]第一方面，本申請實(shí)施例提供了一種顯示裝置，該顯示裝置包括顯示面板和控制芯片；
[0006]所述顯示面板包括顯示區(qū)域和臺階區(qū)域；
[0007]所述控制芯片設(shè)置于所述臺階區(qū)域內(nèi)，且與所述顯示面板電連接；
[0008]其中，所述控制芯片包括內(nèi)建自測模塊，用于為所述顯示面板提供包括圖形信號的檢測信號；
[0009]所述臺階區(qū)域內(nèi)設(shè)置有第一測試點(diǎn)，所述第一測試點(diǎn)與所述內(nèi)建自測模塊電連接，用于將外部啟動信號提供給所述內(nèi)建自測模塊。
[0010]第二方面，本申請實(shí)施例提供了一種顯示裝置的測試方法，該測試方法包括:
[0011 ]通過測試點(diǎn)將外部信號提供給所述控制芯片；
[0012]檢測所述顯示面板能否顯示所述控制芯片產(chǎn)生的圖形；
[0013]若是，則確定所述控制芯片正常，否則，確定所述控制芯片異常。
[0014]第三方面，本申請實(shí)施例提供了另一種顯示裝置的測試方法，該測試方法包括:
[0015]當(dāng)所述顯示裝置顯示異常時，通過測試點(diǎn)將外部信號提供給所述控制芯片；
[0016]檢測所述顯示面板能否顯示所述控制芯片產(chǎn)生的圖形；
[0017]若是，則確定所述控制芯片正常，所述柔性電路板異常；
[0018]否則，確定所述控制芯片異常，所述柔性電路板正常。
[0019]本申請實(shí)施例提供的顯示裝置及其測試方法，可以在控制芯片內(nèi)設(shè)置自測模塊，并通過位于顯示裝置臺階內(nèi)的測試點(diǎn)來啟動自測功能，以檢測控制芯片是否能夠正常工作，從而能夠快速確定出顯示裝置的顯示問題是否是由控制芯片導(dǎo)致的。
【附圖說明】
[0020]通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本申請的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會變得更明顯:
[0021 ]圖1是本申請顯示裝置的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖2是本申請顯示裝置的另一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖3是本申請顯示裝置的測試方法的一個實(shí)施例的流程圖；
[0024]圖4是本申請顯示裝置的測試方法的另一個實(shí)施例的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本申請作進(jìn)一步的詳細(xì)說明?？梢岳斫獾氖?，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋相關(guān)發(fā)明，而非對該發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與有關(guān)發(fā)明相關(guān)的部分。
[0026]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本申請。
[0027]請參考圖1，其示出了本申請顯示裝置的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]如圖1所示，本實(shí)施例的顯示裝置包括:顯示面板11和控制芯片12。其中，顯示面板11可以用于進(jìn)行圖像顯示，而控制芯片12可以為顯示面板11提供顯示信號。顯示面板11可以包括顯示區(qū)域111和臺階區(qū)域112。顯示區(qū)域111中可以包括由多個像素單元組成的像素陣列，像素陣列可以根據(jù)控制芯片12提供的信號顯示出不同的圖形。
[0029]在本實(shí)施例中，控制芯片12可以設(shè)置于臺階區(qū)域112內(nèi)。也就是說，控制芯片12可以利用COG技術(shù)，邦定于顯示面板11的臺階區(qū)域112內(nèi)。COG制程可以利用覆晶(Flip Chip)導(dǎo)通方式，將控制芯片12直接對準(zhǔn)臺階區(qū)域112上的電極，利用各向異性導(dǎo)電膜材料作為接合的介面材料，使兩種結(jié)合物體垂直方向的電極導(dǎo)通。由于臺階區(qū)域112上的電極可以是顯示面板11內(nèi)電極的延伸，因此控制芯片12可以與顯示面板11電連接，以便直接向顯示面板提供顯示信號。
[0030]在本實(shí)施例中，控制芯片12可以包括一個內(nèi)建自測模塊121。內(nèi)建自測(BuiIt-1nSelf Test，BIST)技術(shù)，是指在設(shè)計時植入相關(guān)功能電路用于提供自我測試功能的技術(shù)。通過這種技術(shù)，可以降低器件測試對自動測試設(shè)備的依賴程度。目前普遍使用的BIST技術(shù)包括在電路中植入測試圖形發(fā)生電路，時序電路，模式選擇電路和調(diào)試測試電路等。在本實(shí)施例中，內(nèi)建自測模塊121可以包括一個時序控制寄存器，該時序控制寄存器內(nèi)置有存儲器RAM (Random Access Memory，隨機(jī)存取存器)。在存儲器中可以存儲有各種測試圖形，使得內(nèi)建自測模塊121可以為顯示面板11提供包括圖形信號在內(nèi)的檢測信號。
[0031]在本實(shí)施例中，臺階區(qū)域112內(nèi)還可以設(shè)置有第一測試點(diǎn)13，第一測試點(diǎn)13與內(nèi)建自測模塊121電連接，用于將外部啟動信號提供給內(nèi)建自測模塊121。當(dāng)?shù)谝粶y試點(diǎn)13將外部啟動信號(例如一個高電平信號)提供給內(nèi)建自測模塊121后，可以啟動內(nèi)建自測模塊121的自測功能。
[0032]在本實(shí)施例的一些可選實(shí)現(xiàn)方式中，臺階區(qū)域112內(nèi)還可以設(shè)置有第二測試點(diǎn)14、第三測試點(diǎn)15和第四測試點(diǎn)16。第二測試點(diǎn)14用于將外部的模擬電壓信號(例如，2.8V的模擬電壓)提供給控制芯片12。第三測試點(diǎn)15用于將外部的邏輯電壓信號(例如，1.8V的邏輯電壓)提供給控制芯片12。第四測試點(diǎn)16用于將外部的接地信號GND提供給控制芯片12。
[0033]在本實(shí)施例的一些可選實(shí)現(xiàn)方式中，第二測試點(diǎn)14中可以包括兩個測試點(diǎn)。這兩個測試點(diǎn)可以用于將外部成對的兩個模擬電壓信號，例如液晶正壓信號VSP和液晶負(fù)壓信號VSN，提供給控制芯片12 ο可選地，VSP和VSN可以分別為+5V和-5V的模擬電壓信號。
[0034]當(dāng)在第一測試點(diǎn)13，第二測試點(diǎn)14、第三測試點(diǎn)15和第四測試點(diǎn)16上分別施加合適的外部信號后，就可以啟用內(nèi)建自測模塊121的自測功能。當(dāng)自測功能被啟動后，內(nèi)建自測模塊121的時序控制寄存器內(nèi)的存儲器可以被驅(qū)動，以便將其存儲的圖形信號傳輸給顯示面板11。此時，如果顯示面板11能夠正常顯示該圖形信號，則可以認(rèn)為控制芯片12能夠正常工作，反之則可以認(rèn)為控制芯片12出現(xiàn)異常。
[0035]本申請實(shí)施例提供的顯示裝置，可以在控制芯片內(nèi)設(shè)置自測模塊，并通過位于顯示裝置臺階內(nèi)的測試點(diǎn)來啟動自測功能，以檢測控制芯片是否能夠正常工作，從而能夠快速確定出顯示裝置的顯示問題是否是由控制芯片導(dǎo)致的。
[0036]進(jìn)一步參考圖2，其示出了本申請顯示裝置的另一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0037]如圖2所示，本實(shí)施例的顯示裝置包括:顯示面板21和控制芯片22。其中，顯示面板21可以用于進(jìn)行圖像顯示，而控制芯片22可以為顯示面板21提供顯示信號。顯示面板21可以包括顯示區(qū)域211和臺階區(qū)域212。顯示區(qū)域211中可以包括由多個像素單元組成的像素陣列，像素陣列可以根據(jù)控制芯片22提供的信號顯示出不同的圖形。
[0038]在本實(shí)施例中，控制芯片22可以設(shè)置于臺階區(qū)域212內(nèi)。具體地，控制芯片22可以利用COG技術(shù)，邦定于顯示面板21的臺階區(qū)域112內(nèi)，并與顯示面板21電連接，以便直接向顯示面板提供顯示信號?？刂菩酒?2可以包括一個內(nèi)建自測模塊221，該模塊可以為顯示面板21提供包括圖形信號在內(nèi)的檢測信號。
[0039]在本實(shí)施例中，臺階區(qū)域212內(nèi)還可以設(shè)置有第一測試點(diǎn)23，第二測試點(diǎn)24、第三測試點(diǎn)25和第四測試點(diǎn)26。第一測試點(diǎn)23與內(nèi)建自測模塊221電連接，用于將外部啟動信號提供給內(nèi)建自測模塊221。第二測試點(diǎn)24用于將外部的模擬電壓信號(例如，2.8V的模擬電壓)提供給控制芯片22。第三測試點(diǎn)25用于將外部的邏輯電壓信號(例如，1.8V的邏輯電壓)提供給控制芯片22。第四測試點(diǎn)26用于將外部的接地信號GND提供給控制芯片22。
[0040]在本實(shí)施例中，顯示裝置還可以包括:柔性電路板27。柔性電路板27包括第一端部271，第一端部271可以設(shè)置于臺階區(qū)域212內(nèi)，且與控制芯片22電連接。這樣，在顯示裝置正常工作時，可以通過柔性電路板27為控制芯片22提供電壓信號和顯示信號，并進(jìn)一步通過控制芯片22驅(qū)動顯示面板21進(jìn)行顯示