液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法及使用這種測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶芯片的測試技術(shù)，尤其涉及高分辨率液晶驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法及使用這種測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片。
【背景技術(shù)】
[0002]屏幕顯示效果很大程度上取決于液晶驅(qū)動(dòng)芯片的質(zhì)量。為了使液晶驅(qū)動(dòng)芯片達(dá)到預(yù)期效果，每一款驅(qū)動(dòng)芯片在量產(chǎn)之前，都會(huì)經(jīng)過反復(fù)的調(diào)試，以保證各項(xiàng)設(shè)置符合設(shè)計(jì)的要求，并且達(dá)到較好的顯示效果。
[0003]目前液晶驅(qū)動(dòng)芯片的測試需要藉助探針卡的探針將駁動(dòng)芯片內(nèi)驅(qū)動(dòng)電路的電壓信號經(jīng)由輸出管腳送到液晶驅(qū)動(dòng)測試機(jī)臺(tái)的測試通道。驅(qū)動(dòng)芯片的每個(gè)管腳需要有一探針卡的探針與之相對應(yīng)。
[0004]隨著液晶面板分辨率不斷提高，液晶驅(qū)動(dòng)芯片的輸出驅(qū)動(dòng)電路也越來越多，以手機(jī)的1280*800的分辨率為例，驅(qū)動(dòng)芯片中至少有2400個(gè)輸出驅(qū)動(dòng)。而現(xiàn)有的大部分測試機(jī)臺(tái)的測試通道數(shù)量尚不能達(dá)到這個(gè)數(shù)量。例如advantest公司提供的型號為T6372的測試機(jī)臺(tái)，只有1536個(gè)測試通道，不能滿足1280*800分辨率的驅(qū)動(dòng)芯片的測試需求。
[0005]現(xiàn)有的解決方法是在探針卡上加裝切換開關(guān)。圖1示出了加裝了切換開關(guān)的探針卡及其測試方法。如圖1所示，探針卡101在原有一根探針SlA的基礎(chǔ)上，增加一根探針S1B，在探針卡101的測試通道Dl與兩探針SlA和SlB之間增加一個(gè)切換開關(guān)X。兩根探針SlA和SlB分別連接到液晶驅(qū)動(dòng)芯片ICI的管腳1 2A和1 2B上，探針卡1I的輸出端口 DI (測試通道)連接到液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)103上。
[0006]液晶驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)與管腳1 2A連接的驅(qū)動(dòng)電路Dr A的輸出經(jīng)過管腳1 2A輸出到探針SlA上;與管腳102B連接的驅(qū)動(dòng)電路DrB的輸出經(jīng)過管腳102B輸出到探針SlB上。
[0007]測試時(shí)，首先切換開關(guān)X狀態(tài)設(shè)為端口Dl與第一探針SlA導(dǎo)通，和第二探針SlB斷開。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)電路DrA的輸出電壓可以通過管腳102A、第一探針S1A、端口Dl到達(dá)液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)103的測試通道進(jìn)行測試。測試完成后，將切換開關(guān)X的狀態(tài)設(shè)為端口 Dl與第二探針SlB導(dǎo)通，和第一探針SlA斷開。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)電路DrB的輸出電壓可以通過管腳102B、第二探針S1B、端口 Dl到達(dá)液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)103的測試通道進(jìn)行測試。從而實(shí)現(xiàn)I個(gè)探針卡的輸出端口(測試通道)可以實(shí)現(xiàn)兩個(gè)驅(qū)動(dòng)電路(管腳)的測試。
[0008]但是，這種測試方法和裝置顯示增加了探針卡的探針數(shù)量，為適應(yīng)分辨率不斷提尚的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，探針卡制作復(fù)雜度也不斷提尚，制造成本難以控制。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]鑒于現(xiàn)有技術(shù)的狀態(tài)，本發(fā)明的目的在于提供一種適應(yīng)于高分辨率的液晶驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法，可以降低探針卡的制造難度，有效地控制成本的上升。
[0010]同時(shí)，本發(fā)明的另一個(gè)目的在于還提供一種使用這種測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片。[0011 ]根據(jù)上述目的，在本發(fā)明的液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法中，液晶驅(qū)動(dòng)芯片包括N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和N個(gè)管腳，所述方法包括:
[0012]在所述液晶驅(qū)動(dòng)芯片的每M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路與每M個(gè)管腳之間增設(shè)一切換電路；
[0013]將所述每M個(gè)管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上；
[0014]將所述探針卡連接到一液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)上；以及
[0015]控制該切換電路，使所述M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到所述M個(gè)管腳的第一管腳上；
[0016]其中N和M為自然數(shù)，且N2 2;2<MSN。
[0017]在上述液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法中，所述M = 2。
[0018]在上述液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法中，所述切換電路包括四個(gè)開關(guān)，以交叉方式連接在2個(gè)輸驅(qū)動(dòng)電路和2個(gè)管腳之間。
[0019]本發(fā)明提供的使用上述液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，包括N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和N個(gè)管腳，還包括:
[0020]多個(gè)切換電路，分別設(shè)置在所述液晶驅(qū)動(dòng)芯片的每M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路與每M個(gè)管腳之間；以及
[0021]控制電路，與所述切換電路相連，控制該切換電路，使所述M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到所述M個(gè)管腳的第一管腳上；
[0022]其中N和M為自然數(shù)，且N2 2;2<MSN。
[0023]在上述液晶驅(qū)動(dòng)芯片中，所述M = 2。
[0024]在上述的液晶驅(qū)動(dòng)芯片中，所述切換電路包括四個(gè)開關(guān)，以交叉方式連接在2個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和2個(gè)管腳之間。
【附圖說明】
[0025]圖1示出了現(xiàn)有的加裝了切換開關(guān)的探針卡及其測試方法。
[0026]圖2示出了本發(fā)明液晶驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖3示出了本發(fā)明液晶驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]請參見圖2，圖2示出了本發(fā)明液晶驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，液晶驅(qū)動(dòng)芯片IC2內(nèi)包括有多個(gè)驅(qū)動(dòng)電路，驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)量與需驅(qū)動(dòng)的屏幕的分辨率有關(guān)。在圖2所示的實(shí)施例中，為了方便描述和理解，僅示出了與本發(fā)明有關(guān)的部件或單元，其它與本發(fā)明無關(guān)的部件或單元雖然示出。
[0029]繼續(xù)參見圖2，在本實(shí)施例中，在每兩個(gè)驅(qū)動(dòng)電路Drl和Dr2以及管腳201和202(為方便描述，以分別稱為第一驅(qū)動(dòng)電路和第二驅(qū)動(dòng)電路以及第一管腳與第二管腳)之間設(shè)置一個(gè)切換電路203。該切換電路203包括四個(gè)開關(guān)K1-K4，四個(gè)開關(guān)以交叉方式連接在第一驅(qū)動(dòng)電路Drl和第二驅(qū)動(dòng)電路Dr2與第一管腳201和第二管腳202之間。即，開關(guān)Kl連接在第一驅(qū)動(dòng)電路Drl與第一管腳201之間，開關(guān)K2連接在第一驅(qū)動(dòng)電路Drl與第二管腳202之間，開關(guān)K3連接在第二驅(qū)動(dòng)電路Dr2與第一管腳201之間，開關(guān)K4連接在第二驅(qū)動(dòng)電路Dr2與第二管腳202之間。
[0030]在液晶驅(qū)動(dòng)芯片中，還包括一個(gè)控制單元204?？刂茊卧?04用于控制切換電路203中各個(gè)開關(guān)的狀態(tài)。
[0031]請同時(shí)參見圖3，圖3示出了本發(fā)明液晶驅(qū)動(dòng)芯片的測試方法示意圖。下面將結(jié)合圖3描述本發(fā)明的測試方法。首先將液晶驅(qū)動(dòng)芯片200中的第一管腳201連接到探針卡205中的探針上，探針卡205按常規(guī)方式與液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)連接。由控制單元204控制切換電路203中各個(gè)開關(guān)的閉合和斷開狀態(tài)。此時(shí)，控制單元204使第一開關(guān)Kl和第四開關(guān)K4閉合，第二開關(guān)K2和第三開關(guān)K3斷開。即將第一驅(qū)動(dòng)電路Drl連接到第一管腳201，將第二驅(qū)動(dòng)電路Dr2連接到第二管腳202上。液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)207工作，對第一驅(qū)動(dòng)電路Drl進(jìn)行測試。測試完成后，控制單元204使第二開關(guān)K2和第三開關(guān)K3閉合，第一開關(guān)Kl和第四開關(guān)K4斷開。即將第一驅(qū)動(dòng)電路Drl連接到第二管腳202，將第二驅(qū)動(dòng)電路Dr2連接到第一管腳202上。液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)207工作，對第二驅(qū)動(dòng)電路Drl進(jìn)行測試。
[0032]從上述測試過程中可以看出，測試機(jī)臺(tái)207的一個(gè)測試通道以及探針卡205的一根探針就可以對液晶驅(qū)動(dòng)芯片中的兩個(gè)輸出驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測試。以【背景技術(shù)】中面板1280*800的分辨率為例，按照傳統(tǒng)的方法，使用愛德萬公司(ad van t e s t) T6 3 7 2液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)測試其所有的輸出驅(qū)動(dòng)電路，探針卡需要2400根探針，同時(shí)探針卡上需要864個(gè)切換開關(guān)。
[0033]但是使用本發(fā)明的方法后，探針卡只需要1200根探針，對應(yīng)的探針卡的探針數(shù)量只有舊方法的一半。同時(shí)探針卡不再需要切換開關(guān)。極大的降低了探針卡的制作難度和成本。
[0034]在圖2的實(shí)施例中，是以兩個(gè)驅(qū)動(dòng)電路使用一個(gè)切換電路為例進(jìn)行說明。但可以理解，三個(gè)驅(qū)動(dòng)電路使用一個(gè)切換電路或者更多個(gè)驅(qū)動(dòng)電路使用一個(gè)切換電路都是本發(fā)明預(yù)期的變化和實(shí)施例。更多個(gè)驅(qū)動(dòng)電路使用一個(gè)切換電路可以更多地減少探針卡的探針數(shù)量。當(dāng)然具體多少個(gè)驅(qū)動(dòng)電路使用一個(gè)切換電路應(yīng)視實(shí)際情況而定。切換電路的作用是使多個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到第一管腳上，以便于測試機(jī)臺(tái)進(jìn)行測試。切換電路具體是使用如圖2實(shí)施例中的開關(guān)，擬或是其它電路形式，例如開關(guān)矩陣，本發(fā)明均不作限定，只要能實(shí)現(xiàn)上述的按序連接功能即可。本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)這一功能要求，可以設(shè)計(jì)出多種不同的切換電路，均應(yīng)包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。
[0035]本發(fā)明的液晶驅(qū)動(dòng)芯片在正常使用時(shí)，由控制電路204將切換電路中的第一開關(guān)Kl和第四開關(guān)K4導(dǎo)閉合，第二開關(guān)K2和第三開關(guān)K3斷線。驅(qū)動(dòng)電路Drl的輸出電壓就能正常送到管腳201，驅(qū)動(dòng)電路Dr2的輸出電壓就能正常送到管腳202。
[0036]雖然本發(fā)明的實(shí)施例如上所述，然而該些實(shí)施例并非用來限定本發(fā)明，本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者可依據(jù)本發(fā)明的明示或隱含的內(nèi)容對本發(fā)明的技術(shù)特征施以變化，凡此種種變化均可能屬于本發(fā)明所尋求的專利保護(hù)范疇，換言之，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍須視本說明書的申請專利范圍所界定為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法，該液晶驅(qū)動(dòng)芯片包括N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和N個(gè)管腳，所述方法包括: 在所述液晶驅(qū)動(dòng)芯片的每M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路與每M個(gè)管腳之間增設(shè)一切換電路； 將所述每M個(gè)管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上； 將所述探針卡連接到一液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)上；以及 控制該切換電路，使所述M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到所述M個(gè)管腳的第一管腳上； 其中N和M為自然數(shù)，且N2 2;2<MSN。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述M=2。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述切換電路包括四個(gè)開關(guān)，以交叉方式連接在2個(gè)輸驅(qū)動(dòng)電路和2個(gè)管腳之間。4.一種使用如權(quán)利要求1至3之一所述的測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，包括N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和N個(gè)管腳，其特征在于，還包括: 多個(gè)切換電路，分別設(shè)置在所述液晶驅(qū)動(dòng)芯片的每M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路與每M個(gè)管腳之間；以及 控制電路，與所述切換電路相連，控制該切換電路，使所述M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到所述M個(gè)管腳的第一管腳上； 其中N和M為自然數(shù)，且N2 2;2<MSN。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，其特征在于，所述M=2。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，其特征在于，所述切換電路包括四個(gè)開關(guān)，以交叉方式連接在2個(gè)輸驅(qū)動(dòng)電路和2個(gè)管腳之間。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試方法及使用這種測試方法的液晶驅(qū)動(dòng)芯片，該液晶驅(qū)動(dòng)芯片包括N個(gè)驅(qū)動(dòng)電路和N個(gè)管腳，測試方法包括：在所述液晶驅(qū)動(dòng)芯片的每M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路與每M個(gè)管腳之間增設(shè)一切換電路；將所述每M個(gè)管腳中的第一管腳連接到一探針卡的探針上；將所述探針卡連接到一液晶驅(qū)動(dòng)芯片測試機(jī)臺(tái)上；以及控制該切換電路，使所述M個(gè)驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)按序連接到所述M個(gè)管腳的第一管腳上；其中N和M為自然數(shù)，且N≥2；2≤M≤N。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號】CN105575303
【申請?zhí)枴緾N201510982857
【發(fā)明人】高志強(qiáng), 王非
【申請人】中穎電子股份有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2015年12月24日