一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法及識(shí)別系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，更為具體的說(shuō)，涉及一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法及識(shí)別系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]顯示屏(Panel)在綁定芯片(Internal Circulat1n,以下簡(jiǎn)稱IC)及柔性的絕緣基材制成的印刷電路(Flexible Printed Circuit，F(xiàn)PC，以下簡(jiǎn)稱FPC)后，要進(jìn)行伽瑪(gamma，以下統(tǒng)稱為gamma)調(diào)試，并將得到的寄存器參數(shù)燒錄(One Time Programmable，OTP)到綁定的IC里。在進(jìn)行g(shù)amma調(diào)試時(shí)，所用到的設(shè)備有:測(cè)試儀器、測(cè)試板、顯示屏和光學(xué)設(shè)備。在調(diào)試前，需要先將光學(xué)設(shè)備及測(cè)試板連接到上位機(jī)，再進(jìn)行g(shù)amma調(diào)試。但上位機(jī)測(cè)試儀器只能檢測(cè)可用的端口，而無(wú)法辨別該端口所連接的設(shè)備是什么，需要操作人員再次進(jìn)行判斷，從而降低了工作效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，本發(fā)明提供了一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法及識(shí)別系統(tǒng)，用于辨別該端口測(cè)試儀的端口所連接的設(shè)備的類型。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
[0005]一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法，應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)識(shí)別第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備，且所述測(cè)試系統(tǒng)安裝于測(cè)試儀器，所述第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備分別與所述測(cè)試儀器的不同串口相連，包括:
[0006]S1、依次向所述測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第一測(cè)試設(shè)備的第一識(shí)別信號(hào)；
[0007]S2、判斷所述串口是否有第一反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第一反饋信號(hào)的串口連接有所述第一測(cè)試設(shè)備；
[0008]S3、依次向測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第二測(cè)試設(shè)備的第二識(shí)別信號(hào)；
[0009]S4、判斷所述串口是否有第二反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第二反饋信號(hào)的串口連接有所述第二測(cè)試設(shè)備，其中，所述第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備的類型不同。
[0010]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的技術(shù)方案通過(guò)依次向測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別第一測(cè)試設(shè)備的第一識(shí)別信號(hào)，將有第一反饋信號(hào)的串口連接的設(shè)備確定為第一測(cè)試設(shè)備，依次向測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別第二測(cè)試設(shè)備的第二識(shí)別信號(hào)，將有第二反饋信號(hào)的串口連接的設(shè)備確定為第二測(cè)試設(shè)備，因此無(wú)需操作人員再次判斷，降低了操作人員的工作量，同時(shí)也提高了工作效率。
[0011]此外，本發(fā)明還提供了一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別系統(tǒng)，應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)識(shí)別第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備，且所述測(cè)試系統(tǒng)安裝于測(cè)試儀器，所述第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備分別與所述測(cè)試儀器的不同串口相連，其特征在于，包括:
[0012]第一發(fā)送模塊，用于依次向所述測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第一測(cè)試設(shè)備的第一識(shí)別信號(hào)；
[0013]第一判斷模塊，用于判斷所述串口是否有第一反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第一反饋信號(hào)的串口連接有所述第一測(cè)試設(shè)備；
[0014]第二發(fā)送模塊，用于依次向測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第二測(cè)試設(shè)備的第二識(shí)別信號(hào)；
[0015]以及，第二判斷模塊，用于判斷所述串口是否有第二反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第二反饋信號(hào)的串口連接有所述第二測(cè)試設(shè)備，其中，所述第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備的類型不同。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供給的識(shí)別系統(tǒng)無(wú)需操作人員進(jìn)行判斷并手動(dòng)調(diào)整位置，降低了操作人員的工作量，同時(shí)也提高了工作效率。
【附圖說(shuō)明】
[0017]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1為本發(fā)明實(shí)施例公開的一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法的流程示意圖；
[0019]圖2為本發(fā)明實(shí)施例公開的另一一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法的流程示意圖；
[0020]圖3為本發(fā)明實(shí)施例圖2中步驟S5’的一種測(cè)試設(shè)備的配對(duì)方法的流程示意圖；
[0021]圖4為本發(fā)明實(shí)施例圖3中步驟S40的一種判斷和調(diào)節(jié)過(guò)程的示意圖；
[0022]圖5為本發(fā)明實(shí)施例圖2中步驟S5’的另一種測(cè)試設(shè)備的配對(duì)方法的流程示意圖；
[0023]圖6為本發(fā)明實(shí)施例圖2中步驟S5’的又一種測(cè)試設(shè)備的配對(duì)方法的流程示意圖；
[0024]圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖8為本發(fā)明實(shí)施例公開的一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖9為本發(fā)明實(shí)施例公開的識(shí)別系統(tǒng)中配對(duì)子系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0028]正如【背景技術(shù)】所述，現(xiàn)有技術(shù)中，在進(jìn)行g(shù)amma調(diào)試時(shí)，測(cè)試儀器只能檢測(cè)可用的端口，而無(wú)法辨別該端口所連接的設(shè)備是什么，需要操作人員再次進(jìn)行判斷，因而導(dǎo)致工作效率低。
[0029]有鑒于此，本發(fā)明公開了一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法及識(shí)別系統(tǒng)，能夠在進(jìn)行g(shù)a_a調(diào)試時(shí)判斷可用端口所連接的設(shè)備的類型，從而降低了操作人員的工作量，提高了工作效率。
[0030]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)試設(shè)備的識(shí)別方法，該方法應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)中，用于識(shí)別第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備，且測(cè)試系統(tǒng)安裝于測(cè)試儀器，第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備分別與測(cè)試儀器的不同串口相連，其中，測(cè)試儀器可以是上位機(jī)或者測(cè)試芯片。具體地，可參見圖1所示，包括:
[0031]步驟S1、依次向所述測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第一測(cè)試設(shè)備的第一識(shí)別信號(hào)；
[0032]其中，第一測(cè)試設(shè)備和第二測(cè)試設(shè)備為不同類型的測(cè)試設(shè)備，每個(gè)測(cè)試設(shè)備能夠響應(yīng)與其匹配的識(shí)別信號(hào)，因此，在本步驟中，為了檢測(cè)測(cè)試儀器的哪些串口連接的是第一測(cè)試設(shè)備，在本步驟中需依次通過(guò)測(cè)試儀器的每一串口輸出用于測(cè)試第一測(cè)試設(shè)備的第一識(shí)別信號(hào)，其中，為了方便對(duì)本發(fā)明實(shí)施例公開的技術(shù)方案進(jìn)行清楚的說(shuō)明，第一識(shí)別信號(hào)默認(rèn)為與第一測(cè)試設(shè)備相匹配的識(shí)別信號(hào)，即第一測(cè)試設(shè)備能夠?qū)Φ谝蛔R(shí)別信號(hào)產(chǎn)生響應(yīng)信息；
[0033]步驟S2、判斷所述串口是否有第一反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第一反饋信號(hào)的串口連接有所述第一測(cè)試設(shè)備；
[0034]當(dāng)通過(guò)上述各個(gè)串口發(fā)送出第一識(shí)別信號(hào)后，若某個(gè)串口所接的設(shè)備為第一測(cè)試設(shè)備，則該串口會(huì)獲取到第一測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的第一反饋信號(hào)(第一測(cè)試設(shè)備依據(jù)第一識(shí)別信號(hào)產(chǎn)生的響應(yīng)信號(hào))，因此，即可確定:獲取到第一反饋信號(hào)的串口所連接的測(cè)試設(shè)備為第一測(cè)試設(shè)備；
[0035]步驟S3、依次向測(cè)試儀器的每一串口發(fā)送識(shí)別所述第二測(cè)試設(shè)備的第二識(shí)別信號(hào)；
[0036]本步驟與步驟SI原理類似，是為了檢測(cè)測(cè)試儀器的哪些串口連接的是第二測(cè)試設(shè)備，在本步驟中需依次通過(guò)測(cè)試儀器的每一串口輸出用于測(cè)試第二測(cè)試設(shè)備的第二識(shí)別信號(hào)，第二識(shí)別信號(hào)默認(rèn)為與第二測(cè)試設(shè)備相匹配的識(shí)別信號(hào)，即第二測(cè)試設(shè)備能夠?qū)Φ诙R(shí)別?目號(hào)廣生響應(yīng)?目息；
[0037]步驟S4、判斷所述串口是否有第二反饋信號(hào)，若有，則確定有所述第二反饋信號(hào)的串口連接有所述第二測(cè)試設(shè)備；
[0038]該步驟與步驟3原理類似，當(dāng)通過(guò)上述各個(gè)串口發(fā)送出第二識(shí)別信號(hào)后，若某個(gè)串口所接的設(shè)備為第二測(cè)試設(shè)備，則該串口會(huì)獲取到第二測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的第二反饋信號(hào)(第二測(cè)試設(shè)備依據(jù)第二識(shí)別信號(hào)產(chǎn)生的響應(yīng)信號(hào))，因此，即可確