成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明揭露一種成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板，在現(xiàn)有成盒測(cè)試電路的基礎(chǔ)上，增加奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與集成電路的連線；在成盒測(cè)試電路工作狀態(tài)，使能信號(hào)測(cè)試焊盤通過(guò)成盒測(cè)試使能信號(hào)線輸出恒壓高電平信號(hào)，奇數(shù)、偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別通過(guò)奇數(shù)、偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線輸出數(shù)據(jù)信號(hào)；在集成電路工作狀態(tài)，使能信號(hào)測(cè)試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號(hào)，奇數(shù)、偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別接收集成電路提供的測(cè)試信號(hào)。本發(fā)明降低了奇數(shù)、偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線為浮置狀態(tài)所引起的成盒測(cè)試電路測(cè)試晶體管漏電流，改善面板的顯示不均及因測(cè)試晶體管漏電引起的串?dāng)_及閃爍問(wèn)題，并且能改善面板的顯示效果，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
【專利說(shuō)明】
成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種改善因成盒測(cè)試電路引起的面板顯示不均、串?dāng)_及閃爍問(wèn)題的成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶面板向輕薄化和低功耗等方向發(fā)展是目前市場(chǎng)中的顯示裝置的發(fā)展趨勢(shì)，隨著高PPKPixels Per Inch，像素密度)及低功耗等方面的需求，相應(yīng)的產(chǎn)品良率會(huì)有影響。為提升成盒(Cell)后良率，一般會(huì)在面板上設(shè)計(jì)成盒測(cè)試(Cell Test)電路。
[0003]參考圖1，液晶顯示面板組成示意圖。液晶顯示面板的組成包括:陣列測(cè)試(ArrayTest)區(qū)11、像素顯示區(qū)12、G0A(Gate On Array，集成在陣列基板上的行掃描)區(qū)13、扇出(Fanout)區(qū) 14、成盒測(cè)試(CelI Test)區(qū) 15、W0A(Wire On Array，陣列外布線)區(qū) 16、IC(Integrated Circuit，集成電路)區(qū) 17以及FPC(Flexible Printed Circuit，柔性印刷電路)區(qū)18。其中，陣列測(cè)試區(qū)11用于在陣列(Array)基板完成之后，對(duì)陣列基板的電性進(jìn)行測(cè)試;像素顯示區(qū)12用于像素的顯示;GOA區(qū)13用于產(chǎn)生面內(nèi)薄膜晶體管(TFT)的柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)；扇出區(qū)14用于IC區(qū)17與像素顯示區(qū)12數(shù)據(jù)線(Dataline)的走線連接;成盒測(cè)試區(qū)15用于面板成盒之后對(duì)面板顯示效果進(jìn)行測(cè)試，過(guò)程管理是在IC綁定(Bonding)之前;WOA區(qū)16用于面板周圍走線的連接；IC區(qū)17用于IC的綁定，通過(guò)IC驅(qū)動(dòng)面內(nèi)電路和TFT;FPC區(qū)18用于FPC的綁定，通過(guò)FPC連接電子設(shè)備主板。
[0004]參考圖2，現(xiàn)有小尺寸面板的成盒測(cè)試電路連接示意圖。在成盒測(cè)試電路工作狀態(tài)，IC無(wú)信號(hào)，此時(shí)成盒測(cè)試區(qū)15內(nèi)的使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl外灌恒壓高電平信號(hào)VGH，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3外灌數(shù)據(jù)信號(hào)DATA，成盒測(cè)試電路的測(cè)試晶體管TFT處在打開(kāi)工作狀態(tài);在成盒測(cè)試電路工作之后，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線(CTDO)與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線(CTDE)為浮置(Floating)狀態(tài)。在IC工作狀態(tài)，使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl連接FPC接收恒壓低電平信號(hào)VGL，測(cè)試晶體管(TFT)為關(guān)閉狀態(tài)，并且像素顯示區(qū)12內(nèi)奇數(shù)行與偶數(shù)行數(shù)據(jù)線分別通過(guò)測(cè)試晶體管連接在一起；由于測(cè)試晶體管的漏電不可能完全為0，奇數(shù)(偶數(shù))行數(shù)據(jù)信號(hào)會(huì)通過(guò)的測(cè)試晶體管耦合，在測(cè)試晶體管漏電比較大時(shí)，或測(cè)試晶體管的柵極電壓有浮動(dòng)時(shí)，會(huì)導(dǎo)致面板顯示異常，串?dāng)_(H-Crosstalk)和閃爍顯著增加。
[0005]因此，需要對(duì)現(xiàn)有的成盒測(cè)試電路進(jìn)行改善，以解決現(xiàn)有的成盒測(cè)試電路的測(cè)試晶體管在關(guān)閉下存在漏電流導(dǎo)致面板顯示異常，串?dāng)_和閃爍顯著增加的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于，提供一種成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板，以對(duì)現(xiàn)有的成盒測(cè)試電路進(jìn)行改善，解決現(xiàn)有的成盒測(cè)試電路的測(cè)試晶體管在關(guān)閉下存在漏電流導(dǎo)致面板顯示異常，串?dāng)_和閃爍顯著增加的問(wèn)題。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種成盒測(cè)試電路，用于液晶顯示面板測(cè)試，所述液晶顯示面板包括集成電路、柔性印刷電路、以及多條按列方向延伸并間隔設(shè)置的奇數(shù)數(shù)據(jù)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)線，所述成盒測(cè)試電路包括:一使能信號(hào)測(cè)試焊盤，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤分別電性連接成盒測(cè)試使能信號(hào)線以及所述柔性印刷電路;一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別電性連接奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線以及所述集成電路;一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤，所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別電性連接偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線以及所述集成電路;至少一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線，第二端口電性連接所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線，第三端口電性連接所述奇數(shù)數(shù)據(jù)線；以及至少一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管，所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線，第二端口電性連接所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線，第三端口電性連接所述偶數(shù)數(shù)據(jù)線。
[0008]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種液晶顯示基板，包括至少一個(gè)液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設(shè)有本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路。
[0009]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于，本發(fā)明提供成盒測(cè)試電路，在現(xiàn)有成盒測(cè)試電路的基礎(chǔ)上，增加奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與集成電路的連線。在集成電路工作時(shí)，通過(guò)集成電路給奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線提供信號(hào)，降低奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線為浮置狀態(tài)所引起的成盒測(cè)試電路測(cè)試晶體管漏電流，改善面板的顯示不均及因測(cè)試晶體管漏電引起的串?dāng)_及閃爍問(wèn)題，并且能改善面板的顯示效果，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
【附圖說(shuō)明】
[00?0]圖1，液晶顯示面板組成示意圖；
[0011]圖2，現(xiàn)有小尺寸面板的成盒測(cè)試電路連接示意圖；
[0012]圖3，本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路第一實(shí)施例所示的電路連接示意圖；
[0013]圖4為圖3所示電路的工作示意圖；
[0014]圖5，本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路中的測(cè)試晶體管的工作原理示意圖；
[0015]圖6，本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路第二實(shí)施例所示的電路連接示意圖；
[0016]圖7為圖6所示電路的工作示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的成盒測(cè)試電路以及液晶顯示基板作詳細(xì)說(shuō)明。
[0018]參考圖3，本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路第一實(shí)施例所示的電路連接示意圖。本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路用于液晶顯示面板測(cè)試，所述的液晶顯示面板包括集成電路1C、柔性印刷電路FPC、以及多條按列方向延伸并間隔設(shè)置的奇數(shù)數(shù)據(jù)線ODL與偶數(shù)數(shù)據(jù)線EDL。其中，成盒測(cè)試電路設(shè)置在液晶顯示面板的成盒測(cè)試區(qū)35，集成電路IC設(shè)置在液晶顯示面板的集成電路區(qū)37，柔性印刷電路FPC設(shè)置在液晶顯示面板的柔性印刷電路區(qū)38，多條奇數(shù)數(shù)據(jù)線ODL與多條偶數(shù)數(shù)據(jù)線EDL按列方向延伸并間隔設(shè)置在液晶顯示面板的像素顯示區(qū)32。其中，成盒測(cè)試區(qū)35有兩個(gè)，兩個(gè)成盒測(cè)試區(qū)35對(duì)稱設(shè)置在液晶顯示面板上集成電路區(qū)37的兩側(cè)，每個(gè)成盒測(cè)試區(qū)3 5設(shè)置有一本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路。
[0019]所述成盒測(cè)試電路包括:一使能信號(hào)測(cè)試焊盤CT1、一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2、一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3、至少一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管ODT以及至少一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管EDT。使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl分別電性連接成盒測(cè)試使能信號(hào)線CTEN以及柔性印刷電路FPC。所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2分別電性連接奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO以及集成電路IC;偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3分別電性連接偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE以及集成電路IC;奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管0DT的第一端口電性連接成盒測(cè)試使能信號(hào)線CTEN，第二端口電性連接奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO，第三端口電性連接奇數(shù)數(shù)據(jù)線ODL;偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管EDT的第一端口電性連接成盒測(cè)試使能信號(hào)線CTEN，第二端口電性連接偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE，第三端口電性連接偶數(shù)數(shù)據(jù)線H)L。
[0020]在成盒測(cè)試電路工作狀態(tài)，使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl通過(guò)成盒測(cè)試使能信號(hào)線CTEN輸出恒壓高電平信號(hào)VGH，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3分別通過(guò)奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE輸出數(shù)據(jù)信號(hào)。在集成電路工作狀態(tài)，使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl接收柔性印刷電路FPC提供的恒壓低電平信號(hào)VGL，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3分別接收集成電路IC提供的測(cè)試信號(hào)。也即，本發(fā)明在現(xiàn)有成盒測(cè)試電路的基礎(chǔ)上，增加奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3與集成電路IC的連線，通過(guò)集成電路IC對(duì)CT2、CT3外灌信號(hào)，從而降低在成盒測(cè)試電路工作之后，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE為浮置(Floating)狀態(tài)所引起的測(cè)試晶體管(0DT、EDT)漏電引起的面板顯示異常。
[0021]特別的，在集成電路工作狀態(tài)，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2、CT3分別接收集成電路IC提供的不同極性的測(cè)試信號(hào)。具體的，在集成電路工作的時(shí)候，使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl接收柔性印刷電路FPC提供的恒壓低電平信號(hào)VGL，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3分別由集成電路IC提供不同極性的測(cè)試信號(hào);CT2、CT3接收到的信號(hào)的極性根據(jù)數(shù)據(jù)線的極性改變而改變，使得測(cè)試晶體管(ODT、EDT)第二端口與第三端口信號(hào)極性相同。
[0022]參考圖4，其為圖3所示電路的工作示意圖。在集成電路工作狀態(tài)，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2接收的測(cè)試信號(hào)(CT_ICD0)的極性隨著奇數(shù)數(shù)據(jù)線ODL的極性改變而改變，使奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管ODT的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同；即奇數(shù)數(shù)據(jù)線ODL上的DATA信號(hào)與奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO上CT_ICD0信號(hào)極性相同，在本實(shí)施例中兩信號(hào)極性均為正(+ )。偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3接收的測(cè)試信號(hào)(CT_ICDE)的極性隨著偶數(shù)數(shù)據(jù)線EDL的極性改變而改變，使偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管EDT的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同；即偶數(shù)數(shù)據(jù)線EDL上的DATA信號(hào)與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE上CT_ICDE信號(hào)極性相同，在本實(shí)施例中兩信號(hào)極性均為負(fù)(_)。
[0023]圖5，本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路中的測(cè)試晶體管的工作原理示意圖。測(cè)試晶體管(0DT、EDT)的第一端口輸入使能信號(hào)CTEN，第二端口輸入測(cè)試信號(hào)CT_IC(CT_ICD0或CT_I⑶E)，第三端口輸入數(shù)據(jù)信號(hào)DATA，CT_IC與DATA信號(hào)極性相同。具體為:當(dāng)DATA極性為正(+)時(shí)，CT_IC極性為正(+);當(dāng)DATA極性負(fù)(-)時(shí)，CT_IC極性為負(fù)(_)。集成電路IC提供給信號(hào)線CTDE與CTDO的測(cè)試信號(hào)極性根據(jù)測(cè)試晶體管連接的數(shù)據(jù)線DATA信號(hào)極性而變。測(cè)試晶體管的第二端口與第三端口(源極端Source和漏極端Drain)都為同極性的電位，降低奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDO與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線CTDE為浮置(Floating)狀態(tài)時(shí)測(cè)試晶體管的源漏壓差Vds值，從而降低測(cè)試晶體管的漏電，改善面板的顯示異常的問(wèn)題。
[0024]特別的，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管ODT與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管EDT均為薄膜晶體管，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管ODT與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管EDT的第一端口為薄膜晶體管的柵極。
[0025]特別的，在本實(shí)施例中，從使能信號(hào)測(cè)試焊盤CTl底部引出引線電性連接柔性印刷電路FPC，以減少扇出區(qū)(Fanout)走線，降低芯片(Chip )的OLB區(qū)域。OLB ( OuterLeadBonding，外部引線連接)區(qū)域是指液晶顯示面板用來(lái)綁定(Bonding) IC和FPC的區(qū)域。
[0026]參考圖6-7，其中，圖6為本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路第二實(shí)施例所示的電路連接示意圖；圖7為圖6所示電路的工作示意圖。與圖3所示第一實(shí)施例的不同之處在于，在本實(shí)施例中，從奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT2底部引出引線電性連接集成電路IC;從偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤CT3底部引出引線電性連接集成電路1C，以進(jìn)一步減少扇出區(qū)(Fanout)走線，降低芯片的OLB區(qū)域。
[0027]本發(fā)明提供成盒測(cè)試電路，在現(xiàn)有成盒測(cè)試電路的基礎(chǔ)上，增加奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與集成電路的連線。在集成電路工作時(shí)，通過(guò)集成電路給奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線提供信號(hào)，降低奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線為浮置狀態(tài)所引起的成盒測(cè)試電路測(cè)試晶體管漏電流，降低因正負(fù)幀切換引起的漏電流大小不一，改善面板的顯示不均及因測(cè)試晶體管漏電引起的串?dāng)_及閃爍問(wèn)題，并且能改善面板的顯示效果，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
[0028]本發(fā)明還提供了一種液晶顯示基板，所述的液晶顯示基板包括至少一個(gè)液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設(shè)有本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路。采用本發(fā)明所述的成盒測(cè)試電路的液晶顯示面板，改善了成盒測(cè)試電路測(cè)試晶體管電性;在集成電路工作時(shí)，通過(guò)集成電路給奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線和偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線提供信號(hào)，降低在成盒測(cè)試電路測(cè)試晶體管關(guān)閉下，奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線為浮置狀態(tài)所引起的測(cè)試晶體管漏電流大小，改善面板的顯示不均及因測(cè)試晶體管漏電引起的串?dāng)_及閃爍問(wèn)題，并且能改善面板的顯示效果，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
[0029]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種成盒測(cè)試電路，用于液晶顯示面板測(cè)試，所述液晶顯示面板包括集成電路、柔性印刷電路、以及多條按列方向延伸并間隔設(shè)置的奇數(shù)數(shù)據(jù)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)線，其特征在于，所述成盒測(cè)試電路包括: 一使能信號(hào)測(cè)試焊盤，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤分別電性連接成盒測(cè)試使能信號(hào)線以及所述柔性印刷電路； 一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別電性連接奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線以及所述集成電路； 一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤，所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別電性連接偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線以及所述集成電路； 至少一奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線，第二端口電性連接所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線，第三端口電性連接所述奇數(shù)數(shù)據(jù)線；以及 至少一偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管，所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口電性連接所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線，第二端口電性連接所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線，第三端口電性連接所述偶數(shù)數(shù)據(jù)線。2.如權(quán)利要求1所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于，在成盒測(cè)試電路工作狀態(tài)，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤通過(guò)所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線輸出恒壓高電平信號(hào)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別通過(guò)所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線輸出數(shù)據(jù)信號(hào)； 在集成電路工作狀態(tài)，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號(hào)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別接收集成電路提供的測(cè)試信號(hào)。3.如權(quán)利要求2所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于，在集成電路工作狀態(tài)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別接收集成電路提供的不同極性的測(cè)試信號(hào)。4.如權(quán)利要求2所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于，在集成電路工作狀態(tài)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤接收的測(cè)試信號(hào)的極性隨著所述奇數(shù)數(shù)據(jù)線的極性改變而改變，使所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同；所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤接收的測(cè)試信號(hào)的極性隨著所述偶數(shù)數(shù)據(jù)線的極性改變而改變，使所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同。5.如權(quán)利要求1所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管與所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管均為薄膜晶體管，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管與所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口為所述薄膜晶體管的柵極。6.如權(quán)利要求1所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于， 從所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述柔性印刷電路。7.如權(quán)利要求1或6所述的成盒測(cè)試電路，其特征在于， 從所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路； 從所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路。8.—種液晶顯示基板，其特征在于，包括至少一個(gè)液晶顯示面板，所述液晶顯示面板上設(shè)有如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的成盒測(cè)試電路。9.如權(quán)利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于，在成盒測(cè)試電路工作狀態(tài)，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤通過(guò)所述成盒測(cè)試使能信號(hào)線輸出恒壓高電平信號(hào)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別通過(guò)所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)線輸出數(shù)據(jù)信號(hào)； 在集成電路工作狀態(tài)，所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤接收柔性印刷電路提供的恒壓低電平信號(hào)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別接收集成電路提供的測(cè)試信號(hào)。10.如權(quán)利要求9所述的液晶顯示基板，其特征在于，在集成電路工作狀態(tài)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤與偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤分別接收集成電路提供的不同極性的測(cè)試信號(hào)。11.如權(quán)利要求9所述的液晶顯示基板，其特征在于，在集成電路工作狀態(tài)，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤接收的測(cè)試信號(hào)的極性隨著所述奇數(shù)數(shù)據(jù)線的極性改變而改變，使所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同；所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤接收的測(cè)試信號(hào)的極性隨著所述偶數(shù)數(shù)據(jù)線的極性改變而改變，使所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第二端口與第三端口信號(hào)極性相同。12.如權(quán)利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管與所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管均為薄膜晶體管，所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管與所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試晶體管的第一端口為所述薄膜晶體管的柵極。13.如權(quán)利要求8所述的液晶顯示基板，其特征在于， 從所述使能信號(hào)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述柔性印刷電路。14.如權(quán)利要求8或13所述的液晶顯示基板，其特征在于， 從所述奇數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路； 從所述偶數(shù)數(shù)據(jù)測(cè)試焊盤底部引出引線電性連接所述集成電路。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK106057112SQ201610649163
【公開(kāi)日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年8月9日 公開(kāi)號(hào)201610649163.1, CN 106057112 A, CN 106057112A, CN 201610649163, CN-A-106057112, CN106057112 A, CN106057112A, CN201610649163, CN201610649163.1
【發(fā)明人】馬亮, 趙莽
【申請(qǐng)人】武漢華星光電技術(shù)有限公司