專利名稱：光掃描裝置以及成像裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光掃描裝置，該光掃描裝置用于在成像裝置中的感光體等像載置體表面形成靜電潛像，尤其涉及多光束掃描方式的光掃描裝置，該方式的光掃描裝置用具有多個(gè)發(fā)光源的光源發(fā)射的多束光束同時(shí)掃描來高速成像，進(jìn)而本發(fā)明涉及搭載該光掃描裝置的成像裝置，該成像裝置為具有電子照相方式的打印機(jī)、傳真機(jī)、復(fù)印機(jī)的功能的成像裝置、或者具有至少兩種以上這些功能的多功能復(fù)合機(jī)。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，采用公知的電子照相方式的成像裝置利用轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡來偏轉(zhuǎn)掃描光源組件發(fā)射的光束，并通過適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)部件如成像透鏡或反射鏡等在感光體等像載置體上成像，形成需要的靜電潛像。此外，現(xiàn)有的成像裝置中還存在以下結(jié)構(gòu)，即用反射鏡等光學(xué)部件從受到轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡偏轉(zhuǎn)反射后的光束中分離或抽取一部分光束，作為如掃描開始信號(hào)或掃描結(jié)束信號(hào)等電觸發(fā)信號(hào)，入射到光檢測(cè)傳感器之中。在上述公知的現(xiàn)有技術(shù)中，廣泛采用玻璃基材的光學(xué)部件作為分離或抽取一部分光束的反射鏡，如在專利文獻(xiàn)1 (JP特開平08-106039號(hào)公報(bào))中公開的技術(shù)方案中，利用施加了鏡面加工的金屬塊作為相當(dāng)于該玻璃基材的反射鏡部件。然而，隨著高速成像的發(fā)展，目前的多色成像裝置采用隨選打印系統(tǒng)，其結(jié)果為， 引發(fā)用戶提出更加高精致圖像質(zhì)量的要求。對(duì)此，專利文獻(xiàn)2(開特開2009-47擬4號(hào)公報(bào))等公開了以下多光束掃描方式的技術(shù)方案，該方式采用具有多個(gè)發(fā)光源的二元陣列元件(VCSEL，面發(fā)光型半導(dǎo)體激光陣列)，用多束光束同時(shí)掃描像載置體，同時(shí)形成多條線的靜電潛像。利用該多光束掃描方式的光掃描裝置能夠高速形成高精致圖像，因而十分受到矚目。通常，成像裝置無論是采用上述具有多個(gè)發(fā)光源的二元陣列元件，還是采用以往廣泛使用的具有單獨(dú)光源的端面發(fā)光激光等，光源發(fā)射的光束光量都會(huì)隨著溫度變化或使用時(shí)間的增加而發(fā)生變化，造成在最終輸出圖像中出現(xiàn)濃度偏差問題。對(duì)此，在目前普遍使用的采用端面發(fā)光激光的光掃描裝置中，為了抑制該問題的發(fā)生，通過檢測(cè)從后方發(fā)射的后方射出光，來進(jìn)行光源光量調(diào)整的自動(dòng)功率調(diào)整即APC控制。然而，上述多光束掃描方式中采用的具有多個(gè)發(fā)光源的二元陣列元件，對(duì)于這樣的光源來說，因其在結(jié)構(gòu)上不會(huì)發(fā)生從后方發(fā)射的后方射出光，因此必須用一部分光路來從前方發(fā)射的光束即用于形成靜電潛像的光束中分離或抽取的一部分光束，進(jìn)而通過反射等將該抽取的光束作為檢測(cè)光束，入射到光電二極管等光檢測(cè)傳感器中，根據(jù)該光電二極管接受的光量來進(jìn)行APC控制。但是，對(duì)于從前方發(fā)射的光束分離或抽取一部分光束并經(jīng)過反射等來進(jìn)行APC控制來說，若要采用如專利文獻(xiàn)1所述的被施加了鏡面加工的金屬塊，或者采用用于抽取觸發(fā)信號(hào)的玻璃基材的光學(xué)部件的方式，則會(huì)發(fā)生以下問題。例如，如果采用施加鏡面加工的金屬塊，則該金屬塊的鏡面加工會(huì)造成制造成本上升的問題。而如果采用目前廣泛使用的玻璃基材的發(fā)射鏡，則需要從光源發(fā)射的光中抽取一部分光，并且需要用多個(gè)反射鏡或棱鏡將該一部分光入射到位于預(yù)定位置的光檢測(cè)傳感器中，這樣也會(huì)使得制造成本趨于上升，此外還會(huì)引起裝置大型化的問題，這對(duì)于目前要求低成本的裝置來說，在成本問題上尤其缺乏魅力。對(duì)此，專利文獻(xiàn)2公開了以下技術(shù)方案。該方案采用設(shè)有小口徑開口的光束分割元件，該光束分割元件的口徑小于二元陣列元件的光源發(fā)射的光束，該光束分割元件被設(shè)置為相對(duì)于與光軸垂直的平面傾斜，傾斜為預(yù)定角度如45°，該光束分割元件中靠近光源一側(cè)設(shè)有高輝度反射面。在該結(jié)構(gòu)中，通過光束分割元件的開口的光束作為形成靜電潛像的寫入光束直接射向多角鏡等轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡，而后通過轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡偏轉(zhuǎn)掃描后經(jīng)由適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)元件射向像載置體。而未通過口徑小于光束的開口的外圍光束則被光束分割元件中靠近光源一側(cè)的反射面反射，經(jīng)過會(huì)聚透鏡或反射鏡等入射到設(shè)有光源的電路基板上，該電路基板上的光檢測(cè)傳感器讀取該外圍光的光量，根據(jù)該光量實(shí)行APC控制。利用上述結(jié)構(gòu)有可能以較低的成本來檢測(cè)光源發(fā)射的光束的光量，實(shí)行APC控制，但是，如上所述，目前的成像裝置要求形成高精致圖像，而要獲得高精致圖像，則需要精確地實(shí)行APC控制，為此，需要以更加良好的精度來檢測(cè)被光束分割元件抽取的外圍光，用以實(shí)行APC控制。但是，在采用諸如二元陣列元件的VCSEL作為光源時(shí)，具有多個(gè)發(fā)光源的光源發(fā)射多束光束，要使得該多束發(fā)射光束中的一部分入射一個(gè)光檢測(cè)傳感器，則需要在入射光檢測(cè)傳感器時(shí)所有來自光源的光點(diǎn)直徑成為預(yù)定大小，這樣會(huì)在光束分割元件的設(shè)置狀態(tài)或精度上發(fā)生問題。然而，專利文獻(xiàn)2公開的技術(shù)僅提到了關(guān)于二元陣列元件的定位以及位于耦合透鏡之后的光學(xué)元件的調(diào)整、定位、以及電路基板的保持，卻沒有公開光束分割元件的保持方法，用以使得光學(xué)檢測(cè)傳感器能夠高精度地檢測(cè)光束分割元件的反射面所反射的外圍光。另外，如果要以更加良好的精度來實(shí)行APC控制，則需要盡量避免環(huán)境光混入到受光束分割元件反射并入射光檢測(cè)傳感器之中的反射光束之中。但是，上述光束分割元件被配置為相對(duì)于與光軸垂直的平面傾斜，因而光束分割元件被配置為相對(duì)于來自光源的光束的光軸傾斜，為此，通過光束分割元件的開口的光束中的一部分碰到光束分割元件的厚度部分而被反射。此時(shí)，受到該光束分割元件開口中的厚度部分反射的反射光經(jīng)光束分割元件的反射面反射后作為環(huán)境光，對(duì)將要被導(dǎo)入光檢測(cè)傳感器的用于檢測(cè)的反射光束發(fā)生干涉。出于上述原因，光束分割元件需要盡量形成得較薄，以盡可能減少受該光束分割元件厚度部分反射的環(huán)境光，但是，將光束分割元件制作得薄必然會(huì)導(dǎo)致光束分割元件發(fā)生變形，如果在使用時(shí)不進(jìn)行變形補(bǔ)償，則受該光束分割元件反射的反射光束無法以需要的反射角度來受到反射，此時(shí)，APC控制精度因該光束分割元件變形而下降。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題，本發(fā)明以提供一種光掃描裝置為目的，該光掃描裝置包括二元陣列元件等具有多個(gè)發(fā)光源的光源、以及用于從該發(fā)光源發(fā)射的光中分離一部分光束作為 APC控制用的檢測(cè)光束的光束分割元件，而且具備用于廉價(jià)且精度良好地抽取來自光束分割元件的檢測(cè)光束的光學(xué)系統(tǒng)。進(jìn)而，本發(fā)明的目的還在于提供設(shè)有該光掃描裝置的成像
直ο
為了解決上述問題，本發(fā)明詳細(xì)提供以下技術(shù)方案。(1)本發(fā)明的一個(gè)方面為，提供一種光掃描裝置，其為包括以下部件的光學(xué)系統(tǒng) 光源，具有多個(gè)發(fā)光源；光束分割元件，相對(duì)于所述光源發(fā)射的射出光傾斜設(shè)置，其中設(shè)有開口以及反射面，該開口用于讓在像載置體上形成靜電潛像的寫入光束通過，當(dāng)從所述光源發(fā)射的射出光的光路上觀察時(shí)，該反射面位于所述光源一側(cè)，用于反射寫入光束以外的光束，該寫入光束以外的光束被用作為調(diào)整所述光源的光量的檢測(cè)光束；以及，光檢測(cè)傳感器入射用光學(xué)系統(tǒng)，用于將作為所述檢測(cè)光束而受到反射的反射光入射到光檢測(cè)傳感器之中，其特征在于，所述光束分割元件被構(gòu)成為，其厚度被至少減小到該光束分割元件發(fā)生卷曲的程度，并且以該卷曲的凹面作為所述反射面，進(jìn)而，用光束分割元件推壓部件推壓所述光束分割元件中的凸部分，使得該光束分割元件被構(gòu)成為受到光束分割元件保持部件的保持，該凸部分位于所述反射面的相反一側(cè)的非反射面中最凸出的部分，且不接觸所述開口。(2)本發(fā)明還提供根據(jù)(1)所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件的最凸出的部分位于該光束分割元件的大致中心部分，該大致中心部分受到所述光束分割元件推壓部件的推壓。(3)本發(fā)明的另一個(gè)方面在于，根據(jù)(1)所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件用金屬板施加鈑金加工形成。(4)本發(fā)明還提供根據(jù)(1)所述的光掃描裝置，其特征在于，設(shè)于所述光束分割元件中的開口小于所述光源發(fā)射的射出光的光束。(5)本發(fā)明還提供根據(jù)(1)所述的光掃描裝置，其特征在于，用同一塊電路基板保持所述光學(xué)系統(tǒng)中的所述光源和所述光檢測(cè)傳感器，進(jìn)而，所述光學(xué)系統(tǒng)至少具有一塊反射鏡，用于將所述光束分割元件反射的檢測(cè)光束入射到所述光檢測(cè)傳感器之中。(6)本發(fā)明還提供根據(jù)(1)所述的光掃描裝置，其特征在于，設(shè)有光源組件，構(gòu)成為用所述光束分割元件保持部件載置所述光源。(7)本發(fā)明還提供根據(jù)(6)所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光源組件一體構(gòu)成為包括以下部件所述具有多個(gè)發(fā)光源的光源；用于保持該光源以及所述光檢測(cè)傳感器的電路基板；至少一個(gè)用于將所述光源發(fā)射的射出光形成為平行光束、或者形成為發(fā)散狀態(tài)或收束狀態(tài)的光束的光學(xué)元件；保持該光學(xué)元件的光學(xué)元件保持部；以及，至少一塊用于將所述光束分割元件反射的反射光入射到所述光檢測(cè)傳感器之中的反射鏡。(8)本發(fā)明還提供根據(jù)(7)所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件推壓部件被構(gòu)成為同時(shí)保持所述光束分割元件和所述反射鏡。(9)本發(fā)明的另一個(gè)方面在于，提供一種成像裝置，其特征在于，具備(1) (8)所述的光掃描裝置。本發(fā)明的效果如下。本發(fā)明采用薄光束分割元件，通過將該光束分割元件的厚度減小到該光束分割元件發(fā)生卷曲的程度，來有效抑制光束分割元件中用于通過光源發(fā)射的射出光的開口中的厚度部分上的反射光的影響，該反射光有可能成為影響APC控制的環(huán)境光。而且，本發(fā)明用該發(fā)生卷曲的光束分割元件的凹面作為反射面，并用推壓部件推壓該反射面相反一側(cè)的非反射面中的凸部分，從而使得光束分割元件被構(gòu)成為受到光束分割元件保持部件的保持，該凸部分為非反射面中最凸出部分，且不會(huì)接觸射出光通過的開口。通過采用上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明能夠用相對(duì)容易而且精度良好地制造的光束分割元件保持部件的平坦面來保持薄而發(fā)生卷曲的光束分割元件，使該光束分割元件變得平坦，其結(jié)果為，以低成本來實(shí)現(xiàn)保持光束分割元件平坦，有效抑制光束分割元件的卷曲所引起的反射光檢測(cè)精度下降。


圖1是一例涉及本發(fā)明成像裝置的全彩色打印機(jī)的剖面圖。圖2是一例采用本發(fā)明的光掃描裝置的立體圖。圖3是圖2所示的光掃描裝置的剖視圖。圖4A和圖4B是表示本發(fā)明的光源組件外觀的立體圖，其中圖4A是從該光源組件的正左方觀察的立體圖，圖4B是從正右方觀察的立體圖。圖5是從正面觀察時(shí)的電路基板的立體圖。圖6是具有多個(gè)發(fā)光源的光源的立體圖。圖7是一例顯示面發(fā)光光源排列的示意圖。圖8A和圖8B是中間保持體的立體圖。其中圖8A是從電路基板一側(cè)觀察的中間保持體的立體圖，圖8B是從光學(xué)元件保持體一側(cè)觀察的中間保持體的立體圖。圖9是在中間保持體與電路基板連接狀態(tài)下從后方觀察電路基板時(shí)的立體圖。圖10是光學(xué)元件保持體中位于中間保持體一方表面的立體圖。圖11是光學(xué)元件保持體中用于安裝光束分割元件的光束分割元件保持部件部分的放大圖。圖12是光束分割元件被保持在光束分割元件保持部件上的狀態(tài)的剖視圖。圖13是光束分割元件受到推壓部件的推壓而呈保持狀態(tài)的光源組件的俯視圖， 圖14為正視圖，圖15是斜視圖。圖14是光束分割元件受到推壓部件的推壓而呈保持狀態(tài)的光源組件的正視圖。圖15是光束分割元件受到推壓部件的推壓而呈保持狀態(tài)的光源組件的斜視圖。標(biāo)記說明10 光源13光束分割元件14檢測(cè)光束的反射鏡17光檢測(cè)傳感器20光束分割元件推壓部件30像載置體71 中間保持體72光學(xué)元件保持體72a光束分割元件保持部件72e光束分割元件安裝面75 電路基板100光掃描裝置200光源組件500成像裝置
具體實(shí)施例方式以下參見

本發(fā)明的實(shí)施方式。首先利用圖1說明設(shè)有本發(fā)明的光掃描裝置100的成像裝置500的結(jié)構(gòu)。圖1大致顯示了作為一例成像裝置的全彩色打印機(jī)的剖面圖。該圖1所示的成像裝置中，除了以下將要敘述的用于將光掃描裝置100中的檢測(cè)光束引導(dǎo)到光檢測(cè)傳感器中的光學(xué)系統(tǒng)、以及具備該光學(xué)系統(tǒng)的光源組件200以外，其他均為公知。圖1所示的成像裝置500中具備電子照相方式的成像單元。該成像單元中設(shè)有第 1至第4四臺(tái)成像單元la、lb、lc、ld。這些成像單元對(duì)應(yīng)不同的調(diào)色劑顏色，分別形成例如黑色、洋紅色、青色、以及黃色的調(diào)色劑圖像，除了所對(duì)應(yīng)的調(diào)色劑顏色不同以外這些成像單元具有的結(jié)構(gòu)相同。為此，在以下的說明中根據(jù)需要適當(dāng)省略附加標(biāo)記a、b、c、d。圖示的成像單元1中設(shè)有像載置體，即鼓狀感光體30，該感光體30周圍設(shè)有充電部件32、顯影裝置33、以及清潔裝置31。該感光體30按順時(shí)針方向轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)，充電裝置32 對(duì)該進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)的感光體30施加預(yù)定偏置電壓，使其表面均勻帶電。圖中顯示的充電部件32不但可以利用電暈放電等非接觸方式的充電器，還可利用接觸感光體30的輥狀部件作為充電器。圖1所示的成像裝置中，4臺(tái)成像單元1的上方設(shè)有以下將要敘述的光掃描裝置 100。該光掃描裝置100中適當(dāng)設(shè)有光源、轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡即多角鏡、f-θ透鏡、反射鏡等光學(xué)構(gòu)成部件，根據(jù)與各色調(diào)色劑的圖像數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)地形成的圖像信息，對(duì)經(jīng)充電部件32充電了的各個(gè)感光體30進(jìn)行光掃描或曝光，在各個(gè)感光體30上分別形成靜電潛像。該光掃描裝置100在感光體30上形成的靜電潛像隨著感光體30的轉(zhuǎn)動(dòng)經(jīng)過顯影裝置33，此時(shí)，該靜電潛像吸附各色調(diào)色劑而受到顯影。各臺(tái)成像單元1中，在感光體30的對(duì)面設(shè)置中間轉(zhuǎn)印帶40，該中間轉(zhuǎn)印帶40為環(huán)狀，構(gòu)成中間轉(zhuǎn)印體，其外表面與各臺(tái)感光體30相接觸。圖1所示的中間轉(zhuǎn)印帶40掛繞在多個(gè)支持輥(40a、40b、40c)上，在該示例中，支持輥40b連接作為驅(qū)動(dòng)源的未圖示驅(qū)動(dòng)電機(jī)，受該驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，從而使得中間轉(zhuǎn)印帶40在進(jìn)行逆時(shí)針方向轉(zhuǎn)動(dòng)移動(dòng)(參見圖1中的箭頭方向)的同時(shí)，還使得能夠使得從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)的支持輥40a和40c從動(dòng)于該中間轉(zhuǎn)印帶 40的轉(zhuǎn)動(dòng)。在中間轉(zhuǎn)印帶40的環(huán)內(nèi)表面上設(shè)置未圖示的初級(jí)轉(zhuǎn)印輥，該初級(jí)轉(zhuǎn)印輥隔著中間轉(zhuǎn)印帶40與感光體30相對(duì)，受到同樣未圖示的高壓電源施加初級(jí)轉(zhuǎn)印偏壓，將經(jīng)過顯影裝置33顯影的調(diào)色劑圖像初級(jí)轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶40上。清潔裝置31用于準(zhǔn)備感光體進(jìn)行下一次成像動(dòng)作，其中的清潔刮刀用于清除未受到初級(jí)轉(zhuǎn)印而留在感光體30上的初級(jí)轉(zhuǎn)印殘留調(diào)色劑，這樣，感光體30上的調(diào)色劑便完全被清除。進(jìn)而，在圖示的成像裝置500中還設(shè)有次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器48，其作為次級(jí)轉(zhuǎn)印裝置， 隔著中間轉(zhuǎn)印帶40與從動(dòng)輥40c相對(duì)設(shè)置，該次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器48被施加電壓，該電壓的極性與充電裝置32相反。此外，成像裝置500還具備用于放置記錄媒體的供紙盒60和輸紙輥M，進(jìn)而還具有一對(duì)定位輥56等，進(jìn)而還設(shè)有定影裝置50，從次級(jí)轉(zhuǎn)印從電器48的位置觀察，該定影裝置50位于記錄媒體輸送方向的下游，其中具有加壓輥和加熱輥，用于對(duì)記錄媒體加熱加壓，將未定影的調(diào)色劑圖像固定到記錄媒體上。在該定影裝置50的輸送方向的下游設(shè)有一對(duì)輸送輥52以及一對(duì)排紙輥58等，用于將從定影裝置50輸出的記錄媒體排送到排紙盤501a等記錄媒體排出部中。以下說明成像裝置的成像動(dòng)作。成像動(dòng)作中，除了調(diào)色劑圖像的顏色不同以外，各臺(tái)感光體30上形成調(diào)色劑圖像、以及將該調(diào)色劑圖像轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶40上的動(dòng)作實(shí)質(zhì)上完全相同，因此，與上述相同根據(jù)需要適當(dāng)省略附加標(biāo)記a、b、c、d。首先，當(dāng)成像裝置從未圖示的個(gè)人電腦收到成像信號(hào)后，上述感光體30受到未圖示驅(qū)動(dòng)源驅(qū)動(dòng)，開始按順時(shí)針方向轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)，此時(shí)，該感光體30的表面受到來自同樣未圖示的消電裝置發(fā)射的光照射，其表面電位被初始化。而后，經(jīng)過表面電位初始化的感光體30 的表面受到充電部件32充電，使得表面以相同極性均勻帶電。帶電的感光體30的表面上受到以下將要敘述的光掃描裝置100發(fā)射的激光照射，從而該感光體30的表面上形成所要的靜電潛像。光掃描裝置100對(duì)各臺(tái)感光體30進(jìn)行曝光或光掃描的圖像信息是將所要的全彩色圖像分解為黃色、青色、洋紅色、黑色的各種調(diào)色劑色信息后的單色圖像信息。這樣， 感光體30上形成的靜電潛像在通過顯影裝置33時(shí)吸附該顯影裝置33提供的各色調(diào)色劑或顯影劑而被顯影，形成可視的調(diào)色劑圖像。在此，中間轉(zhuǎn)印帶40按圖中的逆時(shí)針方向行進(jìn)驅(qū)動(dòng)，并受到上述未圖示初級(jí)轉(zhuǎn)印輥對(duì)其施加初級(jí)轉(zhuǎn)印電壓，該電壓的極性與感光體30上形成調(diào)色劑圖像的調(diào)色劑的帶電極性相反。因該初級(jí)轉(zhuǎn)印電壓的作用，感光體30與中間轉(zhuǎn)印帶40之間形成初級(jí)轉(zhuǎn)印電場， 使得感光體上的調(diào)色劑圖像被靜電初級(jí)轉(zhuǎn)印到與該感光體30同步轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)的中間轉(zhuǎn)印帶 40上。這樣，被初級(jí)轉(zhuǎn)印的各色調(diào)色劑圖像以適當(dāng)?shù)臅r(shí)機(jī)，從中間轉(zhuǎn)印帶40的輸送方向上游開始依次重合到中間轉(zhuǎn)印帶40上，從而在中間轉(zhuǎn)印帶40上形成所要的全彩色調(diào)色劑圖像。另一方面，輸送輥M等輸送部件作用于供紙盒60中的記錄媒體疊，將用于成像的記錄媒體一張一張地分開并送到一對(duì)定位輥56的夾持部。此時(shí)，被送至定位輥56中的記錄媒體前端碰到該一對(duì)定位輥56中的夾持部，通過形成所謂的循環(huán)，進(jìn)行記錄媒體定位。之后，該一對(duì)定位輥56配合中間轉(zhuǎn)印帶40載置的全彩色調(diào)色劑圖像的時(shí)機(jī)開始轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)，將記錄媒體送往支持輥40c與次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器48構(gòu)成的次級(jí)轉(zhuǎn)印夾持部，次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器48 隔著該中間轉(zhuǎn)印帶40以規(guī)定間隔與支持輥47相對(duì)設(shè)置。在本實(shí)施例中，次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器 48上施加預(yù)定的轉(zhuǎn)印電壓，由此將中間轉(zhuǎn)印帶40的表面上的全彩色調(diào)色劑圖像同時(shí)轉(zhuǎn)印到記錄媒體上，未定影調(diào)色劑圖像被載置到該記錄媒體上。記錄媒體受到調(diào)色劑圖像轉(zhuǎn)印之后，被進(jìn)一步送往定影裝置50，在通過該定影裝置50時(shí)受到該定影裝置50的加熱加壓， 從而使得全彩色圖像被半永久性地固定到記錄媒體上。記錄媒體通過定影裝置定影圖像后被進(jìn)一步輸送，由一對(duì)輸送輥52以及一對(duì)排紙輥58等排出到記錄媒體排出部，從而結(jié)束成像動(dòng)作。此外，未圖示的中間轉(zhuǎn)印帶清潔裝置清除并回收在設(shè)有次級(jí)轉(zhuǎn)印充電器48的次級(jí)轉(zhuǎn)印部中未被轉(zhuǎn)印而殘留在中間轉(zhuǎn)印帶40上的殘留調(diào)色劑。以下進(jìn)一步利用圖2以及圖3來說明圖1顯示的成像裝置500中搭載的光掃描裝置100的結(jié)構(gòu)和作用。在此顯示的光掃描裝置100除了以下將要敘述的光源組件200以外其它部分的結(jié)構(gòu)均為公知，為此對(duì)于光掃描裝置100的整體結(jié)構(gòu)僅作簡單說明。圖2是一例采用本發(fā)明的光掃描裝置100的立體圖。圖3是該光掃描裝置100的剖視圖。另外，從圖1可以看出，成像裝置500中搭載了兩臺(tái)光掃描裝置，其中一臺(tái)用于感光體30a和30b，另一臺(tái)用于感光體30c和30d。圖2和圖3僅顯示了其中一臺(tái)即用于感光體30a和30b的光掃描裝置100。用于感光體30c和30d的光掃描裝置與用于感光體30a 和30b的光掃描裝置實(shí)際上結(jié)構(gòu)相同，因此在以下僅以用于感光體30a和30b的光掃描裝置100為例進(jìn)行說明。首先，圖2以及圖3所示的光掃描裝置100中包括作為偏轉(zhuǎn)裝置的轉(zhuǎn)動(dòng)多面鏡即多角鏡104。從該多角鏡104出發(fā)，沿著光源發(fā)射的光束被引導(dǎo)到達(dá)各臺(tái)感光體的光路觀察時(shí)，可以發(fā)現(xiàn)在光路下游依次設(shè)有第1掃描透鏡10 和10 、第1反射鏡106a和106b、 第2反射鏡108a和108b、以及第3反射鏡109a和109b等元件，進(jìn)而，在第1反射鏡106a 與第2反射鏡108a以及第1反射鏡106b與第2反射鏡108b之間分別設(shè)有第2掃描透鏡 107a以及107b。進(jìn)而，從多角鏡104觀察時(shí)可以發(fā)現(xiàn)，在光路的上游還設(shè)有以下將要說明的光源組件200a和200b。光源組件200a和200b被構(gòu)成為其中搭載的光源所發(fā)射的射出光以預(yù)定角度入射多角鏡104的偏轉(zhuǎn)面。在光源組件200a與多角鏡104之間以及光源組件200b與多角鏡 104之間沿著光路分別依次排設(shè)圓柱透鏡103a和103b，該圓柱透鏡103a和10 用于使得從光源發(fā)射的將要入射多角鏡104的射出光分別沿著副掃描方向在多角鏡104附近成像。 多角鏡104例如為六角柱形部件，其側(cè)面被形成為光束的偏轉(zhuǎn)面，該多角鏡104受到未圖示驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)而按圖2中的箭頭表示的規(guī)定方向并以規(guī)定的角速度轉(zhuǎn)動(dòng)驅(qū)動(dòng)。從光源組件 200a和200b發(fā)射的光束經(jīng)過圓柱透鏡103a和10 被會(huì)聚到多角鏡104偏轉(zhuǎn)面附近，在受到設(shè)于多角鏡104側(cè)面的偏轉(zhuǎn)面偏轉(zhuǎn)后，該光束依次通過第1掃描透鏡10 和105b、第1 反射鏡106a和106b、第2掃描透鏡107a以及107b、第2反射鏡108a和108b、以及第3反射鏡109a和109b，入射到像載置體即感光體30a和30b上的寫入?yún)^(qū)域。其中，第1掃描透鏡10 和10 相對(duì)于感光體30的軸向即主掃描方向等速移動(dòng)經(jīng)多角鏡104以一定角速度偏轉(zhuǎn)的光束的像面。第1反射鏡106a和106b用于分別反射通過第1掃描透鏡10 和 105b之后的光束，使得該光束分別入射第2掃描透鏡107a和107b。該第2掃描透鏡107a 和107b使得將要入射到各臺(tái)感光體30a和30b表面的光束通過第2反射鏡108a和108b、 以及第3反射鏡109a和109b后成像。當(dāng)成像裝置500收到未圖示的個(gè)人電腦等發(fā)送的成像信號(hào)后，上述光掃描裝置 100基于被同樣未圖示的主體控制部等分解為各色調(diào)色劑圖像的所要的圖像信息，從光源 200a和200b發(fā)射每種顏色的調(diào)色劑的光束，該射出光通過圓柱透鏡103a和10 被會(huì)聚到多角鏡104的偏轉(zhuǎn)面附近。而后，經(jīng)會(huì)聚后的射出光受到多角鏡104偏轉(zhuǎn)掃描，入射到第一掃描透鏡10 和10 中。而后，通過第1掃描透鏡10 和10 的光束受到反射鏡106a 和106b的反射，入射到第2掃描透鏡107a和107b中，該入射第2掃描透鏡107a和107b 的光束受到該第2掃描透鏡107a和107b的作用，通過第2反射鏡108a和108b、以及第3 反射鏡109a和109b后，在像載置體30a和30b上成像。在此，為了防止發(fā)生濃度偏差等成像問題，在像載置體30a和30b上成像的光束需要以預(yù)設(shè)的光強(qiáng)度或光量的狀態(tài)，即以以下將要敘述的接受APC控制的狀態(tài)，來入射到感光體30a和30b上的寫入?yún)^(qū)域中。下面利用圖4進(jìn)一步詳細(xì)說明本發(fā)明的光源組件200a和200b。由于光源200a和 200b實(shí)際上結(jié)構(gòu)相同，因此一下適當(dāng)省略附加標(biāo)記a、b。圖4是顯示本發(fā)明的光源組件200外觀的立體圖，其中圖4A是從該光源組件200 的正左方觀察的立體圖，圖4B是從正右方觀察的立體圖。在此所示的光源組件200中首先包括裝配光源10的電路基板75，其中，光源10包括面發(fā)光光源IOa以及收納該面發(fā)光光源IOa的外殼10b，面發(fā)光光源IOa具有多個(gè)發(fā)光源，二元排列在與該發(fā)光源發(fā)射的光束的發(fā)射方向相垂直的平面內(nèi)。而后，光源組件200具備光學(xué)元件保持體72，其用于保持耦合透鏡11、溫度補(bǔ)償透鏡12、以及以下將要描述的光束分割元件13，其中耦合透鏡11為至少一個(gè)光學(xué)元件，用于將光源10發(fā)射的光束形成為平行光束，或者形成為具有規(guī)定收束狀態(tài)或發(fā)散狀態(tài)的光束。進(jìn)而，光源組件200還具備中間保持體71，其設(shè)置在電路基板75和光學(xué)元件保持體72之間，與組裝在電路基板75上的面發(fā)光光源IOa相接觸，用于對(duì)面發(fā)光光源 IOa在光源組件200之中的定位和固定。在圖4中電路基板75處于被組裝到光源組件200 之中的狀態(tài)，因此，無法看到光源10或光檢測(cè)傳感器17。關(guān)于光源10或光檢測(cè)傳感器17 將利用顯示了電路基板75的圖5等進(jìn)行說明。耦合透鏡11用光學(xué)元件保持體72保持，其被裝設(shè)在光學(xué)元件保持體72中作為耦合透鏡保持部件的耦合透鏡承受部上，該耦合透鏡11的折射率被設(shè)定為例如1. 5左右，用于將光源10發(fā)射的發(fā)射光束形成為大致平行的光束，或者形成為具有規(guī)定收束狀態(tài)或發(fā)散狀態(tài)的光束。溫度補(bǔ)償透鏡12采用透鏡樹脂材料，其被設(shè)置在光學(xué)元件保持體72中作為溫度補(bǔ)償透鏡保持部件的溫度補(bǔ)償透鏡承受部上，該溫度補(bǔ)償透鏡12的光學(xué)特性能夠補(bǔ)償耦合透鏡11與光源10之間距離隨著光源組件200溫度變動(dòng)而發(fā)生微小變動(dòng)等所造成的光源組件200的光學(xué)特性變動(dòng)。該溫度補(bǔ)償透鏡12被形成為長邊大于耦合透鏡承受部的寬度，這樣便于調(diào)節(jié)，可簡單地用未圖示調(diào)節(jié)工具來夾緊。圖示的光束分割元件13為薄板形部件，在其大致中心部分形成矩形開口，在該光束分割元件13中面向光源10的一側(cè)(圖4A中觀察到的一側(cè)的背面)、即在光源10發(fā)射的射出光的光路上看到的該光源10 —側(cè)或向著光源10 —側(cè)形成用于反射光束的反射面。圖示的光束分割元件的開口中心位于耦合透鏡11的焦點(diǎn)位置或該焦點(diǎn)位置附近，該光束分割元件13例如構(gòu)成為，以反射面相對(duì)于光束的光路呈45°傾斜的狀態(tài)裝設(shè)在光束分割元件保持部件的保持部7 上。通過上述多個(gè)光學(xué)元件11、12、13的設(shè)置，從光源10發(fā)射后通過耦合透鏡11以及溫度補(bǔ)償透鏡12的發(fā)射光中的一部分光束被作為寫入光束通過光束分割元件13的開口， 在像載置體即感光體30上形成靜電潛像，而剩下的光束即寫入光束以外的部分則為以下將要敘述的用于調(diào)節(jié)光源10的光量的檢測(cè)光束，受到光束分割元件13的反射面反射，該反射光入射同樣將在以下敘述的光檢測(cè)傳感器17。換而言之，光束分割元件13將光源10發(fā)射的射出光分割或分歧為寫入光束和檢測(cè)光束。在此，盡管示例所采用的結(jié)構(gòu)為光束分割元件13的開口口徑小于光源10發(fā)射的射出光的光束，使得通過開口的寫入光束的周圍的光束受到光束分割元件13的反射面反射，但是本發(fā)明并不局限與上述構(gòu)成，只要將光源10 發(fā)射的射出光束中的一部分光束作為寫入光束通過開口，在像載置體即感光體30上形成靜電潛像，而將剩下的光束作為檢測(cè)光束，用光束分割元件13的反射面來反射，使該反射光入射光檢測(cè)傳感器便可。進(jìn)而，如圖4B所示，光學(xué)元件保持體72保持反射鏡14、第二開口 15、以及會(huì)聚透鏡16，這些光學(xué)元件作為檢測(cè)光束的光學(xué)系統(tǒng)，將檢測(cè)光束向電路基板75 —方反射，使得光束分割元件13的反射面反射的檢測(cè)光束入射APC控制用的光檢測(cè)傳感器。其中，反射鏡 14為板狀部件，包括反射光束的反射面，該反射面用于在圖4B所表示的面相反一側(cè)的背面上反射光束。本實(shí)施方式中，該反射面以傾斜狀態(tài)設(shè)置在光學(xué)元件保持體72的反射鏡安裝表面，與光源10發(fā)射的射出光之間形成51. 1°角度。受到該反射鏡14向電路基板75—方反射之后再受光束分割元件13的反射面反射的反射光束作為檢測(cè)光束，到達(dá)第二開口 15。 該第二開口 15作為檢測(cè)光束的光圈部件，被設(shè)置在反射鏡14與會(huì)聚透鏡16之間。會(huì)聚透鏡16為平凸型單凸透鏡，被設(shè)置在光學(xué)元件保持體72的會(huì)聚透鏡承受部上。受反射鏡14 向電路基板一方反射的檢測(cè)光束通過第二開口 15和會(huì)聚透鏡16，以規(guī)定光束直徑會(huì)聚到安裝在電路基板75上的光檢測(cè)傳感器17上。在上述光源組件200中當(dāng)檢測(cè)光束入射光檢測(cè)傳感器17時(shí)，輸出信號(hào)常時(shí)受到檢測(cè)，用以對(duì)光源10發(fā)射的激光進(jìn)行光量控制即APC控制。也就是說，光檢測(cè)傳感器17接受檢測(cè)光束，光源組件200根據(jù)該光檢測(cè)傳感器17輸出的光電轉(zhuǎn)換信號(hào)，來檢測(cè)光源10發(fā)射的激光的強(qiáng)度，決定向二元陣列元件提供的注入電流，使得該受到檢測(cè)的激光強(qiáng)度成為預(yù)設(shè)強(qiáng)度。其結(jié)果，光源10發(fā)射的射出光受到實(shí)時(shí)或直接控制，同時(shí)，始終保持以預(yù)設(shè)強(qiáng)度照射感光體30。圖5是從正面觀察時(shí)的電路基板75的立體圖。下面，利用圖5說明光源組件200 所具有的電路基板75。如圖5所示，在電路基板75中，位于正面一側(cè)的表面上設(shè)有光源10 以及光檢測(cè)傳感器17，在圖示表面的反面，即電路基板75的背面設(shè)有驅(qū)動(dòng)電路，用于驅(qū)動(dòng)具有多個(gè)發(fā)光源的光源10。圖6是圖5中的光源10的立體圖。如圖6所示，圖5中的光源 10為面發(fā)光型二元激光陣列，其中包括正方形板狀單元10b、被收納在該單元IOb內(nèi)并具有多個(gè)發(fā)光元件的面發(fā)光源10a、以及面發(fā)光源IOa的導(dǎo)線即未圖示引線端子。面發(fā)光源IOa 由多個(gè)發(fā)光源(VCSEL)構(gòu)成，該發(fā)光源的發(fā)光面被二元排列在與該發(fā)光源的光束發(fā)射方向相垂直的平面上，該發(fā)光面被設(shè)置為平行于單元IOb的光軸方向基準(zhǔn)面10x，進(jìn)而，在單元 IOb內(nèi)部引線端子以連接導(dǎo)線的狀態(tài)收納在單元IOb之中。單元IOb被構(gòu)成為，例如在陶瓷材料的箱型殼體上貼附玻璃板，并且箱型殼體內(nèi)部填充惰性氣體。圖6中位于前方的平面為所述單元IOb的光軸方向基準(zhǔn)面10x，圖6中垂直于光軸方向基準(zhǔn)面的側(cè)面為主掃描方向基準(zhǔn)面10y，圖6中垂直于光軸方向基準(zhǔn)面并位于上下方的平面為副掃描方向基準(zhǔn)面10z。如圖7所示，在光源10的面發(fā)光光源IOa中設(shè)有以等間隔排列的點(diǎn)陣形狀η列Xm 行發(fā)光源，本實(shí)施方式中的面發(fā)光光源為具有8列X 6行二元排列的40個(gè)發(fā)射發(fā)散光的發(fā)光源。圖7描述了一例具有40個(gè)發(fā)光源的面發(fā)光光源IOa的排列的一部分。本實(shí)施方式以光軸中心為轉(zhuǎn)動(dòng)軸轉(zhuǎn)動(dòng)整個(gè)光源組件200，使其傾斜量為Y，從而將各臺(tái)感光體30上副掃描方向上的光點(diǎn)間距P調(diào)整為與相當(dāng)于記錄密度的掃描光痕(line pit) 一致，構(gòu)成為40 條光線同時(shí)掃描各臺(tái)感光體30。在此，利用光學(xué)掃描裝置100中的光學(xué)系統(tǒng)整體的副掃描倍率β s，用下式表示傾斜量γ。sin y = (cos Y )/n = p/dX β s關(guān)于上述發(fā)光源的傾斜量Y的設(shè)定，當(dāng)然可以在面發(fā)光型半導(dǎo)體激光陣列的加工處理過程中預(yù)先將發(fā)光點(diǎn)的排列方向布置為傾斜規(guī)定角度。但是，即便在加工處理中設(shè)定為所要求的傾斜量，仍然會(huì)發(fā)生二元陣列元件的加工精度公差、用于保持光源的保持體等的機(jī)械精度公差、以及掃描光學(xué)系統(tǒng)的公差等的累積，為此，若要高精度地設(shè)定各個(gè)發(fā)光點(diǎn)之間的間距，則必須在將光源組件200安裝到光掃描裝置100上時(shí)調(diào)整傾斜量，使得該傾斜量達(dá)到要求的傾斜量 。
以下，利用圖8A和圖8B說明光源組件200所具有的中間保持體71。該中間保持體71設(shè)于電路基板75與光學(xué)元件保持體72之間，與組裝在電路基板75上的面發(fā)光光源 IOa相接觸，用于對(duì)光源組件200中的光源10進(jìn)行定位且固定該光源10。圖8A和圖8B顯示了中間保持體71的立體圖。其中圖8A是從電路基板75 —側(cè)觀察的中間保持體71的立體圖，圖8B是從光學(xué)元件保持體72 —側(cè)觀察的中間保持體71的立體圖。在此圖示的中間保持體7 1為用鋁等金屬形成的大致呈矩形的塊體部件，而且具有開口部71a和71b。開口部71a用于讓光源10發(fā)射的射出光通過，開口部71b用于檢測(cè)光束從電路基板75返回時(shí)通過。開口部71a周圍設(shè)有用于鑲嵌被裝設(shè)在電路基板75上的光源10的框部。該框部上設(shè)有光軸方向的接觸部71x，用于對(duì)準(zhǔn)單元10中的光軸方向基準(zhǔn)面10x。而且，設(shè)于框部側(cè)部的主掃描方向接觸部71y對(duì)準(zhǔn)單元IOb側(cè)面的主掃描方向基準(zhǔn)面10y，進(jìn)而設(shè)于框部上下方向的副掃描方向接觸部71z對(duì)準(zhǔn)單元IOb上下面的副掃描方向基準(zhǔn)面10z，這樣，光源10 的單元IOb以鑲嵌到框部上的狀態(tài)來定位。另外，如圖8所示，中間保持體71中在圖8A所示的電路基板一側(cè)的表面上，圍繞開口部71a和71b設(shè)有三個(gè)圓筒狀部71f，進(jìn)而在中間保持體71的兩側(cè)表面分別設(shè)有兩個(gè)固定孔71c，用于將連接電路基板75和中間保持體71的增強(qiáng)部件76a和76b (參見圖4和圖9)固定到中間保持體71上。在此，利用圖8A加以圖9說明圖8A所示的中間保持體71和電路基板75的連接結(jié)構(gòu)。圖9是在中間保持體71與電路基板75連接狀態(tài)下從電路基板75后方觀察該電路基板75時(shí)的立體圖。如圖9所示，在光源10的單元IOb被嵌插到中間保持體71的框部之中后，中間保持體71上的三個(gè)圓筒狀部71f分別貫穿電路基板75上相對(duì)應(yīng)的貫穿部75c (參見圖5)。在本實(shí)施方式中設(shè)有推壓部件78，用于從電路基板75的后方經(jīng)由該電路基板75 將單元IOb向中間保持體71 一方推壓到，該推壓部件78位于電路基板75上光源10設(shè)置位置的后方，三個(gè)螺絲79c被分別擰入三個(gè)圓筒狀部71f，從而將該按壓部件78固定在中間保持體71上。該推壓部件78用鈑金加工彈性板狀部件形成，其中具有施加彈性作用力的推壓部78a。如圖9所示，在推壓部件78被螺絲79c固定到中間保持體71上后，電路基板 75受到推壓部78a推壓，將其壓向接近中間保持體71的方向，隨此，在光源10的單元IOb 上，光軸方向基準(zhǔn)面IOx碰在中間保持體71的框部上的光軸方向的接觸部71x，同時(shí)，主掃描方向基準(zhǔn)面IOy碰在主掃描方向的接觸部71y，副掃描方向基準(zhǔn)面IOz碰在副掃描方向的接觸部71z，這樣，能夠保持出于定位狀態(tài)下的面發(fā)光光源10a，而不會(huì)對(duì)電路基板75造成過渡的負(fù)擔(dān)。另外，用螺絲等固定部件將增強(qiáng)部件76a和76b裝設(shè)到中間保持體71兩側(cè)表面的固定孔71上，該增強(qiáng)部件76a和76b還如圖9所示通過螺絲等固定部件連接電路基板 75，以使得中間保持體71和電路基板75相連接。如上所述，在連接了中間保持體71和電路基板75后，設(shè)于電路基板75上的光檢測(cè)傳感器17(參見圖5)便面向中間保持體71上的開口部71b，從而使得光檢測(cè)傳感器17得以在電路基板75上定位。接著，用圖8B加以圖10說明中間保持體71與光學(xué)元件保持體72的連接。圖10 是從中間保持體71 一方觀察光學(xué)元件保持體71的立體圖。如圖8B所示，中間保持體71 上設(shè)有基準(zhǔn)銷71d，如圖10所示，該基準(zhǔn)銷71d插入光學(xué)元件保持體72上的主基準(zhǔn)孔72d， 進(jìn)而，從光學(xué)元件保持體72 —方插入螺絲等固定部件，該螺絲光學(xué)元件保持體72外圍區(qū)域上四個(gè)固定孔72g插到中間保持體71—方的固定孔71g中固定，使得中間保持體71于光學(xué)元件保持體72之間的位置關(guān)系保持一定。利用上述結(jié)構(gòu)，上述用于檢測(cè)光束入射光檢測(cè)傳感器17的檢測(cè)光束光學(xué)系統(tǒng)即反射鏡14、第二開口 15、以及會(huì)聚透鏡16與光檢測(cè)傳感器17之間的位置關(guān)系得以保持一定。進(jìn)而，如果用膨脹系數(shù)相同的材料形成中間保持體71 和光學(xué)元件保持體72，則有利于抑制偏離定位狀態(tài)的位置變動(dòng)，使該位置變動(dòng)變得最小。在本實(shí)施方式中，用鋁合金形成中間保持體71和光學(xué)元件保持體72。如上所述，光源組件200至少用以下部件一體構(gòu)成，即包括具有多個(gè)發(fā)光源的光源10、保持光源10和光檢測(cè)傳感器17的電路基板75、至少一個(gè)將光源10發(fā)射的射出光形成為平行光束或者形成為發(fā)散光束或收束光束的光學(xué)元件11、保持該光學(xué)元件11的光學(xué)元件保持部件、光束分割元件13、以及至少一個(gè)使得該光束分割元件13的反射光入射光檢測(cè)傳感器的反射鏡14。將該光源組件200安裝到光掃描裝置100中，有利于光源組件200 的位置調(diào)整以及角度調(diào)整，使得各臺(tái)感光體30表面上形成的掃描線的間距能夠得到準(zhǔn)確調(diào)節(jié)，而不會(huì)引起光源10、耦合鏡11、溫度補(bǔ)償透鏡12、光束分割元件13、反射鏡14、第二開口 15、以及會(huì)聚透鏡16、光檢測(cè)傳感器17等之間的相對(duì)位置發(fā)生變動(dòng)。下面利用圖11來說明本發(fā)明的特征結(jié)構(gòu)即光束分割元件13的構(gòu)成以及安裝方法。圖11是上述光學(xué)元件保持體72中用于安裝光束分割元件13的光束分割元件保持部件72a部分的放大圖。該圖所示的光束分割元件保持部件72a構(gòu)成如下，即將圖11中安裝之前的光束分割元件13的框部安裝到光束分割元件保持部件72a的安裝面72e上，而后以板彈簧20作為推壓部件，用該板彈簧20的推壓部20a推壓光束分割元件13中位于檢測(cè)光束反射面相反一側(cè)的非反射面，從而將光束分割元件13保持在安裝面72e上。在用光束分割元件推壓部件20的推壓部20a推壓光束分割元件13的非反射面時(shí)，為了防止該推壓部件20干涉作為寫入光束通過開口的光束，推壓部件20的推壓部20a需要在不接觸開口部的位置上推壓光束分割元件13。進(jìn)而，為了盡量阻止寫入光束通過光束分割元件的開口部時(shí)受到光束分割元件 13的厚度部分反射的反射光成為環(huán)境光，影響受光束分割元件13的反射面反射的檢測(cè)光束，可用薄板形部件構(gòu)成在此顯示的本發(fā)明的光束分割元件13，該薄板形部件的厚度被減小到環(huán)境光可以被忽視或在許可程度以下。在本實(shí)施方式中采用板厚為0. 5_、外形大小為IOmmX 15mm的薄板形部件。關(guān)于此類薄板部件，以可購買到的市售商品為例，如采用 Alanode公司制造的MIR0(商標(biāo)名)2或MIR0-SILVER(商標(biāo)名)等材料。MIR02的反射面上被施加鋁沉積處理，MIRO-SILVER為施加了銀沉積處理的材料。雖然MIR0-SILVER比MIRO 具有更高的反射率，但可以根據(jù)光源10或光檢測(cè)傳感器17等的使用或應(yīng)用來選擇薄板部件。對(duì)于上述薄板部件，因其厚度被減薄到可以忽視環(huán)境光對(duì)檢測(cè)光束的影響或者在許可程度以下而變得十分薄，因此必定存在卷動(dòng)方向，也就是說必定會(huì)發(fā)生卷曲。而若將帶有卷曲的光學(xué)元件部件13用于檢測(cè)光束光學(xué)系統(tǒng)，并且在存在卷曲的條件下形成檢測(cè)光束光學(xué)系統(tǒng)，則各個(gè)光束分割元件13會(huì)因制造過程中產(chǎn)生的公差等各不相同而引起發(fā)生不同程度的卷曲。而在成像裝置的制造中，如果采用卷曲程度大于設(shè)計(jì)值的光學(xué)元件部件 13 (即曲率半徑較小)作為光束分割元件13，并將該光束分割元件13用于檢測(cè)光束的光學(xué)系統(tǒng)，將造成入射光檢測(cè)傳感器17的光束的光點(diǎn)直徑大于設(shè)計(jì)值，從而具有多個(gè)發(fā)光源的光源10發(fā)射的所有光束的光點(diǎn)將無法入射到光檢測(cè)傳感器17之中。而當(dāng)卷曲為與此呈對(duì)照的反方向，即反射面呈凸形時(shí)，入射光檢測(cè)傳感器17的光束的光點(diǎn)直徑進(jìn)一步變大，具有多個(gè)發(fā)光源的光源10發(fā)射的所有光束的光點(diǎn)也將無法入射到光檢測(cè)傳感器1 7之中。 上述示例性例舉的Alanode公司制造的MIR02或MIRO-SILVER等出于制造上的原因，金屬沉積表面成為凹表面，為此，反射面必然為凹表面，此時(shí)表示卷曲量作用的曲率半徑需要保證達(dá)到IOOOmm以上，上述MIR02或者M(jìn)IR0-SILVER的曲率半徑如果為IOOOmm左右，則不會(huì)發(fā)生這類問題。然而，若要實(shí)行更加精密的APC控制，則需要反射面盡量接近理想平面。而且，在采用上述Alanode公司制造的MIR02或MIR0_SILVER以外的其他材料作為光束分割元件13時(shí)，卷曲量有可能大于1000mm，或者會(huì)發(fā)生相反方向的卷曲。在需要考慮到這些問題時(shí)，同樣需要反射面盡量接近理想平面。此外，為確保獲得安裝光束分割元件13的安裝面72e的平面度以及表面精度而實(shí)行的次級(jí)加工相對(duì)簡單而且加工成本較低。針對(duì)上述問題，本發(fā)明構(gòu)成為如圖12所示，采用因厚度減薄而發(fā)生卷曲的光束分割元件13的凹面為反射面，進(jìn)而，用板彈簧等推壓部件20從反射面相反一側(cè)的呈凸面的非反射面來推壓光束分割元件13，將其壓向光束分割元件保持部件。圖12是簡略顯示光束分割元件13被保持在光束分割元件保持部件72a上的狀態(tài)的剖視圖。為了便于深入理解本發(fā)明，該圖省略了光束分割元件推壓部件20，但是可以看出光束分割元件13呈平坦?fàn)顟B(tài)。 如上所述，在光束分割元件保持部件20推壓光束分割元件13的凸表面即非反射面，以將發(fā)生卷曲的光束分割元件13的壓到平坦的安裝面72e上，使該光束分割元件13變得平坦時(shí)， 優(yōu)選該光束分割元件保持部件20推壓最突出的非反射面部分。如此，可有效地使得發(fā)生卷曲的光束分割元件13變得平坦。一般來說，在將光束分割元件13的厚度減小到發(fā)生卷曲時(shí)，非反射面中最突出的部分，或者反射面中最凹入的部分大致位于中間部分。為此，如圖所示，通常構(gòu)成為用推壓部件20推壓大致中間部分。通過上述構(gòu)成，發(fā)生卷曲的光束分割元件13被安裝到可相對(duì)容易且以低成本獲得平面度的安裝面72e上，其結(jié)果為降低了保持光束分割元件13平坦的制造成本，有效抑止了光束分割元件13的卷曲所帶來的檢測(cè)光束的反射光檢測(cè)精度的下降。圖13、14、15顯示光束分割元件13受到推壓部件20的推壓而呈保持狀態(tài)的光源組件200。其中圖13為俯視圖，圖14為正視圖，圖15是斜視圖。從圖11所示的在光束分割元件13還未被安裝到光束分割元件保持部件72a的安裝面72e上的狀態(tài)開始，首先在該安裝面72e上設(shè)置光束分割元件13，而后嵌入推壓部件20，從而如圖13至圖15所示，光束分割元件13受到推壓而被保持在安裝面72e上。從圖13至圖15可以明顯地看到，推壓部件20構(gòu)成如下，即將光源組件200的光學(xué)元件保持體72上的鉤部72f嵌入推壓部件20的嵌入孔20f，在施加推壓作用力的同時(shí)保持光束分割元件13。進(jìn)而，從圖13至圖15還可看出，光束分割元件保持部件20還被構(gòu)成為同時(shí)保持反射鏡17，該反射鏡17用于將受光束分割元件13分割形成的檢測(cè)光束反射到電路基板上的光檢測(cè)傳感器17中。該結(jié)構(gòu)有利于減少元件數(shù)量。光束分割元件13可以用樹脂材料形成?？蓪?duì)用樹脂材料形成的光束分割元件13 的一側(cè)表面施加具有高輝度的金屬等沉積處理，使得該面成為反射面。但是，將樹脂材料形成得很薄并在該薄膜狀樹脂材料上沉積金屬的制造成本昂貴，而且，薄膜狀樹脂材料會(huì)發(fā)生很大的卷曲，因此，從成本以及制造的觀點(diǎn)出發(fā)，金屬板是最佳材料。在上述說明的實(shí)施例中，光源組件200至少一體構(gòu)成為包括以下部件具有多個(gè)發(fā)光源的光源10、保持該光源10以及光檢測(cè)傳感器17的電路基板75、至少一個(gè)將光源10發(fā)射的射出光形成為平行光束或者具有發(fā)散狀態(tài)或收束狀態(tài)的光束的光學(xué)元件11、保持該光學(xué)元件11的光學(xué)元件保持部件、光束分割元件13、以及至少一個(gè)使得光束分割元件13的反射光入射光檢測(cè)傳感器17的反射鏡14。但是，本發(fā)明并不局限于上述結(jié)構(gòu)。例如，可以分開設(shè)置光檢測(cè)傳感器17和設(shè)有光源10的電路基板75，隨此，用于將檢測(cè)光束入射光檢測(cè)傳感器17的反射鏡14也可以與光源組件200分開設(shè)置，還可以不使用該反射鏡14，而是將光檢測(cè)傳感器17設(shè)置為能夠使得從光束分割元件13分割后的檢測(cè)光束直接入射其中。進(jìn)而，當(dāng)然還可以將光束分割元件13設(shè)置在從光源10到像載置體30之間的光路內(nèi)的任意位置，而不設(shè)置在光源組件200中。 本發(fā)明適用于在感光體等像載置體表面上形成靜電潛像的光掃描裝置，尤其適用于用具有多個(gè)發(fā)光源的光源同時(shí)發(fā)射多束光束掃描進(jìn)行高速成像的多光束掃描方式的光掃描裝置，進(jìn)而適用于具備該光掃描裝置的成像裝置。
權(quán)利要求
1.一種光掃描裝置，其為包括以下部件的光學(xué)系統(tǒng)光源，具有多個(gè)發(fā)光源；光束分割元件，相對(duì)于所述光源發(fā)射的射出光傾斜設(shè)置，其中設(shè)有開口以及反射面，該開口用于讓在像載置體上形成靜電潛像的寫入光束通過，當(dāng)從所述光源發(fā)射的射出光的光路上觀察時(shí)，該反射面位于所述光源一側(cè)，用于反射寫入光束以外的光束，該寫入光束以外的光束被用作為調(diào)整所述光源的光量的檢測(cè)光束；以及，光檢測(cè)傳感器入射用光學(xué)系統(tǒng)，用于將作為所述檢測(cè)光束而受到反射的反射光入射到光檢測(cè)傳感器之中，其特征在于，所述光束分割元件被構(gòu)成為，其厚度被至少減小到該光束分割元件發(fā)生卷曲的程度， 并且以該卷曲的凹面作為所述反射面，進(jìn)而，用光束分割元件推壓部件推壓所述光束分割元件中的凸部分，使得該光束分割元件被構(gòu)成為受到光束分割元件保持部件的保持，該凸部分位于所述反射面的相反一側(cè)的非反射面中最凸出的部分，且不接觸所述開口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件的最凸出的部分位于該光束分割元件的大致中心部分，該大致中心部分受到所述光束分割元件推壓部件的推壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件用金屬板施加鈑金加工形成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光掃描裝置，其特征在于，設(shè)于所述光束分割元件中的開口小于所述光源發(fā)射的射出光的光束。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光掃描裝置，其特征在于，用同一塊電路基板保持所述光學(xué)系統(tǒng)中的所述光源和所述光檢測(cè)傳感器，進(jìn)而，所述光學(xué)系統(tǒng)至少具有一塊反射鏡，用于將所述光束分割元件反射的檢測(cè)光束入射到所述光檢測(cè)傳感器之中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光掃描裝置，其特征在于，設(shè)有光源組件，構(gòu)成為用所述光束分割元件保持部件載置所述光源。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光源組件一體構(gòu)成為包括以下部件所述具有多個(gè)發(fā)光源的光源；用于保持該光源以及所述光檢測(cè)傳感器的電路基板；至少一個(gè)用于將所述光源發(fā)射的射出光形成為平行光束、或者形成為發(fā)散狀態(tài)或收束狀態(tài)的光束的光學(xué)元件；保持該光學(xué)元件的光學(xué)元件保持部；以及，至少一塊用于將所述光束分割元件反射的反射光入射到所述光檢測(cè)傳感器之中的反射鏡。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光掃描裝置，其特征在于，所述光束分割元件推壓部件被構(gòu)成為同時(shí)保持所述光束分割元件和所述反射鏡。
9.一種成像裝置，其特征在于，具備權(quán)利要求1 8所述的光掃描裝置。
全文摘要
本發(fā)明涉及光掃描裝置以及具備該光掃描裝置的成像裝置，該光掃描裝置以低成本且良好的精度從光源的射出光中抽取一部分光束，用以作為APC控制用的檢測(cè)光束。本發(fā)明的光掃描裝置包括具有多個(gè)發(fā)光源的光源、以及具有反射上述一部分光束即檢測(cè)光束的反射面的光束分割元件，并且可使得受到該反射面反射的反射光入射光檢測(cè)傳感器，其特征在于，光束分割元件構(gòu)成為其厚度被減小到至少使得該光束分割元件發(fā)生卷曲的程度，并以該卷曲的凹面作為反射面，而且用光束分割元件推壓部件推壓光束分割元件的凸部分，使得該光束分割元件受到光束分割元件保持部件的保持，該凸部分位于上述反射面相反一側(cè)的非反射面中最凸出部分且不接觸所述開口。
文檔編號(hào)G03G15/04GK102262294SQ201110132278
公開日2011年11月30日 申請(qǐng)日期2011年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月27日
發(fā)明者三ケ尻晉 申請(qǐng)人:株式會(huì)社理光