專利名稱：數(shù)碼微弱痕跡提取儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種提取犯罪現(xiàn)場痕跡的儀器，尤其是一種數(shù)碼微弱痕跡提取 儀。
背景技術(shù)：
具備一定反射率客體上的痕跡，如各類鍍膜面，油漆面、平滑金屬面、含膠量高的 高檔紙張、高級包裝盒、塑料、玻璃及陶瓷等大量生活設(shè)施上的痕跡用同軸光攝影或稱定向 反射攝影裝置可以做到有效提取，現(xiàn)有的同軸光攝影裝置包括照相機、照相機固定調(diào)整支 架、半反射半透射平面鏡和聚光燈(由聚光鏡與普通燈泡組成)，半反射半透射平面鏡傾 斜放置，其與豎直面及水平面的傾斜夾角均為45度，照相機位于半反射半透射平面鏡的上 方，聚光燈位于半反射半透射平面鏡的后側(cè)，應(yīng)用時，聚光燈發(fā)出的光射在半反射半透射平 面鏡上，其中的1/2光經(jīng)90°反射到半反射半透射平面鏡下面的痕跡平面上，從痕跡平面 反射回的部分光線再次穿過半反射半透射平面鏡進入照相機的鏡頭成像?，F(xiàn)有的該類裝置 沒有做到良好的集成，附件多攜帶不方便，而且出射光束沒有做到良好的準直，痕跡圖像反 射的光線不可能完全進入照相機的鏡頭，影響對微弱痕跡圖像的細節(jié)分辨，并且聚光燈采 用常規(guī)的燈泡進行聚光，光源組件體積偏大且光斑匯聚不易達到均勻效果。有些簡易的同 類裝置應(yīng)用時需要較暗的工作環(huán)境。以上不足影響了現(xiàn)場環(huán)境下攜帶應(yīng)用及犯罪現(xiàn)場勘查的效率。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種數(shù)碼微弱痕跡提取儀，在現(xiàn)場勘查不需要其他附件 即可直接采用數(shù)碼照相方式提取痕跡、勘查效率高且便于攜帶。為了實現(xiàn)上述方案，本實用新型的技術(shù)解決方案為一種數(shù)碼微弱痕跡提取儀，包 括數(shù)碼相機、半反射半透射平面鏡和聚光鏡，所述半反射半透射平面鏡設(shè)置于數(shù)碼相機的 下方且與豎直面及水平面的夾角均為45度，所述聚光鏡位于半反射半透射平面鏡的后側(cè)， 其中還包括透鏡、筒形第一接圈、基座、燈筒、聚光鏡調(diào)整環(huán)、調(diào)整螺絲、大功率半導(dǎo)體發(fā)光 二極管、發(fā)光二極管固定座及驅(qū)動電源，所述數(shù)碼相機下端固定于第一接圈的上端，所述第 一接圈的內(nèi)腔下部安裝透鏡，所述第一接圈的下端與基座的上端連接，所述基座為內(nèi)部上 下貫通的腔體，所述半反射半透射平面鏡安裝于基座的內(nèi)腔，所述基座的后側(cè)壁設(shè)有通孔， 所述燈筒的前端連接到通孔上，所述燈筒的軸線與基座的軸線垂直，所述燈筒的內(nèi)腔安裝 有聚光鏡調(diào)整環(huán)，所述燈筒的筒壁設(shè)有一由前向后相對于軸線傾斜的槽孔，所述聚光鏡安 裝于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)內(nèi)，所述調(diào)整螺絲穿過槽孔后螺接于聚光鏡調(diào)整環(huán)側(cè)壁上，所述燈 筒的后端與發(fā)光二極管固定座的前端連接，所述大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管固定于發(fā)光二極 管固定座的前面，所述大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管位于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)的后側(cè)，所述發(fā)光 二極管固定座的內(nèi)腔安裝有驅(qū)動電源。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述基座的內(nèi)腔由上至下設(shè)有上、下端固定襯套，所述半反射半透射平面鏡設(shè)置于所述上、下端固定襯套之間，所述上固定襯套的下 端面、下固定襯套的上端面與半反射半透射平面鏡的表面平行，所述下固定襯套的后端設(shè) 有與所述基座后端的通孔相通的第二通孔，所述基座的下端敞口處通過螺環(huán)將上固定襯 套、下固定襯套及半反射半透射平面鏡固定于所述基座的內(nèi)腔。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述數(shù)碼相機與第一接圈之間安裝第二接 圈，所述第二接圈與第一接圈之間安裝偏振鏡調(diào)整環(huán)，所述偏振鏡調(diào)整環(huán)內(nèi)安裝第一偏振 鏡片，所述燈筒的內(nèi)腔前部安裝第二偏振鏡片，所述第二偏振鏡片安裝于螺環(huán)上，所述螺環(huán) 固定在燈筒內(nèi)，所述第二偏振鏡片位于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)的前側(cè)。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述透鏡為凸透鏡或透鏡組。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述數(shù)碼相機與第二接圈之間、第二接圈 與偏振鏡調(diào)整環(huán)之間、偏振鏡調(diào)整環(huán)與第一接圈之間、第一接圈與基座之間、基座與燈筒之 間及燈筒與發(fā)光二極管固定座之間均通過螺紋連接。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述數(shù)碼相機的下端安裝于一相機固定座 上，所述相機固定座與第二接圈之間通過螺紋連接。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述發(fā)光二極管固定座外表面設(shè)有若干圈 相間隔的環(huán)形凹槽。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管采用金屬基 板片狀大功率芯片。本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其中所述發(fā)光二極管固定座的后端設(shè)有一腔 體，該腔體端口通過一端蓋密封。采用上述方案后，本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀將各部件組裝連接為一體式結(jié) 構(gòu)，便于攜帶，由數(shù)碼相機、透鏡、半反射半透射平面鏡、聚光鏡及大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管 組成完整的光路發(fā)射接收系統(tǒng)，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管發(fā)出的漫射光經(jīng)過聚光鏡準直變 成平行光，投射到半反射半透射平面鏡時，其中1/2光被反射到該提取儀底面的痕跡平面 上，從痕跡面反射回的光線一部分又透過半反射半透射平面鏡并經(jīng)過透鏡匯聚，光線完全 進入數(shù)碼相機的鏡頭成像，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管發(fā)出的光也可以根據(jù)需要移動調(diào)整螺 絲變成匯聚光或發(fā)散光，在現(xiàn)場勘查應(yīng)用該儀器提取痕跡做到快捷高效。

圖1是本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀的立體結(jié)構(gòu)分解示意圖；圖2是本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀的光路結(jié)構(gòu)及剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1及圖2所示，本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀包括數(shù)碼相機1、半反射半透 射平面鏡2、透鏡3、筒形第一接圈4、基座5、燈筒6、聚光鏡7、聚光鏡調(diào)整環(huán)8、上端螺接螺 母的調(diào)整螺絲9、大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10、發(fā)光二極管固定座11、驅(qū)動電源12、第二接 圈13、偏振鏡調(diào)整環(huán)14、第一偏振鏡片15、第二偏振鏡片17、上端固定襯套19及下端固定 襯套20 ；如果數(shù)碼相機1鏡頭部位有接圈螺紋，數(shù)碼相機1下端的螺紋與第二接圈13上端的螺紋連接，如果數(shù)碼相機1鏡頭部位沒有接圈螺紋，通過在數(shù)碼相機1的下端安裝一相機 固定座18，相機固定座18下端設(shè)置螺紋與第二接圈13上端的螺紋連接，第二接圈13的下 端與偏振鏡調(diào)整環(huán)14的上端通過螺紋連接，偏振鏡調(diào)整環(huán)14內(nèi)安裝第一偏振鏡片15，偏 振鏡調(diào)整環(huán)14的下端與第一接圈4的上端通過螺紋連接，第一接圈4的內(nèi)腔下部安裝透鏡 3，透鏡3為具有匯聚作用的凸透鏡，也可以是透鏡組，圖中以凸透鏡為例，第一接圈4的下 端與基座5的上端通過螺紋連接；基座5為內(nèi)部上下貫通的腔體，基座5的后側(cè)壁設(shè)有通孔51，基座5的內(nèi)腔由上至 下設(shè)有上端固定襯套19和下端固定襯套20，半反射半透射平面鏡2被夾持于上端固定襯套 19和下端固定襯套20之間，半反射半透射平面鏡2與豎直面及水平面的夾角均為45度，上 固定襯套19的下端面、下固定襯套20的上端面與半反射半透射平面鏡2的表面平行，下固 定襯套20的后端設(shè)有與通孔51相通的第二通孔201，基座5的下端敞口處安裝固定螺環(huán) 21，上固定襯套19、下固定襯套20及半反射半透射平面鏡2通過螺環(huán)21固定于基座5的內(nèi) 腔；燈筒6的前端通過螺紋與通孔51連接，燈筒6的軸線與基座5的軸線垂直，燈筒 6的內(nèi)腔由前向后依次安裝第二偏振鏡片17和聚光鏡調(diào)整環(huán)8，第二偏振鏡片17位于半反 射半透射平面鏡2的后側(cè)，第二偏振鏡片17安裝于螺環(huán)16上，螺環(huán)16固定于燈筒內(nèi)腔前 側(cè)部位，燈筒6的上表面設(shè)有一由前向后相對于軸線傾斜的槽孔61，聚光鏡7安裝于聚光 鏡調(diào)整環(huán)8內(nèi)，調(diào)整螺絲9穿過槽孔61后螺接于聚光鏡調(diào)整環(huán)8的側(cè)壁，燈筒6的后端與 發(fā)光二極管固定座11的前端通過螺紋連接，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10固定于發(fā)光二極 管固定座U的前端面，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10位于聚光鏡調(diào)整環(huán)8的后側(cè)，大功率半 導(dǎo)體發(fā)光二極管10采用金屬基板片狀大功率芯片，其具有散熱良好，體積微小，功率可達 到十瓦以上，發(fā)光二極管固定座11外表面設(shè)有若干圈相間隔的環(huán)形凹槽111，這些環(huán)形凹 槽111的設(shè)置便于大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10的快速散熱，在發(fā)光二極管固定座11的后 端設(shè)有空腔，該空腔內(nèi)集成安裝發(fā)光管恒流驅(qū)動電源12，該驅(qū)動電源12用于對大功率半導(dǎo) 體發(fā)光二極管10進行恒流供電，該空腔通過端蓋22密封，整機外部僅需要連接直流正負極 即可，增強可靠性。如圖2所示，當(dāng)對反光平面上痕跡進行提取時，如對各類鍍膜面，油漆面、平滑金 屬面、含膠量高的高檔紙張、高級包裝盒、塑料、玻璃及陶瓷等大量生活設(shè)施上的痕跡提取 時，采用同軸光攝影技術(shù)，將本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀中的偏振鏡調(diào)整環(huán)14和第一 偏振鏡片15從該儀器上取出，將第一接圈4和第二接圈13通過螺紋連接在一起，至于第二 偏振鏡片17從儀器上取出或不取出都可以，該第二偏振鏡片17不影響成像效果，僅亮度有 輕微降低，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10發(fā)射的光經(jīng)過聚光鏡7準直變成平行光后，經(jīng)過半 反射半透射平面鏡2時，其中1/2的光被反射到該提取儀底面的痕跡平面23上，從痕跡23 平面上反射回的平行光線一部分又透過半反射半透射平面鏡2，經(jīng)過具有匯聚作用的透鏡 3后進入數(shù)碼相機1的鏡頭。如果需要調(diào)整光路時，可以通過調(diào)整螺絲9在槽孔61內(nèi)的位 置，使聚光鏡7相對于燈筒6前后移動，使反射的光線完全進入數(shù)碼相機1的鏡頭成像，大 功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10發(fā)射的光也可以根據(jù)需要通過調(diào)整螺絲9在槽孔61內(nèi)位置，移 動聚光鏡變成匯聚光或發(fā)散光，使用調(diào)節(jié)方便。而當(dāng)對深色紡織物、橡膠、皮革及其他深色和雜色物面上的灰塵痕跡進行提取時，這類痕跡往往遺留在現(xiàn)場床鋪、沙發(fā)、地毯及作案相關(guān)的工具和關(guān)聯(lián)物品上，采用偏振光攝 影技術(shù)，將本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀中的偏振鏡調(diào)整環(huán)14、第一偏振鏡片15和第二 偏振鏡片17均安裝于儀器上，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管10發(fā)射的光經(jīng)過聚光鏡7匯聚整 形，經(jīng)過第二偏振鏡片17變成偏振光后，經(jīng)過半反射半透射平面鏡2的部分光線反射到儀 器底面的痕跡平面23上，痕跡圖像的部分反射光線穿過半反射半透射平面鏡2后再經(jīng)過具 有匯聚作用的透鏡3后，通過第一偏振鏡片15，進入數(shù)碼相機1的鏡頭成像，通過旋轉(zhuǎn)偏振 鏡調(diào)整環(huán)14可以調(diào)整偏振狀態(tài)，使圖像質(zhì)量達到最佳。采用本實用新型數(shù)碼微弱痕跡提取儀既可以對具備一定反射率客體上進行痕跡 提取時，如對各類鍍膜面，油漆面、平滑金屬面、含膠量高的高檔紙張、高級包裝盒、塑料、玻 璃及陶瓷等大量生活設(shè)施上的痕跡進行對提取，也可以對深色紡織物、橡膠、皮革及其他深 色和雜色物面上的灰塵痕跡進行提取，提取痕跡高效快捷，并且不受現(xiàn)場環(huán)境光線的影響， 該儀器體積小功能強，更便于攜帶及現(xiàn)場應(yīng)用。以上所述實施例僅僅是對本實用新型的優(yōu)選實施方式進行描述，并非對本實用新 型的范圍進行限定，在不脫離本實用新型設(shè)計精神的前提下，本領(lǐng)域普通工程技術(shù)人員對 本實用新型的技術(shù)方案作出的各種變形和改進，均應(yīng)落入本實用新型的權(quán)利要求書確定的 保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種數(shù)碼微弱痕跡提取儀，包括數(shù)碼相機(1)、半反射半透射平面鏡( 和聚光鏡 (7)，所述半反射半透射平面鏡( 設(shè)置于數(shù)碼相機(1)的下方且與豎直面及水平面的夾角 均為45度，所述聚光鏡(7)位于半反射半透射平面鏡( 的后側(cè)，其特征在于還包括透鏡 (3)、筒形第一接圈(4)、基座( 、燈筒(6)、聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)、調(diào)整螺絲(9)、大功率半導(dǎo)體 發(fā)光二極管(10)、發(fā)光二極管固定座(11)及驅(qū)動電源(12)，所述數(shù)碼相機(1)下端固定于 第一接圈的上端，所述第一接圈的內(nèi)腔下部安裝透鏡(3)，所述第一接圈(4)的下 端與基座( 的上端連接，所述基座( 為內(nèi)部上下貫通的腔體，所述半反射半透射平面鏡 (2)安裝于基座( 的內(nèi)腔，所述基座( 的后側(cè)壁設(shè)有通孔(51)，所述燈筒(6)的前端連 接到通孔(51)上，所述燈筒(6)的軸線與基座(5)的軸線垂直，所述燈筒(6)的內(nèi)腔安裝 有聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)，所述燈筒(6)的筒壁設(shè)有一由前向后相對于軸線傾斜的槽孔(61)，所 述聚光鏡(7)安裝于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)內(nèi)，所述調(diào)整螺絲(9)穿過槽孔(61)后螺接于 聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)側(cè)壁上，所述燈筒(6)的后端與發(fā)光二極管固定座(11)的前端連接，所 述大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管(10)固定于發(fā)光二極管固定座(11)的前面，所述大功率半導(dǎo) 體發(fā)光二極管(10)位于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)的后側(cè)，所述發(fā)光二極管固定座(11)的內(nèi) 腔安裝有驅(qū)動電源(12)。
2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述基座(5)的內(nèi)腔由上 至下設(shè)有上、下端固定襯套(19，20)，所述半反射半透射平面鏡( 設(shè)置于所述上、下端固 定襯套(19，20)之間，所述上固定襯套(19)的下端面、下固定襯套00)的上端面與半反射 半透射平面鏡( 的表面平行，所述下固定襯套00)的后端設(shè)有與所述基座( 后端的通 孔(51)相通的第二通孔001)，所述基座(5)的下端敞口處通過螺環(huán)將上固定襯套 (19)、下固定襯套OO)及半反射半透射平面鏡O)固定于所述基座(5)的內(nèi)腔。
3.如權(quán)利要求2所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述數(shù)碼相機(1)與第一 接圈(4)之間安裝第二接圈(13)，所述第二接圈(1 與第一接圈(4)之間安裝偏振鏡調(diào)整 環(huán)(14)，所述偏振鏡調(diào)整環(huán)(14)內(nèi)安裝第一偏振鏡片(15)，所述燈筒(6)的內(nèi)腔前部安裝 第二偏振鏡片(17)，所述第二偏振鏡片(17)安裝于螺環(huán)(16)上，所述螺環(huán)(16)固定在燈 筒(6)內(nèi)，所述第二偏振鏡片(17)位于所述聚光鏡調(diào)整環(huán)(8)的前側(cè)。
4.如權(quán)利要求3所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述透鏡C3)為凸透鏡或 透鏡組。
5.如權(quán)利要求4所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述數(shù)碼相機(1)與第二 接圈(1 之間、第二接圈(1 與偏振鏡調(diào)整環(huán)(14)之間、偏振鏡調(diào)整環(huán)(14)與第一接圈 ⑷之間、第一接圈⑷與基座(5)之間、基座(5)與燈筒(6)之間及燈筒(6)與發(fā)光二極 管固定座(11)之間均通過螺紋連接。
6.如權(quán)利要求5所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述數(shù)碼相機(1)的下端 安裝于一相機固定座(18)上，所述相機固定座(18)與第二接圈(1 之間通過螺紋連接。
7.如權(quán)利要求6所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述發(fā)光二極管固定座 (11)外表面設(shè)有若干圈相間隔的環(huán)形凹槽(111)。
8.如權(quán)利要求7所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述大功率半導(dǎo)體發(fā)光二 極管(10)采用金屬基板片狀大功率芯片。
9.如權(quán)利要求8所述的數(shù)碼微弱痕跡提取儀，其特征在于所述發(fā)光二極管固定座(11)的后端設(shè)有一腔體，該腔體端口通過一端蓋0 密封。
專利摘要一種數(shù)碼微弱痕跡提取儀，屬于提取犯罪現(xiàn)場痕跡的儀器技術(shù)領(lǐng)域，包括數(shù)碼相機等，數(shù)碼相機固定于第一接圈上，第一接圈內(nèi)腔下部設(shè)置有透鏡，第一接圈下端與基座連接，半反射半透射平面鏡以45°傾角安裝于基座內(nèi)腔，基座為內(nèi)部上下貫通的腔體，腔體后側(cè)壁與燈筒前端垂直連接，燈筒內(nèi)腔安裝聚光鏡調(diào)整環(huán)，聚光鏡安裝于聚光鏡調(diào)整環(huán)內(nèi)，燈筒壁設(shè)有槽孔，調(diào)整螺絲穿過槽孔后插接于聚光鏡調(diào)整環(huán)上，燈筒后端與發(fā)光二極管固定座前端連接，大功率半導(dǎo)體發(fā)光二極管固定于發(fā)光二極管固定座上，發(fā)光二極管固定座的后部腔體內(nèi)安裝有驅(qū)動電源。本實用新型可以在犯罪現(xiàn)場快速并且高質(zhì)量提取現(xiàn)場痕跡。
文檔編號G03B17/56GK201936108SQ201120054048
公開日2011年8月17日 申請日期2011年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月3日
發(fā)明者朱雙全 申請人:朱雙全