專利名稱：一種便于cob測(cè)試的帶有ffc接口的lcm模塊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及液晶顯示領(lǐng)域，更具體的說涉及一種帶有FFC接口的LCM模塊，其可以實(shí)現(xiàn)快速進(jìn)行COB測(cè)試。
背景技術(shù)：
LCM模塊，即為IXD顯示模組或者液晶模塊，其是指將液晶顯示器件、連接件、控制與驅(qū)動(dòng)等外圍電路、PCB電路板、背光源以及其它結(jié)構(gòu)件等裝配在一起的組件。FFC,即柔性扁平電纜是一種用PET絕緣材料和極薄的鍍錫扁平銅線，通過高科技自動(dòng)化設(shè)備生產(chǎn)線壓合而成的新型數(shù)據(jù)線纜，具有柔軟、隨意彎曲折疊、厚度薄、體積小、連接簡(jiǎn)單、拆卸方便、易解決電磁屏蔽等優(yōu)點(diǎn)。目前，對(duì)于LCM模塊，當(dāng)其采用FFC作為連接端子來進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)，由于FFC排線及單面焊接的極限性，在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)不好采用頂針的測(cè)試連接方式，如此在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)接線非常麻煩，測(cè)試效率低。有鑒于此，本發(fā)明人針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷深入研究，遂有本案產(chǎn)生。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊，以解決現(xiàn)有技術(shù)在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)具有接線非常麻煩，測(cè)試效率低的問題。為了達(dá)成上述目的，本實(shí)用新型的解決方案是一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊，其中，該LCM模塊具有PCB板，該P(yáng)CB板上開設(shè)有可供與頂針相連的頂針連接口。所述頂針連接口為一排孔徑為2. Omm的通孔。采用上述結(jié)構(gòu)后，本實(shí)用新型涉及的一種帶有FFC接口的LCM模塊，其通過設(shè)頂針連接口，如此在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)，可以直接將頂針插入至頂針連接口內(nèi)，這樣大大方便了COB測(cè)試，同時(shí)大大簡(jiǎn)化了相應(yīng)的測(cè)試架，提高了可靠性。

圖1為本實(shí)用新型涉及一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中LCM 模塊1PCB 板11頂針連接口11具體實(shí)施方式
為了進(jìn)一步解釋本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面通過具體實(shí)施例來對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)闡述。[0016]如圖1所示，本實(shí)用新型涉及的一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊1，該LCM模塊I具有PCB板11，該P(yáng)CB板11上開設(shè)有頂針連接口 111，該頂針連接口 111可以供與頂針相連，從而進(jìn)行COB測(cè)試。更具體地，所述頂針連接口 111為一排孔徑為2. Omm的通孔。如此，本實(shí)用新型涉及的一種帶有FFC接口的LCM模塊I，其通過設(shè)置有頂針連接口 111，如此在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)，可以直接將頂針插入至頂針連接口 111內(nèi)，這樣大大方便了 COB測(cè)試，同時(shí)還大大簡(jiǎn)化了相應(yīng)的測(cè)試架，提高了整個(gè)測(cè)試的可靠性。上述實(shí)施例和圖式并非限定本實(shí)用新型的產(chǎn)品形態(tài)和式樣，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對(duì)其所做的適當(dāng)變化或修飾，皆應(yīng)視為不脫離本實(shí)用新型的專利范疇。
權(quán)利要求1.一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊，其特征在于，該LCM模塊具有PCB 板，該P(yáng)CB板上開設(shè)有可供與頂針相連的頂針連接口。
2.如權(quán)利要求1所述的一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊，其特征在于，所述頂針連接口為一排孔徑為2. Omm的通孔。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種便于COB測(cè)試的帶有FFC接口的LCM模塊，該LCM模塊具有PCB板，該P(yáng)CB板上開設(shè)有可供與頂針相連的頂針連接口。本實(shí)用新型通過在PCB板上開設(shè)有頂針連接口，如此在進(jìn)行COB測(cè)試時(shí)，可以直接將頂針插入至頂針連接口內(nèi)，這樣大大方便了COB測(cè)試，同時(shí)大大簡(jiǎn)化了相應(yīng)的測(cè)試架，提高了可靠性。
文檔編號(hào)G02F1/13GK202854445SQ20122056463
公開日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2012年10月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月29日
發(fā)明者莊加華 申請(qǐng)人:廈門基德顯示器件有限公司