專利名稱：平板蔭罩圖形設(shè)計(jì)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光化學(xué)刻蝕技術(shù)，更具體地說，它涉及一種平板蔭罩圖形設(shè)計(jì)方法。
背景技術(shù)：
隨著電視機(jī)向大屏幕、全平化、高清晰度方向發(fā)展，彩色顯像管得到廣泛的應(yīng)用，平板蔭罩是彩色顯像管的關(guān)鍵部件之一，其作用是限制電子束直徑和上屏方向，由電子槍發(fā)射的電子束在偏轉(zhuǎn)磁場(chǎng)的作用下進(jìn)行掃描，掃描過程中必須使每個(gè)電子束只能射中熒光屏上的為該束指定的那些小孔上會(huì)聚，并通過蔭罩上諸多的小孔分別打到各自對(duì)應(yīng)的熒光質(zhì)點(diǎn)上，發(fā)出三種基色，而無用的電子則被蔭罩板截獲、孔的形狀和尺寸的精度，都會(huì)影響彩色顯像管的選色效果。在彩色顯像管中，由于電子槍發(fā)射出來的電子束掃描到屏幕的邊緣部位時(shí)，電子束產(chǎn)生一定的角度，當(dāng)電子束掃描至槽孔壁時(shí)，會(huì)造成電子束反射和散射，從而會(huì)造成電子束透過率的損失，尤其是當(dāng)平板蔭罩厚度增加或槽孔尺寸減少后，這種現(xiàn)象更加明顯，這種電子束透過率的損失，在顯像管中就會(huì)反映為電子束著屏后的束斑形狀的變形。
在現(xiàn)有平板蔭罩圖形的設(shè)計(jì)和制作技術(shù)中，蔭罩側(cè)刻蝕量即構(gòu)成平板蔭罩圖形的點(diǎn)子尺寸即D照相與相對(duì)應(yīng)的平板蔭罩槽孔尺寸D槽孔的差值與平板蔭罩厚度T的百分比約為40.91～45.45％，即(D槽孔-D照相)/T＝40.91～45.45％，目前對(duì)彩色顯像管電子束著屏不良的改善主要是在顯像管制造過程中，通過調(diào)整曝光臺(tái)和透鏡的方法來進(jìn)行，雖然這種方法盡管也能夠改善彩色顯像管的著屏性能，但同時(shí)會(huì)造成了曝光工序工藝裕度的降低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種具有畫面清晰、平板蔭罩斜向透過率高，彩色顯像管電子束著屏后的束斑形狀不變形且更加飽滿，并可提高對(duì)彩色顯像管著屏情況判斷和分析的可靠性，減少電子束著屏偏差現(xiàn)象，增加彩色顯像管色純?cè)６鹊钠桨迨a罩圖形設(shè)計(jì)方法。
本發(fā)明它使用下述設(shè)計(jì)參數(shù)照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子尺寸為0.55～0.85mm，平板蔭罩槽孔尺寸為0.175～0.200mm，平板蔭罩厚度T為0.22～0.25mm，平板蔭罩側(cè)刻蝕量的設(shè)計(jì)為(D槽孔-D照相)/T＝47.0％～55.0％。
具體實(shí)施例方式
下面通過實(shí)例，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
本發(fā)明它使用下述設(shè)計(jì)參數(shù)照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子尺寸為0.55～0.85mm，平板蔭罩槽孔尺寸為0.175～0.200mm，平板蔭罩厚度T為0.22～0.25mm，平板蔭罩側(cè)刻蝕量的設(shè)計(jì)為(D槽孔-D照相)/T＝47.0％～55.0％。
本發(fā)明的實(shí)施例121”平板蔭罩，照相用原版槽孔圖形尺寸D照相為0.060mm，平板蔭罩槽孔尺寸D槽孔為0.175mm，平板蔭罩厚度T為0.22mm，刻蝕量為52.3％T。
本發(fā)明的實(shí)施例229”平板蔭罩，照相用原版槽孔圖形尺寸D照相為0.070mm，平板蔭罩槽孔尺寸D槽孔為0.189mm，平板蔭罩厚度T為0.22mm，刻蝕量為54.1％T。
本發(fā)明的實(shí)施例334”大屏幕平板蔭罩，照相用原版槽孔圖形尺寸D照相為0.085mm，平板蔭罩槽孔尺寸D槽孔為0.20mm，平板蔭罩厚度T為0.22mm，刻蝕量為53.4％T。
從實(shí)施例可以看出，減少照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子尺寸，從而增加了平板蔭罩槽孔尺寸的側(cè)刻蝕量，平板蔭罩厚度T已明顯減少，電子束著屏束斑形狀飽滿。
權(quán)利要求
1.一種平板蔭罩圖形設(shè)計(jì)方法，它包括照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子、平板蔭罩槽孔、平板蔭罩厚度T、平板蔭罩側(cè)刻蝕量，其特征是，所述的照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子尺寸為0.55～0.85mm；所述的平板蔭罩槽孔尺寸為0.175～0.200mm；所述的平板蔭罩厚度T為0.22～0.25mm；所述的平板蔭罩側(cè)刻蝕量的設(shè)計(jì)為(D槽孔-D照相)/T＝47.0％～55.0％。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種平板蔭罩圖形設(shè)計(jì)方法，旨在提供一種具有畫面清晰、平板蔭罩斜向透過率高，彩色顯像管電子束著屏后的束斑形狀不變形且更加飽滿，并可提高對(duì)彩色顯像管著屏情況判斷和分析的可靠性，減少電子束著屏偏差現(xiàn)象，增加彩色顯像管色純?cè)６鹊钠桨迨a罩圖形設(shè)計(jì)方法，本發(fā)明它使用下述設(shè)計(jì)參數(shù)照相用原版上槽孔圖形的點(diǎn)子尺寸為0.55～0.85mm，平板蔭罩槽孔尺寸為0.175～0.200mm，平板蔭罩厚度T為0.22～0.25mm，平板蔭罩側(cè)刻蝕量的設(shè)計(jì)為(D
文檔編號(hào)H01J9/14GK1540703SQ0311655
公開日2004年10月27日 申請(qǐng)日期2003年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月23日
發(fā)明者陳穎明, 方軼樺, 林烽, 顧俊, 吳志文 申請(qǐng)人:上海新芝電子有限公司