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      一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):12222377閱讀:392來(lái)源:國(guó)知局
      一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)的制作方法與工藝

      本實(shí)用新型涉及一種激光選區(qū)熔化/燒結(jié)成型3D零件過(guò)程中,特別涉及一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)。



      背景技術(shù):

      激光選區(qū)熔化/燒結(jié)成型過(guò)程是以一定功率的激光掃描成型平面,并逐層疊加形成實(shí)體的加工過(guò)程。經(jīng)過(guò)聚焦的激光光斑以預(yù)設(shè)路徑掃描成型平面的金屬粉末,被光斑掃描到的金屬或者聚合物粉末瞬間熔化和冷凝形成實(shí)體,隨后成型平面下降一定的高度,并重新鋪粉以形成新的成型平面,激光在新的成型平面上繼續(xù)進(jìn)行掃描,如此循環(huán)往復(fù)直至成型件加工完畢。加工過(guò)程中,激光掃描的路徑是通過(guò)掃描振鏡系統(tǒng)來(lái)控制,振鏡系統(tǒng)的掃描效果將直接影響著最終的成型效果。

      目前,在激光選區(qū)熔化/燒結(jié)成型設(shè)備中雙振鏡掃描系統(tǒng)適用范圍最廣。這種雙振鏡掃描系統(tǒng)主要由兩個(gè)轉(zhuǎn)軸相互垂直的反射鏡構(gòu)成,兩個(gè)轉(zhuǎn)軸由電機(jī)控制旋轉(zhuǎn),分別控制光束在x軸和y軸方向上的運(yùn)動(dòng)。擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后的激光經(jīng)過(guò)振鏡的兩次反射并通過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面,聚焦后的光斑直徑越小,成型精度越高。然后目前采用單光束成形方式,因此當(dāng)成型件尺寸較大且加工精度要求較高時(shí),這種單光束的雙振鏡掃描系統(tǒng)加工效率將會(huì)大大降低。為解決這一問(wèn)題,部分設(shè)備采用了多組振鏡系統(tǒng)同時(shí)掃描的多光束掃描系統(tǒng),但需要同時(shí)配備多個(gè)激光器。這種方式雖然提高了加工的效率,但是成本將極大的提高,而且多組振鏡之間的搭接也存在一定整形問(wèn)題,因此并沒(méi)有得到普及。

      因此在激光選區(qū)熔化/燒結(jié)成型過(guò)程中,需要提供一種既能夠有效提高掃描效率,且能夠極大降低成本的振鏡掃描系統(tǒng)。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型的主要目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)與不足,提供一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng),該掃描系統(tǒng)在不增加激光器數(shù)量的情況下可實(shí)現(xiàn)多光束掃描的效果,有效的解決了單光束掃描效率低的問(wèn)題,同時(shí)也具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較低的優(yōu)點(diǎn)。

      為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:

      本實(shí)用新型公開(kāi)了一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng),包括振鏡框體結(jié)構(gòu),所述振鏡框體結(jié)構(gòu)上設(shè)有進(jìn)光口和出光口,所述振鏡框體結(jié)構(gòu)內(nèi)部設(shè)有X軸陣列振鏡系統(tǒng)和Y軸振鏡系統(tǒng),所述X軸陣列振鏡系統(tǒng)或Y軸振鏡系統(tǒng)為多個(gè)軸心線相互平行的振鏡組成,經(jīng)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后的激光通過(guò)進(jìn)光口進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,光束到達(dá)X軸陣列振鏡系統(tǒng)被平分為n束光強(qiáng)相同的平行光束,n束平行光束在X軸各個(gè)振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下實(shí)現(xiàn)在X方向任意移動(dòng),并投射到Y(jié)軸振鏡系統(tǒng)上,在Y軸振鏡偏轉(zhuǎn)反射帶動(dòng)下,n組光束在Y方向上移動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)n組光束在X方向位置可控運(yùn)動(dòng),在Y方向同步運(yùn)動(dòng),最后該n組光束經(jīng)過(guò)出光口并被F-θ鏡聚焦到成型平面上形成一組個(gè)數(shù)為n的光斑。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述X軸陣列振鏡系統(tǒng)為多組鏡,Y軸振鏡系統(tǒng)為單振鏡,經(jīng)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后的激光通過(guò)進(jìn)光口進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,X軸陣列振鏡系統(tǒng)為n面反射率和透射率不同的振鏡組成,光束到達(dá)X軸陣列振鏡系統(tǒng)后會(huì)被均分為n束光強(qiáng)相同的平行光束并被反射到Y(jié)軸振鏡系統(tǒng)上,Y軸振鏡系統(tǒng)反射的n束激光經(jīng)過(guò)出光口并被F-θ鏡聚焦到成型平面上形成一組個(gè)數(shù)為n的光斑。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,激光通過(guò)進(jìn)光口進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,在通過(guò)X軸陣列振鏡系統(tǒng)時(shí),首先經(jīng)過(guò)X軸陣列振鏡系統(tǒng)第一振鏡上,第一振鏡將反射過(guò)來(lái)的激光一部分透射到第二振鏡上,另一部分光在第一振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射Y軸振鏡系統(tǒng)上,并在Y軸振鏡系統(tǒng)偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射經(jīng)過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面上,形成光束1,同樣第二振鏡接收的光,一部分透射到第三振鏡上,一部分光在第二振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射Y軸振鏡系統(tǒng)上,并在Y軸振鏡系統(tǒng)偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射經(jīng)過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面上,形成光束2,如此類推,X軸陣列振鏡系統(tǒng)有幾組鏡片,每次偏轉(zhuǎn)反射光均為總能量的幾分之一,在成形平面上也將形成幾組光束。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述Y軸振鏡系統(tǒng)為多組鏡,X軸陣列振鏡系統(tǒng)為單振鏡,經(jīng)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后的激光通過(guò)進(jìn)光口進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,經(jīng)過(guò)X軸陣列振鏡系統(tǒng)反射到Y(jié)軸振鏡系統(tǒng)上,Y軸振鏡系統(tǒng)為n面反射率和透射率不同的振鏡組成,光束到達(dá)Y軸振鏡系統(tǒng)后會(huì)被均分為n束光強(qiáng)相同的光束,n束光強(qiáng)相同的光束經(jīng)過(guò)出光口并被F-θ鏡聚焦到成型平面上形成一組個(gè)數(shù)為n的光斑。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,激光通過(guò)進(jìn)光口進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,在通過(guò)X軸陣列振鏡系統(tǒng)時(shí),在X振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射Y振鏡組第一振鏡上,第一振鏡將反射過(guò)來(lái)的激光一部分透射到第二振鏡上,另一部分光在第一振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射經(jīng)過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面上,形成分光束1,同樣第二振鏡接收的光,一部分透射到第三振鏡上,一部分光在第二振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下反射經(jīng)過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面上,形成分光束2,同理Y軸振鏡系統(tǒng)有幾組鏡片,每次偏轉(zhuǎn)反射光均為總能量的幾分之一。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,每一面振鏡均由電機(jī)驅(qū)動(dòng)且可進(jìn)行一定弧度的轉(zhuǎn)動(dòng),振鏡具有反射和透射光束的功能,其透射率和反射率隨振鏡排列順序的變化而變化;陣列振鏡的間距可調(diào),每面振鏡的驅(qū)動(dòng)電機(jī)采用同步驅(qū)動(dòng)或異步驅(qū)動(dòng)的方式。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,當(dāng)陣列振鏡數(shù)目為n時(shí),沿光路方向的第一面振鏡將反射1/n倍光束能量,其余光量均透射到第二面振鏡,第二面振鏡將反射剩余光束能量的1/((n-1))并透射其余光量,以此類推,光路的最后一面振鏡為全反射鏡,將接受到剩余的1/n倍光量并全部反射,其中n為大于1的正整數(shù)。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述Y軸振鏡系統(tǒng)由電機(jī)驅(qū)動(dòng)可進(jìn)行小弧度的旋轉(zhuǎn),其轉(zhuǎn)軸方向與X軸陣列振鏡系統(tǒng)的軸心線垂直,所述Y軸振鏡系統(tǒng)為當(dāng)X軸或者Y軸振鏡系統(tǒng)為單振鏡時(shí),單振鏡為全反射鏡片,將接收到的Y軸振鏡系統(tǒng)接收到經(jīng)X軸陣列振鏡系統(tǒng)反射的等光強(qiáng)平行光束組并全部反射。

      作為優(yōu)選的技術(shù)方案,出光口位于陣列掃描振鏡系統(tǒng)底部,外接F-θ鏡,由Y軸振鏡系統(tǒng)反射的n束等光強(qiáng)平行光束通過(guò)出光口并經(jīng)F-θ鏡聚焦,在成型平面上形成了一組個(gè)數(shù)為n的陣列光斑。

      本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有如下優(yōu)點(diǎn)和有益效果:

      本實(shí)用新型由于采用以上方案,使得這種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)有效提高了激光掃描的效率并且大幅度降低了技術(shù)成本。具有透射和反射功能的陣列振鏡,通將不同反射率和透射率的鏡片按一定規(guī)律排列在入射光路上,很好的實(shí)現(xiàn)了均勻分光的功能。由激光器產(chǎn)生的大功率激光經(jīng)過(guò)陣列振鏡并被均勻分成多束低功率等光強(qiáng)的平行光束,再經(jīng)過(guò)F-θ鏡聚焦到成型平面上形成滿足需要的一組陣列光斑。這種陣列掃描振鏡系統(tǒng)在X軸方向(或Y軸方向)上為多光束掃描,因此與傳統(tǒng)的雙振鏡單光束掃描振鏡系統(tǒng)相比,其加工效率將會(huì)成倍增長(zhǎng),增長(zhǎng)的倍數(shù)與振鏡的陣列數(shù)目相同,這將極大的降低加工時(shí)間和加工成本。

      附圖說(shuō)明

      圖1是本實(shí)用新型中多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)上視圖。

      圖2是本實(shí)用新型中多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)正視圖。

      圖3是本實(shí)用新型中多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)的軸視圖。

      圖4是本實(shí)用新型中多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)案例圖。

      圖5(a)-圖5(c)是本實(shí)用新型相同掃面區(qū)域中三光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)的三種不同重合度光斑的掃描效果圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合實(shí)施例及附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的描述,但本實(shí)用新型的實(shí)施方式不限于此。

      實(shí)施例

      如圖1至4所示,本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的一種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)包括進(jìn)光口1、X軸陣列振鏡系統(tǒng)2、Y軸振鏡系統(tǒng)3、出光口4和振鏡框體結(jié)構(gòu)5,所述振鏡框體結(jié)構(gòu)5內(nèi)部設(shè)有X軸陣列振鏡系統(tǒng)2和Y軸振鏡系統(tǒng)3,所述X軸陣列振鏡系統(tǒng)2或Y軸振鏡系統(tǒng)3為多個(gè)軸心線相互平行的振鏡組成,經(jīng)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后的激光通過(guò)進(jìn)光口1進(jìn)入陣列振鏡掃描系統(tǒng)內(nèi)部,光束到達(dá)X軸陣列振鏡系統(tǒng)2或Y軸振鏡系統(tǒng)3被分為n束光強(qiáng)相同的平行光束,該平行光束經(jīng)過(guò)出光口4并被F-θ鏡聚焦到成型平面上形成一組個(gè)數(shù)為n的光斑。X軸陣列振鏡系統(tǒng)有兩方面的作用:(1)將光束能量平分;(2)每個(gè)振鏡運(yùn)動(dòng)是單獨(dú)電機(jī)控制的偏轉(zhuǎn)角度,平分光束在振鏡單元偏轉(zhuǎn)后,光束會(huì)發(fā)生一定的偏轉(zhuǎn),從而控制光束在X方向的位置。經(jīng)過(guò)X軸振鏡分光及X軸振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下在X方向移動(dòng)的光束,投射到Y(jié)軸振鏡上,在Y軸振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下,光束在Y方向上移動(dòng)。因此本系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)功能是光束是X軸振鏡分光并在分光束分別在各個(gè)振鏡偏轉(zhuǎn)帶動(dòng)下實(shí)現(xiàn)在X方向任意移動(dòng),并投射到Y(jié)軸振鏡,在Y軸振鏡偏轉(zhuǎn)反射帶動(dòng)下,N組光束在Y方向上移動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)N組光束在X方向位置可控運(yùn)動(dòng),在Y方向同步運(yùn)動(dòng)。分光之間的距離在X軸振鏡控制,但是在Y軸行進(jìn)的距離和長(zhǎng)度是同步的。在X軸振鏡控制上,分光也可以實(shí)現(xiàn)光合并,如在單獨(dú)X振鏡控制下,分光1,分光2合并一束,分光3,分光4在X軸位置一樣,那么光束也可以實(shí)現(xiàn)合并,這樣4束分光可以變?yōu)閮墒?。如控制在X軸位置一樣的話,四束分光又可以變?yōu)橐皇T赮方向上起止點(diǎn)只能同步。本實(shí)施例以X軸陣列振鏡系統(tǒng)2為多組鏡,Y軸振鏡系統(tǒng)為單振鏡進(jìn)行闡述,而Y軸振鏡系統(tǒng)3為多組鏡,X軸陣列振鏡系統(tǒng)為單振鏡的原理與之相同。XY振鏡調(diào)換(X為單振鏡,Y為陣列振鏡系統(tǒng)),也就可以實(shí)現(xiàn)Y方向分束,X方向運(yùn)動(dòng)同步。

      如圖1至圖4所示,進(jìn)光口1外接擴(kuò)束鏡,激光器發(fā)出的激光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束后,以一定直徑的平行光束通過(guò)進(jìn)光口,進(jìn)入陣列掃描振鏡系統(tǒng)內(nèi)部。

      如圖1至圖4所示,所述X軸陣列振鏡系統(tǒng)2由多個(gè)軸心線相互平行的振鏡組成,是本掃描振鏡系統(tǒng)的核心結(jié)構(gòu),每一面振鏡均由電機(jī)驅(qū)動(dòng)可進(jìn)行一定弧度的轉(zhuǎn)動(dòng),振鏡具有反射和透射光束的功能,其透射率和反射率隨振鏡排列順序的變化而變化,當(dāng)陣列振鏡數(shù)目為3時(shí),沿光路方向的第一面振鏡2-1將反射1/3倍光束能量,其余光量均透射到第二面振鏡2-2,第二面振鏡將反射剩余光束能量1/2并透射其余光束能量,光路的最后一面振鏡2-3為全反射鏡,將接受到剩余的1/3倍光量并全部反射。

      如圖1至圖4所示,Y軸振鏡系統(tǒng)3由電機(jī)驅(qū)動(dòng)可進(jìn)行小弧度的旋轉(zhuǎn),其轉(zhuǎn)軸方向與X軸陣列振鏡系統(tǒng)2的軸心線垂直,Y軸振鏡系統(tǒng)3為全反射鏡片,Y軸振鏡系統(tǒng)3接收到經(jīng)X軸陣列振鏡系統(tǒng)2反射的等光強(qiáng)平行光束組并全部反射。

      如圖1至圖4所示,出光口4位于陣列掃描振鏡系統(tǒng)底部,外接F-θ鏡,由Y軸振鏡系統(tǒng)3反射的3束等光強(qiáng)平行光束通過(guò)出光口并經(jīng)F-θ鏡聚焦,在成型平面上形成了一組個(gè)數(shù)為3的陣列光斑。

      如圖1至圖4所示,X軸陣列振鏡系統(tǒng)2和Y軸振鏡系統(tǒng)3分別控制成型平面上陣列光斑在X方向和Y方向上的運(yùn)動(dòng),掃描體統(tǒng)中X軸和Y軸是等價(jià)的,可以互換,陣列振鏡的間距可變,可以通過(guò)改變陣列振鏡間距來(lái)調(diào)整成型平面上光斑的間距,下圖示出了相同掃面區(qū)域中三光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)的三種不同重合度光斑的掃描效果:

      圖5(a)圖中的光斑重合度為0,熔道寬度為l1,掃描次數(shù)為3;圖5(b)圖中的光斑重合度為50%,熔道寬度為l2,掃描次數(shù)為4.3;圖5(c)圖中的光斑重合度為100%,熔道寬度為l3,掃描次數(shù)為9,三種掃描方式的熔道寬度之間的關(guān)系為:

      l1=1.5l2=3l3

      三種掃描方式中,熔道搭接率均為0,通過(guò)改變陣列振鏡的間距可實(shí)現(xiàn)不同加工環(huán)境下激光掃描效率的最大化。

      如圖1至圖4所示,振鏡框體結(jié)構(gòu)5為不透光并密封的箱體結(jié)構(gòu)。

      如圖1至圖4所示,這種多光束陣列振鏡掃描系統(tǒng)適用于以激光為能量源的激光選區(qū)熔化/燒結(jié)(SLM)、激光選區(qū)燒結(jié)(SLS)成型以及激光打標(biāo)技術(shù)中。

      綜上所述,陣列掃描振鏡系統(tǒng)在X軸方向(或Y軸方向)上為多光束掃描,因此與傳統(tǒng)的雙振鏡單光束掃描振鏡系統(tǒng)相比,其加工效率將會(huì)成倍增長(zhǎng),增長(zhǎng)的倍數(shù)與振鏡的陣列數(shù)目相同,這將極大的降低加工時(shí)間和加工成本,可較好地實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型。

      上述實(shí)施例為本實(shí)用新型較佳的實(shí)施方式,但本實(shí)用新型的實(shí)施方式并不受上述實(shí)施例的限制,其他的任何未背離本實(shí)用新型的精神實(shí)質(zhì)與原理下所作的改變、修飾、替代、組合、簡(jiǎn)化,均應(yīng)為等效的置換方式,都包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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