基于x光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)械加工設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及用于金屬管件的折彎設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場(chǎng)上出現(xiàn)的部分小型折彎?rùn)C(jī)，由于其設(shè)備成本低、能基本滿足加工要求而得到了廣泛應(yīng)用，其能實(shí)現(xiàn)金屬管件的簡(jiǎn)易折彎加工，但其存在以下缺點(diǎn):金屬管件折彎后通過肉眼檢查折彎處是否存在較大的裂紋，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷是否符合要求，從而加工的次品率較高;并且需要進(jìn)行多次調(diào)節(jié)，操作繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本申請(qǐng)人針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點(diǎn)，進(jìn)行研究和改進(jìn)，提供一種基于X光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置，其具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、加工可靠、成品質(zhì)量高的特點(diǎn)。
[0004]為了解決上述問題，本發(fā)明采用如下方案:
[0005]—種基于X光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置，包括折彎支撐座、折彎頭及驅(qū)動(dòng)折彎頭的折彎電機(jī)，折彎支撐座上固定管件，所述折彎支撐座上通過支架安裝有X光裂紋探測(cè)頭，X光裂紋探測(cè)頭的前端帶有弧形探測(cè)端，弧形探測(cè)端朝向管件的折彎處外側(cè)，X光裂紋探測(cè)頭通過X光控制器與顯示中心、及電機(jī)控制器連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過X光控制器傳送至顯示中心及電機(jī)控制器，電機(jī)控制器根據(jù)裂紋信息控制折彎電機(jī)的轉(zhuǎn)速及扭矩。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)效果在于:
[0007]本發(fā)明采用X光裂紋探測(cè)頭對(duì)管件的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心及電機(jī)控制器，電機(jī)控制器實(shí)時(shí)控制輸出轉(zhuǎn)速及扭矩，對(duì)折彎扭矩和速度進(jìn)行調(diào)節(jié)，保證最佳折彎質(zhì)量，并且無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備，并相比肉眼觀察，其可靠性大大提高，次品率顯著降低。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖中:1、折彎支撐座;2、折彎頭;3、折彎電機(jī);4、管件;5、支架;6、X光裂紋探測(cè)頭；
7、顯示中心;8、電機(jī)控制器;9、X光控制器;10、弧形探測(cè)端。
【具體實(shí)施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步說明。
[0011]如圖1所示，本實(shí)施例的基于X光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置，包括折彎支撐座1、折彎頭2及驅(qū)動(dòng)折彎頭2的折彎電機(jī)3，折彎支撐座I上固定管件4，折彎支撐座I上通過支架5安裝有X光裂紋探測(cè)頭6，X光裂紋探測(cè)頭6的前端帶有弧形探測(cè)端10，弧形探測(cè)端10朝向管件4的折彎處外側(cè)，X光裂紋探測(cè)頭6通過X光控制器9與顯示中心7、及電機(jī)控制器8連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過X光控制器9傳送至顯示中心7及電機(jī)控制器8，電機(jī)控制器8根據(jù)裂紋信息控制折彎電機(jī)3的轉(zhuǎn)速及扭矩。
[0012]本發(fā)明采用X光裂紋探測(cè)頭6對(duì)管件4的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心7及電機(jī)控制器8，電機(jī)控制器8實(shí)時(shí)控制輸出轉(zhuǎn)速及扭矩，對(duì)折彎扭矩和速度進(jìn)行調(diào)節(jié)，保證最佳折彎質(zhì)量，并且無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備，并相比肉眼觀察，其可靠性大大提高，次品率顯著降低。
[0013]以上所舉實(shí)施例為本發(fā)明的較佳實(shí)施方式，僅用來方便說明本發(fā)明，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者，若在不脫離本發(fā)明所提技術(shù)特征的范圍內(nèi)，利用本發(fā)明所揭示技術(shù)內(nèi)容所作出局部改動(dòng)或修飾的等效實(shí)施例，并且未脫離本發(fā)明的技術(shù)特征內(nèi)容，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)特征的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于X光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置，包括折彎支撐座(I)、折彎頭(2)及驅(qū)動(dòng)折彎頭(2)的折彎電機(jī)(3)，折彎支撐座(I)上固定管件(4)，其特征在于:所述折彎支撐座(I)上通過支架(5)安裝有X光裂紋探測(cè)頭(6)，X光裂紋探測(cè)頭(6)的前端帶有弧形探測(cè)端(10)，弧形探測(cè)端(10)朝向管件(4)的折彎處外側(cè)，X光裂紋探測(cè)頭(6)通過X光控制器(9)與顯示中心(7)、及電機(jī)控制器(8)連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過X光控制器(9)傳送至顯示中心(7)及電機(jī)控制器(8)，電機(jī)控制器(8)根據(jù)裂紋信息控制折彎電機(jī)(3)的轉(zhuǎn)速及扭矩。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于X光裂紋檢測(cè)與調(diào)節(jié)的管件折彎裝置，包括折彎支撐座、折彎頭及驅(qū)動(dòng)折彎頭的折彎電機(jī)，折彎支撐座上固定管件，所述折彎支撐座上安裝有X光裂紋探測(cè)頭，X光裂紋探測(cè)頭的前端帶有弧形探測(cè)端，弧形探測(cè)端朝向管件的折彎處外側(cè)，X光裂紋探測(cè)頭通過X光控制器與顯示中心、及電機(jī)控制器連接，其將檢測(cè)的裂紋信息通過X光控制器傳送至顯示中心及電機(jī)控制器，電機(jī)控制器根據(jù)裂紋信息控制折彎電機(jī)的轉(zhuǎn)速及扭矩。本發(fā)明采用X光裂紋探測(cè)頭對(duì)管件的折彎處外側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)信息發(fā)送至顯示中心及電機(jī)控制器，電機(jī)控制器實(shí)時(shí)控制輸出轉(zhuǎn)速及扭矩，對(duì)折彎扭矩和速度進(jìn)行調(diào)節(jié)，保證最佳折彎質(zhì)量，并且無需后期額外添加檢測(cè)設(shè)備。
【IPC分類】B21C51/00, B21D7/16, B21D7/12
【公開號(hào)】CN105537339
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510857143
【發(fā)明人】譚華
【申請(qǐng)人】譚華
【公開日】2016年5月4日
【申請(qǐng)日】2015年11月28日