專利名稱：一種試卷密封方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及教學(xué)用品領(lǐng)域，具體的是涉及一種試卷密封裝置及其密封方法。
背景技術(shù)：
目前的試卷密封主要是采用在試卷外面包覆密封條后，以針線縫合密封、加蓋公章的方法。這種密封方法不僅操作程序繁瑣、工作效率低，保密性不強(qiáng)，而且不能避免密封過程中試卷的漏封、倒封、翻封等情況。市場(chǎng)上的ー些密封卡和密封袋結(jié)構(gòu)復(fù)雜，使用不方便，而且保密性同樣不強(qiáng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種試卷密封方法及其裝置，制作簡(jiǎn)單，使用方便，保密性強(qiáng)。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下，一種試卷密封方法，該方法包括
在試卷的密封側(cè)設(shè)置有若干密封孔，所述密封孔兩兩之間的間距不相等；
將試卷的密封孔穿入到ー個(gè)下密封卡的卡釘上，所述下密封卡上的卡釘與試卷上的密封孔位置一一對(duì)應(yīng)；
用一個(gè)帶有與試卷密封孔匹配的通孔的上密封卡穿入上述卡釘內(nèi)，將試卷夾持在兩個(gè)密封卡之間；
以上密封卡上配置的卡扣鎖緊在卡釘上，使上密封卡和下密封卡結(jié)合為ー個(gè)整體。本發(fā)明還包括一種用于上述試卷密封方法的密封裝置，包括ー對(duì)同樣規(guī)格的上密封卡和下密封卡，在所述下密封卡上設(shè)有若干個(gè)卡釘，上密封卡上設(shè)有與所述卡釘對(duì)應(yīng)、用于插入卡釘?shù)耐?，在每個(gè)通孔旁鉸接有用于鎖緊卡釘?shù)目?，所述的卡釘在下密封卡上以不?guī)則的間距設(shè)置。優(yōu)選的，在所述上密封卡和下密封卡上設(shè)有易折斷槽，在下密封卡的卡釘上設(shè)有卡槽，在上密封卡的卡扣上設(shè)有用于卡入卡槽的單向鎖齒。進(jìn)ー步的，所述裝置還包括一個(gè)覆蓋在上密封卡上，用于蓋住卡扣的密封條。本發(fā)明的試卷密封方法及裝置具有以下優(yōu)點(diǎn)
I、試卷的密封側(cè)的密封孔兩兩之間的間距不相等，避免試卷密封時(shí)出現(xiàn)漏封、側(cè)封、翻封現(xiàn)象。2、將下密封卡上的卡釘穿入試卷上的密封孔中，安裝上密封卡，以卡扣鎖緊卡釘，貼上密封條，即可完成試卷的密封，整個(gè)密封過程操作簡(jiǎn)單、快速，提高了工作效率。3、本方法及其密封裝置采用了卡扣鎖緊機(jī)構(gòu)，一旦鎖緊后不能打開，只能破壞卡扣的結(jié)構(gòu)，為一次性使用裝置，保密性好。4、密封裝置與試卷配套使用，密封裝置上卡釘之間的不規(guī)則間距隨機(jī)確定，并與試卷配套，毎次試卷都不一樣。如果破壞了密封裝置，沒有替換的密封裝置，更增加了試卷密封的保密性。
5、由于卡釘間的不規(guī)則間距以及試卷密封孔的不規(guī)則設(shè)置，如果試卷密封時(shí)出現(xiàn)漏封、側(cè)封、翻封現(xiàn)象吋，卡釘與密封孔不配套，很容易被發(fā)現(xiàn)，杜絕了這些現(xiàn)象的發(fā)生。6、上密封卡和下密封卡上設(shè)有易折斷槽，判卷結(jié)束后不需要將密封裝置全部拆下，保留一部分用于固定試卷，防止試卷散落丟失。


圖I為本發(fā)明一種試卷密封裝置上密封卡俯視 圖2為本發(fā)明一種試卷密封裝置下密封卡主視 圖3為本發(fā)明一種試卷密封裝置使用狀態(tài)示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖I、圖2所示，與試卷密封方法配套的試卷密封裝置包括ー對(duì)同樣規(guī)格的上密封卡I和下密封卡2，在所述下密封卡2上以不規(guī)則的間距設(shè)置有若干個(gè)卡釘6，上密封卡I上設(shè)有與所述卡釘6對(duì)應(yīng)、用于插入卡釘6的通孔3，在每個(gè)通孔3旁鉸接有用于鎖緊卡釘?shù)目?。在所述卡釘6上設(shè)有卡槽7，在所述卡扣4上設(shè)有用于卡入卡槽7的單向鎖齒5。在所述上密封卡I和下密封卡2上分別設(shè)有易折斷槽8、9，所述裝置還包括ー個(gè)密封條10。具體實(shí)施時(shí)，如圖3所示，試卷的密封方法如下選出上密封卡I和下密封卡2，在試卷的密封側(cè)設(shè)置有若干與下密封卡2上卡釘6對(duì)應(yīng)的通孔，將試卷的通孔穿入到下密封卡2的卡釘6上，然后將上密封卡I穿入上述卡釘6內(nèi)，將試卷夾持在上密封卡I和下密封卡2之間；將上密封卡I通孔3旁鉸接的卡扣4卡入下密封卡2上卡釘6的卡槽7內(nèi)，單向鎖齒5鎖緊，將密封條10覆蓋在上密封卡上，試卷密封完畢，判卷結(jié)束后，通過上密封卡I和下密封卡2上分別設(shè)有的易折斷槽8、9折斷，留有一部分固定裝置，防止試卷散落丟失。
權(quán)利要求
1.一種試卷的密封方法,該方法包括 在試卷的密封側(cè)設(shè)置有若干密封孔，所述密封孔兩兩之間的間距不相等； 將試卷的密封孔穿入到一個(gè)下密封卡的卡釘上，所述下密封卡上的卡釘與試卷上的密封孔位置一一對(duì)應(yīng)； 用一個(gè)帶有與試卷密封孔匹配的通孔的上密封卡穿入上述卡釘內(nèi)，將試卷夾持在兩個(gè)密封卡之間； 以上密封條上配置的卡扣鎖緊在卡釘上，使上密封卡和下密封卡結(jié)合為一個(gè)整體。
2.一種用于權(quán)利要求I試卷密封方法的密封裝置，包括一對(duì)同樣規(guī)格的上密封卡和下密封條，在所述下密封條上設(shè)有若干個(gè)卡釘，上密封條上設(shè)有與所述卡釘對(duì)應(yīng)、用于插入卡釘?shù)耐祝诿總€(gè)通孔旁鉸接有用于鎖緊卡釘?shù)目?，其特征在于所述的卡釘在下密封卡上以不?guī)則的間距設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試卷密封裝置，其特征在于在所述卡釘上設(shè)有卡槽，在所述卡扣上設(shè)有用于卡入卡槽的單向鎖齒。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試卷密封裝置，其特征在于在所述上密封卡和下密封卡上設(shè)有易折斷槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試卷密封裝置，其特征在于還包括一個(gè)覆蓋在上密封卡上，用于蓋住卡扣的密封條。
全文摘要
一種試卷的密封方法，該方法包括在試卷的密封側(cè)設(shè)置有若干密封孔，所述密封孔兩兩之間的間距不相等；將試卷的密封孔穿入到一個(gè)下密封卡的卡釘上，所述下密封卡上的卡釘與試卷上的密封孔位置一一對(duì)應(yīng)；用一個(gè)帶有與試卷密封孔匹配的通孔的上密封卡穿入上述卡釘內(nèi)，將試卷夾持在兩個(gè)密封卡之間；以上密封卡上配置的卡扣鎖緊在卡釘上，使上密封卡和下密封卡結(jié)合為一個(gè)整體。使用本發(fā)明試卷的密封方法，操作簡(jiǎn)單、快速，保密性強(qiáng)。
文檔編號(hào)B65D27/30GK102730283SQ201210242709
公開日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2012年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月13日
發(fā)明者孫謙懷 申請(qǐng)人:孫謙懷