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      一種cob自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):5095144閱讀:355來源:國知局
      一種cob自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),包括多工位料盤、測(cè)光機(jī)構(gòu)、分料機(jī)構(gòu)、用于上料和測(cè)試的第一導(dǎo)軌以及用于下料和分料的第二導(dǎo)軌;通過雙軌獨(dú)立運(yùn)行設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了測(cè)試和分料的并行運(yùn)作,上料、測(cè)試、下料、分料工作均自動(dòng)進(jìn)行,且測(cè)試與分料工作可并行操作,整個(gè)測(cè)試、分料環(huán)節(jié)無等待時(shí)間,大幅提高了上料效率和測(cè)試分料速度,具有上料效率高、測(cè)試速度快、結(jié)構(gòu)簡單、自動(dòng)化程度高等優(yōu)點(diǎn)。
      【專利說明】一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種機(jī)械設(shè)備,具體是指一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著人們對(duì)高效、綠色以及照明多樣化的需求日益增加,COB以其卓越的性能逐漸成為照明新寵兒,但同時(shí)也對(duì)其光色性能提出了更大的挑戰(zhàn)。在現(xiàn)有的半導(dǎo)體技術(shù)制造條件下,通過在芯片制造或芯片封裝過程中改進(jìn)工藝來提高COB產(chǎn)品光電參數(shù)的一致性難度很大,而且會(huì)大大增加成本。因此,在實(shí)際生產(chǎn)中通常根據(jù)COB光電參數(shù)進(jìn)行嚴(yán)格的篩選分類,以提尚其一致性。
      [0003]目前,COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)并不多見,現(xiàn)有系統(tǒng)的測(cè)試分料環(huán)節(jié)主要采用旋轉(zhuǎn)式和直線式兩種,具體可見CN103658057A、CN202951639U等公開文獻(xiàn)。典型的旋轉(zhuǎn)式測(cè)試系統(tǒng)依靠旋轉(zhuǎn)工位盤送料,存在機(jī)構(gòu)復(fù)雜、可靠性低、容易卡料等缺陷,直線式測(cè)試系統(tǒng)采用單軌設(shè)計(jì),測(cè)試和下料共用同一軌道,通過機(jī)械手線性往復(fù)運(yùn)動(dòng)送料出料,存在測(cè)試速度慢、自動(dòng)化程度低等不足,制約了其產(chǎn)品的生產(chǎn)檢測(cè)效率和可靠性。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型旨在提供一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),通過雙軌獨(dú)立運(yùn)行設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了測(cè)試和分料的并行運(yùn)作,且測(cè)試準(zhǔn)確可靠、測(cè)試速度快、自動(dòng)化程度高,可方便、快速的進(jìn)行COB的測(cè)試及分料。
      [0005]本實(shí)用新型所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括多工位料盤、測(cè)光機(jī)構(gòu)、分料機(jī)構(gòu)、用于上料和測(cè)試的第一導(dǎo)軌以及用于分料和下料的第二導(dǎo)軌,所述的多工位料盤沿第一導(dǎo)軌被驅(qū)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處,測(cè)光機(jī)構(gòu)逐個(gè)或者時(shí)序測(cè)量多工位料盤不同工位上的被測(cè)對(duì)象,測(cè)試后的多工位料盤沿第二導(dǎo)軌被驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)處。
      [0006]整個(gè)測(cè)試過程包括上料、測(cè)試、下料和分料四個(gè)環(huán)節(jié)。上料時(shí),裝載有多個(gè)被測(cè)對(duì)象的多工位料盤沿第一導(dǎo)軌被驅(qū)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處,完成測(cè)試環(huán)節(jié)后,多工位料盤被轉(zhuǎn)移至第二導(dǎo)軌,并沿第二導(dǎo)軌驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)處完成下料和分料環(huán)節(jié)。相比于傳統(tǒng)的技術(shù)方案,本實(shí)用新型中的多工位料盤可裝填多個(gè)被測(cè)對(duì)象,使得一次上料可進(jìn)行多個(gè)被測(cè)對(duì)象的測(cè)試,且不會(huì)出現(xiàn)卡料情況,提高了上料效率;更為重要的是,設(shè)計(jì)了測(cè)試工位與分料工位分開的并行系統(tǒng)結(jié)構(gòu),在測(cè)試的同時(shí)可進(jìn)行分料,整個(gè)測(cè)試、分料環(huán)節(jié)無等待時(shí)間,顯著的提高了測(cè)試速度和工作效率。
      [0007]本實(shí)用新型還可以通過以下技術(shù)方案進(jìn)一步完善:
      [0008]上述技術(shù)方案中,所述的第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌開環(huán)或者閉環(huán)設(shè)置。當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)軌和第二導(dǎo)軌開環(huán)設(shè)置時(shí),兩個(gè)導(dǎo)軌的設(shè)置方式靈活,可平行設(shè)置、垂直設(shè)置或者傾斜相交設(shè)置等,多工位料盤通過機(jī)械手抓載或者其它人工智能手段將多工位料盤轉(zhuǎn)移至第二導(dǎo)軌上,第二導(dǎo)軌與分料機(jī)構(gòu)對(duì)接以完成自動(dòng)測(cè)試;例如相互平行設(shè)置,當(dāng)多工位料盤在第一導(dǎo)軌上完成測(cè)試后,通過設(shè)置在兩個(gè)導(dǎo)軌上方沿滑軌移動(dòng)的機(jī)械手或者設(shè)置在兩個(gè)導(dǎo)軌之間的可伸縮機(jī)械手,將多工位料盤轉(zhuǎn)移至第二導(dǎo)軌上,再沿第二導(dǎo)軌驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)處。閉環(huán)設(shè)置時(shí),第一和第二導(dǎo)軌構(gòu)成一個(gè)閉合回路,無需機(jī)械手或者其它驅(qū)動(dòng)方式轉(zhuǎn)移多工位料盤,多工位料盤可僅通過沿導(dǎo)軌滑動(dòng)的方式即可直接完成測(cè)試流程的推進(jìn),系統(tǒng)自動(dòng)化程度高且測(cè)試方便;例如第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌構(gòu)成矩形回路,第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌為矩形的兩條平行邊,在第一導(dǎo)軌上完成測(cè)試的多工位料盤沿閉環(huán)導(dǎo)軌直接被驅(qū)動(dòng)至第二導(dǎo)軌上,并沿第二導(dǎo)軌繼續(xù)驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)處。本技術(shù)方案提供了兩種導(dǎo)軌設(shè)置方案,但本發(fā)明不僅限于上述兩種方案。
      [0009]作為一種技術(shù)方案,包括與多工位料盤相耦合的料盤夾具,所述的料盤夾具為可在第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌上移動(dòng)的可移動(dòng)式夾具,或者所述的料盤夾具為設(shè)置在測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處的可升降式夾具。
      [0010]可移動(dòng)式夾具:多工位料盤通過耦合在料盤夾具上而在第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌上平穩(wěn)移動(dòng),沿第一導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處時(shí),測(cè)光機(jī)構(gòu)直接進(jìn)行測(cè)量;
      [0011 ] 可升降式夾具:當(dāng)料盤夾具運(yùn)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處時(shí),料盤夾具將料盤升起,使被測(cè)對(duì)象與測(cè)光口對(duì)準(zhǔn)貼緊,測(cè)試結(jié)束后將料盤降至第一導(dǎo)軌上,通過料盤轉(zhuǎn)移機(jī)械手或者移動(dòng)等方式轉(zhuǎn)移到第二導(dǎo)軌,或者料盤繼續(xù)沿閉環(huán)導(dǎo)軌移動(dòng)直接運(yùn)動(dòng)至第二導(dǎo)軌;
      [0012]作為優(yōu)選,所述的測(cè)光機(jī)構(gòu)包括積分球和光譜儀,所述的積分球固定在第一導(dǎo)軌上方,光譜儀與積分球連接。測(cè)量過程中,測(cè)光機(jī)構(gòu)和多工位料盤可相對(duì)運(yùn)動(dòng),即測(cè)光機(jī)構(gòu)移動(dòng)、多工位料盤不動(dòng),或者測(cè)光機(jī)構(gòu)不動(dòng)、多工位料盤移動(dòng)。后者作為優(yōu)選,以確保整個(gè)測(cè)試過程中積分球固定不動(dòng),避免了積分球移動(dòng)對(duì)球內(nèi)涂層的影響和運(yùn)動(dòng)沖擊與震動(dòng)對(duì)光譜儀精度的影響,保證了測(cè)試系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性。積分球上設(shè)置有探測(cè)窗口,光譜儀通過光纖連接到探測(cè)窗口上,以獲取積分球內(nèi)被測(cè)對(duì)象的光信號(hào)。
      [0013]作為一種技術(shù)方案,包括供電組件,所述的供電組件為用以對(duì)準(zhǔn)并接觸被測(cè)對(duì)象電極的電極探針;或者所述的供電組件為給多工位料盤上被測(cè)對(duì)象時(shí)序供電的多路程控電源。采用電極探針接觸供電的方式,一般每次僅能測(cè)量一個(gè)COB,通過多工位料盤移動(dòng)的方式,使得電極探針逐個(gè)與被測(cè)COB接觸,實(shí)現(xiàn)COB的逐個(gè)測(cè)量。若采用多路程控電源供電方式,測(cè)試時(shí)根據(jù)多工位料盤上工位的測(cè)試順序,時(shí)序點(diǎn)亮被測(cè)對(duì)象,例如,給每個(gè)COB下均設(shè)置電極探針,通過多路程控電源控制電極探針的方式,實(shí)現(xiàn)逐個(gè)COB依次點(diǎn)亮,或者按照逐排/逐列的方式點(diǎn)亮多工位料盤上的C0B,再計(jì)算得出每個(gè)COB的光色參數(shù)。
      [0014]作為優(yōu)選,所述的用以下料和分料的分料機(jī)構(gòu)包括物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手和分料盒;所述的物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手包括用以轉(zhuǎn)移被測(cè)對(duì)象的轉(zhuǎn)移機(jī)械手和用以將被測(cè)對(duì)象送至相應(yīng)分料盒的分料機(jī)械手,所述的轉(zhuǎn)移機(jī)械手為擺動(dòng)式或線性式機(jī)械手;或者所述的物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手為將多工位料盤上的被測(cè)對(duì)象直接轉(zhuǎn)移至對(duì)應(yīng)分料盒的一體化機(jī)構(gòu)。
      [0015]物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手采用包括轉(zhuǎn)移機(jī)械手和分料機(jī)械手的結(jié)構(gòu)時(shí),所述擺動(dòng)式的轉(zhuǎn)移機(jī)械手設(shè)置在第二導(dǎo)軌上方靠近分料盒的一側(cè),通過氣缸控制轉(zhuǎn)移機(jī)械手將被測(cè)對(duì)象吸起,擺動(dòng)機(jī)械手臂,將被測(cè)對(duì)象轉(zhuǎn)移至分料機(jī)械手,再由設(shè)置在與分料盒平行的滑軌上沿滑軌運(yùn)動(dòng)的分料機(jī)械手將被測(cè)對(duì)象送至相應(yīng)的分料盒中;所述的轉(zhuǎn)移機(jī)械手也可采用線性式,在第二導(dǎo)軌與分料機(jī)械手之間設(shè)置一線性滑軌,轉(zhuǎn)移機(jī)械手設(shè)置在線性滑軌上沿滑軌線性移動(dòng),通過氣缸控制轉(zhuǎn)移機(jī)械手將多工位料盤上的被測(cè)對(duì)象吸起,然后線性移動(dòng)至分料機(jī)械手處,完成被測(cè)對(duì)象的轉(zhuǎn)移。前者作為優(yōu)選,以簡化設(shè)計(jì),方便易行。或者所述的物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手采用一體化結(jié)構(gòu)時(shí),將物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手設(shè)置在第二導(dǎo)軌旁靠近分料盒的一側(cè),通過氣缸控制物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手將多工位料盤上的被測(cè)對(duì)象吸起后直接送至相應(yīng)的分料盒中。
      [0016]作為優(yōu)選,包括控制器,所述第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌和物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手均與控制器連接。第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌、物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手均通過步進(jìn)電機(jī)和氣缸驅(qū)動(dòng),在控制器的控制下運(yùn)動(dòng),自動(dòng)化程度高,定位精度好。
      [0017]作為優(yōu)選,包括機(jī)罩,所述測(cè)試系統(tǒng)上覆蓋設(shè)置有取/放料盤的開口的機(jī)罩,用于抵擋環(huán)境光對(duì)積分球測(cè)試結(jié)果的影響,提高COB測(cè)試精度。
      [0018]綜上所述,本實(shí)用新型通過雙軌獨(dú)立運(yùn)行設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了測(cè)試和分料的并行運(yùn)作,上料、測(cè)試、下料、分料工作均自動(dòng)進(jìn)行,且測(cè)試與分料工作可并行操作,整個(gè)測(cè)試、分料環(huán)節(jié)無等待時(shí)間,大幅提高了上料效率和測(cè)試分料速度,具有上料效率高、測(cè)試速度快、結(jié)構(gòu)簡單、自動(dòng)化程度高等有益效果。
      [0019]【【專利附圖】

      【附圖說明】】
      [0020]附圖1是實(shí)施例1的測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)俯視圖;
      [0021]附圖2是實(shí)施例1的測(cè)光機(jī)構(gòu)圖;
      [0022]附圖3是實(shí)施例2的測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)俯視圖。
      [0023]1-多工位料盤;2_測(cè)光機(jī)構(gòu);3_分料機(jī)構(gòu);4_第一導(dǎo)軌;5_第二導(dǎo)軌;6_料盤夾具積分球;8_光譜儀;9_供電組件;9-1_滑軌;9-2_可調(diào)支架;9-3_電極探針;10_物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手;11-分料盒;12-轉(zhuǎn)移機(jī)械手;13-分料機(jī)械手;14-料盤轉(zhuǎn)移機(jī)械手。
      [0024]【【具體實(shí)施方式】】
      [0025]實(shí)施例1
      [0026]如圖1所示(控制器未畫出),本實(shí)用新型包括多工位料盤1、測(cè)光機(jī)構(gòu)2、用以下料和分料的分料機(jī)構(gòu)3、用于上料和測(cè)試的第一導(dǎo)軌4、用于下料和分料的第二導(dǎo)軌5、與多工位料盤I相耦合的料盤夾具6。測(cè)光機(jī)構(gòu)2包括積分球7和光譜儀8,積分球7固定在第一導(dǎo)軌4上方,光譜儀8與積分球7連接;分料機(jī)構(gòu)3包括物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手10和分料盒11,物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手10包括用以轉(zhuǎn)移被測(cè)對(duì)象的轉(zhuǎn)移機(jī)械手12和用以將被測(cè)COB送至相應(yīng)分料盒11的分料機(jī)械手13,轉(zhuǎn)移機(jī)械手12為擺動(dòng)式機(jī)械手。如圖1所示,擺動(dòng)式轉(zhuǎn)移機(jī)械手12設(shè)置在在第二導(dǎo)軌上方靠近分料盒的一側(cè),通過擺動(dòng)式機(jī)械手12在多工位料盤I和分料機(jī)械手13上方的來回?cái)[動(dòng),將從多工位料盤I上吸起的COB轉(zhuǎn)移至分料機(jī)械手13。
      [0027]如圖2所示,供電組件9采用電極探針接觸式供電的方式,供電組件9包括滑軌9-1、可調(diào)支架9-2和電極探針9-3,電極探針9-3設(shè)置在可調(diào)支架9_2上,可根據(jù)不同規(guī)格的COB調(diào)節(jié)電極探針9-3位置,可調(diào)支架9-2設(shè)置在滑軌上位于積分球7下方,可沿滑軌9-1拉出可調(diào)支架9-2調(diào)節(jié)電極探針9-3位置。
      [0028]第一導(dǎo)軌4和第二導(dǎo)軌5平行設(shè)置,第一導(dǎo)軌4、第二導(dǎo)軌5和物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手10與控制器連接,在控制器的控制下,將裝載好COB的多工位料盤I沿第一導(dǎo)軌4被驅(qū)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)2測(cè)光口處,測(cè)光機(jī)構(gòu)2逐個(gè)測(cè)量多工位料盤I不同工位上的被測(cè)對(duì)象,測(cè)試后的多工位料盤I沿第二導(dǎo)軌5被驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)3處。工作時(shí),測(cè)試系統(tǒng)上覆蓋機(jī)罩(圖中沒畫出)。具體工作過程如下:
      [0029](I)上料檢測(cè):將裝有被測(cè)對(duì)象的多工位料盤I通過機(jī)罩上放料盤開口下方的料盤夾具6耦合在第一導(dǎo)軌4上,通過步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)將多工位料盤I送至測(cè)光機(jī)構(gòu)2下方;
      [0030](2)測(cè)試工作:料盤夾具6為可升降式夾具,料盤夾具6將多工位料盤I升起,使得COB逐個(gè)與測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口對(duì)準(zhǔn)緊貼,通過電極探針接觸供電的方式電亮C0B,由光譜儀獲取被測(cè)對(duì)象的光信號(hào)以完成測(cè)試;
      [0031](3)下料工作:待多工位料盤上的COB均測(cè)試完成后,通過料盤轉(zhuǎn)移機(jī)械手14轉(zhuǎn)移至第二導(dǎo)軌5上,沿第二導(dǎo)軌5移動(dòng)至物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手6下方,由物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手6將多工位料盤I上的COB依次轉(zhuǎn)移到分料機(jī)械手7上;
      [0032](4)分料工作:通過控制器控制分料機(jī)械手9將COB送至相應(yīng)的分料盒8 ;當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)軌4上的多工位料盤I測(cè)試完成后,即可放入新的待測(cè)多工位料盤1,在對(duì)測(cè)試完成的多工位料盤I進(jìn)行分料的同時(shí)進(jìn)行下一待測(cè)多工位料盤I的檢測(cè)工作。多工位料盤I上的COB都轉(zhuǎn)移完后,控制器驅(qū)動(dòng)多工位料盤I沿下料滑軌4移動(dòng)至取料盤開口下方,由測(cè)試人員將多工位料盤I取出。
      [0033]上述工作過程中,上料、測(cè)試、下料、分料工作均自動(dòng)進(jìn)行,且測(cè)試與分料工作可并行操作,不但確保了檢測(cè)精度,而且顯著的提高了上料效率和測(cè)試分料速度,測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化程度高,機(jī)械結(jié)構(gòu)簡單合理。
      [0034]實(shí)施例2
      [0035]如圖3所示,本實(shí)施例與實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)基本相似,所不同的是,第一導(dǎo)軌4和第二導(dǎo)軌5閉環(huán)設(shè)置。
      [0036]實(shí)際測(cè)量時(shí),將裝載有被測(cè)對(duì)象的多工位料盤I通過機(jī)罩上放料盤開口下方的料盤夾具6耦合在第一導(dǎo)軌4上,首先,將多工位料盤I驅(qū)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)2下方自動(dòng)測(cè)試;測(cè)試完成后,驅(qū)動(dòng)多工位料盤I沿閉環(huán)導(dǎo)軌前進(jìn)至第二導(dǎo)軌5上進(jìn)行分料;分料完成后,驅(qū)動(dòng)多工位料盤I繼續(xù)沿閉環(huán)導(dǎo)軌前進(jìn),直至回到上料處。第一導(dǎo)軌4和第二導(dǎo)軌5閉環(huán)設(shè)置時(shí),機(jī)罩上的放料盤開口與取料盤開口重合。
      【權(quán)利要求】
      1.一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括多工位料盤(I)、測(cè)光機(jī)構(gòu)(2)、分料機(jī)構(gòu)(3)、用于上料和測(cè)試的第一導(dǎo)軌(4)以及用于下料和分料的第二導(dǎo)軌(5),所述的多工位料盤⑴沿第一導(dǎo)軌⑷被驅(qū)動(dòng)至測(cè)光機(jī)構(gòu)⑵測(cè)光口處,測(cè)光機(jī)構(gòu)⑵逐個(gè)或者時(shí)序測(cè)量多工位料盤(I)不同工位上的被測(cè)對(duì)象,測(cè)試后的多工位料盤(I)沿第二導(dǎo)軌(5)被驅(qū)動(dòng)至分料機(jī)構(gòu)(3)處。
      2.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述的第一導(dǎo)軌(4)和第二導(dǎo)軌(5)開環(huán)或者閉環(huán)設(shè)置。
      3.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括與多工位料盤(I)相耦合的料盤夾具出),所述的料盤夾具(6)為可在第一導(dǎo)軌(4)和第二導(dǎo)軌(5)上移動(dòng)的可移動(dòng)式夾具;或者所述的料盤夾具為設(shè)置在測(cè)光機(jī)構(gòu)測(cè)光口處的可升降式夾具。
      4.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述的測(cè)光機(jī)構(gòu)(2)包括積分球(7)和光譜儀(8),所述的積分球(7)固定在第一導(dǎo)軌(4)上方,光譜儀(8)與積分球(7)連接。
      5.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括供電組件(9),所述的供電組件(9)為用以對(duì)準(zhǔn)并接觸被測(cè)對(duì)象電極的電極探針;或者所述的供電組件(9)為給多工位料盤(I)上被測(cè)對(duì)象時(shí)序供電的多路程控電源。
      6.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述的用以下料和分料的分料機(jī)構(gòu)(3)包括物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手(10)和分料盒(11);所述的物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手(10)包括用以轉(zhuǎn)移被測(cè)對(duì)象的轉(zhuǎn)移機(jī)械手(12)和用以將被測(cè)對(duì)象送至相應(yīng)分料盒(11)的分料機(jī)械手(13),所述的轉(zhuǎn)移機(jī)械手(12)為擺動(dòng)式或線性式機(jī)械手;或者所述的物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手(10)為將多工位料盤(I)上的被測(cè)對(duì)象直接轉(zhuǎn)移至對(duì)應(yīng)分料盒(11)的一體化機(jī)構(gòu)。
      7.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括控制器,所述的第一導(dǎo)軌(4)、第二導(dǎo)軌(5)和物料轉(zhuǎn)移機(jī)械手(10)均與控制器連接。
      8.如權(quán)利要求1所述的一種COB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括機(jī)罩,所述的機(jī)罩上設(shè)置有取/放料盤的開口。
      【文檔編號(hào)】B07C5/36GK204208819SQ201420573184
      【公開日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2014年10月8日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月8日
      【發(fā)明者】潘建根 申請(qǐng)人:杭州遠(yuǎn)方光電信息股份有限公司
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