1.一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，包括：
電源電路：為整個控制電路提供驅(qū)動電源；
采樣電路：用以采集待測集成器件的檢測電壓；
比較電路：用以將采樣電路采集到的檢測電源與設(shè)定電壓進行比較，并輸出電平信號；
整形電路：用以將比較電路輸出的電平信號進行整形，并根據(jù)需要實現(xiàn)高低電平的轉(zhuǎn)換；
輸出控制電路：根據(jù)整形電路輸出的電平信號控制分選機上的旋轉(zhuǎn)平臺動作，將旋轉(zhuǎn)平臺上的待測集成器件旋轉(zhuǎn)180°；
所述采樣電路的信號輸出端與比較電路的信號輸入端相連，所述比較電路的信號輸出端與整形電路的信號輸入端相連，所述整形電路的信號輸出端與輸出控制電路的信號輸入端相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，所述采樣電路包括檢測端子A和檢測端子B，所述檢測端子A串接可調(diào)電阻R2、電阻R1后接電源端，檢測端子B接地，檢測端子A與可調(diào)電阻R2之間的電極點經(jīng)電阻R3接地。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，所述比較電路包括比較器IC1、電阻R4、電阻R5、電阻R6、可調(diào)電阻R7以及電阻R8，所述電阻R4、電阻R5、電阻R6、可調(diào)電阻R7串接后一端接電源，另一端接地，所述比較器IC1的輸入端一端接采樣電路的輸出端，比較器IC1的輸入端另一端接電阻R5與電阻R6之間的電極點，比較器IC1的輸出端經(jīng)電阻R8接電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，所述整形電路包括數(shù)字集成芯片CD4011、電阻R9、電阻R10以及電阻R11，所述數(shù)字集成芯片的1、2腳并聯(lián)后接比較電路的輸出端，數(shù)字集成芯片的5、6腳并聯(lián)后接3腳，數(shù)字集成芯片的8、9腳并聯(lián)后接4腳，3腳與5、6腳之間的電極點經(jīng)電阻R9接地，4腳與8、9腳之間的電極點經(jīng)電阻R10接地，10腳經(jīng)電阻R11接地，所述整形電路內(nèi)設(shè)置有兩個輸出端，第一輸出端接4腳與8、9腳之間的電極點，第二輸出端接10腳。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，所述輸出控制電路包括兩路光耦電路，第一光耦電路的發(fā)光器輸入正極接電源，輸入負極經(jīng)電阻R12接第一輸出端；第一光耦電路的受光器輸出正極接輸出端子C，輸出負極經(jīng)二極管D1接輸出端子D；所述第二光耦電路的發(fā)光器輸入正極接電源，輸入負極經(jīng)電阻R13接第二輸出端，第二光耦電路的受光器輸出正極接輸出端子D，輸出負極經(jīng)二極管D2接輸出端子C。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選機控制電路，其特征在于，所述第一光耦電路的發(fā)光器輸入正極與電源之間串接有第一發(fā)光二極管LBD1，所述第二光耦電路的發(fā)光器輸入正極與電源之間串接有第二發(fā)光二極管LBD2。
7.一種雙向?qū)ΨQ型集成器件分選方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1）將待檢測的集成器件放置在分選機旋轉(zhuǎn)臺上，并將其接入采樣電路；
步驟2）采樣電路將采集到的電壓數(shù)據(jù)發(fā)送給比較電路，若采集到的電壓信號在設(shè)定范圍內(nèi)，則將電壓信號比較，若電壓信號不在設(shè)定范圍內(nèi)，則不再進行電壓比較，并將該集成器件歸類為不合格產(chǎn)品；
步驟3）比較電路將檢測到的電壓數(shù)據(jù)與設(shè)定的電壓數(shù)據(jù)值進行比較，并將比較的結(jié)果轉(zhuǎn)換為高低電平信號發(fā)送給整形電路；
步驟4）整形電路將高低電平信號進行整形，并將處理后后的方波信號發(fā)送給輸出控制電路；
步驟5）輸出控制電路根據(jù)接收到的方波信號輸出控制信號，以控制旋轉(zhuǎn)臺是否做180°旋轉(zhuǎn)；
步驟6）將集成器件進行電參數(shù)進行檢測并進行激光印字。