本實(shí)用新型涉及一種電子元件生產(chǎn)領(lǐng)域，具體是一種被動(dòng)搬運(yùn)式電子元件測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

在電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要對(duì)電子元件進(jìn)行檢測(cè)，以區(qū)分出合格產(chǎn)品和不合格產(chǎn)品?，F(xiàn)有技術(shù)采用斜面軌道測(cè)試結(jié)構(gòu)。電子元件從斜面軌道滑下來(lái)，在斜面軌道末端測(cè)試機(jī)構(gòu)壓住電子元件引腳依次測(cè)試。這種方式在實(shí)際測(cè)試中存在以下缺點(diǎn)：1)電子元件在斜面軌道中靠重力下滑的時(shí)候，電子元件的引腳經(jīng)常會(huì)互相干涉，造成電子元件卡在斜面軌道中，影響測(cè)試效率。2)由于電子元件靠自身重力從斜面軌道滑下，所以經(jīng)常會(huì)有電子元件還未測(cè)試就從斜面軌道滑下去，與測(cè)試好的產(chǎn)品混在一起造成混料。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于提供一種被動(dòng)搬運(yùn)式電子元件測(cè)試裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：

一種被動(dòng)搬運(yùn)式電子元件測(cè)試裝置，包括底盤、振動(dòng)盤、取料工位、放料工位、測(cè)試機(jī)構(gòu)、多工位轉(zhuǎn)盤和分類盒；所述振動(dòng)盤連接至軌道一端，軌道另一端與取料工位接觸，所述取料工位安裝在軌道和多工位轉(zhuǎn)盤之間，所述多工位轉(zhuǎn)盤上安裝有測(cè)試機(jī)構(gòu)；多工位轉(zhuǎn)盤的前側(cè)設(shè)置有分類盒；所述分類盒上方安裝有放料工位，放料工位位于多工位轉(zhuǎn)盤和分類盒之間。

作為本實(shí)用新型進(jìn)一步的方案：所述測(cè)試機(jī)構(gòu)安裝在多工位轉(zhuǎn)盤的邊緣。

作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案：所述振動(dòng)盤安裝在底盤的后端。

作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案：所述多工位轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)安裝在多工位轉(zhuǎn)盤基座上，多工位轉(zhuǎn)盤基座固定安裝在底盤的中間位置。

作為本實(shí)用新型再進(jìn)一步的方案：所述分類盒安裝在底盤上，分類盒共設(shè)置有兩個(gè)以上。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：

本實(shí)用新型采用了被動(dòng)搬運(yùn)方式，而未采用自由滑落方式，其結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性好，速度可控，避免了發(fā)生在產(chǎn)品測(cè)試時(shí)卡料和混料的情況。

附圖說(shuō)明

圖1為傳統(tǒng)的電子元件測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為被動(dòng)搬運(yùn)式電子元件測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：1-振動(dòng)盤，2-取料工位，3-放料工位，4-電子元件，5-測(cè)試機(jī)構(gòu)，6-多工位轉(zhuǎn)盤，7-分類盒，8-斜面軌道。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

如圖1為傳統(tǒng)的電子元件測(cè)試裝置，包括振動(dòng)盤1、斜面軌道8和測(cè)試機(jī)構(gòu)5；電子元件4從振動(dòng)盤1振到斜面軌道8然后自由滑下來(lái)，在軌道末端測(cè)試機(jī)構(gòu)4的彈片頂住電子元件4的引腳進(jìn)行測(cè)試。采用此結(jié)構(gòu)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，由于電子元件4自由下滑，因此容易卡在斜面軌道8里面，或者有些電子元件4未測(cè)試就自由滑落到分料盒7里面造成測(cè)試與未測(cè)試的產(chǎn)品混料。

請(qǐng)參閱圖2，本實(shí)用新型實(shí)施例中，一種被動(dòng)搬運(yùn)式電子元件測(cè)試裝置，包括底盤、振動(dòng)盤1、取料工位2、放料工位3、測(cè)試機(jī)構(gòu)5、多工位轉(zhuǎn)盤6和分類盒7；所述振動(dòng)盤1安裝在底盤的后端，振動(dòng)盤1與軌道一端連接，軌道用于傳輸電子元件，軌道另一端與取料工位2接觸，所述多工位轉(zhuǎn)盤6轉(zhuǎn)動(dòng)安裝在多工位轉(zhuǎn)盤基座上，多工位轉(zhuǎn)盤基座固定安裝在底盤的中間位置，多工位轉(zhuǎn)盤6上安裝有測(cè)試機(jī)構(gòu)5，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)5安裝在多工位轉(zhuǎn)盤6的邊緣，所述取料工位2安裝在軌道和多工位轉(zhuǎn)盤6之間，取料工位2用于將軌道上的裝置放置到多工位轉(zhuǎn)盤6；多工位轉(zhuǎn)盤6的前側(cè)設(shè)置有分類盒7，分類盒7安裝在底盤上，分類盒7共設(shè)置有兩個(gè)以上，分類盒7用于放置合格的電子元件和不合格的電子元件；所述分類盒7上方安裝有放料工位3，放料工位3位于多工位轉(zhuǎn)盤6和分類盒7之間，放料工位3用于將多工位轉(zhuǎn)盤6上的電子元件4放置到分類盒7內(nèi)。

本實(shí)用新型的工作原理是：

振動(dòng)盤1把電子元件4送到取料工位2下面，取料工位2通過(guò)搬運(yùn)裝置把電子元件4搬運(yùn)到多工位轉(zhuǎn)盤6上，然后電子元件4被旋轉(zhuǎn)到測(cè)試機(jī)構(gòu)5下測(cè)試，參數(shù)測(cè)試完成后，電子元件4旋轉(zhuǎn)到放料工位3下被放料工位3搬運(yùn)到分類盒7里。

本實(shí)用新型采用了被動(dòng)搬運(yùn)方式，而未采用自由滑落方式，其結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性好，速度可控，避免了發(fā)生在產(chǎn)品測(cè)試時(shí)卡料和混料的情況。

對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，顯然本實(shí)用新型不限于上述示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié)，而且在不背離本實(shí)用新型的精神或基本特征的情況下，能夠以其他的具體形式實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型。因此，無(wú)論從哪一點(diǎn)來(lái)看，均應(yīng)將實(shí)施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求而不是上述說(shuō)明限定，因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有變化囊括在本實(shí)用新型內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記視為限制所涉及的權(quán)利要求。

此外，應(yīng)當(dāng)理解，雖然本說(shuō)明書按照實(shí)施方式加以描述，但并非每個(gè)實(shí)施方式僅包含一個(gè)獨(dú)立的技術(shù)方案，說(shuō)明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說(shuō)明書作為一個(gè)整體，各實(shí)施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合，形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實(shí)施方式。