點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)用電子火花塞的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型與內(nèi)燃機(jī)的點(diǎn)火系統(tǒng)有關(guān)，具體屬于一種點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)用電子火花塞。
【背景技術(shù)】
[0002]所有的汽油發(fā)動(dòng)機(jī)上都安裝有火花塞，它的作用是將點(diǎn)火線圈產(chǎn)生的脈沖高壓電引進(jìn)燃燒室，利用火花塞電極間隙之間產(chǎn)生的火花點(diǎn)燃?xì)飧變?nèi)的混合氣。
[0003]在現(xiàn)有的點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)中，采用發(fā)動(dòng)機(jī)點(diǎn)火系統(tǒng)中實(shí)際使用的機(jī)械式火花塞來檢查電流、電壓和點(diǎn)火能量，這種火花塞主要由中心電極、側(cè)電極、金屬殼體、絕緣體等組成，其通過中心電極與側(cè)電極之間的間隙承受點(diǎn)火線圈輸出的高電壓，間隙越大擊穿電壓越大。然而，采用這種機(jī)械式火花塞進(jìn)行點(diǎn)火線圈的測試試驗(yàn)存在以下問題:
[0004]I)火花塞對材料及制造工藝的要求十分高，其中的絕緣體必須要有良好的機(jī)械性能和耐高電壓、耐高溫沖擊、耐化學(xué)腐蝕的能力，否則就會(huì)經(jīng)常發(fā)生火花塞絕緣體被擊穿或電極積炭失效的情況；
[0005]2)由于火花塞在測試試驗(yàn)中需要承受的電壓比在發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)正常工作時(shí)承受的電壓高很多，因此點(diǎn)火線圈在高電壓下進(jìn)行測試時(shí)，火花塞極易損耗，甚至是絕緣體直接被擊穿而無法工作；
[0006]3)火花塞的“間隙”是其主要的工作技術(shù)指標(biāo)，中心電極與接地電極之間的間隙通常在0.6?1.0毫米之間，如間隙過大則點(diǎn)火線圈產(chǎn)生的高壓電難以跳過，致使發(fā)動(dòng)機(jī)起動(dòng)困難，如間隙過小則會(huì)導(dǎo)致火花微弱，同時(shí)易發(fā)生漏電；
[0007]4)受火花塞絕緣體的電阻大小和絕緣性的限制，火花塞的電極間隙有限定的范圍，因此采用現(xiàn)有的機(jī)械式火花塞進(jìn)行點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)時(shí)，當(dāng)點(diǎn)火線圈輸出電壓高于某個(gè)閾值后加載在火花塞上的電壓將無法升高，且火花塞易損壞；
[0008]5)隨著汽車發(fā)動(dòng)機(jī)節(jié)能減排技術(shù)的快速發(fā)展，對點(diǎn)火線圈輸出的電壓和能量的要求也越來越高，現(xiàn)有的機(jī)械式火花塞受絕緣能力影響，能承受的工作電壓有限，無法滿足點(diǎn)火線圈的測試需要，且測試結(jié)果不準(zhǔn)確。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0009]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)用電子火花塞，不但可以解決現(xiàn)有火花塞無法滿足點(diǎn)火線圈高電壓的試驗(yàn)問題，而且可以解決現(xiàn)有火花塞電極磨損、擊穿導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確或失效的問題。
[0010]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供的點(diǎn)火線圈測試試驗(yàn)用電子火花塞，包括高壓輸入端口、晶閘管陣列、接地端口、齊納二極管、電阻、跳線插口組，其中晶閘管陣列由若干晶閘管串聯(lián)組成，所述晶閘管陣列的輸入端與高壓輸入端口電性連接，所述跳線插口組將晶閘管陣列中的至少一個(gè)晶閘管與齊納二極管、電阻、接地端口連接為串聯(lián)電路。
[0011]在上述結(jié)構(gòu)中，所述高壓輸入端口通過導(dǎo)線與點(diǎn)火線圈的高壓輸出端連接，所述接地端口通過接地導(dǎo)線接地。
[0012]其中，所述跳線插口組包括一個(gè)跳線輸出插口和若干個(gè)跳線輸入插口，每個(gè)跳線輸入插口與不同的晶閘管陰極電性連接，跳線輸入插口與跳線輸出插口通過跳線連接。
[0013]較佳的，所述串聯(lián)電路中還包括一工作指示燈。
[0014]進(jìn)一步的，所述高壓輸入端口、晶閘管陣列、接地端口、齊納二極管、電阻、工作指示燈和跳線插口組均設(shè)在PCB板上。
[0015]優(yōu)選的，所述電子火花塞還包括一絕緣殼體，所述PCB板固定安裝在絕緣殼體內(nèi)，且高壓輸入端口、接地端口以及跳線插口組均露在絕緣殼體外。
[0016]本實(shí)用新型的有益之處在于:
[0017]I)本實(shí)用新型的電路導(dǎo)通時(shí)每個(gè)晶閘管上有一個(gè)導(dǎo)通電壓，根據(jù)需要可以串聯(lián)一定數(shù)量的晶閘管以獲取一系列的總導(dǎo)通電壓，對于高電壓大能量的先進(jìn)點(diǎn)火線圈的測試試驗(yàn)，只需要在電路上串聯(lián)更多數(shù)量的晶閘管即可輕易獲取更高的導(dǎo)通電壓，因此本實(shí)用新型有效地滿足先進(jìn)點(diǎn)火線圈的的開發(fā)測試需要，同樣地也適用于普通線圈的試驗(yàn)測試；
[0018]2)本實(shí)用新型可以承受現(xiàn)有火花塞所不能承受的高電壓，并且可以使承受的電壓穩(wěn)定在需要的設(shè)定值，提升了點(diǎn)火線圈相關(guān)試驗(yàn)測試結(jié)果的準(zhǔn)確性；
[0019]3)本實(shí)用新型中通過不同的跳線插口進(jìn)行簡單的插線連接就可以獲得不同的導(dǎo)通電壓，試驗(yàn)電壓調(diào)節(jié)快速簡單，可適用于多種點(diǎn)火線圈不同輸出電壓的試驗(yàn)要求；
[0020]4)本實(shí)用新型通過電子元器件模擬現(xiàn)有火花塞的物理特性并實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有火花塞的功能，使用壽命更長，可多次反復(fù)使用，降低了點(diǎn)火線圈實(shí)驗(yàn)測試的設(shè)備工裝要求和成本，且提升了點(diǎn)火線圈實(shí)驗(yàn)測試的安全性。
【附圖說明】
[0021]圖1為本實(shí)用新型的電子火花塞的示意圖。
[0022]其中附圖標(biāo)記說明如下:
[0023]I為高壓輸入端口；2為晶閘管陣列;3為跳線插口組;31為跳線輸入插口；32為跳線輸出插口； 4為齊納二極管;5為接地端口； 6為絕緣殼體。
【具體實(shí)施方式】
[0024]下面結(jié)合附圖與【具體實(shí)施方式】對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0025]本實(shí)用新型提供的電子火花塞，適用于各種輸出電壓的點(diǎn)火線圈的測試試驗(yàn)，如圖1所示，包括高壓輸入端口 1、晶閘管陣列2、接地端口5、齊納二極管4(用于模擬機(jī)械式火花塞工作時(shí)的電容特性)、電阻(等效于機(jī)械式火花塞固有的電阻，圖中未示出)、跳線插口組3，其中晶閘管陣列2由若干晶閘管串聯(lián)組成，所述晶閘管陣列2的輸入端與高壓輸入端口
I電性連接，所述跳線插口組3將晶閘管陣列2中的至少一個(gè)晶閘管與齊納二極管4、電阻、接地端口 5連接為串聯(lián)電路。所述跳線插口組3包括一個(gè)跳線輸出插口 31和若干個(gè)跳線輸入插口 32，每個(gè)跳線輸入插口 32與不同的晶閘管陰極電性連接，跳線輸入插口 32與跳線輸出插口 31通過跳線連接。
[0026]電子火花塞在工作時(shí)，所述高壓輸入端口I通過導(dǎo)線與點(diǎn)火線圈的高壓輸出端連接，點(diǎn)火線圈輸出的高電壓加載在電子火花塞的