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      測井儀用電阻率成像測量裝置制造方法

      文檔序號:5306916閱讀:113來源:國知局
      測井儀用電阻率成像測量裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探【技術(shù)領(lǐng)域】,更具體地說,特別涉及一種測井儀用電阻率成像測量裝置。該測井儀用電阻率成像測量裝置,包括聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)和成像模塊;聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)包括發(fā)射線圈、正交接收線圈以及平行接收線圈;成像模塊,用于根據(jù)采集到的總電壓響應(yīng)計算平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng)和正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng),組合第一分量電壓響應(yīng)和第二分量電壓響應(yīng),將組合后的結(jié)果作為地層電阻率成像的輸入;以探測方向為第一坐標(biāo),以該探測方向上的固定位置下的方位角為第二坐標(biāo),根據(jù)地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。該裝置產(chǎn)生的地層電阻率成像可以直觀地反映隨鉆儀器所在地層的電阻率以及遠處地層邊界的相對方位。
      【專利說明】測井儀用電阻率成像測量裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探【技術(shù)領(lǐng)域】,更具體地說,特別涉及一種測井儀用電阻率成像測量裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]測井是為了探知鉆井中地層界面的特性,劃分地質(zhì)剖面的一種工程作業(yè),通常有電法測井、放射性測井、聲波測井、成像測井、工程測井(井徑、井斜)。通俗的說,如果打了一口油井,油層的準(zhǔn)確位置是未知的,這時候需要通過測井,對取得的各種資料進行綜合解釋判斷出油層的位置。測井儀是用于鑿井領(lǐng)域,可對井壁進行連續(xù)掃描,也可對任意水平進行橫向掃描,給出井筒豎直剖面、水平斷面、井筒有效斷面、井筒偏斜距離等技術(shù)資料。測井結(jié)果可由計算機屏幕直接顯示,也可由繪圖儀打印機給出,使用靈活方便。測井儀器的使用可以防止井筒偏斜,減少施工周期,加快施工進度,確保工程質(zhì)量,間接經(jīng)濟效益明顯,社會效益非常顯著。
      [0003]在實際應(yīng)用中,實時地質(zhì)導(dǎo)向?qū)τ蜌饪碧椒浅V匾?。地質(zhì)導(dǎo)向的目的是盡可能的保持鉆頭在油層中行進。為了避免鉆頭進入低阻圍巖,就要求隨鉆儀器提供遠處地層界面的方向,以及隨鉆電阻率測井儀器相距遠處地層界面距離的信息。
      [0004]請參考圖1和圖2,其中,圖1為現(xiàn)有技術(shù)中第一種隨鉆方位電阻率測井儀器用線圈組的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為現(xiàn)有技術(shù)中第二種隨鉆方位電阻率測井儀器用線圈組的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0005]在現(xiàn)有技術(shù)中,第一種隨鉆方位電阻率測井儀器包括線圈組,線圈組包括接收線圈P和發(fā)射線圈2'。發(fā)射線圈采用與鉆頭軸線垂直的方式設(shè)置,以發(fā)射線圈設(shè)置的平面為基準(zhǔn),接收線圈采用傾斜結(jié)構(gòu)設(shè)計。由于傾斜線圈具有與發(fā)射線圈正交的分量,因此具有方位探測能力。同時又由于傾斜線圈還具有與發(fā)射線圈平行的分量,因此測量信號中還包含了與方位無關(guān)的信息。在應(yīng)用過程中,與方位無關(guān)的信息通過數(shù)據(jù)處理的方法剔除,僅保留方位探測信息。
      [0006]在現(xiàn)有技術(shù)中,第二種隨鉆方位電阻率測井儀器包括線圈組,線圈組包括接收線圈I"和發(fā)射線圈2"。同樣以發(fā)射線圈設(shè)置的平面為基準(zhǔn),接收線圈垂直設(shè)置,接收線圈與發(fā)射線圈正交,因此接收接收線圈與發(fā)射接收線圈的直接耦合為零,接收信號只包含與方位有關(guān)的地層信息。
      [0007]上述兩種隨鉆方位電阻率測井儀器僅能夠?qū)我坏木录夹g(shù)參數(shù)進行測量,其測量參數(shù)單一,不能夠并且直觀地反應(yīng)底層電阻率的變化。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0008]本發(fā)明的目的在于提供一種測井儀用電阻率成像測量裝置,用以解決上述的問題。
      [0009]在本發(fā)明的實施例中提供了一種測井儀用電阻率成像測量裝置,包括聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)和成像模塊;
      [0010]所述聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)包括發(fā)射線圈和與所述發(fā)射線圈正交的正交接收線圈以及與所述發(fā)射線圈平行的平行接收線圈;
      [0011]所述成像模塊,用于根據(jù)采集到的總電壓響應(yīng)計算平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng)和正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng),組合所述第一分量電壓響應(yīng)和所述第二分量電壓響應(yīng),將組合后的結(jié)果作為地層電阻率成像的輸入;以探測方向為第一坐標(biāo),以該探測方向上的固定位置下的方位角為第二坐標(biāo),根據(jù)地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。
      [0012]優(yōu)選地,所述成像模塊包括分量采集模塊,所述分量采集模塊,用于:采集一周內(nèi)不同方位角對應(yīng)的接收線圈的總電壓響應(yīng),并對在旋轉(zhuǎn)一周內(nèi)的接收線圈的總電壓響應(yīng)求平均值,作為平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng);將所述總電壓響應(yīng)減去所述第一分量電壓響應(yīng)后的值,作為所述正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng)。
      [0013]優(yōu)選地,所述成像模塊還包括組合模塊,所述組合模塊,用于:
      [0014]預(yù)先進行正演模型訓(xùn)練,得出轉(zhuǎn)換系數(shù)的查找表,根據(jù)R = kl* (VRz_k2*VRx)對第一分量電壓響應(yīng)和第二分量電壓響應(yīng)進行組合得出地層電阻率R,其中kl,k2為轉(zhuǎn)換系數(shù),VRz為第一分量電壓響應(yīng),VRx為第二分量電壓響應(yīng)。
      [0015]優(yōu)選地,所述正交接收線圈和平行接收線圈由同一根線繞制。
      [0016]優(yōu)選地,所述正交接收線圈包括有兩個結(jié)構(gòu)相同并對稱設(shè)置的子正交接收線圈。
      [0017]優(yōu)選地,所述正交接收線圈的橫截面為平滑弧形結(jié)構(gòu)。
      [0018]通過上述結(jié)構(gòu)設(shè)計,本發(fā)明中聯(lián)合線圈在安裝于隨鉆方位電阻率測井儀器中,隨測井儀進入到底層后可提取隨鉆儀器所在地層的電阻率在方位上的變化,進而對地層電阻率進行成像。利用隨鉆方位電阻率測井儀器進行地質(zhì)導(dǎo)向過程中,本發(fā)明產(chǎn)生的地層電阻率成像可以直觀地反映隨鉆儀器所在地層的電阻率以及遠處地層邊界的相對方位。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0019]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0020]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中第一種隨鉆方位電阻率測井儀器用線圈組的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0021]圖2為現(xiàn)有技術(shù)中第二種隨鉆方位電阻率測井儀器用線圈組的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0022]圖3為本發(fā)明一種實施例中聯(lián)合線圈的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0023]圖4為聯(lián)合線圈在靠近地層邊界時的典型響應(yīng)曲線;
      [0024]圖5至圖8均為本發(fā)明實施例的測井儀器沿不同電阻率地層行進時的電壓響應(yīng)示意圖;
      [0025]圖9至圖12均為采用本發(fā)明實施例所提供的成像裝置在不同地層中進行探測時所呈現(xiàn)的電阻率成像結(jié)果示意圖。

      【具體實施方式】
      [0026]下面通過具體的實施例子并結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步的詳細描述。
      [0027]請參考圖3,圖3為本發(fā)明一種實施例中聯(lián)合線圈的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0028]本發(fā)明提供了一種測井儀用電阻率成像測量裝置,包括聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)和成像模塊。
      [0029]聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)包括發(fā)射線圈和與發(fā)射線圈正交的正交接收線圈Rx以及與發(fā)射線圈平行的平行接收線圈Rz。
      [0030]成像模塊,用于根據(jù)采集到的總電壓響應(yīng)計算平行接收線圈Rz的第一分量電壓響應(yīng)和正交接收線圈Rx的第二分量電壓響應(yīng),組合第一分量電壓響應(yīng)和第二分量電壓響應(yīng),將組合后的結(jié)果作為地層電阻率成像的輸入;以探測方向為第一坐標(biāo),以該探測方向上的固定位置下的方位角為第二坐標(biāo),根據(jù)地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。
      [0031 ] 在本發(fā)明實施例中,作為一種可實施方式,成像模塊包括分量米集模塊、組合模塊和顯像模塊。
      [0032]其中,所述分量采集模塊,用于:采集一周內(nèi)不同方位角對應(yīng)的接收線圈的總電壓響應(yīng),并對在旋轉(zhuǎn)一周內(nèi)的接收線圈的總電壓響應(yīng)求平均值,作為平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng);將所述總電壓響應(yīng)減去所述第一分量電壓響應(yīng)后的值,作為所述正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng)。
      [0033]所述組合模塊,用于:預(yù)先進行正演模型訓(xùn)練,得出轉(zhuǎn)換系數(shù)的查找表,根據(jù)R =kl*(VRz-k2*VRx)對第一分量電壓響應(yīng)和第二分量電壓響應(yīng)進行組合得出地層電阻率R,其中kl,k2為轉(zhuǎn)換系數(shù),VRz為第一分量電壓響應(yīng),VRx為第二分量電壓響應(yīng)。
      [0034]顯像模塊,則用于根據(jù)地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。
      [0035]在本發(fā)明提供的測井儀用電阻率成像測量裝置中,聯(lián)合線圈具有平行接收線圈Rz和正交接收線圈Rx,并且,平行接收線圈Rz和正交接收線圈Rx由一根導(dǎo)線制成,由此才能夠根據(jù)獲取的總響應(yīng)電壓測量分量電壓。
      [0036]具體地,正交接收線圈Rx包括有兩個結(jié)構(gòu)相同并對稱設(shè)置的子正交接收線圈Rxl、Rx20
      [0037]本領(lǐng)域技術(shù)人員可知,測井儀的鉆頭截面通常為圓形結(jié)構(gòu)設(shè)計,因此,為了便于正交接收線圈Rx的安裝,正交接收線圈Rx的橫截面為平滑弧形結(jié)構(gòu)。
      [0038]采用上述結(jié)構(gòu)設(shè)計的隨鉆方位電阻率測井儀器進行測量獲得的測量數(shù)據(jù)中,既可以提取直接反映地層背景電阻率的信息,還可以提取出反映遠處地層邊界所在方位以及距離的信息。其具體信息提取為:
      [0039]其中,三個線圈可用同一根線繞制,因此聯(lián)合線圈的電壓響應(yīng)為三個線圈電壓響應(yīng)之和。
      [0040]測量聯(lián)合線圈的總響應(yīng)電壓后,可根據(jù)如下公式計算分量影響電壓。
      [0041]Vtotal = νΕζ+νΕχ008(Φ)
      [0042]VEx = VExl+VEx2
      [0043]其中,Vtotal表示聯(lián)合線圈總電壓響應(yīng),Vkz表示平行接收線圈的電壓響應(yīng)(即第一分量電壓響應(yīng)),Vkx表不正交接收線圈的電壓響應(yīng)之和(即第二分量電壓響應(yīng))。Φ為相對于聯(lián)合線圈初始方位角的旋轉(zhuǎn)方位角。
      [0044]聯(lián)合線圈在鉆進過程中,為了獲得地層電阻率隨方位的變化,必須對聯(lián)合線圈(當(dāng)聯(lián)合線圈安裝到測井儀鉆頭后,對鉆頭進行旋轉(zhuǎn))旋轉(zhuǎn)360度。在聯(lián)合線圈旋轉(zhuǎn)過程中,正交接收線圈Rxl和Rx2的響應(yīng),隨著儀器旋轉(zhuǎn)角度做余弦變化,平行天線Rz的響應(yīng)不變。在旋轉(zhuǎn)過程中等時間間隔提取總響應(yīng)電壓,并以旋轉(zhuǎn)角度為X軸總電壓相應(yīng)為Y軸制取響應(yīng)曲線,并對總響應(yīng)電壓求平均值,由于前述公式中的Vkx分量做余弦變換,因此,旋轉(zhuǎn)360°后其電壓相應(yīng)的總和為零,如此,總電壓相應(yīng)的平均值即為Vkz分量。
      [0045]參見圖4所示,圖4所示為聯(lián)合線圈在靠近地層邊界時的典型響應(yīng)曲線。該曲線隨儀器旋轉(zhuǎn)按余弦變化的分量為前述公式中的Vkx分量,曲線的平均值為前述公式中的Vkz分量。曲線的極值對應(yīng)的方位包含了地層邊界的方位信息,曲線的變化幅度反映了隨鉆儀器相距地層邊界的距離。曲線的平均值包含了儀器所在地層電阻率信息(類似常規(guī)傳播電阻率測量)。在隨鉆儀器行進過程中,將反映背景地層電阻率的電壓響應(yīng)Vkz分量和反映遠處地層邊界方位及距離的電壓響應(yīng)Vkx分量分別提取出來,對數(shù)據(jù)進行處理,可以生成反映隨鉆儀器在行進過程中地層電阻率隨方位的變化圖像。
      [0046]下面通過幾個例子分析具有聯(lián)合線圈天線結(jié)構(gòu)的隨鉆方位電阻率測井儀器在不同電阻率地層中行進時Vkx分量和Vkz分量的特征。
      [0047]首先,參見圖5所示,隨鉆儀器以相對地層60度傾角的方向向下行進,穿過三層地層。地層的電阻率分別為lOhm-m、lOOhm-n^P 10hm-m。獲取Rz分量在隨鉆儀器行進過程中的電壓響應(yīng)。并根據(jù)前述公式計算求出Rx分量在隨鉆儀器不同旋轉(zhuǎn)角度(O度,22.5度,45度,67.5度,90度,112.5度,135度,157.5度,180度)對應(yīng)的電壓響應(yīng)。Rz分量的變化,直接反映了隨鉆儀器所在地層的電阻率變化。低電阻率對應(yīng)低電壓響應(yīng),高電阻率對應(yīng)高電壓響應(yīng)。Rx分量反映了遠處地層邊界相對于隨鉆儀器的方位及距離。當(dāng)隨鉆儀器距離邊界較遠時,Rx分量的電壓響應(yīng)幾乎為零。隨著隨鉆儀器接近邊界,Rx分量的電壓響應(yīng)逐漸增大,到達邊界時最大, 然后又隨著隨鉆儀器遠離邊界而變小。另外還要注意到的是,當(dāng)隨鉆儀器從低阻層靠近高阻層邊界,和從高阻層向下靠近低阻層邊界時,Rx分量符號是相反,這說明Rx分量不但反映了隨鉆儀器相距地層邊界的距離,還包含了地層邊界的方位信息。
      [0048]再參見圖6所示,獲取隨鉆儀器穿過電阻率分別為lohm-m, 10ohm-m和2ohm_m地層時,Rz分量和Rx分量的電壓響應(yīng)。Rz分量在隨鉆儀器進入2ohm-m地層時,電壓響應(yīng)比進入lohm-m地層時大,進一步證明了 Rz分量能夠直接反映隨鉆所在地層的電阻率。此外,Rx分量在隨鉆儀器接近10ohm-m和2ohm_m地層邊界的電壓響應(yīng)要比隨鉆儀器在接近lohm-m和lOohm-m地層邊界的電壓響應(yīng)小。因此Rx分量的電壓響應(yīng)還反映了地層邊界的電阻率差異。
      [0049]在參見圖7所示隨鉆儀器穿過電阻率分別為0.7ohm-m、2ohm-m和50ohm_m地層時,Rz分量和Rx分量的電壓響應(yīng)。Rz分量的電壓響應(yīng)反映了地層電阻率隨著隨鉆儀器的行進一直在增長。Rx分量在隨鉆儀器接近界面時的電壓響應(yīng)最大。在本實施例中,Rx分量電壓響應(yīng)在儀器的行進過程中對應(yīng)儀器旋轉(zhuǎn)角度為O時的電壓響應(yīng)一直為正值,這是因為地層電阻率在儀器行進過程中單調(diào)增加。
      [0050]參見圖8所示,隨鉆儀器穿過電阻率為lohm-m的地層進入電阻率為10ohm-m的地層,然后再返回lohm-m地層過程中,獲取Rz分量和Rx分量的電壓響應(yīng)。Rx分量的電壓響應(yīng)在隨鉆儀器從高阻地層向上返回低阻地層時與圖5所示示例相比,從高阻地層向下接近低阻地層的Rx分量的電壓響應(yīng)相反。這說明Rx分量的電壓響應(yīng)能夠區(qū)分隨鉆儀器是向上還是向下接近地層邊界。
      [0051]根據(jù)圖5至圖8示例的分析,由于Rz分量能夠提供隨鉆儀器在行進方向上的電阻率變化,Rx分量能夠提供隨鉆儀器方位方向上的變化,融合Rz分量和Rx分量的數(shù)據(jù),就可以對地層電阻率成像。成像的一個坐標(biāo)軸為儀器行進方向,例如測試深度,另一個坐標(biāo)軸為跨度O度到360度的方位角。如此,可以看出結(jié)合Rz分量和Rx分量,不但能夠提供背景電阻率的變化,還能提供地層邊界的方位以及隨鉆儀器接近地層邊界的方向。
      [0052]具體地,進行成像的具體步驟可以為:首先,儀器在井下操作時,為了獲取地層電阻率在方位上的變化,必須對隨鉆方位電阻率儀器旋轉(zhuǎn)360度。將聯(lián)合線圈接收天線的電壓響應(yīng)在旋轉(zhuǎn)一周內(nèi)(從O度到360度)取平均值,作為Rz分量的電壓響應(yīng)。將減去平均值的接收天線的電壓響應(yīng),作為Rx分量的電壓響應(yīng)。
      [0053]其中,Rx分量的電壓響應(yīng)隨儀器旋轉(zhuǎn)角度做余弦變化。將獲得的Rz分量和Rx分量重新組合,按照下述公式計算地層視電阻率并對其成像。成像的一個坐標(biāo)軸為測量深度,另一個坐標(biāo)軸為跨度O到360度的方位角。
      [0054]R = Ic1 (VEz-k2VEx)
      [0055]其中,Ic1和k2為轉(zhuǎn)換系數(shù),可以由正演模型事先求出做成查找表。Vkz為Rz分量的電壓響應(yīng),Vex為Rx分量的電壓響應(yīng)。
      [0056]為了驗證本發(fā)明實施例中的地層電阻率成像裝置的有效性,通過仿真分析隨鉆儀器分別從不同電阻率地層,沿不同方向接近地層邊界時的電阻率成像結(jié)果。
      [0057]圖9中上圖表示測井儀器從電阻率為lOohm-m的地層,向上進入電阻率為lohm_m的地層。圖9中下圖表示利用該裝置產(chǎn)生的地層電阻率成像。圖像的橫坐標(biāo)為測量深度,縱坐標(biāo)為儀器的旋轉(zhuǎn)角度,用工具面角度來表示。圖像中的黑色代表低電阻率,淺色代表高電阻率。由圖像可見,隨著隨著儀器的行進,對應(yīng)測量深度逐漸增大,地層電阻率從高阻變到低阻。在儀器接近地層邊界的位置,地層電阻率在方位方向上有了變化,對應(yīng)工具面為O度(或者360度)的地層電阻率偏小,說明低阻地層在上方。對應(yīng)工具面為180度的地層電阻率偏大,說明高阻地層在下方。圖像中所反映的信息,與模型完全一致。
      [0058]圖10表示測井儀器從電阻率為lOohm-m的地層,向下進入電阻率為lohm_m的地層。相比圖9中的地層電阻率成像,可以看出圖10中,隨鉆儀器在接近地層邊界時,地層電阻率在方位上的分布與圖9中的地層電阻率分布相反。也即,對應(yīng)工具面為O度(或者360度)的地層電阻率偏大,說明高阻地層在上方。對應(yīng)工具面為180度的地層電阻率偏小,說明低阻地層在下方。圖像中所反映的信息,也與模型完全一致。
      [0059]圖11和圖12分別表示了隨鉆儀器從低阻地層向上和向下進入高阻地層時對應(yīng)的地層電阻率成像。和圖9、圖10—樣,在測量深度方向上,電阻率的變化反映了地層電阻率隨著隨鉆儀器行進過程中的變化。在隨鉆儀器接近地層邊界時,地層電阻率在方位角上的變化,反映了地層之間的相對關(guān)系。
      [0060]圖11中隨鉆儀器接近邊界時,地層電阻率在工具面角度為180時偏小,說明低阻地層在下方,高阻地層在上方。圖12中隨鉆儀器接近邊界時,地層電阻率在工具面角度為180大,說明低阻地層在上方,高阻地層在下方。
      [0061]綜上分析,該成像裝置,通過二維圖像能夠非常準(zhǔn)確直觀地反應(yīng)出地層電阻率的變化,得出不同電阻性狀地層之間的方位關(guān)系,更為便利。
      [0062] 以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,包括聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)和成像模塊; 所述聯(lián)合線圈結(jié)構(gòu)包括發(fā)射線圈和與所述發(fā)射線圈正交的正交接收線圈以及與所述發(fā)射線圈平行的平行接收線圈; 所述成像模塊,用于根據(jù)采集到的總電壓響應(yīng)計算平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng)和正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng),組合所述第一分量電壓響應(yīng)和所述第二分量電壓響應(yīng),將組合后的結(jié)果作為地層電阻率成像的輸入;以探測方向為第一坐標(biāo),以該探測方向上的固定位置下的方位角為第二坐標(biāo),根據(jù)地層電阻率成像的輸入進行被測地層電阻率的二維成像。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,所述成像模塊包括分量采集模塊,所述分量采集模塊,用于: 采集一周內(nèi)不同方位角對應(yīng)的接收線圈的總電壓響應(yīng),并對在旋轉(zhuǎn)一周內(nèi)的接收線圈的總電壓響應(yīng)求平均值,作為平行接收線圈的第一分量電壓響應(yīng);將所述總電壓響應(yīng)減去所述第一分量電壓響應(yīng)后的值,作為所述正交接收線圈的第二分量電壓響應(yīng)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,所述成像模塊還包括組合模塊,所述組合模塊,用于: 預(yù)先進行正演模型訓(xùn)練,得出轉(zhuǎn)換系數(shù)的查找表,根據(jù)R = kl* (VRz-k2*VRx)對第一分量電壓響應(yīng)和第二分量電壓響應(yīng)進行組合得出地層電阻率R,其中kl,k2為轉(zhuǎn)換系數(shù),VRz為第一分量電壓響應(yīng),VRx為第二分量電壓響應(yīng)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,所述正交接收線圈和平行接收線圈由同一根線繞制。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,所述正交接收線圈包括有兩個結(jié)構(gòu)相同并對稱設(shè)置的子正交接收線圈。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測井儀用電阻率成像測量裝置,其特征在于,所述正交接收線圈的橫截面為平滑弧形結(jié)構(gòu)。
      【文檔編號】E21B49/00GK104074513SQ201410325575
      【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年7月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月9日
      【發(fā)明者】劉乃震, 趙齊輝, 盧毓周, 李永和, 白銳, 劉策, 李敬, 喬建國, 任崇光 申請人:中國石油集團長城鉆探工程有限公司
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