專利名稱：光纖衰減均勻性測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光纖測(cè)試技術(shù)，特別涉及應(yīng)用光時(shí)域反射計(jì)對(duì)光纖衰減進(jìn)行測(cè)量的技術(shù)。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是，提供一種光纖衰減測(cè)試方法，用計(jì)算機(jī)從光時(shí)域反射計(jì)采集數(shù)據(jù)，分析后再顯示于顯示器，所述分析包括以下步驟a、定義滑動(dòng)窗口長(zhǎng)度L和滑動(dòng)步長(zhǎng)x；b、確定某一點(diǎn)A位置為滑動(dòng)窗口的起點(diǎn)；c、測(cè)量滑動(dòng)窗口在光纖上以步長(zhǎng)x滑動(dòng)時(shí)L長(zhǎng)度內(nèi)的衰減系數(shù)；d、步驟c測(cè)得的多個(gè)衰減系數(shù)與被測(cè)光纖段整體長(zhǎng)度的平均衰減系數(shù)相比較。
所述標(biāo)尺長(zhǎng)L不大于1公里，所述步長(zhǎng)x不大于1公里。
所述A點(diǎn)為標(biāo)尺長(zhǎng)L的一個(gè)端點(diǎn)。測(cè)量時(shí)，所述光時(shí)域反射計(jì)的光標(biāo)A與光標(biāo)B交替移動(dòng)，每次移動(dòng)的距離為2L。還包括步驟f測(cè)量整盤光纖的整體衰減并計(jì)算出單位長(zhǎng)度L內(nèi)的平均值，并與各次步驟b、c測(cè)得的值比較。
本發(fā)明的有益效果是，不但能夠測(cè)量整盤光纖的整體衰減，還準(zhǔn)確表現(xiàn)了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質(zhì)量評(píng)定提供了重要的參考。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
圖2是本發(fā)明所述的光時(shí)域反射計(jì)提供的對(duì)某一段光纖測(cè)試結(jié)果示意圖。
圖3是本發(fā)明第一個(gè)實(shí)施例測(cè)試結(jié)果分析后的示意圖。
圖4是光時(shí)域反射計(jì)測(cè)量曲線放大后的示意圖。


圖1是一整盤光纖的測(cè)試結(jié)果?？梢钥吹絆TDR曲線、光纖編號(hào)、兩個(gè)標(biāo)桿的準(zhǔn)確位置。
圖2顯示了對(duì)兩標(biāo)桿之間的光纖段進(jìn)行分段分析(如1km段長(zhǎng)分析)的情形。圖形顯示了該單位段長(zhǎng)上的衰減值曲線，可以同時(shí)以圖形和數(shù)值顯示。
實(shí)施例1計(jì)算機(jī)通過OTDR的數(shù)據(jù)接口控制OTDR并讀取測(cè)試數(shù)據(jù)，分析后顯示于顯示器。計(jì)算機(jī)通過以下步驟分析a、定義標(biāo)尺長(zhǎng)L＝1Km，步長(zhǎng)x＝1Km，以標(biāo)尺長(zhǎng)作為單位長(zhǎng)度；b、確定光纖的一個(gè)端點(diǎn)為滑動(dòng)窗口的起點(diǎn)A；c、測(cè)量滑動(dòng)窗口L長(zhǎng)度內(nèi)的衰減系數(shù)并記錄，A點(diǎn)向光纖的一端移動(dòng)1Km，再測(cè)量以A點(diǎn)為起點(diǎn)的L長(zhǎng)度內(nèi)，即窗口內(nèi)的衰減系數(shù)；A點(diǎn)再滑動(dòng)步長(zhǎng)x，再測(cè)量，直到窗口滑動(dòng)到光纖的另一個(gè)端點(diǎn)。
d、以最小二乘法計(jì)算各次測(cè)量值，與整段光纖的平均衰減系數(shù)比較，判斷是否任意一段1km長(zhǎng)的衰減系數(shù)與整段長(zhǎng)度的平均衰減系數(shù)之差都不大于某一確定的標(biāo)準(zhǔn)值。
也可將OTDR顯示的靠近光纖某一端的標(biāo)桿位置作為參照點(diǎn)A。由于本實(shí)施例的步長(zhǎng)與標(biāo)尺長(zhǎng)度相等，都是1Km，為了準(zhǔn)確定位和減少誤差，采用以下方式移動(dòng)第一次測(cè)量完成后，將標(biāo)桿a1直接移動(dòng)到標(biāo)桿a2之后1Km處，再進(jìn)行第二次測(cè)量；然后將標(biāo)桿a2移動(dòng)到標(biāo)桿a1之后1Km處，進(jìn)行第三次測(cè)量，其他依次類推。本實(shí)施例中，參照點(diǎn)A的移動(dòng)方向總是從光纖的一端向另一端移動(dòng)，也就是說，被測(cè)量的光纖段總是向同一方向移動(dòng)的。
對(duì)于各次測(cè)量所得到結(jié)果，一方面，將其以圖3的圖表方式表現(xiàn)。另一方面，需要測(cè)量整盤光纖的整體衰減并計(jì)算出單位長(zhǎng)度L內(nèi)的平均值，并與各次步驟b、c測(cè)得的值比較，以量化和判斷衰減分布的均勻性。作為一個(gè)實(shí)施例，圖3所示的光纖段總長(zhǎng)度25km，每一小格為一公里，也就是所述的標(biāo)尺長(zhǎng)為1km，滑動(dòng)步長(zhǎng)也是1km，共測(cè)量25次。圖中的直線表示光纖的衰減系數(shù)均勻性良好，各段的衰減系數(shù)相等，因此表現(xiàn)為一條直線。
當(dāng)然，1Km并非唯一取值，無論是標(biāo)尺長(zhǎng)L還是步長(zhǎng)x，都可以取其他適當(dāng)?shù)臄?shù)值。
通常OTDR為數(shù)據(jù)傳輸提供了GPIB和RS-232接口。本實(shí)施例中，使用了一塊GPIB控制卡來適配OTDR所提供的GPIB接口，并與其進(jìn)行控制通信。本發(fā)明通過計(jì)算機(jī)對(duì)OTDR進(jìn)行面板上操作，通過計(jì)算機(jī)設(shè)置參數(shù)。一些參數(shù)，如光纖編號(hào)，可以利用條碼輸入。
實(shí)施例2與第一個(gè)實(shí)施例不同之處在于，每次滑動(dòng)窗口位移x小于標(biāo)尺長(zhǎng)L，例如，標(biāo)尺長(zhǎng)L為1Km，步長(zhǎng)x為500m。每次移動(dòng)的距離即為500m。標(biāo)桿a1、a2都向后方移動(dòng)步長(zhǎng)x，即窗口滑動(dòng)了x的距離。
實(shí)施例3在OTDR上，其采樣并非連續(xù)的，而是存在著間隔，如果將圖1所示的曲線部分放大，如圖4所示，即可見其實(shí)際是階梯狀分布，也就是說，對(duì)光纖而言，相鄰兩個(gè)采樣點(diǎn)之間存在距離d，相鄰兩次采樣之間經(jīng)過了一段長(zhǎng)度d，在此段長(zhǎng)度d內(nèi)并未被測(cè)量，而此段長(zhǎng)度d的具體數(shù)值很顯然可以推算出來。此距離即為光時(shí)域反射計(jì)能測(cè)量的最小距離。為了提高精度，將步長(zhǎng)x定義為d的數(shù)值，即令x＝d，這樣，最大可能的提高了測(cè)量的精度。本實(shí)施例的其他步驟與實(shí)施例1相同。
實(shí)施例4由于一臺(tái)計(jì)算機(jī)可以同時(shí)運(yùn)行多個(gè)程序，因此，作為一個(gè)實(shí)施例，以同一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制多臺(tái)OTDR進(jìn)行操作和測(cè)試。
以上實(shí)施方式的內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明要求保護(hù)的權(quán)利范圍的限制，本發(fā)明權(quán)利范圍延及基于本發(fā)明構(gòu)思的類似上述實(shí)施例的其他實(shí)施方式。
權(quán)利要求
1.光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，用計(jì)算機(jī)通過數(shù)據(jù)端口從光時(shí)域反射計(jì)采集數(shù)據(jù)，并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，所述分析包括以下步驟a、定義滑動(dòng)窗口長(zhǎng)度L和滑動(dòng)步長(zhǎng)x；b、確定某一點(diǎn)A位置為滑動(dòng)窗口的起點(diǎn)；c、測(cè)量滑動(dòng)窗口在光纖上以步長(zhǎng)x滑動(dòng)時(shí)L長(zhǎng)度內(nèi)的衰減系數(shù)；d、步驟c測(cè)得的多個(gè)衰減系數(shù)與被測(cè)光纖段整體長(zhǎng)度的平均衰減系數(shù)相比較。
2.如權(quán)利要求1所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，步驟c包括以下兩個(gè)循環(huán)的步驟c1、測(cè)量窗口L長(zhǎng)度內(nèi)的平均衰減系數(shù)；c2、窗口向光纖一端滑動(dòng)步長(zhǎng)x。
3.如權(quán)利要求1所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，所述標(biāo)尺長(zhǎng)L不大于1公里，所述步長(zhǎng)x不大于1公里。
4.如權(quán)利要求1或2所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，所述A點(diǎn)為標(biāo)尺長(zhǎng)L的一個(gè)端點(diǎn)。
5.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，所述標(biāo)尺長(zhǎng)為1公里，所述步長(zhǎng)x為1公里。
6.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，測(cè)量時(shí)，所述光時(shí)域反射計(jì)的光標(biāo)A與光標(biāo)B交替移動(dòng)，每次移動(dòng)的距離為2L。
7.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，所述步長(zhǎng)x等于光時(shí)域反射計(jì)可以測(cè)量的最小距離。
8.如權(quán)利要求3所述的光纖衰減均勻性測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟c中，A點(diǎn)總是向光纖的同一端移動(dòng)。
全文摘要
本發(fā)明涉及光纖測(cè)試技術(shù)，特別涉及應(yīng)用光時(shí)域反射計(jì)對(duì)光纖衰減進(jìn)行測(cè)量的技術(shù)。本發(fā)明提供一種光纖衰減均勻性測(cè)試方法，用計(jì)算機(jī)通過數(shù)據(jù)端口從光時(shí)域反射計(jì)采集數(shù)據(jù)，并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，所述分析包括以下步驟a.定義滑動(dòng)窗口長(zhǎng)度L和滑動(dòng)步長(zhǎng)x；b.確定某一點(diǎn)A位置為滑動(dòng)窗口的起點(diǎn)；c.測(cè)量滑動(dòng)窗口在光纖上以步長(zhǎng)x滑動(dòng)時(shí)L長(zhǎng)度內(nèi)的衰減系數(shù)；d.步驟c測(cè)得的多個(gè)衰減系數(shù)與被測(cè)光纖段整體長(zhǎng)度的平均衰減系數(shù)相比較。本發(fā)明不但能夠測(cè)量整盤光纖的整體衰減，還準(zhǔn)確表現(xiàn)了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質(zhì)量評(píng)定提供了重要的參考。
文檔編號(hào)G01M11/02GK1475784SQ0313533
公開日2004年2月18日 申請(qǐng)日期2003年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月2日
發(fā)明者袁健, 劉文早, 楊梅, 曾春洪, 高虎軍, 涂昌偉, 陳新建, 袁 健 申請(qǐng)人:成都中住光纖有限公司