專利名稱：光盤芯片測試板及其中的移相射頻信號發(fā)生電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種測試板，且特別是有關(guān)于一種光盤芯片測試板及其中的移相射頻信號發(fā)生電路。
背景技術(shù)：
一直以來，存儲媒體在計算機(jī)系統(tǒng)中均扮演著不可或缺的角色。因此，科技界不斷地投入存儲媒體的研究，也獲得了龐大的進(jìn)展。其不僅涉及存儲媒體的種類，還包括其穩(wěn)定性及存儲容量等。近來，由于光盤的高穩(wěn)定度及高存儲容量的優(yōu)點，于是各種不同特性的光盤產(chǎn)品不斷地推陳出新，其應(yīng)用范圍更是日益普及。
一般而言，光盤裝置的驅(qū)動控制電路均會制作成光盤芯片，以節(jié)省體積與成本，而在光盤芯片的測試過程中，為了確保光盤芯片的使用壽命與可靠度，則會將光盤芯片插置于一光盤芯片測試板上，然后放置于如攝氏125度的高溫環(huán)境下的測試腔體內(nèi)，并連接可提供所需測試信號的測試設(shè)備，以進(jìn)行高溫操作壽命(High Temperature Operating Life，簡稱HTOL)測試。
在類似HTOL的測試設(shè)備中，其所能提供者多為數(shù)字輸入信號，對于需要接收如數(shù)字多功能光盤裝置(Digital Versatile Disc，簡稱DVD)的光學(xué)讀取頭(pick up head)輸出的峰對峰值75mV、且其彼此間有一移相的多個移相射頻信號的光盤芯片而言，顯然不能滿足需要，而造成測試的困難。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種光盤芯片測試板及其中的移相射頻信號發(fā)生電路，以利于使用HTOL測試，來評估光盤芯片的可靠度。
為實現(xiàn)上述及其他目的，本發(fā)明提供一種光盤芯片測試板及其中的移相射頻信號發(fā)生電路，其可適用于光盤芯片的高溫操作壽命測試，以評估光盤芯片的可靠度。該光盤芯片測試板包括測試基板及移相射頻信號發(fā)生電路。其中的測試基板具有至少一芯片插槽，以插置要測試的光盤芯片，并具有連接可測試光盤芯片的一測試設(shè)備的連接器，且測試設(shè)備可提供依據(jù)一頻率而變化的數(shù)字輸入信號。而移相射頻信號發(fā)生電路則用以依據(jù)測試設(shè)備提供的數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片所需的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號，其中第一移相射頻信號及第二移相射頻信號的相位相同，且與第三移相射頻信號及第四移相射頻信號間具有一相位差。
在一實施例中，該光盤芯片測試板的移相射頻信號發(fā)生電路包括第一信號電平分壓器、第一高通濾波器、第二高通濾波器、移相器、第二信號電平分壓器、第三高通濾波器及第四高通濾波器。
其中，第一信號電平分壓器用以接收測試設(shè)備提供的數(shù)字輸入信號，并取數(shù)字輸入信號的分壓后輸出。第一高通濾波器耦接第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第一移相射頻信號。第二高通濾波器也耦接第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第二移相射頻信號。移相器用以接收測試設(shè)備提供的數(shù)字輸入信號，并將數(shù)字輸入信號移相后輸出。第二信號電平分壓器耦接移相器，用以接收移相后的數(shù)字輸入信號，并將移相后的數(shù)字輸入信號取分壓后輸出。第三高通濾波器耦接第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第三移相射頻信號。而第四高通濾波器耦接第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第四移相射頻信號。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路的第一信號電平分壓器及第二信號電平分壓器，由兩串聯(lián)的電阻組成。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路的第一高通濾波器、第二高通濾波器、第三高通濾波器及第四高通濾波器，包括一電容器。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路的移相器包括運(yùn)算放大器、第一電阻、電容器、第二電阻及第三電阻。其中，運(yùn)算放大器具有一正輸入端、一負(fù)輸入端及一輸出端，且其輸出端用以輸出移相后的數(shù)字輸入信號。第一電阻的一端耦接數(shù)字輸入信號，另一端耦接運(yùn)算放大器的正輸入端。電容器的一端耦接于運(yùn)算放大器的正輸入端，另一端接地。第二電阻的一端耦接數(shù)字輸入信號，另一端耦接運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端。第三電阻的一端耦接運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端，另一端則耦接運(yùn)算放大器的輸出端。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路的第二電阻與第三電阻的阻值相同。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路的移相器的增益值為1、且其移相40度。
在一實施例中，該移相射頻信號發(fā)生電路依據(jù)測試設(shè)備提供的數(shù)字輸入信號，而產(chǎn)生的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號的峰對峰值為75mv、而頻率為5MHz。
本發(fā)明另提供一種移相射頻信號產(chǎn)生方法，可適用于依據(jù)一頻率變化的數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片所需的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號。該移相射頻信號產(chǎn)生方法包括下列步驟接收數(shù)字輸入信號，并取數(shù)字輸入信號的分壓后輸出；消除分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第一移相射頻信號及第二移相射頻信號；將數(shù)字輸入信號移相后輸出；接收移相后的數(shù)字輸入信號，并將移相后的數(shù)字輸入信號取分壓后輸出；以及消除移相并分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第三移相射頻信號及第四移相射頻信號。
其中，移相的相位為40度。而產(chǎn)生的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號的峰對峰值為75mv、頻率5MHz。
由上述的說明中可知，將本發(fā)明提供的一種移相射頻信號發(fā)生電路，應(yīng)用于光盤芯片測試板中，則可實現(xiàn)光盤芯片在HTOL測試中的需求。


為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特以較佳實施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下圖1表示數(shù)字多功能光盤裝置的光盤芯片模擬電路測試連接示意圖；圖2表示根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的移相射頻信號發(fā)生電路所產(chǎn)生的移相射頻信號波形圖；圖3表示根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的移相射頻信號發(fā)生電路圖；圖4表示根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的移相射頻信號發(fā)生電路的頻率響應(yīng)分析曲線圖；圖5表示根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的光盤芯片測試板示意圖；
圖6為實際量測輸入光盤芯片的移相射頻信號波形圖；圖7為當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號與第二移相射頻信號的相位領(lǐng)前時的輸出信號波形圖；以及圖8為當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號與第二移相射頻信號的相位落后時的輸出信號波形圖。
圖式標(biāo)示說明100光盤芯片300移相射頻信號發(fā)生電路310、330信號電平分壓器311、312、321、324、325、331、332電阻320移相器322電容器323運(yùn)算放大器340、350、360、370高通濾波器500光盤芯片測試板510測試基板511、512、513、514、515、516芯片插槽517連接器具體實施方式
請參考圖1所示，其為數(shù)字多功能光盤裝置的光盤芯片模擬電路測試連接示意圖。圖中表示，在測試如數(shù)字多功能光盤裝置(DVD)的光盤芯片100的模擬電路時，需模擬由數(shù)字多功能光盤裝置的光學(xué)讀取頭輸出的峰對峰值75mV的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD等多個射頻信號。
其中，第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC的相位相同，而第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD的相位亦相同，且第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC及第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD間具有一相位差A(yù)，其波形如圖2的波形圖所示。
光盤芯片100的模擬電路會依據(jù)其間的相位差A(yù)，以產(chǎn)生輸出信號TEO。當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC如圖2所示地為領(lǐng)前第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時，輸出信號TEO的電平將介于1.5V與2.1V之間。反之，當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC為落后第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時，輸出信號TEO的電平則介于0.8V與1.5V之間。因此，可由量測輸出信號TEO的電平，來判斷光盤芯片100的模擬電路是否正常工作中。
請參考圖3所示，其為根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的移相射頻信號發(fā)生電路圖。圖中表示，該移相射頻信號發(fā)生電路300包括第一信號電平分壓器(firstsignal level divider)310、第一高通濾波器340、第二高通濾波器350、移相器(phase shifter)320、第二信號電平分壓器330、第三高通濾波器340及第四高通濾波器350。
其中，第一信號電平分壓器310是由串聯(lián)的電阻311與電阻322所組成，用以將測試設(shè)備(未繪示)所提供的5MHz變化的數(shù)字輸入信號Vi分壓，以取得分壓后電平降低的信號。因測試設(shè)備只能提供數(shù)字式的信號，而無測試光盤芯片的模擬電路方塊所需的峰對峰值75mV的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD等多個具有移相的射頻信號，故該處設(shè)定測試設(shè)備，使其輸出能提供的峰對峰值600mV的方波的數(shù)字輸入信號Vi。
方波的數(shù)字輸入信號Vi經(jīng)第一信號電平分壓器310分壓后，再分別輸入至由電容器構(gòu)成的第一高通濾波器340及第二高通濾波器350，以便消除分壓后的信號的直流成分，并分別產(chǎn)生所需的峰對峰值75mV的第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC。
此外，因所需的峰對峰值75mV的第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD必須與第一移相射頻信號DVDA及第二移相射頻信號DVDC間具有例如是40度的相位差。故如圖所示，在應(yīng)用第二信號電平分壓器330、第三高通濾波器340及第四高通濾波器350，以獲得所需的第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD前，必須應(yīng)用一移相器320，以獲得與數(shù)字輸入信號Vi具有所需相位差的輸出信號Vo。
如圖3所示，移相器320接收測試設(shè)備(未繪示)所提供的數(shù)字輸入信號Vi，并將數(shù)字輸入信號Vi移相例如是40度的相位后輸出信號Vo。其中，移相器320包括運(yùn)算放大器323、第一電阻321、電容器322、第二電阻324及第三電阻325。其連接關(guān)系為第一電阻321的一端耦接數(shù)字輸入信號Vi，另一端耦接運(yùn)算放大器323的正輸入端；電容器322的一端耦接于運(yùn)算放大器323的正輸入端，另一端接地；第二電阻324的一端耦接數(shù)字輸入信號Vi，另一端耦接運(yùn)算放大器323的負(fù)輸入端；第三電阻325的一端耦接運(yùn)算放大器323的負(fù)輸入端，另一端則耦接運(yùn)算放大器323的輸出端。假設(shè)電容器322的值為C，第一電阻321、第二電阻324及第三電阻325的阻值為R，則其移相關(guān)系說明如下運(yùn)算放大器323的正輸入端的電壓Vp為Vp＝Vi{(1/jwC)/[R+(1/jwC)]}＝Vi/(1+jwCR)…(1)在理想運(yùn)算放大器中，運(yùn)算放大器323的負(fù)輸入端的電壓等于其正輸入端的電壓Vp，因此Vo＝[(Vp-Vi)/R]*R+Vp＝2Vp-Vi＝Vi(1-jwCR)/(1+jwCR).(2)故Vo/Vi＝(1-jwCR)/(1+jwCR)＝1∠-2tan-1wCR…….(3)由方程式(3)可知，移相器320的增益值為1，而移相值則可由適當(dāng)?shù)剡x擇R、C值來決定，以產(chǎn)生與數(shù)字輸入信號Vi具有所需相位差的輸出信號Vo。
如圖3所示，由串聯(lián)的電阻331與電阻332所組成的第二信號電平分壓器330耦接于移相器320，用以接收移相后的信號Vo，并將移相后的信號Vo取分壓后輸出，再分別輸入至由電容器構(gòu)成的第三高通濾波器360及第四高通濾波器370，以便消除分壓后的信號Vo的直流成分，并分別產(chǎn)生所需的峰對峰值75mV的第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD。故知，第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD與第一移相射頻信號DVDA及第二移相射頻信號DVDC間具有由R、C值所決定的一相位差。
請參考圖4所示，其為根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的移相射頻信號發(fā)生電路的頻率響應(yīng)分析曲線圖，該圖是使用Star-HSPICE 2001.4來模擬分析圖3的移相射頻信號發(fā)生電路300的設(shè)計而得。由圖4中可知，當(dāng)圖3的移相射頻信號發(fā)生電路300，自測試設(shè)備接收峰對峰值600mV，并以頻率5MHz變化的數(shù)字輸入信號Vi時，則可輸出峰對峰值為75mv、頻率5MHz的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD等多個射頻信號。且其中的第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC及第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD間具有一相位差。
請參考圖5，其為根據(jù)本發(fā)明較佳實施例的光盤芯片測試板示意圖。該光盤芯片測試板500是為了光盤芯片的高溫操作壽命測試而制作，以便使用光盤芯片的高溫操作壽命測試，來評估光盤芯片的可靠度。
如圖所示，該光盤芯片測試板500包括測試基板510及6個移相射頻信號發(fā)生電路300，以提供可同時測試6個光盤芯片的能力。其中為了與6個移相射頻信號發(fā)生電路300產(chǎn)生的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD等多個射頻信號相配合，在測試基板510上也同時安裝了511、512、513、514、515及516等6個芯片插槽，以供插置要測試的光盤芯片。
此外，測試基板510上亦具有可連接測試設(shè)備(未示出)的連接器517，以便連接可提供數(shù)字輸入信號Vi至6個移相射頻信號發(fā)生電路300的測試設(shè)備，然后，6個移相射頻信號發(fā)生電路300則依據(jù)測試設(shè)備提供的數(shù)字輸入信號Vi，來產(chǎn)生如圖2的測試光盤芯片所需的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD等多個射頻信號，并分別輸入至插置于511、512、513、514、515及516等6個芯片插槽上的光盤芯片，再分別量測其輸出信號TEO，以判斷光盤芯片的工作情況。
請一并參考圖6、7與8所示，圖6為實際量測輸入光盤芯片的第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC、第三移相射頻信號DVDB及第四移相射頻信號DVDD的波形，圖7為當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC領(lǐng)前第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時的輸出信號TEO的波形，圖8則為當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC落后第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時的輸出信號TEO的波形。由圖7與圖8中可知，當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC領(lǐng)前第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時，輸出信號TEO的電平介于1.5V與2.1V的間。而當(dāng)?shù)谝灰葡嗌漕l信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC為落后第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時，輸出信號TEO的電平則介于0.8V與1.5V之間。因此，表示光盤芯片工作正常。
另需說明的是，因圖3的移相射頻信號發(fā)生電路300產(chǎn)生的信號為第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC領(lǐng)前第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD，故當(dāng)測試第一移相射頻信號DVDA與第二移相射頻信號DVDC為落后第三移相射頻信號DVDB與第四移相射頻信號DVDD時，只要將第一移相射頻信號DVDA、第二移相射頻信號DVDC及第三移相射頻信號DVDB、第四移相射頻信號DVDD對調(diào)輸入至光盤芯片即可。此外，上述根據(jù)本發(fā)明較佳實施例而制作的光盤芯片測試板500，雖然設(shè)置了511、512、513、514、515及516等6個芯片插槽，以供同時測試6個光盤芯片，但實際應(yīng)安裝的芯片插槽數(shù)，可依實際的需求與測試基板510的尺寸而變化。
由上述說明中可歸納一種移相射頻信號產(chǎn)生方法，其適用于依據(jù)一頻率變化的數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片所需的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號。該移相射頻信號產(chǎn)生方法包括下列步驟接收數(shù)字輸入信號，并取數(shù)字輸入信號的分壓后輸出；消除分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第一移相射頻信號及第二移相射頻信號；將數(shù)字輸入信號移相后輸出；接收移相后的數(shù)字輸入信號，并將移相后的數(shù)字輸入信號取分壓后輸出；以及消除移相并分壓后的數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生第三移相射頻信號及第四移相射頻信號。
其中，移相的相位為40度。而產(chǎn)生的第一移相射頻信號、第二移相射頻信號、第三移相射頻信號及第四移相射頻信號的峰對峰值為75mv、頻率5MHz。
綜上所述可知，應(yīng)用本發(fā)明所提供的一種移相射頻信號發(fā)生電路于光盤芯片測試板中，則可使用僅提供數(shù)字輸入信號的測試設(shè)備，來實現(xiàn)光盤芯片在HTOL測試中的需求。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進(jìn)行各種更動與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以所提出的權(quán)利要求限定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種移相射頻信號發(fā)生電路，適用于依據(jù)一頻率變化的一數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片所需的一第一移相射頻信號、一第二移相射頻信號、一第三移相射頻信號及一第四移相射頻信號，該電路包括一第一信號電平分壓器，用以接收該數(shù)字輸入信號，并取該數(shù)字輸入信號的分壓后輸出；一第一高通濾波器，耦接該第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第一移相射頻信號；一第二高通濾波器，耦接該第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第二移相射頻信號；一移相器，用以接收該數(shù)字輸入信號，并將該數(shù)字輸入信號移相后輸出；一第二信號電平分壓器，耦接該移相器，用以接收移相后的該數(shù)字輸入信號，并將移相后的該數(shù)字輸入信號取分壓后輸出；一第三高通濾波器，耦接該第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第三移相射頻信號；以及一第四高通濾波器，耦接該第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第四移相射頻信號。
2.如權(quán)利要求1所述的移相射頻信號發(fā)生電路，其中該第一信號電平分壓器及該第二信號電平分壓器由兩串聯(lián)電阻所組成。
3.如權(quán)利要求1所述的移相射頻信號發(fā)生電路，其中該第一高通濾波器、該第二高通濾波器、該第三高通濾波器及該第四高通濾波器各包括一電容器。
4.如權(quán)利要求1所述的移相射頻信號發(fā)生電路，其中該移相器包括一運(yùn)算放大器，具有一正輸入端、一負(fù)輸入端及一輸出端，該輸出端用以輸出移相后的該數(shù)字輸入信號；一第一電阻，一端耦接該數(shù)字輸入信號，另一端耦接該正輸入端；一電容器，一端耦接于該正輸入端，另一端接地；一第二電阻，一端耦接該數(shù)字輸入信號，另一端耦接該負(fù)輸入端；以及一第三電阻，一端耦接該負(fù)輸入端，另一端耦接該輸出端。
5.一種光盤芯片測試板，適用于一光盤芯片的高溫操作壽命測試，包括一測試基板，具有至少一芯片插槽，以插置該光盤芯片，及連接測試該光盤芯片的一測試設(shè)備的連接器，該測試設(shè)備可提供依據(jù)一頻率而變化的一數(shù)字輸入信號；以及一移相射頻信號發(fā)生電路，用以依據(jù)該數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試該光盤芯片所需的一第一移相射頻信號、一第二移相射頻信號、一第三移相射頻信號及一第四移相射頻信號，其中該第一移相射頻信號及該第二移相射頻信號同相位，且與該第三移相射頻信號及該第四移相射頻信號間具有一相位差。
6.如權(quán)利要求5所述的光盤芯片測試板，其中該移相射頻信號發(fā)生電路包括一第一信號電平分壓器，用以接收該數(shù)字輸入信號，并取該數(shù)字輸入信號的分壓后輸出；一第一高通濾波器，耦接該第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第一移相射頻信號；一第二高通濾波器，耦接該第一信號電平分壓器，用以消除分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第二移相射頻信號；一移相器，用以接收該數(shù)字輸入信號，并將該數(shù)字輸入信號移相后輸出；一第二信號電平分壓器，耦接該移相器，用以接收移相后的該數(shù)字輸入信號，并將移相后的該數(shù)字輸入信號取分壓后輸出；一第三高通濾波器，耦接該第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第三移相射頻信號；以及一第四高通濾波器，耦接該第二信號電平分壓器，用以消除移相并分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第四移相射頻信號。
7.如權(quán)利要求6所述的光盤芯片測試板，其中該第一信號電平分壓器及該第二信號電平分壓器由兩串聯(lián)電阻所組成。
8.如權(quán)利要求6所述的光盤芯片測試板，其中該第一高通濾波器、該第二高通濾波器、該第三高通濾波器及該第四高通濾波器各包括一電容器。
9.如權(quán)利要求6所述的光盤芯片測試板，其中該移相器包括一運(yùn)算放大器，具有一正輸入端、一負(fù)輸入端及一輸出端，該輸出端用以輸出移相后的該數(shù)字輸入信號；一第一電阻，一端耦接該數(shù)字輸入信號，另一端耦接該正輸入端；一電容器，一端耦接于該正輸入端，另一端接地；一第二電阻，一端耦接該數(shù)字輸入信號，另一端耦接該負(fù)輸入端；以及一第三電阻，一端耦接該負(fù)輸入端，另一端耦接該輸出端。
10.一種移相射頻信號產(chǎn)生方法，適用于依據(jù)一頻率變化的一數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片所需的一第一移相射頻信號、一第二移相射頻信號、一第三移相射頻信號及一第四移相射頻信號，該方法包括下列步驟接收該數(shù)字輸入信號，并取該數(shù)字輸入信號的分壓后輸出；消除分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第一移相射頻信號及該第二移相射頻信號；將該數(shù)字輸入信號移相后輸出；接收移相后的該數(shù)字輸入信號，并將移相后的該數(shù)字輸入信號取分壓后輸出；以及消除移相并分壓后的該數(shù)字輸入信號的直流成分，以產(chǎn)生該第三移相射頻信號及該第四移相射頻信號。
全文摘要
一種光盤芯片測試板及其中的移相射頻信號發(fā)生電路，運(yùn)用包括信號電平分壓器、高通濾波器及移相器的移相射頻信號發(fā)生電路，以依據(jù)測試設(shè)備所提供的一頻率變化的數(shù)字輸入信號，來產(chǎn)生測試光盤芯片的模擬電路方塊所需的移相射頻信號，而實現(xiàn)光盤芯片的高溫操作壽命測試。
文檔編號G01R31/28GK1472541SQ03147278
公開日2004年2月4日 申請日期2003年7月11日 優(yōu)先權(quán)日2003年7月11日
發(fā)明者彭志偉, 蔡明巍 申請人:威盛電子股份有限公司