專利名稱：用于x射線計算機斷層造影的檢測器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種按照權(quán)利要求1上位概念的、用于X射線計算機斷層造影的檢測器。
背景技術(shù)：
這種檢測器例如由DE 19502574A1公開。該公知的檢測器涉及一個所謂的多行檢測器。它具有多個檢測器行，這些檢測器行相鄰設(shè)置在待透視的對象(例如患者)的軸的方向上。上述軸也稱為z軸。每個檢測器行由在垂直于z軸的x方向上的、多個相鄰設(shè)置的閃爍體元件組成。
這種在z方向上的多行檢測器的分辨率取決于在z方向上閃爍體元件的高度。該閃爍體元件的高度出于技術(shù)上的原因不能任意減小。由于該原因常規(guī)的多行檢測器在z軸上的分辨率是受限制的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，消除現(xiàn)有技術(shù)的缺陷。它尤其提供盡可能簡單和造價低廉的用于X射線計算機斷層造影的檢測器，利用該檢測器在行數(shù)和行高度預(yù)定的條件下可以在z方向上得到改善的分辨率。
上述技術(shù)問題是通過權(quán)利要求1的特征來解決的。實用的結(jié)構(gòu)在權(quán)利要求1至7中給出。
按照本發(fā)明，設(shè)置一個部分遮蓋閃爍體元件表面的裝置，以減小在z方向上的孔徑。所建議的措施使得可以簡單和造價低廉的方式提高在z方向上的分辨率。所建議的解決方案是通用的?？梢允褂贸Ｒ?guī)的閃爍體元件。也可以事后改裝常規(guī)的多行檢測器。
用于減小孔徑的裝置按照實用的方式由多個平行相鄰設(shè)置的板條(Leisten)構(gòu)成，其中，這些板條優(yōu)選地遮蓋閃爍體元件在x方向上延伸的邊沿。所建議的特征使得也可以使用這樣的閃爍體元件，其邊沿在x方向上具有較小的破裂(Ausbrueche)。
按照另一實施方式，將這些板條在z方向上按預(yù)先給定的距離Δz前后排列，使得閃爍體元件在z方向上具有基本相同的孔徑。這使得檢測器的制造簡單。此外，用于減小孔徑的裝置還可具有橫向板條，其遮蓋閃爍體元件在z方向上延伸的邊沿。由此，也可以在x方向上減小孔徑。在這種情況下，閃爍體元件在z方向上延伸的邊沿也不再必須具有按照現(xiàn)有技術(shù)所要求的質(zhì)量。
用于減小孔徑的裝置優(yōu)選地以可設(shè)置在由閃爍體表面構(gòu)成的檢測器表面上的光闌的形式單塊地構(gòu)成。這使得可以對常規(guī)檢測器進行事后改造。該光闌相對于垂直于z方向延伸的系統(tǒng)平面對稱地構(gòu)成。
按照一種優(yōu)選的實施方式，用于減小孔徑的裝置由有效吸收X射線輻射的金屬制成，優(yōu)選地由鉛或者鎢制成。


下面對照附圖進一步說明本發(fā)明的實施方式。圖中，圖1示出按照現(xiàn)有技術(shù)的檢測器裝置的透視圖，圖2示出一檢測器的俯視圖，圖3示出具有本發(fā)明的光闌的、按照圖2的檢測器，圖4示出具有按照本發(fā)明的另一種光闌的、按照圖2的檢測器。
具體實施例方式
圖1中示出X射線輻射源的焦點1，從該X射線輻射源發(fā)出通過未示出的光闌聚集的扇形X射線束2，它穿透對象3并到達檢測器4。檢測器4具有多個平行的檢測器行5，這些檢測器行5的每一行由相鄰設(shè)置的閃爍體元件6構(gòu)成。用附圖標記7表示平行于被透視對象3的軸延伸的z軸。該軸平行于包括檢測器4的測量系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)軸。該測量系統(tǒng)圍繞旋轉(zhuǎn)軸7轉(zhuǎn)動，以便以不同的投影角對對象3進行透視。計算機8對由此建立的檢測器信號進行計算，得出對象3的圖像，并將該圖像再現(xiàn)在顯示器9上。
圖2示出了該檢測器4的俯視圖。該檢測器由多個在z方向上相鄰的檢測器行5組成。每行在垂直于z方向延伸的x方向上由相鄰的閃爍體元件6構(gòu)成。這些閃爍體元件6具有同樣的高度Δz和統(tǒng)一的寬度Δh。每個檢測器元件6的孔徑由在z方向上高度為Δz和在x方向上寬度為Δh的表面給出。
在圖3中，通過光闌10將由所有檢測器元件6的表面構(gòu)成的檢測器表面部分地遮蓋。該光闌10由在x方向上延伸的板條11構(gòu)成，這些板條11的兩端固定在沿z軸方向展開的邊沿板條12上。光闌10按照實用的方式由鉛或者鎢制成。將板條11這樣設(shè)置，使得檢測器元件6在x方向上延伸的邊沿被遮蓋。借助于光闌10可以按照簡單的方式使檢測器元件6的孔徑在z方向上減小。在將光闌10安裝在檢測器表面上之后形成在z方向上較窄的孔徑Δz*。所提出的光闌10使得可以以簡單的方式改善在z方向上的分辨率。
在圖4所示的實施方式中，在圖3中所示的光闌10還具有附加的橫向板條13。在此，橫向板條13這樣地安裝，使得檢測器元件6在z方向上的邊被覆蓋。橫向板條13和板條11構(gòu)成柵格。通過該柵格構(gòu)成的孔徑是直角四邊形的。所建議的另一個光闌10尤其具有優(yōu)點，因為由此可以按照特別簡單的方式在閃爍體元件尺寸預(yù)定的情況下可以在x方向上和z方向上改善分辨率。常規(guī)的檢測器可以在沒有大的花費的條件下裝備這種光闌。
權(quán)利要求
1.一種用于X射線計算機斷層造影的檢測器，其具有多個相鄰的、在x方向上延伸的檢測器行(5)，其中，每個檢測器行(5)由多個相鄰設(shè)置的閃爍體元件(6)構(gòu)成，以及其中，每個關(guān)于入射的X射線束的閃爍體元件(6)的孔徑由具有在z方向上延伸的長(Δz)和在x方向上延伸的寬(Δh)的表面給定，其特征在于，設(shè)置一個部分遮蓋所述閃爍體元件(6)的表面的裝置，用于在z方向上減小所述孔徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測器，其中，所述用于減小孔徑的裝置由多個平行相鄰設(shè)置的板條(11)構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測器，其中，所述板條(11)遮蓋所述閃爍體元件(6)在x方向上延伸的邊沿。
4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的檢測器，其中，所述板條(11)在z方向上按預(yù)先給定的距離Δz*前后排列，使得所述閃爍體元件(6)在z方向上基本上具有相同的孔徑(Δz*)。
5.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的檢測器，其中，所述用于減小孔徑的裝置還具有橫向板條(13)，這些橫向板條(13)遮蓋所述閃爍體元件(6)在z方向上延伸的邊沿。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的檢測器，其中，所述用于減小孔徑的裝置以可設(shè)置在由閃爍體表面構(gòu)成的檢測器表面上的光闌(10)的形式單塊地構(gòu)成。
7.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的檢測器，其中，所述用于減小孔徑的裝置由有效吸收X射線輻射的金屬制成，優(yōu)選地由鉛或者鎢制成。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于X射線計算機斷層造影掃描器的檢測器，其具有多個相鄰的、在x方向上延伸的檢測器行(5)，其中，每個檢測器行(5)由多個相鄰設(shè)置的閃爍體元件(6)構(gòu)成。為了提高在z方向上的分辨率以及簡化檢測器的結(jié)構(gòu)，本發(fā)明提出，設(shè)置一個部分覆蓋閃爍體元件(6)表面的裝置，用于減小在z方向上的孔徑。
文檔編號G01T1/20GK1643619SQ03806269
公開日2005年7月20日 申請日期2003年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2002年3月18日
發(fā)明者赫伯特·布魯?shù)? 托馬斯·弗洛爾, 卡爾·施蒂爾斯托弗 申請人:西門子公司