專(zhuān)利名稱(chēng)：光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種光盤(pán)機(jī)，尤其是關(guān)于光盤(pán)機(jī)中用以擴(kuò)充測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
根據(jù)規(guī)格書(shū)的規(guī)定，薄型光盤(pán)機(jī)(Slim Optical Disk Drive)的SATA接口(Serial AT Attachment II)的每一接腳都有特定的功用，以便與計(jì)算機(jī)等主機(jī)產(chǎn)生特定的連接，接受主機(jī)的供電，并通過(guò)SATA接口傳輸信號(hào)，以便與主機(jī)協(xié)同工作。
如圖1所示，為公知薄型光盤(pán)機(jī)1與主機(jī)2的測(cè)試連接關(guān)系。光盤(pán)機(jī)1的SATA接口連接器3，主要可區(qū)分為信號(hào)區(qū)3a(Singal Segment)與電源區(qū)3b(Power Segment)，其中信號(hào)區(qū)3a具有兩對(duì)差動(dòng)式信號(hào)線(DifferentialSignals)與接地線Gnd(Ground)，而電源區(qū)3b則包含有兩對(duì)電源線(+5V)與接地線(Ground)，以及一連接檢測(cè)線DP(Device Present Line)與制造測(cè)試線MD(Manufacturing Diagnostic Line)。同時(shí)，主機(jī)2相對(duì)應(yīng)連接的連接器4，同樣可區(qū)分為信號(hào)區(qū)4a與電源區(qū)4b，其中信號(hào)區(qū)4a也具有兩對(duì)差動(dòng)式信號(hào)線與接地線，而電源區(qū)4b也有兩對(duì)電源線與接地線，以及一連接檢測(cè)線DP與一制造測(cè)試線MD。
因此，光盤(pán)機(jī)1只要接在主機(jī)2任一相同定義的連接器，讓信號(hào)區(qū)對(duì)信號(hào)區(qū)，電源區(qū)對(duì)電源區(qū)相連接，就可與主機(jī)2形成正確的連接。由主機(jī)2的電源區(qū)4b提供電源至光盤(pán)機(jī)1的電源區(qū)3b，連接檢測(cè)線DP的回路即可檢測(cè)連接器正常連接，電源再傳輸至光盤(pán)機(jī)1的電源回路5，由電源回路5分配電源給光盤(pán)機(jī)1中需要供電的各動(dòng)力構(gòu)件及中央處理器6，中央處理器6由信號(hào)區(qū)3a接受主機(jī)2經(jīng)信號(hào)區(qū)4a所傳來(lái)的控制信號(hào)，控制光盤(pán)機(jī)1讀取光盤(pán)片(未示出)上的記號(hào)，并編解碼處理形成數(shù)字信號(hào)，沿信號(hào)區(qū)3a、4a傳回主機(jī)2。
制造或維修后，為測(cè)試光盤(pán)機(jī)1是否與主機(jī)2正常運(yùn)作，一般是由制造者依需要，將光盤(pán)機(jī)1端制造測(cè)試線MD連接于所需測(cè)試的位置，再將光盤(pán)機(jī)1的SATA接口連接器3與主機(jī)2的連接器4連接，由主機(jī)2制造測(cè)試線MD顯示制造測(cè)試線所傳輸?shù)男盘?hào)，診斷光盤(pán)機(jī)1是否正常運(yùn)作。然而，依規(guī)格書(shū)規(guī)定，光盤(pán)機(jī)就只有這個(gè)測(cè)試線，但光盤(pán)機(jī)制造或維修后需要依序或同時(shí)作各種測(cè)試，當(dāng)依序測(cè)試時(shí)，必須一再地重復(fù)前述測(cè)試步驟，不斷測(cè)試直到每個(gè)測(cè)試都完成為止，相當(dāng)耗時(shí)。當(dāng)需要同時(shí)測(cè)試時(shí)，又受限于光盤(pán)機(jī)單一的測(cè)試線，只能以折衷方式完成。
此外，顯示測(cè)試結(jié)果的制造測(cè)試線MD連接于主機(jī)，有時(shí)為試驗(yàn)光盤(pán)機(jī)是否適用于新主機(jī)，測(cè)試的主機(jī)不見(jiàn)得有特別設(shè)計(jì)電路供架設(shè)測(cè)試線，或者新主機(jī)可特別顯示測(cè)試線的信號(hào)，總需一再研究新主機(jī)，才能找出最佳架設(shè)測(cè)試線的方式。因此，公知光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)不能滿(mǎn)足實(shí)際需要，仍有問(wèn)題有待解決。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在提供一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)光盤(pán)機(jī)內(nèi)部設(shè)一切換開(kāi)關(guān)，使光盤(pán)機(jī)可選擇為正?；蚨嘁粶y(cè)試接口，擴(kuò)充光盤(pán)機(jī)的測(cè)試接口，以加速光盤(pán)機(jī)測(cè)試。
本發(fā)明另一目的在提供一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，利用一測(cè)試轉(zhuǎn)接器，外拉測(cè)試線，簡(jiǎn)化光盤(pán)機(jī)的測(cè)試。
本發(fā)明再一目的在提供一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，使測(cè)試轉(zhuǎn)接器提供測(cè)試裝置電源，方便光盤(pán)機(jī)的測(cè)試。
本發(fā)明又一目的在提供一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，將測(cè)試線直接連接至光盤(pán)機(jī)常測(cè)試的位置，以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
為了達(dá)到前述發(fā)明的目的，本發(fā)明的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，由一測(cè)試轉(zhuǎn)接器連接光盤(pán)機(jī)與主機(jī)，光盤(pán)機(jī)含具有信號(hào)區(qū)與電源區(qū)的連接器，信號(hào)區(qū)含有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)含有兩電源線、兩接地線、一連接檢測(cè)線及一制造測(cè)試線。一中央處理器含信號(hào)線及接地線接腳一一相對(duì)連接至連接器信號(hào)區(qū)信號(hào)線及接地線接腳，另含一測(cè)試連接腳連接于連接器的制造測(cè)試線，另一測(cè)試連接腳經(jīng)一切換開(kāi)關(guān)，由切換開(kāi)關(guān)選擇連接線接通至連接器的連接檢測(cè)線，或連接至連接器電源區(qū)的接地線。一電源回路設(shè)有電源連接點(diǎn)接至連接器兩電源線，及接地連接點(diǎn)接至連接器兩接地線，供電給中央處理器。
該測(cè)試轉(zhuǎn)接器包含第一連接器可分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，信號(hào)區(qū)具有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)設(shè)有電源線、接地線、連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線，第二連接器可分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，信號(hào)區(qū)具有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)設(shè)有電源線、接地線、連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線，以及一測(cè)試單元具有兩測(cè)試點(diǎn)，其中第一連接器信號(hào)區(qū)的信號(hào)線與接地線，一一相對(duì)連接于第二連接器信號(hào)區(qū)的信號(hào)線與接地線，第一連接器電源區(qū)電源線連接于第二連接器電源區(qū)的電源線，第一連接器的接地線連接檢測(cè)線連接于第二連接器接地線，第二連接器的連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線分別連接于測(cè)試單元的兩測(cè)試點(diǎn)。


圖1為公知光盤(pán)機(jī)與主機(jī)的測(cè)試連接示意圖。
圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的光盤(pán)機(jī)測(cè)試連接示意圖。
圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例的光盤(pán)機(jī)測(cè)試連接示意圖。
主要元件符號(hào)說(shuō)明10第一實(shí)施例測(cè)試轉(zhuǎn)接器11第一連接器11a 信號(hào)區(qū)11b 電源區(qū)12第二連接器12a 信號(hào)區(qū)12b 電源區(qū)13測(cè)試單元20第一實(shí)施例光盤(pán)機(jī)21連接器21a 信號(hào)區(qū)21b 電源區(qū)22中央處理器23電源回路24切換開(kāi)關(guān)30主機(jī)31連接器
31a信號(hào)區(qū)31b電源區(qū)40 第二實(shí)施例測(cè)試轉(zhuǎn)接器41 第一連接器42 第二連接器43 測(cè)試單元50 第二實(shí)施例光盤(pán)機(jī)51 連接器52 中央處理器53 電源回路DP 連接檢測(cè)線MD 制造測(cè)試線A+、A-、B+、B-信號(hào)線Gnd接地線GPIO、GPIO 1、GPIO 2通用輸出入連接腳RXD、TXD通信接口連接腳具體實(shí)施方式
有關(guān)本發(fā)明為達(dá)成上述目的，所采用的技術(shù)手段及其功效，現(xiàn)舉較佳實(shí)施例，并配合附圖加以說(shuō)明如下。
請(qǐng)參考圖2，為本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試連接關(guān)系圖。本發(fā)明以測(cè)試轉(zhuǎn)接器10連接光盤(pán)機(jī)20與主機(jī)30，需要測(cè)試的光盤(pán)機(jī)20，先與測(cè)試轉(zhuǎn)接器10連接，再將測(cè)試轉(zhuǎn)接器10連接至主機(jī)30，由主機(jī)30控制光盤(pán)機(jī)20運(yùn)作，以便由測(cè)試轉(zhuǎn)接器10外接測(cè)試儀器(未示出)，診斷光盤(pán)機(jī)20是否正常。
其中，主機(jī)30仍依光盤(pán)機(jī)規(guī)格書(shū)SATA接口的規(guī)定設(shè)置連接器31，連接器31同樣可區(qū)分為信號(hào)區(qū)31a與電源區(qū)31b，其中信號(hào)區(qū)31a具有兩對(duì)不同的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，而電源區(qū)31b也有兩對(duì)電源線+5V與接地線Gnd，以及一連接檢測(cè)線DP與一制造測(cè)試線MD。
本發(fā)明的測(cè)試轉(zhuǎn)接器10主要包含第一連接器11、第二連接器12及測(cè)試單元13。其中，第一連接器11與第二連接器12設(shè)于測(cè)試轉(zhuǎn)接器10的相對(duì)側(cè)，而測(cè)試單元13則設(shè)于測(cè)試轉(zhuǎn)接器10第三側(cè)邊。第一連接器11可區(qū)分為信號(hào)區(qū)11a與電源區(qū)11b，其中信號(hào)區(qū)11a具有兩對(duì)差動(dòng)式信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，相對(duì)應(yīng)于主機(jī)30信號(hào)區(qū)31a的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，電源區(qū)11b也有兩對(duì)電源線+5V與接地線Gnd、一連接檢測(cè)線DP及一制造測(cè)試線MD，相對(duì)應(yīng)于主機(jī)30電源區(qū)31b電源線+5V、接地線Gnd、連接檢測(cè)線DP及制造測(cè)試線MD。而第二連接器12可區(qū)分為信號(hào)區(qū)12a與電源區(qū)12b，其中信號(hào)區(qū)12a具有兩對(duì)不同的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，一一相對(duì)連接于第一連接器11信號(hào)區(qū)11a相同的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd。電源區(qū)12b設(shè)有兩對(duì)電源線+5V與接地線Gnd、一連接檢測(cè)線DP及一制造測(cè)試線MD，其中兩電源線+5V分別連接至電源區(qū)11b的電源線+5V，電源區(qū)12b的接地線Gnd連接電源區(qū)11b的兩搭接的接地線Gnd，另一接地線Gnd則接至電源區(qū)11b連接檢測(cè)線DP。電源區(qū)12b的制造測(cè)試線MD及連接檢測(cè)線DP連接至測(cè)試單元13，使電源區(qū)11b的制造測(cè)試線MD形成空接線。測(cè)試單元13設(shè)有兩個(gè)通用輸出入連接腳GPIO(General Purpose InpoutOutput)的測(cè)試點(diǎn)，即GPIO 1與GPIO 2，分別連接至電源區(qū)12b的制造測(cè)試線MD及連接檢測(cè)線DP。
另外，本發(fā)明的光盤(pán)機(jī)20主要包含連接器21、中央處理器22及電源回路23。其中連接器21可區(qū)分為信號(hào)區(qū)21a與電源區(qū)21b，信號(hào)區(qū)21a具有兩對(duì)不同的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，相對(duì)于第二連接器12的信號(hào)區(qū)12a，電源區(qū)21b也有兩對(duì)電源線+5V與接地線Gnd，以及一連接檢測(cè)線DP與一制造測(cè)試線MD，相對(duì)于第二連接器12的電源區(qū)12b。中央處理器22則具有通用輸出入連接腳GPIO，其中具有A+、A-、B+、B-信號(hào)線及接地線Gnd的接腳，一一相對(duì)連接至信號(hào)區(qū)21a相同兩對(duì)不同的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd。中央處理器22另具有通用輸出入連接腳GPIO作為測(cè)試連接腳GPIO 1與GPIO 2，連接腳GPIO 1連接至電源區(qū)21b連接檢測(cè)線DP，其間的連接線設(shè)一切換開(kāi)關(guān)24，切換開(kāi)關(guān)24可選擇連接線接通，或切斷連接線并使電源區(qū)21b連接檢測(cè)線DP連接至電源區(qū)21b的接地線Gnd，中央處理器22連接腳GPIO 2則連接至電源區(qū)21b制造測(cè)試線MD。此外，電源回路23設(shè)有電源及接地連接點(diǎn)，電源連接點(diǎn)接至電源區(qū)21b搭接的兩個(gè)電源線+5V，接地連接點(diǎn)則接至電源區(qū)21b的兩個(gè)搭接的接地線Gnd，電源回路23并連接至中央處理器22，以供電。
當(dāng)光盤(pán)機(jī)20需要連接主機(jī)30進(jìn)形測(cè)試時(shí)，首先將測(cè)試轉(zhuǎn)接器10的第一連接器11連接至主機(jī)30的連接器31，使信號(hào)區(qū)11a、電源區(qū)11b與信號(hào)區(qū)31a、電源區(qū)31b分別相對(duì)連接。再將光盤(pán)機(jī)20的連接器21連接至測(cè)試轉(zhuǎn)接器10的第二連接器12，同樣使信號(hào)區(qū)21a、電源區(qū)21b與信號(hào)區(qū)12a、電源區(qū)12b分別連接。連接后，主機(jī)30電源區(qū)31b的兩對(duì)電源線+5V，將經(jīng)由電源區(qū)11b、電源區(qū)12b、及電源區(qū)21b等電源線+5V，連通至電源回路23的電源連接點(diǎn)，供給光盤(pán)機(jī)20的電源，由電源回路23分配電源至中央處理器22。中央處理器22的A+、A-、B+、B-信號(hào)線及接地線Gnd，將一一經(jīng)過(guò)光盤(pán)機(jī)20信號(hào)區(qū)21a、測(cè)試轉(zhuǎn)接器10的信號(hào)區(qū)12a及信號(hào)區(qū)11a，連接至主機(jī)30信號(hào)區(qū)31a的信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，而可接受主機(jī)30的指令，并輸出信號(hào)至主機(jī)30。
另外主機(jī)30的連接檢測(cè)線DP連至測(cè)試轉(zhuǎn)接器10電源區(qū)11b的連接檢測(cè)線DP，再至電源區(qū)12b接地線Gnd接點(diǎn)，最后在光盤(pán)機(jī)20連接電源區(qū)21b的接地線Gnd，電源區(qū)21b的接地線Gnd則依序經(jīng)電源區(qū)12b、電源區(qū)11b等接地線Gnd接點(diǎn)，連通至電源區(qū)31b接地線Gnd而接地。因此，在完成連接后，連接檢測(cè)線DP才得以構(gòu)成一回路，同樣保持連接檢測(cè)線DP檢測(cè)是否正常連接的作用。
當(dāng)測(cè)試光盤(pán)機(jī)20時(shí)，除中央處理器22連接腳GPIO 2經(jīng)電源區(qū)21b及電源區(qū)11b的制造測(cè)試線MD接點(diǎn)，連接至測(cè)試單元13的GPIO 2，形成一測(cè)試點(diǎn)外。先將光盤(pán)機(jī)20連接檢測(cè)線DP的切換開(kāi)關(guān)24，切換至接通連接線，使中央處理器22連接腳GPIO 1經(jīng)電源區(qū)21b及電源區(qū)11b的連接檢測(cè)線接點(diǎn)，連接至測(cè)試單元13的GPIO 1，形成另一測(cè)試點(diǎn)。因此，測(cè)試儀器就可外接至測(cè)試單元13兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)GPIO 1、GPIO 2，同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，直接觀察光盤(pán)機(jī)的測(cè)試過(guò)程作成診斷。當(dāng)完成測(cè)試光盤(pán)機(jī)20時(shí)，則可將切換開(kāi)關(guān)24切換至接地的情況，而恢復(fù)至原光盤(pán)機(jī)規(guī)格書(shū)SATA接口規(guī)定的正常狀態(tài)。
因此，本實(shí)施例的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，就可通過(guò)光盤(pán)機(jī)內(nèi)部設(shè)一切換開(kāi)關(guān)，使光盤(pán)機(jī)可適當(dāng)選擇切換，以擴(kuò)充光盤(pán)機(jī)的測(cè)試接口，利用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行各種測(cè)試，以加速光盤(pán)機(jī)測(cè)試，完成測(cè)試后，又可使光盤(pán)機(jī)恢復(fù)回狀，達(dá)到與規(guī)格書(shū)相容的目的。同時(shí)，本發(fā)明的光盤(pán)機(jī)是將測(cè)試線直接連接至光盤(pán)機(jī)經(jīng)常需要測(cè)試的位置，減少拆裝尋找測(cè)試點(diǎn)，以節(jié)省測(cè)試時(shí)間。此外，本實(shí)施例的測(cè)試轉(zhuǎn)接器10將測(cè)試線外拉，并固定于測(cè)試轉(zhuǎn)接器10，以易于將各式測(cè)試裝置，例如示波器等，連接至測(cè)試點(diǎn)，而不受主機(jī)空間的限制，以簡(jiǎn)化光盤(pán)機(jī)的測(cè)試。
如圖3所示，為本發(fā)明第二實(shí)施例的測(cè)試連接關(guān)系圖。本實(shí)施例以測(cè)試轉(zhuǎn)接器40連接光盤(pán)機(jī)50與主機(jī)30，與第一實(shí)施例的測(cè)試連接基本結(jié)構(gòu)相似，其中主機(jī)30連接器31同樣區(qū)分為信號(hào)區(qū)31a與電源區(qū)31b，且與第一實(shí)施例的構(gòu)造完全相同，為簡(jiǎn)化說(shuō)明并沿用第一實(shí)施例的件號(hào)。此外，測(cè)試轉(zhuǎn)接器40的第一連接器41、第二連接器42與光盤(pán)機(jī)50的連接器51，可區(qū)分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，且信號(hào)區(qū)具有兩對(duì)差動(dòng)式信號(hào)線A+、A-、B+、B-與接地線Gnd，而電源區(qū)有兩對(duì)電源線+5V與接地線Gnd，以及一連接檢測(cè)線DP與一制造測(cè)試線MD的結(jié)構(gòu)均與第一實(shí)施例相同，請(qǐng)參閱第一實(shí)施例，不予贅述。
第二實(shí)施例與第一實(shí)施例不同點(diǎn)在于，測(cè)試轉(zhuǎn)接器40的測(cè)試單元43，測(cè)試單元43除設(shè)有兩個(gè)通信接口連接腳RXD及TXD，以取代第一實(shí)施例測(cè)試單元13兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)GPIO 1、GPIO 2，另增設(shè)電源線+5V與接地線Gnd等兩個(gè)接點(diǎn)，電源線+5V接點(diǎn)連接至第一連接器41與第二連接器42間的電源線+5V，接地線Gnd的接點(diǎn)則連接至第一連接器41與第二連接器42間電源區(qū)的接地線Gnd。
此外，第二實(shí)施例光盤(pán)機(jī)50設(shè)有連接器51、中央處理器52及電源回路53等結(jié)構(gòu)，基本上與與第一實(shí)施例相同。不同點(diǎn)在于連接器51的連接檢測(cè)線DP直接連接至中央處理器52的連接腳RXD，其間不設(shè)切換開(kāi)關(guān)作為切換至接地線Gnd，而制造測(cè)試線MD則直接連接至中央處理器52的連接腳TXD。
因此，測(cè)試光盤(pán)機(jī)50時(shí)，同樣將測(cè)試轉(zhuǎn)接器40的第一連接器41，連接至主機(jī)30的連接器31，再將光盤(pán)機(jī)50連接至測(cè)試轉(zhuǎn)接器40的第二連接器42。中央處理器52的連接腳RXD與TXD，即可經(jīng)由測(cè)試轉(zhuǎn)接器40的第二連接器42，連通至測(cè)試單元43的連接腳RXD及TXD，同時(shí)測(cè)試儀器外接至測(cè)試單元43，測(cè)試單元43的電源線+5V與接地線Gnd兩個(gè)接點(diǎn)，就可供給測(cè)試儀器電源，以方便測(cè)試儀器對(duì)特定的光盤(pán)機(jī)進(jìn)行特定的測(cè)試。
以上所述者，僅用以方便說(shuō)明本發(fā)明的較佳實(shí)施例，本發(fā)明的范圍不限于該多個(gè)較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明所做的任何變更，于不脫離本發(fā)明的精神下，皆屬本發(fā)明權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1.一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，包含一連接器，設(shè)于光盤(pán)機(jī)，包括信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，信號(hào)區(qū)含有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)含有兩電源線、兩接地線、一連接檢測(cè)線及一制造測(cè)試線；一中央處理器，設(shè)于該光盤(pán)機(jī)中，含兩測(cè)試連接腳、信號(hào)線及接地線接腳，信號(hào)線及接地線接腳一一相對(duì)連接至連接器信號(hào)區(qū)，而一測(cè)試連接腳連接于連接器的制造測(cè)試線，另一測(cè)試連接腳經(jīng)一切換開(kāi)關(guān)連至連接檢測(cè)線或電源區(qū)的接地線；以及一電源回路，設(shè)于該光盤(pán)機(jī)中，包括電源及接地連接點(diǎn)，電源連接點(diǎn)接至連接器兩電源線，接地連接點(diǎn)則接至兩接地線，且供電給中央處理器。
2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該切換開(kāi)關(guān)選擇連接線接通至連接器的連接檢測(cè)線，或連接至連接器電源區(qū)的接地線。
3.依據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該中央處理器的兩測(cè)試連接腳為通用輸出入連接腳GPIO 1與GPIO 2，連接腳GPIO 1連接至連接器連接檢測(cè)線，連接腳GPIO 2則連接至連接器電源區(qū)的制造測(cè)試線。
4.依據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)其中該中央處理器的兩測(cè)試連接腳為通信接口連接腳RXD與TXD，連接腳RXD連接至連接器連接檢測(cè)線，連接腳TXD則連接至連接器電源區(qū)的制造測(cè)試線。
5.依據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該連接器兩電源連相互搭接，兩個(gè)接地線也相互搭接。
6.依據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)一步包含一測(cè)試轉(zhuǎn)接器，測(cè)試轉(zhuǎn)接器含第一連接器、第二連接器及一測(cè)試單元，第一連接器連線于第二連接器，而測(cè)試單元包括兩測(cè)試點(diǎn)，分別連接于第二連接器的連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線的接點(diǎn)，第二連接器連接于該光盤(pán)機(jī)連接器。
7.依據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該第一連接器與第二連接器設(shè)于測(cè)試轉(zhuǎn)接器的相對(duì)側(cè)，而測(cè)試單元?jiǎng)t設(shè)于測(cè)試單元第三側(cè)邊。
8.依據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該第一連接器與第二連接器分別可區(qū)分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，其中各信號(hào)區(qū)具有信號(hào)線與接地線一一相對(duì)應(yīng)連接，各電源區(qū)具有兩電源線+5V分別對(duì)應(yīng)連接，第二連接器一接地線連接第一連接器的兩搭接接地線，另一接地線連接第一連接器的連接檢測(cè)線，第一連接器的制造測(cè)試線形成空接線。
9.依據(jù)權(quán)利要求3或6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試單元的測(cè)試點(diǎn)為兩個(gè)通用輸出入連接腳，即測(cè)試點(diǎn)GPIO 1連接至第二連接器的連接檢測(cè)線，測(cè)試點(diǎn)GPIO 2連接至第二連接器的制造測(cè)試線。
10.依據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試單元進(jìn)一步包括電源線與接地線兩個(gè)接點(diǎn)，電源線接點(diǎn)連接至第一連接器與第二連接器間的電源線，接地線接點(diǎn)則連接至第一連接器與第二連接器間電源區(qū)的接地線。
11.依據(jù)權(quán)利要求4或6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試單元的測(cè)試點(diǎn)為兩個(gè)通信接口連接腳，即測(cè)試點(diǎn)RXD連接至第二連接器的連接檢測(cè)線，測(cè)試點(diǎn)TXD連接至第二連接器的制造測(cè)試線。
12.依據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)一步包含一主機(jī)，主機(jī)具有一SATA接口的連接器連接于該第一連接器。
13.一種測(cè)試轉(zhuǎn)接器，包含一第一連接器，分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，信號(hào)區(qū)具有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)設(shè)有電源線、接地線、連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線；一第二連接器，分為信號(hào)區(qū)與電源區(qū)，信號(hào)區(qū)具有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)設(shè)有電源線、接地線、連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線；以及一測(cè)試單元，包括至少兩測(cè)試點(diǎn)；其中，第一連接器信號(hào)區(qū)的信號(hào)線與接地線，一一相對(duì)連接于第二連接器信號(hào)區(qū)的信號(hào)線與接地線，第一連接器電源區(qū)電源線連接于第二連接器電源區(qū)的電源線，第一連接器的接地線連接檢測(cè)線連接于第二連接器接地線，第二連接器的連接檢測(cè)線及制造測(cè)試線分別連接于測(cè)試單元的兩測(cè)試點(diǎn)。
14.依據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試轉(zhuǎn)接器，其中該第一連接器與第二連接器分別具有兩接地線，第一連接器兩接地線搭接后連接至第二連接器的一接地線，第二連接器的另一接地線與第一連接器連接檢測(cè)線連接。
15.依據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試轉(zhuǎn)接器，其中該第一連接器的制造測(cè)試線形成空接線。
16.依據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試轉(zhuǎn)接器，其中該測(cè)試單元進(jìn)一步包括至少一電源線與接地線接點(diǎn)，電源線接點(diǎn)連接至第一連接器與第二連接器間的電源線，接地線接點(diǎn)則連接至第一連接器與第二連接器間電源區(qū)的接地線。
17.依據(jù)權(quán)利要求13所述的測(cè)試轉(zhuǎn)接器，其中該第一連接器與第二連接器設(shè)于測(cè)試轉(zhuǎn)接器的相對(duì)側(cè)，而測(cè)試單元?jiǎng)t設(shè)于測(cè)試單元第三側(cè)邊。
全文摘要
一種光盤(pán)機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，由一測(cè)試轉(zhuǎn)接器連接光盤(pán)機(jī)與主機(jī)，光盤(pán)機(jī)含具有信號(hào)區(qū)與電源區(qū)的連接器，信號(hào)區(qū)含有信號(hào)線與接地線，電源區(qū)含有兩電源線、兩接地線、一連接檢測(cè)線及一制造測(cè)試線。一中央處理器含信號(hào)線及接地線接腳一一相對(duì)連接至連接器信號(hào)區(qū)信號(hào)線及接地線接腳，另含一測(cè)試連接腳連接于連接器的制造測(cè)試線，另一測(cè)試連接腳經(jīng)一切換開(kāi)關(guān)，由切換開(kāi)關(guān)選擇連接線接通至連接器的連接檢測(cè)線，或連接至連接器電源區(qū)的接地線。一電源回路設(shè)有電源連接點(diǎn)接至連接器兩電源線，及接地連接點(diǎn)接至連接器兩接地線，供電給中央處理器。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101051474SQ20061007404
公開(kāi)日2007年10月10日 申請(qǐng)日期2006年4月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月4日
發(fā)明者朱修明 申請(qǐng)人:廣明光電股份有限公司