專(zhuān)利名稱(chēng)：射頻自相關(guān)信號(hào)觸發(fā)發(fā)生器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明通常涉及信號(hào)觸發(fā)器，特別是基于自相關(guān)特征的實(shí)時(shí)信號(hào)觸發(fā)器。
背景技術(shù)：
諸如頻譜分析器和示波器的測(cè)量?jī)x器具有實(shí)時(shí)采集和分析數(shù)據(jù)的能力。具有實(shí)時(shí)測(cè)量能力的示例頻譜分析器包括TektronixWCA200、WCA300、RSA2200和RSA3300系列頻譜分析器，它們由Tektronix，Inc.of Beaverton，Oregon生產(chǎn)。這些頻譜分析器獲取并分析無(wú)縫數(shù)據(jù)塊。
測(cè)量?jī)x器采集、處理和顯示數(shù)據(jù)的速度高于操作員能夠有針對(duì)性地觀察顯示數(shù)據(jù)的速度。在測(cè)量?jī)x器中使用觸發(fā)器來(lái)啟動(dòng)或終止數(shù)據(jù)的采集。這些觸發(fā)器基于外部源提供的待分析輸入信號(hào)的時(shí)域信息。能夠在頻譜數(shù)據(jù)上觸發(fā)的內(nèi)部觸發(fā)器已被用來(lái)在檢測(cè)到一個(gè)預(yù)定義頻譜事件之后顯示累積頻譜。例如，頻率掩模觸發(fā)器計(jì)算信號(hào)頻譜，且在求得頻譜違反用戶(hù)定義的頻譜掩模時(shí)觸發(fā)。一個(gè)預(yù)定義的數(shù)據(jù)塊被存儲(chǔ)，它包括在觸發(fā)緊接在事件之前和之后發(fā)生的事件的相關(guān)信息，由此操作員能夠回顧這些數(shù)據(jù)并執(zhí)行所期望的后處理。
期望觸發(fā)器能夠允許測(cè)量?jī)x器在多種附加信號(hào)特征上觸發(fā)。

發(fā)明內(nèi)容
因此，提供了一種自相關(guān)觸發(fā)器。自相關(guān)觸發(fā)器將信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相比較來(lái)產(chǎn)生可同相關(guān)性閥值或相關(guān)掩模比較的一個(gè)相關(guān)系數(shù)或相關(guān)性序列，用以確定存在所關(guān)心的條件。當(dāng)存在所關(guān)心的條件時(shí)，自相關(guān)觸發(fā)器生成一個(gè)觸發(fā)。
提供了自相關(guān)觸發(fā)器的一個(gè)實(shí)施例，包括一個(gè)相關(guān)性檢測(cè)器，用以通過(guò)使信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相關(guān)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)。滯后發(fā)生器將信號(hào)的一個(gè)時(shí)間延遲版本提供到相關(guān)性檢測(cè)器，用以同該信號(hào)相比較。當(dāng)相關(guān)系數(shù)同相關(guān)性閥值之間的比較滿(mǎn)足相關(guān)性條件時(shí)，同相關(guān)性檢測(cè)器連接的比較器生成一個(gè)觸發(fā)。在另一個(gè)實(shí)施例中，比較器包括一個(gè)相關(guān)器，它能夠?qū)⑾嚓P(guān)性序列同相關(guān)掩模比較用以確定是否滿(mǎn)足相關(guān)性條件，并隨后生成一個(gè)觸發(fā)。
還提供了一種生成自相關(guān)觸發(fā)的方法。該方法包括使信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相關(guān)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)。將這個(gè)相關(guān)系數(shù)同相關(guān)性閥值相比較來(lái)確定一個(gè)相關(guān)性條件，且當(dāng)滿(mǎn)足該相關(guān)性條件時(shí)生成一個(gè)觸發(fā)。在這一方法的一個(gè)實(shí)施例中，通過(guò)將相關(guān)系數(shù)同一個(gè)被設(shè)置為接近零的閥值相比較且當(dāng)超出這個(gè)閥值(可能顯示非隨機(jī)信號(hào)的存在)時(shí)觸發(fā)來(lái)實(shí)現(xiàn)隨機(jī)性觸發(fā)。在另一個(gè)實(shí)施例中，將一個(gè)也被公知為相關(guān)性序列的相關(guān)系數(shù)序列同一個(gè)包括多個(gè)閥值的掩模相比較。相關(guān)性序列可被用來(lái)檢測(cè)隨機(jī)程度同時(shí)降低由單個(gè)相關(guān)系數(shù)測(cè)量產(chǎn)生的錯(cuò)誤觸發(fā)的數(shù)目。在另一個(gè)實(shí)施例中，可將相關(guān)性序列同一個(gè)相關(guān)掩模相比較來(lái)確定它與期望的自相關(guān)模型之間的相關(guān)性。例如，一旦存在或不存在本質(zhì)上正弦形式的信號(hào)，可使用正弦波模型來(lái)觸發(fā)。在另一個(gè)實(shí)施例中，自相關(guān)模型可以是弱自相關(guān)模型或強(qiáng)自相關(guān)模型。
結(jié)合附加權(quán)利要求和附圖閱讀下面的詳細(xì)闡述，本發(fā)明不同實(shí)施例的方面將變得顯而易見(jiàn)。


圖1展示一個(gè)實(shí)時(shí)頻譜分析器。
圖2展示一個(gè)自相關(guān)觸發(fā)器。
圖3展示一個(gè)自相關(guān)觸發(fā)器。
圖4展示一個(gè)自相關(guān)觸發(fā)器。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)參考圖1，示出了實(shí)時(shí)頻譜分析器10，其具有輸入處理器20，用以接收輸入RF信號(hào)或其它感興趣的信號(hào)。輸入處理器20通常包括低通濾波器22，其后跟隨有一個(gè)混頻器24，后者使用局部振蕩器26將濾波輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為中頻(IF)信號(hào)。IF信號(hào)通過(guò)帶通濾波器28，隨后輸入到模擬數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器30中，以便提供一個(gè)用于進(jìn)一步處理的數(shù)字信號(hào)。這個(gè)數(shù)字信號(hào)被輸入到數(shù)字IF正交處理器31，用以從該數(shù)字信號(hào)得到同相(I)和正交相位(Q)信號(hào)。I和Q信號(hào)被輸入到數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)32中，用以實(shí)時(shí)處理顯示在監(jiān)視器34上，監(jiān)視器34提供頻率對(duì)時(shí)間對(duì)振幅的三維表示(也被稱(chēng)為頻譜圖)。I和Q信號(hào)還被輸入到采集存儲(chǔ)器36和觸發(fā)發(fā)生器40中。觸發(fā)發(fā)生器40檢測(cè)到一個(gè)事件時(shí)，生成一個(gè)觸發(fā)使采集存儲(chǔ)器36自觸發(fā)事件之前和/或之后保存數(shù)據(jù)，用于后續(xù)處理?？捎蒁SP 32或另一個(gè)處理器(未示出)執(zhí)行后續(xù)處理。后續(xù)處理可用于實(shí)時(shí)分析或非實(shí)時(shí)分析。
圖2進(jìn)一步示出觸發(fā)發(fā)生器40的一個(gè)實(shí)施例。I和Q信號(hào)被輸入到循環(huán)緩沖器42中，它提供所接收RF數(shù)據(jù)(I/Q)的一個(gè)時(shí)間段。一個(gè)時(shí)間段也被稱(chēng)為一個(gè)采樣或一個(gè)記錄。為了執(zhí)行自相關(guān)，將該時(shí)間段同其自身的一個(gè)版本相比較。在觸發(fā)發(fā)生器40的一個(gè)實(shí)施例中，自相關(guān)被用來(lái)確定信號(hào)的隨機(jī)程度。隨機(jī)信號(hào)(例如和白噪聲相關(guān)的隨機(jī)信號(hào))同其自身滯后0相比較時(shí)，應(yīng)當(dāng)產(chǎn)生相關(guān)系數(shù)1，當(dāng)它同其自身的任何時(shí)移版本(對(duì)應(yīng)滯后1到滯后n)相比較時(shí)，應(yīng)當(dāng)產(chǎn)生接近0的相關(guān)系數(shù)。為了使用觸發(fā)發(fā)生器40確定隨機(jī)程度，對(duì)有源信號(hào)及其時(shí)間延遲版本執(zhí)行實(shí)時(shí)比較。在本觸發(fā)器的一個(gè)實(shí)施例中，這通過(guò)為相關(guān)性檢測(cè)器44提供至少兩組I和Q來(lái)實(shí)現(xiàn)。記為I0和Q0的第一組I和Q從循環(huán)緩沖器42被輸入。記為I1和Q1的第二組I和Q通過(guò)時(shí)滯46之后從循環(huán)緩沖器42被輸入，時(shí)滯46提供I和Q相對(duì)I0和Q0的時(shí)間延遲版本。滯后量在生產(chǎn)觸發(fā)發(fā)生器40期間預(yù)先確定或由本領(lǐng)域的操作員設(shè)定。由于相關(guān)系數(shù)對(duì)任何非零滯后都應(yīng)當(dāng)接近0，因此可使用任何適當(dāng)?shù)臏笾?，例如滯?。應(yīng)當(dāng)理解兩個(gè)信號(hào)可被延遲不同量，并且仍然對(duì)應(yīng)于只對(duì)單個(gè)路徑施加滯后所提供的類(lèi)似的相對(duì)滯后。盡管實(shí)際上每個(gè)滯后可對(duì)應(yīng)一個(gè)采樣點(diǎn)的一個(gè)移位，但滯后量通常指任何時(shí)間移位量。在某些實(shí)施例中，使用一個(gè)FPGA或一個(gè)ASIC來(lái)實(shí)現(xiàn)觸發(fā)發(fā)生器40。這些實(shí)施例中，可使用包含在FPGA或ASIC中的一個(gè)移位寄存器來(lái)實(shí)現(xiàn)滯后。在其它實(shí)施例中，可使用運(yùn)行在CPU上的軟件或其它通用處理器或由數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)實(shí)現(xiàn)滯后。
相關(guān)性檢測(cè)器44執(zhí)行任何必要的計(jì)算，用以產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)(CC)。相關(guān)系數(shù)通常從-1變化到1，但在數(shù)字系統(tǒng)中，這個(gè)范圍可由任何適當(dāng)方式表達(dá)。使用在允許時(shí)間內(nèi)計(jì)算相關(guān)系數(shù)的任何適當(dāng)裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)相關(guān)性檢測(cè)器44。在實(shí)時(shí)觸發(fā)的情況下，可使用在該儀器的采樣率所允許的時(shí)間內(nèi)完成必要計(jì)算的任何電路或部件實(shí)現(xiàn)相關(guān)性檢測(cè)器44。一個(gè)實(shí)時(shí)觸發(fā)器將優(yōu)選地在循環(huán)緩沖器42得到下一組采樣之前完成觸發(fā)確定。這將使觸發(fā)操作在不丟失任何采樣的前提下得以實(shí)時(shí)繼續(xù)。在某些應(yīng)用中，某些采樣丟失是可以接受的。盡管一般不希望有采樣丟失，但仍使用在此提供的自相關(guān)觸發(fā)服務(wù)這些應(yīng)用。在本觸發(fā)器的一個(gè)實(shí)施例中，使用一個(gè)現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)實(shí)現(xiàn)相關(guān)性檢測(cè)器。在另一個(gè)實(shí)施例中，使用一個(gè)ASIC實(shí)現(xiàn)相關(guān)性檢測(cè)器44。在另一個(gè)實(shí)施例中，可使用運(yùn)行在CPU或其它通用處理器上的軟件，只要其對(duì)于期望的采樣率足夠快。類(lèi)似地，在某些實(shí)施例中也可以使用DSP，只要其對(duì)期望的采樣率足夠快。
連續(xù)地實(shí)時(shí)計(jì)算相關(guān)系數(shù)(CC)并將其輸出，用以指示RF/IF數(shù)據(jù)同其時(shí)間延遲版本之間的相關(guān)程度。相關(guān)系數(shù)被輸入到比較器48中，用以同一個(gè)相關(guān)性閥值相比較。在本觸發(fā)器的另一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)比較器48使用一個(gè)將單個(gè)相關(guān)系數(shù)同閥值相比較的簡(jiǎn)單比較電路。相關(guān)性閥值依賴(lài)定義一個(gè)觸發(fā)事件所期望的相關(guān)性程度。相關(guān)性閥值可由生產(chǎn)商預(yù)設(shè)或由最終用戶(hù)選定。在本觸發(fā)器的一個(gè)實(shí)施例中，觸發(fā)事件被定義為在相關(guān)系數(shù)超過(guò)相關(guān)性閥值時(shí)引發(fā)一個(gè)觸發(fā)。例如，對(duì)隨機(jī)信號(hào)而言，從信號(hào)同其自身延遲版本之間的比較求得的相關(guān)系數(shù)(CC)應(yīng)當(dāng)非常接近零。如果相關(guān)系數(shù)(CC)超過(guò)相關(guān)性閥值(被設(shè)置為可位于零任意一側(cè)的容限)，將指示存在非隨機(jī)信號(hào)。比較器48隨后產(chǎn)生一個(gè)觸發(fā)。觸發(fā)隨后導(dǎo)致采集存儲(chǔ)器36保存與該信號(hào)有關(guān)的信息?？蓪⒉杉鎯?chǔ)器36設(shè)置為自觸發(fā)之前、觸發(fā)期間、觸發(fā)之后或它們的任意組合開(kāi)始保存與該信號(hào)有關(guān)的信息?？蛇x擇相關(guān)性閥值來(lái)平衡對(duì)識(shí)別非隨機(jī)事件和避免可能的錯(cuò)誤觸發(fā)的需要。識(shí)別隨機(jī)性特征和非隨機(jī)信號(hào)之存在的能力可被用來(lái)監(jiān)視和識(shí)別暗中的或未授權(quán)的信號(hào)。例如，特定頻率處頻譜的靜態(tài)區(qū)域可能期望僅包含隨機(jī)噪聲。當(dāng)信號(hào)隨機(jī)性特征改變時(shí)，可能指示出現(xiàn)了不希望的、中斷的或暗中的傳輸。通過(guò)提供一個(gè)自相關(guān)觸發(fā)來(lái)確定隨機(jī)性，可捕獲這個(gè)信號(hào)以便進(jìn)一步分析。
在另一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)相關(guān)系數(shù)位于相關(guān)性閥值內(nèi)時(shí)，選擇觸發(fā)事件來(lái)引發(fā)一個(gè)觸發(fā)。例如，當(dāng)非隨機(jī)信號(hào)變?yōu)殡S機(jī)信號(hào)時(shí)，激活觸發(fā)。
在觸發(fā)發(fā)生器40的一個(gè)實(shí)施例中，保留相關(guān)系數(shù)的時(shí)間歷史50用以提供數(shù)據(jù)，以便允許在更長(zhǎng)的時(shí)間段上對(duì)該信號(hào)性能進(jìn)行分析。在另一個(gè)實(shí)施例中，將該歷史存儲(chǔ)在觸發(fā)發(fā)生器40中。在另一個(gè)實(shí)施例中，相關(guān)系數(shù)被提供并被存儲(chǔ)在位于觸發(fā)發(fā)生器40外部的歷史50中。
闡述了自相關(guān)觸發(fā)的一個(gè)實(shí)施例，其被配置來(lái)根據(jù)信號(hào)內(nèi)的隨機(jī)程度產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)。上述隨機(jī)信號(hào)模型僅僅是可采用自相關(guān)性識(shí)別的模型中的一種。更一般地，自相關(guān)觸發(fā)器可被用來(lái)根據(jù)信號(hào)同某一特殊特征模型的匹配程度進(jìn)行觸發(fā)。雖然自相關(guān)觸發(fā)可根據(jù)單個(gè)相關(guān)系數(shù)來(lái)確定隨機(jī)程度，但其它模型可能需要多個(gè)時(shí)間滯后來(lái)確定信號(hào)同某一預(yù)定義特征模型的匹配程度。
圖3展示觸發(fā)發(fā)生器40的一個(gè)實(shí)施例，其用于根據(jù)一個(gè)使用多個(gè)時(shí)滯的自相關(guān)來(lái)提供觸發(fā)?；A(chǔ)觸發(fā)同前面結(jié)合圖2闡述的觸發(fā)相類(lèi)似。提供了可由觸發(fā)發(fā)生器控制的可變時(shí)滯。時(shí)滯46現(xiàn)被表示為可變且可由相關(guān)性檢測(cè)器44通過(guò)控制路徑54控制。相關(guān)性檢測(cè)器44產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)性序列，它是對(duì)應(yīng)不同滯后量的相關(guān)系數(shù)序列。例如，時(shí)滯46提供滯后1時(shí)，相關(guān)性檢測(cè)器44將產(chǎn)生相關(guān)系數(shù)CC1。相關(guān)性檢測(cè)器44隨后將更新時(shí)滯46(例如更新為滯后2)并產(chǎn)生相關(guān)系數(shù)CC2。因此，相關(guān)性檢測(cè)器44將產(chǎn)生對(duì)應(yīng)N個(gè)不同滯后值的一個(gè)相關(guān)性序列CC1、CC2、CC3到CCN。一個(gè)實(shí)施例中，以單一步長(zhǎng)增加滯后量，例如滯后1、滯后2、滯后3等。另一個(gè)實(shí)施例中，以非單一步長(zhǎng)增加滯后量，例如滯后1、滯后3、滯后7、滯后12。相關(guān)性檢測(cè)器44能夠計(jì)算的最大滯后量和自相關(guān)的數(shù)目受到相關(guān)性檢測(cè)器44相對(duì)于該儀器采樣率的速度的限制。
比較器48將相關(guān)性檢測(cè)器44提供的相關(guān)性序列同一個(gè)相關(guān)掩模進(jìn)行比較。某些實(shí)施例中，比較器48被實(shí)現(xiàn)為用于確定相關(guān)性序列同相關(guān)掩模之間相關(guān)性的相關(guān)器，而不是對(duì)比兩個(gè)值的簡(jiǎn)單比較器。例如，在本觸發(fā)器的一個(gè)實(shí)施例中，使用一個(gè)現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)來(lái)實(shí)現(xiàn)比較器48。另一個(gè)實(shí)施例中，使用一個(gè)ASIC實(shí)現(xiàn)比較器48。另一個(gè)實(shí)施例中，則可使用運(yùn)行在CPU或其它通用處理器上的軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)比較器48，所述CPU或者通用處理器對(duì)理想采樣率足夠快。類(lèi)似地，在某些實(shí)施例中也可以使用DSP，只要其對(duì)于理想采樣率而言足夠快。
在觸發(fā)發(fā)生器40的一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)相關(guān)性序列在預(yù)定義相關(guān)掩模內(nèi)時(shí)，比較器48將生成一個(gè)觸發(fā)。另一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)相關(guān)性序列超出預(yù)定義相關(guān)掩模時(shí)，比較器48將生成一個(gè)觸發(fā)?？深A(yù)定義相關(guān)掩模同某一特殊特征模型相對(duì)應(yīng)。由相關(guān)性序列表示的這個(gè)多時(shí)滯自相關(guān)形狀與預(yù)定義特征模型的匹配程度是可變的，且可調(diào)整來(lái)滿(mǎn)足多種用途。多時(shí)滯相關(guān)可被用作隨機(jī)程度。這種情況下，可使用滯后0處具有值1的一個(gè)簡(jiǎn)單掩模和在其它區(qū)域內(nèi)稍大于零的一個(gè)閥值。其它實(shí)施例中，多時(shí)滯相關(guān)可被用來(lái)確定隨機(jī)程度，其中信號(hào)不對(duì)應(yīng)白噪聲，因此其對(duì)所有滯后量都不接近零。因此，可使用多時(shí)滯隨機(jī)性掩模來(lái)減少同單個(gè)時(shí)滯實(shí)施例相關(guān)的錯(cuò)誤觸發(fā)。可使用例如正弦波模型的附加模型來(lái)檢測(cè)信號(hào)調(diào)制假信號(hào)(glitch)或失效。正弦波信號(hào)模型也可被用來(lái)檢測(cè)不該出現(xiàn)正弦波信號(hào)的地方是否出現(xiàn)了正弦波信號(hào)。其它實(shí)施例中，可將相關(guān)掩模設(shè)置為同任何理想的弱或強(qiáng)自相關(guān)模型對(duì)應(yīng)。
圖4展示觸發(fā)發(fā)生器40的另一個(gè)實(shí)施例，其用于根據(jù)多時(shí)滯自相關(guān)生成觸發(fā)。與相應(yīng)時(shí)滯46一起平行提供多相關(guān)性檢測(cè)器44。第一實(shí)施例中，每個(gè)相關(guān)性檢測(cè)器44產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)(CC)。隨后組合這些相關(guān)系數(shù)以便產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)性序列，使用比較器48對(duì)這個(gè)序列進(jìn)行比較。
另一個(gè)實(shí)施例中，每對(duì)相關(guān)性檢測(cè)器和時(shí)滯包括一個(gè)控制路徑54。這將允許每個(gè)比較檢測(cè)器實(shí)現(xiàn)一個(gè)多時(shí)滯相關(guān)的序列，以便產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)性序列。隨后組合這些相關(guān)性序列以便產(chǎn)生一個(gè)最終相關(guān)性序列，用以在比較器48中使用。
上面的闡述中，將觸發(fā)發(fā)生器40的不同部件作為獨(dú)立部件進(jìn)行討論。在本觸發(fā)發(fā)生器的某些實(shí)施例中，可以使用單個(gè)部件實(shí)現(xiàn)比較檢測(cè)器44、時(shí)滯46和比較器48。由一個(gè)FPGA或ASIC的不同部分執(zhí)行所有三種操作。另一個(gè)實(shí)施例中，可在運(yùn)行于單個(gè)CPU上或其它通用處理器或單個(gè)DSP內(nèi)的軟件中執(zhí)行所有三種操作。歷史50可被提供在相同的設(shè)備中，或被提供在獨(dú)立的存儲(chǔ)器或緩沖器中。
觸發(fā)發(fā)生器40的多個(gè)實(shí)施例可被合并到一臺(tái)測(cè)量?jī)x器中，以便為該儀器提供附加的功能性。當(dāng)耦接到一個(gè)頻譜分析接收器系統(tǒng)時(shí)，該自相關(guān)信號(hào)觸發(fā)可在一個(gè)大的頻率范圍上運(yùn)行，具有非常高的靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍，但其帶寬有限?；蛘?，當(dāng)耦接到一個(gè)示波器時(shí)，該自相關(guān)觸發(fā)器可在一個(gè)非常大的頻率帶寬上運(yùn)行，但所述頻率帶寬相對(duì)頻譜分析器具有更低的動(dòng)態(tài)范圍。
在不背離本發(fā)明基本原理的前提下可對(duì)本發(fā)明上述實(shí)施例的細(xì)節(jié)進(jìn)行多種變換，這對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)是顯而易見(jiàn)的。因此，本發(fā)明的范圍由下面的權(quán)利要求確定。
權(quán)利要求
1.一種根據(jù)自相關(guān)觸發(fā)捕獲信號(hào)數(shù)據(jù)的測(cè)量?jī)x器，其包括相關(guān)性檢測(cè)器，通過(guò)使信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相關(guān)來(lái)產(chǎn)生相關(guān)系數(shù)；滯后發(fā)生器，將信號(hào)的時(shí)間延遲版本提供給相關(guān)性檢測(cè)器；以及連接到相關(guān)性檢測(cè)器上的比較器，當(dāng)滿(mǎn)足相關(guān)性條件時(shí)其產(chǎn)生觸發(fā)。
2.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中比較器包括用于將單個(gè)相關(guān)系數(shù)同閥值相比較來(lái)確定是否滿(mǎn)足相關(guān)性條件的電路。
3.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中比較器包括相關(guān)器，用于使包括相關(guān)系數(shù)序列的相關(guān)性序列同相關(guān)映象進(jìn)行相關(guān)來(lái)確定是否滿(mǎn)足相關(guān)性條件。
4.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中滯后發(fā)生器包括移位寄存器。
5.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，還包括連接到相關(guān)性檢測(cè)器上的用以隨時(shí)間的過(guò)去存儲(chǔ)相關(guān)性數(shù)據(jù)的歷史緩沖器。
6.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中相關(guān)性檢測(cè)器、滯后發(fā)生器以及比較器被集成到實(shí)時(shí)頻譜分析器中。
7.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中相關(guān)性檢測(cè)器、滯后發(fā)生器以及比較器被集成到示波器中。
8.權(quán)利要求1中提供的測(cè)量?jī)x器，其中相關(guān)性檢測(cè)器、滯后發(fā)生器以及比較器被集成，以便能夠?qū)崟r(shí)產(chǎn)生觸發(fā)，由此在不丟失采樣的情況下產(chǎn)生觸發(fā)。
9.一種生成自相關(guān)觸發(fā)的方法，包括使信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相關(guān)，以便產(chǎn)生相關(guān)系數(shù)；將該相關(guān)系數(shù)同相關(guān)性閥值相比較來(lái)確定相關(guān)性條件；以及當(dāng)滿(mǎn)足該相關(guān)性條件時(shí)生成觸發(fā)信號(hào)。
10.權(quán)利要求9中的方法，其中將相關(guān)性閥值設(shè)置為偏移自零的預(yù)定閥值，用以提供與信號(hào)隨機(jī)程度相對(duì)應(yīng)的相關(guān)性條件。
11.權(quán)利要求9中的方法，其中將相關(guān)系數(shù)同相關(guān)閥值相比較還包括將相關(guān)系數(shù)序列同相關(guān)掩模相比較，以便根據(jù)同自相關(guān)模型的比較來(lái)確定相關(guān)性條件，所述相關(guān)掩模包括至少一個(gè)相關(guān)閥值。
12.權(quán)利要求11中的方法，其中自相關(guān)模型是隨機(jī)性模型。
13.權(quán)利要求11中的方法，其中自相關(guān)模型是正弦波模型。
14.權(quán)利要求11中的方法，其中自相關(guān)模型是強(qiáng)自相關(guān)模型。
15.權(quán)利要求11中的方法，其中自相關(guān)模型是弱自相關(guān)模型。
16.一種自相關(guān)觸發(fā)發(fā)生器，包括用于對(duì)信號(hào)和其時(shí)間延遲版本進(jìn)行相關(guān)來(lái)實(shí)時(shí)產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)的裝置；用于延遲信號(hào)的裝置，以便產(chǎn)生該信號(hào)的時(shí)間延遲版本來(lái)輸入到用于進(jìn)行相關(guān)的裝置中；用于比較相關(guān)系數(shù)和相關(guān)性閥值從而實(shí)時(shí)確定相關(guān)性條件的裝置；以及用于在滿(mǎn)足該相關(guān)性條件時(shí)實(shí)時(shí)生成觸發(fā)信號(hào)的裝置。
17.權(quán)利要求16中提供的自相關(guān)觸發(fā)發(fā)生器，其中用于進(jìn)行相關(guān)的裝置被實(shí)現(xiàn)為FPGA、ASIC、DSP或運(yùn)行在通用處理器上的軟件。
18.權(quán)利要求16中提供的自相關(guān)觸發(fā)發(fā)生器，其中用于進(jìn)行相關(guān)的裝置、用于延遲的裝置、用于比較的裝置以及用于實(shí)時(shí)生成觸發(fā)信號(hào)的裝置被實(shí)現(xiàn)為單個(gè)FPGA、單個(gè)ASIC、單個(gè)DSP或運(yùn)行在單個(gè)通用處理器上的軟件的部分。
19.權(quán)利要求16中提供的自相關(guān)觸發(fā)發(fā)生器，還包括用于存儲(chǔ)相關(guān)系數(shù)的歷史的裝置。
20.權(quán)利要求16中提供的自相關(guān)觸發(fā)發(fā)生器，其中用于比較相關(guān)系數(shù)和相關(guān)性閥值的裝置包括用于將相關(guān)性序列同相關(guān)掩模進(jìn)行比較的裝置。
全文摘要
一個(gè)自相關(guān)觸發(fā)包括一個(gè)相關(guān)性檢測(cè)器，用以通過(guò)使信號(hào)同其時(shí)間延遲版本相關(guān)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)相關(guān)系數(shù)，且當(dāng)提供對(duì)應(yīng)一個(gè)預(yù)定條件的相關(guān)系數(shù)時(shí)實(shí)時(shí)生成一個(gè)觸發(fā)。還提供一種方法，其根據(jù)自相關(guān)測(cè)量產(chǎn)生觸發(fā)。自相關(guān)觸發(fā)可被用來(lái)根據(jù)自相關(guān)涉及自相關(guān)模型的程度(例如，一個(gè)信號(hào)中的隨機(jī)程度)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)觸發(fā)。
文檔編號(hào)G01R23/18GK1940579SQ20061008246
公開(kāi)日2007年4月4日 申請(qǐng)日期2006年5月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年5月20日
發(fā)明者K·L·伯納德 申請(qǐng)人:特克特朗尼克公司