專利名稱：天線測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種天線測試方法，特別是指一種通過測量耗電流來驗(yàn) 證天線良品率的天線測試方法。
背景技術(shù)：
近年來通訊產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一日千里，是由于基礎(chǔ)半導(dǎo)體工業(yè)及數(shù)字信號處理(Digital Signal Processing, DSP)技術(shù)的突飛猛進(jìn)，因而帶動通訊產(chǎn) 業(yè)的進(jìn)步。對于通訊產(chǎn)業(yè)的三大新興領(lǐng)域行動通訊、衛(wèi)星通訊以及光纖通 訊而言，又以行動通訊與個(gè)人最息息相關(guān)。隨著通訊產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，應(yīng) 用于無線通訊產(chǎn)業(yè)的天線需求也日趨多樣化。在產(chǎn)品走向輕薄短小的趨勢 下，如何在有限的空間內(nèi)設(shè)計(jì)出適合產(chǎn)品規(guī)格要求的天線，往往成為影響 通訊品質(zhì)非常關(guān)鍵的因素。雖然通訊技術(shù)復(fù)雜度在增加，但無線市場的競爭壓力卻要求不斷縮短 典型無線設(shè)備的開發(fā)周期，而縮短開發(fā)周期需要有合適的測試工具，來加 速無線設(shè)備除錯過程。目前，通訊設(shè)備因功能繁多，對天線測試提出了更 高的要求，又天線測試不得不面對日益嚴(yán)峻的降低測試成本需求，因此， 降低測試的成本及縮短測試時(shí)間仍然是天線測試所面臨的挑戰(zhàn)。許多制造商使用協(xié)議測試方法，這是一個(gè)在生產(chǎn)線上使用非常昂貴的 儀器測試天線的方法，速度非常慢且其測試成本非常高。其天線測試是利 用一信號產(chǎn)生器來做信號仿真，用于制造所欲測試條件的環(huán)境(包含PRN、 功率水平、Doppler、仿真時(shí)間和信號/消息內(nèi)容的控制)，再將所欲測試的 內(nèi)含天線的電路板置入一測試治具中，連接信號產(chǎn)生器以做測試。此種測 試方式，因其測試治具本身不牢固，且容易因人工操作的不熟練，導(dǎo)致測 試治具很容易損壞，又其一次只能測試一片電路板，若多片一起測試會影 響靈敏度(CN)值，使其產(chǎn)線測試時(shí)間拉長、不能順暢。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的是提供一天線測試方法，通過測量耗電流得知所測 試的天線良品率，并大幅縮短測試時(shí)間?；谏鲜瞿康模景l(fā)明公開一天線測試方法，通過一測試機(jī)臺連接一 電路板；其中，測試機(jī)臺具有多個(gè)接點(diǎn)，電路板上具有至少一個(gè)天線電路， 測試方法包含下列步驟電路板上的天線電路與測試機(jī)臺接點(diǎn)連接；輸入 一測試參數(shù)于測試機(jī)臺中；測試機(jī)臺測量電路板的總耗電流；比對所測量 的總耗電流數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值是否相符；若不符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，測試機(jī)臺發(fā)出一 警示信息；符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，結(jié)束此一測試流程。利用本發(fā)明所公開的天線測試方法，相較于現(xiàn)有技術(shù)，可使檢測機(jī)臺 在單次測量中便可同時(shí)測試多個(gè)天線電路，因此在產(chǎn)線測試流程中將節(jié)省 許多時(shí)間，更能省去使用昂貴的信號產(chǎn)生器以仿真測試環(huán)境的需要，達(dá)到 節(jié)省時(shí)間及成本的優(yōu)點(diǎn)。


通過以下詳細(xì)的描述結(jié)合附圖，將可輕易明了上述內(nèi)容及此項(xiàng)發(fā)明的 諸多優(yōu)點(diǎn)，其中圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例的一天線測試方法的流程圖。 附圖標(biāo)記說明S10 S182步驟具體實(shí)施方式
本發(fā)明提供一種天線測試方法，其主要優(yōu)點(diǎn)在于縮短了測試設(shè)備的配 置及軟件配置時(shí)間，并實(shí)現(xiàn)靈活的設(shè)備配置，且測試設(shè)備在單次測量中可 一次測試多片天線，因而可以大幅縮短測試時(shí)間并節(jié)省測試設(shè)備投資，使 產(chǎn)線效率提升。為了使本發(fā)明的敘述更加詳盡及完備，請參考下列描述并 配合以下的附圖。請參閱圖1，其為本發(fā)明一實(shí)施例一天線測試方法的流程圖。此天線 測試方法是利用一測試機(jī)臺連接一內(nèi)含天線電路的電路板；其中，測試機(jī) 臺有多個(gè)接點(diǎn)，為檢測耗電流的儀器，而天線電路板可為已切割好的單一
天線電路板，也可以為尚未切割的具有多個(gè)天線電路的電路板，在本實(shí)施 例中所舉例的電路板為具有六個(gè)天線電路的電路板，檢測儀器通過多個(gè)接 點(diǎn)分別連接六個(gè)天線電路，使之可一次檢測多個(gè)天線電路。測試方法包含 下列步驟步驟SIO，為此測試程序的初始步驟，將電路板上六個(gè)天線電路分別 與測試機(jī)臺的多個(gè)接點(diǎn)連接。步驟S12，通過監(jiān)測人員對測試機(jī)臺輸入一 測試參數(shù)，其中測試參數(shù)是根據(jù)每一規(guī)格的天線電路所適合的測試條件。步驟S14，測試機(jī)臺測量六個(gè)天線電路的總耗電流，及每一個(gè)天線電路各 自的耗電流。步驟S16，比對所測量的耗電流數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值是否相符。當(dāng) 所測量天線電路的耗電流值不符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，進(jìn)入步驟S180，測試機(jī)臺發(fā) 出一警示信息，通知監(jiān)測人員進(jìn)行處理；當(dāng)所測量天線電路的耗電流值符 合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，代表天線電路板合乎標(biāo)準(zhǔn)，接續(xù)步驟S182，結(jié)束天線電路板 的測試。其中在步驟S14中， 一般會測量電路板中整體六個(gè)天線電路的總耗電 流，以確認(rèn)未切割的電路板六個(gè)天線電路布局(Layout)皆為正常，其中 若出現(xiàn)總耗電流不合乎標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，則更可單獨(dú)測量每一個(gè)天線電路各自的 耗電流，以檢査是其中哪一個(gè)天線電路的布局有問題。因此， 一般若整體 總耗電流沒有問題是可以不需要單獨(dú)測量每一個(gè)天線電路，這樣測量的時(shí) 間將更為縮短。利用本發(fā)明的測試天線的方法有下列優(yōu)點(diǎn)利用測量天線電路耗電流 的方法，使檢測機(jī)臺在單次測量中可一次測試多個(gè)天線電路，當(dāng)確定電路 板上的天線電路符合標(biāo)準(zhǔn)后，再將電路板進(jìn)行切割，因此在產(chǎn)線測試流程 中將節(jié)省許多時(shí)間，更能省去使用昂貴的信號產(chǎn)生器以仿真測試環(huán)境的需 要，達(dá)到節(jié)省時(shí)間及成本的優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明雖以較佳實(shí)施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明精神及本 發(fā)明實(shí)體僅止于上述實(shí)施例。因此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本 發(fā)明的精神及范圍內(nèi)所作的修改，均應(yīng)包含在權(quán)利要求書所界定的范圍 內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種天線測試方法，通過一測試機(jī)臺連接一電路板；該測試機(jī)臺具有多個(gè)接點(diǎn)，該電路板上具有至少一個(gè)天線電路，測試方法包含下列步驟所述電路板上的天線電路與所述測試機(jī)臺接點(diǎn)連接；輸入一測試參數(shù)于所述測試機(jī)臺中，其中該測試參數(shù)為根據(jù)每一規(guī)格的天線電路所適合的測試條件；所述測試機(jī)臺測量所述電路板的總耗電流；比對所測量的總耗電流數(shù)值與所述電路板的耗電流標(biāo)準(zhǔn)值是否相符；若不符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，所述測試機(jī)臺發(fā)出一警示信息；若符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，結(jié)束測試流程。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述電路板上具有多個(gè) 所述天線電路，并通過所述多個(gè)接點(diǎn)分別連接至所述測試機(jī)臺。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在所述測試機(jī)臺發(fā)出一 警示信息步驟后，還包括一步驟單獨(dú)測量每一個(gè)所述天線電路各自的耗 電流。
4. 如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述單獨(dú)測量每一個(gè) 所述天線電路各自的耗電流步驟后，還包括一步驟比對所測量的任一所 述天線電路耗電流數(shù)值與其耗電流標(biāo)準(zhǔn)值是否相符。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在所述比對所測量的任 一所述天線電路耗電流數(shù)值與其耗電流標(biāo)準(zhǔn)值是否相符的步驟后，還包含 - 一步驟若不符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，所述測試機(jī)臺發(fā)出一警示信息。
6. 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在所述比對所測量的任 一所述天線電路耗電流數(shù)值與其耗電流標(biāo)準(zhǔn)值是否相符的步驟后，還包含 一步驟若符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，則繼續(xù)測試未被測試到的任一所述天線電路。
全文摘要
本發(fā)明公開一天線測試方法，通過一測試機(jī)臺連接一電路板；測試方法包含下列步驟電路板上的天線電路與測試機(jī)臺接點(diǎn)連接；輸入一測試參數(shù)于測試機(jī)臺中，其中測試參數(shù)為根據(jù)每一規(guī)格的天線電路所適合的測試條件；測試機(jī)臺測量電路板的總耗電流；比對所測量的總耗電流數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值是否相符；若不符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，測試機(jī)臺發(fā)出一警示信息；符合標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，結(jié)束此一測試流程。
文檔編號G01R29/10GK101149409SQ20061011639
公開日2008年3月26日 申請日期2006年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月21日
發(fā)明者李政勛, 李永棠 申請人:英華達(dá)(上海)科技有限公司