專利名稱：內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置及具該裝置的測試機(jī)臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光傳感器檢測裝置，特別是指一種具內(nèi) 源的光傳感器檢測裝置；本發(fā)明還涉及具有內(nèi)建光源的光傳 檢測裝置的測試機(jī)臺。
技術(shù)背景無論在手機(jī)中、安 組件(CCD或CMOS)等光 的檢測需求日增，由于 各晶胞對于相同強(qiáng)度光 器的空間均勻性；而各 即決定該光傳感器是否 應(yīng)的快慢，則決定光傳 器質(zhì)量的主要光學(xué)性能為獲得光傳感器的 圖2所示，傳統(tǒng)測試光全監(jiān)控領(lǐng)域或 傳感器已經(jīng)廣 光傳感器多由 束的響應(yīng)強(qiáng)弱 晶胞對于不同 能達(dá)成白平衡 感器的反應(yīng)速數(shù)組狀的 是否相同 波長光束 ;至于各率；這些多數(shù)晶胞 ，即決定 的響應(yīng)是 晶胞對入 也就是決建光感器如電光傳 所構(gòu) 該光 否相 射光 定光耦合 感器成，傳感 同，束響 傳感衡數(shù)據(jù)，如圖1及括有一高壓放電燈空間均勻性及是否白平 傳感器的測試機(jī)臺1包10、 一光處理裝置11及一感光檢測裝置，其中高壓放電燈10用以提供不同波長光束至光處理裝置11中，經(jīng)由光處理裝置ll'內(nèi) 的光輪110及后續(xù)的光學(xué)鏡頭組將光均勻化后，把處理后的均勻 光投射至光傳感器置放座12處，均勻光行經(jīng)上蓋120的穿孔 121，并照射至待測的光傳感器13，例如一 CMOS芯片上，光傳 感器13中的每一晶胞感測入射光強(qiáng)度，并轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的感測訊
號輸出，經(jīng)由與該光傳感器電連接的復(fù)數(shù)導(dǎo)線122將感測訊號傳 至一控制裝置(圖中未標(biāo)示)中，即可得知測試結(jié)果。并依照測試 結(jié)果進(jìn)行分級(出貨檢驗(yàn))，降低尚可接受范圍內(nèi)不良品的畫素與 灰階而作為次級品出貨等作業(yè)。然而傳統(tǒng)的光傳感器測試機(jī)臺1需要設(shè)置上述高壓放電燈 10、光處理裝置11以及置放座12等裝置，尤其以光處理裝置所 占的實(shí)體空間極大，成本相對較高；又高壓放電燈10是采鹵素 燈泡，不僅光源中各波長成分的波長數(shù)值會飄移而不穩(wěn)定，且燈 泡損耗快，因此對于測試時需要光源的波長穩(wěn)定的檢驗(yàn)為一致命 缺陷，較常更換燈泡亦造成相對成本提高。 發(fā)明內(nèi)容針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題之一 是提供一種整體體積縮小、能降低整體測試機(jī)臺成本、發(fā)光波長 穩(wěn)定且壽命長、能有效提升檢測速率的內(nèi)建光源的光傳感器檢測 裝置。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題之二是提供一種上述具有內(nèi)建光 源的光傳感器檢測裝置的測試機(jī)臺。為了解決上述技術(shù)問題之一，本發(fā)明提供的內(nèi)建光源的光傳 感器檢測裝置，用于測試具有復(fù)數(shù)接腳的待測光傳感器，其包 括一基座，該基座具有一供置放并電連接該待測光傳感器的承 載部；一上蓋，該上蓋設(shè)于該基座上方，并可相對于該基座在一供 置入/移出該待測光傳感器的開啟位置至一供將該待測光傳感器 迫緊電連接該承載部的閉合位置間移動，且該上蓋內(nèi)具有一發(fā)光 方向被設(shè)置成面向該待測光傳感器的發(fā)光二極管光源。作為優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述基座承載部最好設(shè)有與該待 測光傳感器接腳對應(yīng)并供電連接、供傳遞該待測光傳感器訊號的 復(fù)數(shù)導(dǎo)腳。作為另一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述上蓋最好是經(jīng)一樞軸樞 設(shè)于該基座。作為再一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述上蓋在相對該基座的一 面最好向內(nèi)凹陷形成有一凹槽，且該發(fā)光二極管設(shè)置于該凹槽 內(nèi)。作為又一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述發(fā)光二極管光源最好包 括三個分別為紅、綠、藍(lán)的發(fā)光晶粒，最好還包括一設(shè)置于該光 源與該承載部間用于分散并均勻化來自該等晶粒光束的光學(xué)組 件。作為再一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明最好還包括一設(shè)置于該光源 與該承載部間用于顯示一影像數(shù)據(jù)的液晶裝置。為了解決上述技術(shù)問題之二，本發(fā)明提供的測試機(jī)臺，用于 測試具有復(fù)數(shù)接腳的待測光傳感器，其包含一電源和一光傳感器 檢測裝置，該光傳感器檢測裝置包括一基座，該基座具有一供置放、并電連接該待測光傳感器的 承載部；一上蓋，該上蓋設(shè)于該基座上方，并可相對于該基座在一供 置入/移出該待測光傳感器的開啟位置至一供將該待測光傳感器 迫緊電連接該承載部的閉合位置間移動，以及該上蓋內(nèi)至少具有 一受該電源致能、且發(fā)光方向被設(shè)置成面向該待測光傳感器的發(fā)光二極管光源；一控制驅(qū)動裝置，該控制驅(qū)動裝置包括一處理器及受該處理 器指令并驅(qū)動該上蓋的驅(qū)動器。作為優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述測試機(jī)臺最好還包括一氣壓 缸及一受該氣壓缸驅(qū)動并連接且致動該上蓋的機(jī)械臂。作為另一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述測試機(jī)臺最好還包括一 用以顯示來自該控制驅(qū)動裝置數(shù)據(jù)的顯示裝置。作為再一優(yōu)選技術(shù)方案，本發(fā)明上述測試機(jī)臺最好還包括一 用以紀(jì)錄該光源照射至該承載部亮度分布數(shù)據(jù)，并用于該處理器 與來自該待測光傳感器測得數(shù)據(jù)比對的記憶裝置。相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的光傳感器檢測裝置及具該裝置的 測試機(jī)臺由于在上蓋設(shè)有至少一發(fā)光二極管，用以作為光源至一 待測光傳感器中以進(jìn)行測試作業(yè)，無需高壓放電燈以及光處理裝 置等組件，便可大幅縮小檢測裝置的整體體積，亦可從而降低成 本；并可加速檢測速度而提升檢測精度；以及減少更換光源的時 間浪費(fèi)。


圖1是傳統(tǒng)的光傳感器測試機(jī)臺系統(tǒng)的正視示意圖；圖2是圖l中檢測裝置的部份放大結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明光傳感器檢測裝置之一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是圖3中基座部份的俯視圖(說明檢測裝置的基座表 面)；
圖5是本發(fā)明光傳感器檢測裝置之另一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示 意圖；圖6是使用本發(fā)明光傳感器檢測裝置之一測試機(jī)臺的結(jié)構(gòu)方 塊圖；圖7是本發(fā)明光傳感器檢測裝置之第三較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示 意圖。其中1為測試機(jī)臺；2為光傳感器檢測裝置；3為待測光傳 感器；4為氣壓缸；5為電源；6為控制裝置；7為顯示裝置；8 為測試機(jī)臺；9為記憶裝置；10為高壓放電燈；11為光處理裝 置；12為置放座；13為光傳感器；20、 20'為基座；21、21， 、 120為上蓋；22、 221， 、 222， 、 223，為發(fā)光二極管； 23、 23'為置放空間；24、 24'為金屬導(dǎo)腳；25為液晶板；25，為勻光裝置；40為機(jī)械臂；110為光輪；121為穿孔；122為導(dǎo)線；200為承載部；210為凹槽。
具體實(shí)施方式
有關(guān)本發(fā)明前述及其它技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)與功效，在以下配合 附圖和數(shù)個較佳實(shí)施例的詳細(xì)說明中，將可清楚的呈現(xiàn)。如圖3-4所示，本發(fā)明一較佳實(shí)施例提供的內(nèi)建光源的光傳 感器檢測裝置2包括一基座20、 一上蓋21及至少一發(fā)光二極管 22。基座20具有一承載部200，本實(shí)施例中，在該承載部200 上形成有一方形置放空間23，供一待測光傳感器3(例如一 CMOS 或CCD芯片)置放。此置放空間23不限于上述形狀，亦可為一凹 槽或其它任何常見的限位構(gòu)造。如圖4所示，本實(shí)施例中承載部 200在形成置放空間23的底壁四周均勻設(shè)有多數(shù)金屬導(dǎo)腳24,
供該待測光傳感器3的接腳與其電性連接，且該等金屬導(dǎo)腳24 由該承載部200平行排列向遠(yuǎn)離該待測光傳感器3的方向延伸至 靠近基座20的周壁處。光傳感器3藉此獲得來自機(jī)臺的電能驅(qū) 動，并將測得的光束轉(zhuǎn)換為電訊號輸出。上蓋21經(jīng)一樞軸固設(shè) 于基座20上方，并可供樞轉(zhuǎn)地相對于該基座20呈一開啟或閉合 狀態(tài)。上蓋21在相對該基座20的一面向內(nèi)凹陷形成一凹槽 210，本實(shí)施例中的白光發(fā)光二極管晶粒22即設(shè)置于該凹槽210 內(nèi)。如圖3-4所示，實(shí)際進(jìn)行測試時，首先將上蓋21置于開啟 狀態(tài)(如虛線所示)，并將待測光傳感器3置入基座之置放空間 23中。接著蓋合該上蓋21，將待測光傳感器3向下迫緊至電連 接該等導(dǎo)腳24。發(fā)光二極管22隨后被致能發(fā)光，并使所發(fā)光束 經(jīng)由例如作為光學(xué)組件之一液晶板25投向該待測光傳感器3表 面，待測光傳感器3中的每一感測單元(即為晶胞，圖中未標(biāo)示) 接收經(jīng)液晶板25所顯示的影像數(shù)據(jù)，并轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的感測訊 號，經(jīng)由導(dǎo)腳24將該等感測訊號傳至控制裝置中，從而得知測 試結(jié)果，并于后續(xù)進(jìn)行補(bǔ)償、分級(出貨檢驗(yàn))，并降低次級品的 畫素數(shù)目、灰階等作業(yè)。由于發(fā)光二極管22的驅(qū)動發(fā)光技術(shù)極其成熟，無論是控制 發(fā)光強(qiáng)度、影像條紋、圖形等，均非常易于達(dá)成，且所發(fā)光的波 長穩(wěn)定，使得光源所發(fā)光束相當(dāng)理想，從而提升測量的精準(zhǔn)度。且藉由電源的致能與否進(jìn)行控制，改變光源所發(fā)光訊號的速 度，比傳統(tǒng)技術(shù)旋轉(zhuǎn)光輪的機(jī)械控制變化更便捷而快速，不僅造 成測試機(jī)臺的體積大幅減小，更明顯縮短檢測所需花費(fèi)時間，從 而提升檢測效率。如圖5所示，本發(fā)明另一較佳實(shí)施例提供的內(nèi)建光源的光傳 感器檢測裝置，其與前一賣施例主要不同處是在于本實(shí)施例的上 蓋21是連接一受氣壓缸4驅(qū)動的機(jī)械臂40，俾以氣壓缸4驅(qū)動 該機(jī)械臂40而連動上蓋21上下運(yùn)動，使上蓋21在基座20中置 入待測光傳感器后，向下迫緊至閉合狀態(tài)；并于測試完畢后向上 開啟。當(dāng)然，如熟于此技術(shù)者所能輕易理解，前一實(shí)施例的光學(xué)組 件并非必要，基于本實(shí)施例所用光源的穩(wěn)定性較佳，因此可在預(yù) 先校準(zhǔn)時，先將一最佳光傳感器樣品置于承載部，以量測各晶粒 所發(fā)光束照射至待測光傳感器時的圖樣，并記錄于記憶裝置9 中。故在使用本發(fā)明的光傳感器檢測裝置2的測試機(jī)臺8時，如 圖6所示，在供應(yīng)電源5致能光傳感器檢測裝置2后，將來自光 傳感器檢測裝置2的量測訊號輸入控制裝置6，并由控制裝置6 將該訊號與記憶裝置9中預(yù)存記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行比對，并將相關(guān)信息 顯示于顯示裝置7上。本實(shí)施例的控制裝置6為一內(nèi)含處理器之計算器裝置，可根據(jù)內(nèi)建程序進(jìn)行運(yùn)算處理，以輸出對應(yīng)指令或數(shù)據(jù)；供應(yīng)電源5 則可受該控制裝置6的控制輸出對應(yīng)的電壓，用以控制光傳感器 檢測裝置2中的發(fā)光二極管22的啟閉與亮度。記憶裝置9則用 以紀(jì)錄該光源照射至該承載部200亮度分布數(shù)據(jù)、并供該控制裝 置6中的處理器與來自該待測光傳感器3測得數(shù)據(jù)比對，顯示裝 置7(例如為一液晶顯示器)，供顯示測試數(shù)據(jù)予操作人員監(jiān) 看。
藉由上述構(gòu)造，由于將發(fā)光二極管22內(nèi)建于光傳感器檢測 裝置2的上蓋21中，因?yàn)橛袃?nèi)建光源，不僅大幅縮小光傳感器 檢測裝置2的整體體積，也使制造成本顯著降低。又發(fā)光二極管 22的光強(qiáng)度其波長可受控制而變化，并具有波長穩(wěn)定的特性， 較符合檢測的各種要求，不僅控制較易，也可有效提升檢測速率 與精確度；且發(fā)光二極管22的壽命較長，因此不用常更換光 源，成本亦大為降低。如圖7所示，本發(fā)明第三較佳實(shí)施例提供的內(nèi)建光源的光傳 感器檢測裝置，除與前述實(shí)施例相同的基座20'、上蓋21'、 置放空間23'、及導(dǎo)腳24'等結(jié)構(gòu)外，并以各色光分離的紅、 綠、藍(lán)三色LED 221， 、 222， 、 223，排列配置作為光源；并可 依照需求而選擇分別致能發(fā)光或混色發(fā)光。當(dāng)然，如熟于此技術(shù) 者所能輕易理解，依照本實(shí)施例所揭露的結(jié)構(gòu)，唯有發(fā)光的均勻 度較不理想，因此如檢測時不需以特定圖案針對每一晶胞的優(yōu)劣 進(jìn)行評斷時，依本實(shí)施例所示，將在發(fā)光二極管22T 、 222' 、 223'與待測光傳感器3間，額外設(shè)置一分散并均勻化來 自該等發(fā)光二極管晶粒221' 、 222' 、 223'光束之光學(xué)組件； 此處采用例如勻光裝置25'，作為發(fā)散投射光束、使光束均勻 投射至待測光傳感器3的光學(xué)組件；當(dāng)然，亦可采用例如光學(xué)鏡 頭組等常見的光學(xué)裝置。
權(quán)利要求
1. 一種內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置，用于測試具有復(fù)數(shù)接腳的待測光傳感器，其特征是，其包括一基座，該基座具有一供置放并電連接該待測光傳感器的承載部；一上蓋，該上蓋設(shè)于該基座上方，并可相對于該基座在一供置入/移出該待測光傳感器的開啟位置至一供將該待測光傳感器迫緊電連接該承載部的閉合位置間移動，且該上蓋內(nèi)具有一發(fā)光方向被設(shè)置成面向該待測光傳感器的發(fā)光二極管光源。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，該基座承載部設(shè)有與該待測光傳感器接腳對應(yīng)并供電 連接、供傳遞該待測光傳感器訊號的復(fù)數(shù)導(dǎo)腳。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，該上蓋是經(jīng)一樞軸樞設(shè)于該基座。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，該上蓋在相對該基座的一面向內(nèi)凹陷形成有一凹槽， 且該發(fā)光二極管設(shè)置于該凹槽內(nèi)。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，該發(fā)光二極管光源包括三個分別為紅、綠、藍(lán)的發(fā)光 晶?！?br> 6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，還包括一設(shè)置于該光源與該承載部間用于分散并均勻 化來自該等晶粒光束的光學(xué)組件。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置， 其特征是，還包括一設(shè)置于該光源與該承載部間用于顯示一影像 數(shù)據(jù)的液晶裝置。
8 、 一種測試機(jī)臺，用于測試具有復(fù)數(shù)接腳的待測光傳感 器，其特征是，其包含一電源和一光傳感器檢測裝置，該光傳感 器檢測裝置包括一基座，該基座具有一供置放、并電連接該待測光傳感器的承 載部；一上蓋，該上蓋設(shè)于該基座上方，并可相對于該基座在一供置 入/移出該待測光傳感器的開啟位置至一供將該待測光傳感器迫緊 電連接該承載部的閉合位置間移動，以及該上蓋內(nèi)至少具有一受 該電源致能、且發(fā)光方向被設(shè)置成面向該待測光傳感器的發(fā)光二 極管光源；一控制驅(qū)動裝置，該控制驅(qū)動裝置包括一處理器及受該處理器 指令并驅(qū)動該上蓋的驅(qū)動器。
9、根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試機(jī)臺，其特征是，還包括一 氣壓缸及一受該氣壓缸驅(qū)動并連接且致動該上蓋的機(jī)械臂。
10、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試機(jī)臺，其特征是，還包括一 用以顯示來自該控制驅(qū)動裝置數(shù)據(jù)的顯示裝置。
11、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試機(jī)臺，其特征是，還包括一用以紀(jì)錄該光源照射至該承載部亮度分布數(shù)據(jù)，并用于該處理器與 來自該待測光傳感器測得數(shù)據(jù)比對的記憶裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置，其具有一基座及一設(shè)于該基座上的上蓋，在該上蓋設(shè)有至少一發(fā)光二極管，用以作為光源至一待測光傳感器中以進(jìn)行測試作業(yè)。本發(fā)明無需高壓放電燈以及光處理裝置等組件，即可大幅縮小檢測裝置的整體體積，亦可從而降低成本，并可加速檢測速度而提升檢測精度，減少更換光源的時間浪費(fèi)。另外，本發(fā)明還公開了一種具有上內(nèi)建光源的光傳感器檢測裝置的測試機(jī)臺。
文檔編號G01R31/26GK101210951SQ20061014809
公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月27日
發(fā)明者歐聰憲, 范光和 申請人:中茂電子(深圳)有限公司