專利名稱：測試電路、選擇器和半導(dǎo)體集成電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測試電路、選擇器和半導(dǎo)體集成電路，特別是涉及進(jìn)行輸出與同一節(jié)點(diǎn)連接的多個三態(tài)元件的測試的測試電路和包含測試電路的選擇器。
背景技術(shù)：
近年來，半導(dǎo)體集成電路逐步高集成化和高速化，隨之強(qiáng)烈要求既滿足在結(jié)構(gòu)要素即各個要素電路中也能夠容易檢測故障，又實(shí)現(xiàn)高速工作。
作為基本的要素電路例舉有選擇器，但作為高速工作的選擇器，已知以前使用了三態(tài)元件。但是，同時也知道在使用了三態(tài)元件的選擇器中很難進(jìn)行故障檢測。
作為使用了三態(tài)元件的選擇器的故障檢測困難的故障考慮了如下情況構(gòu)成的三態(tài)元件中的至少一個三態(tài)元件的控制信號發(fā)生故障，而產(chǎn)生該三態(tài)元件的輸出總是成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的故障的情況(即，發(fā)生無選擇狀態(tài)的情況)；以及輸出成為始終不是高阻抗的狀態(tài)的情況(即，發(fā)生多路選擇的情況)的故障。
為了解決該問題，作為現(xiàn)有的解決方法，已知有專利文獻(xiàn)1中記載的方法。根據(jù)專利文獻(xiàn)1中記載的方法，通過在由三態(tài)元件構(gòu)成的選擇器的輸出部分具有僅在掃描測試時上拉或下拉輸出部分的功能，將正常工作時的選擇器的速度惡化抑制到最小限度，并且即使控制信號發(fā)生故障成為無選擇狀態(tài)，也將輸出固定為邏輯“1”或“0”，因此就成為能夠正確地進(jìn)行故障檢測的結(jié)構(gòu)。
以下，使用附圖，對使用了現(xiàn)有的三態(tài)元件的選擇器進(jìn)行說明。
圖1是示出上述的專利文獻(xiàn)1示出的現(xiàn)有的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖1所示的選擇器1000具有三態(tài)元件1001和1002、晶體管1003。
三態(tài)元件1001在數(shù)據(jù)選擇端子1021是有源時，向數(shù)據(jù)輸出端子1040輸出數(shù)據(jù)輸入端子1011的邏輯值。此外，在數(shù)據(jù)選擇端子1021是無源時，三態(tài)元件1001的輸出成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。同樣地，三態(tài)元件1002在數(shù)據(jù)選擇端子1022是有源時，輸出數(shù)據(jù)輸入端子1012的邏輯值。此外，在數(shù)據(jù)選擇端子1022是無源時，三態(tài)元件1002的輸出成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
晶體管1003是NMOSFET具有在掃描模式信號端子1031是有源時下拉數(shù)據(jù)輸出端子1040的功能。以驅(qū)動能力比三態(tài)元件1001和1002充分弱的驅(qū)動能力形成晶體管1003。
通過采取這樣的結(jié)構(gòu)，在數(shù)據(jù)選擇端子1021和1022中的至少一方發(fā)生故障，三態(tài)元件1001和1002共同變?yōu)楦咦杩沟那闆r下，在掃描測試時，掃描模式信號端子1031變?yōu)橛性?，晶體管1003下拉數(shù)據(jù)輸出端子，數(shù)據(jù)輸出端子1040輸出邏輯值“0”。這樣，即使在數(shù)據(jù)選擇端子1021和1022中的至少一方發(fā)生了故障的情況下，也能利用掃描測試判斷為故障。
此外，由于在正常工作時掃描模式信號端子1031成為無源，因此，成為能夠?qū)ぷ魉俣鹊膲挠绊懸种频阶钚∠薅鹊慕Y(jié)構(gòu)。
專利文獻(xiàn)1(日本)特開平11-52019號公報但是，專利文獻(xiàn)1中記載的選擇器能夠檢測全部的三態(tài)元件的輸出成為高阻抗、數(shù)據(jù)輸出端子成為高阻抗的故障，但不能檢測多個三態(tài)元件成為有源而發(fā)生數(shù)據(jù)沖突的故障。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種能夠檢測多個三態(tài)元件成為有源而發(fā)生數(shù)據(jù)沖突的故障的測試電路、選擇器或半導(dǎo)體集成電路。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明涉及的測試電路進(jìn)行輸出與同一節(jié)點(diǎn)連接的第一三態(tài)元件和第二三態(tài)元件的測試，具有測試輸出端子和測試單元，該測試單元根據(jù)上述節(jié)點(diǎn)的電壓與閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值；在上述第一三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述節(jié)點(diǎn)上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在因?yàn)楣收隙鄠€三態(tài)元件的輸出沖突，輸出了中間電位的情況下，輸出第一邏輯值。這樣，就能夠根據(jù)與不同于第一邏輯值的邏輯值成為期待值的輸入圖形對應(yīng)的測試電路的輸出，檢測多個三態(tài)元件成為有源、發(fā)生數(shù)據(jù)沖突的故障。
此外，本發(fā)明涉及的選擇器是具有檢測故障的測試模式的選擇器，具有數(shù)據(jù)輸出端子；測試輸出端子；輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接的第一三態(tài)元件；輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接的第二三態(tài)元件；及測試單元，在測試模式時，根據(jù)上述數(shù)據(jù)輸出端子的電壓和閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值；在測試模式時，在上述第一三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述數(shù)據(jù)輸出端子上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平，數(shù)據(jù)輸出端子成為中間電位的情況下，選擇器向測試輸出端子輸出第一邏輯值。這樣，就能夠根據(jù)與不同于第一邏輯值的邏輯值成為期待值的輸入圖形對應(yīng)的、輸出到輸出端子的邏輯值，檢測多個三態(tài)元件成為有源、發(fā)生數(shù)據(jù)沖突的故障。
此外，上述測試單元也可以具有半導(dǎo)體開關(guān)和變換器，所述半導(dǎo)體開關(guān)的一端與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接，在測試模式時導(dǎo)通，在測試模式以外時關(guān)斷，所述變換器的輸入與上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端連接，輸出與上述測試輸出端子連接。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，由于在正常工作時(測試模式以外時)半導(dǎo)體開關(guān)(例如，NMOSFET)關(guān)斷，因此能夠降低對于數(shù)據(jù)輸出端子的負(fù)載電容的增加。即，能夠抑制選擇器的工作速度的降低。
此外，上述第一邏輯值是邏輯值“1”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第一n型晶體管的驅(qū)動能力。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，變換器的開關(guān)電位高于VDD/2(在此，VDD是電源電壓)。這樣，就在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平，數(shù)據(jù)輸出端子變?yōu)橹虚g電位的情況下，能夠輸出邏輯值“1”。
此外，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓的第二p型晶體管；向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓的第二n型晶體管，上述第二n型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第二p型晶體管的驅(qū)動能力。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平時的數(shù)據(jù)輸出端子的電位低于VDD/2。這樣，即使不使變換器的開關(guān)電位比VDD/2高必要以上，也能夠在故障時(第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平的情況)穩(wěn)定地輸出邏輯值“1”。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，也可以上述第一邏輯值是邏輯值“0”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一n型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第一p型晶體管的驅(qū)動能力。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，變換器的開關(guān)電位低于VDD/2(在此，VDD是電源電壓)。這樣，就在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平，數(shù)據(jù)輸出端子變?yōu)橹虚g電位的情況下，能夠輸出邏輯值“0”。
此外，也可以上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓的第二p型晶體管；及向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓的第二n型晶體管，上述第二p型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第二n型晶體管的驅(qū)動能力。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平時的數(shù)據(jù)輸出端子的電位高于VDD/2。這樣，即使不使變換器的開關(guān)電位比VDD/2低必要以上，也能夠在故障時(第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平的情況)穩(wěn)定地輸出邏輯值“0”。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，也可以上述第一邏輯值是邏輯值“1”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，第一p型晶體管的驅(qū)動能力成為第一n型晶體管的驅(qū)動能力的2倍以上。這樣，就在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平，數(shù)據(jù)輸出端子變?yōu)橹虚g電位的情況下，能夠輸出邏輯值“1”。
此外，也可以上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓的第二p型晶體管；向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓的第二n型晶體管，上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，第二n型晶體管的驅(qū)動能力成為第二p型晶體管的驅(qū)動能力的2倍以上。這樣，第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平時的數(shù)據(jù)輸出端子的電位就低于VDD/2。這樣，即使不使變換器的開關(guān)電位比VDD/2高必要以上，也能夠在故障時(第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平的情況)穩(wěn)定地輸出邏輯值“1”。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，也可以上述第一邏輯值是邏輯值“0”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，第一n型晶體管的驅(qū)動能力就是第一p型晶體管的驅(qū)動能力的2倍以上。這樣，就在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平，數(shù)據(jù)輸出端子變?yōu)橹虚g電位的情況下，能夠輸出邏輯值“0”。
此外，也可以上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓的第二p型晶體管；向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓的第二n型晶體管，上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，第二p型晶體管的驅(qū)動能力就是第二n型晶體管的驅(qū)動能力的2倍以上。這樣，第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平時的數(shù)據(jù)輸出端子的電位就高于VDD/2。這樣，即使不使變換器的開關(guān)電位比VDD/2低必要以上，也能夠在故障時(第一三態(tài)元件輸出高電平，第二三態(tài)元件輸出低電平的情況)穩(wěn)定地輸出邏輯值“0”。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，在測試模式時，在上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件的輸出成為高阻抗的情況下，上述測試單元也可以向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在測試模式時，在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件和第二三態(tài)元件的輸出成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的情況下，向測試輸出端子輸出第一邏輯值。這樣，就能夠根據(jù)與不同于第一邏輯值的邏輯值成為期待值的輸入圖形對應(yīng)的、輸出到測試輸出端子中的邏輯值，檢測全部的三態(tài)元件成為非選擇、數(shù)據(jù)輸出端子成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的故障。
此外，上述測試單元也可以進(jìn)一步具有向柵極輸入測試模式時成為邏輯值“1”的信號、在漏極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端、源極接地的第三n型晶體管。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在測試模式時，在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件和第二三態(tài)元件的輸出成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的情況下，利用第三n型晶體管，下拉數(shù)據(jù)輸出端子和變換器的輸入。這樣，就從測試輸出端子輸出邏輯值“1”。這樣，就能夠根據(jù)與邏輯值“0”成為期待值的輸入圖形對應(yīng)的、輸出到測試輸出端子中的邏輯值，檢測全部的三態(tài)元件成為非選擇，數(shù)據(jù)輸出端子成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的故障。
此外，上述測試單元也可以進(jìn)一步具有向柵極輸入測試模式時成為邏輯值“0”的信號、在漏極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端、源極與電源連接的第三p型晶體管。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在測試模式時，在因?yàn)楣收隙谝蝗龖B(tài)元件和第二三態(tài)元件的輸出成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的情況下，利用第三p型晶體管，上拉數(shù)據(jù)輸出端子和變換器的輸入。這樣，就從測試輸出端子輸出邏輯值“0”。這樣，就能夠根據(jù)與邏輯值“1”成為期待值的輸入圖形對應(yīng)的、輸出到測試輸出端子中的邏輯值，檢測全部的三態(tài)元件成為非選擇、數(shù)據(jù)輸出端子成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的故障。
此外，本發(fā)明涉及的半導(dǎo)體集成電路具有多個上述選擇器；邏輯電路，在上述多個選擇器中的一個以上向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值的情況下，輸出第三邏輯值，在上述多個選擇器全部向測試輸出端子輸出上述第二邏輯值的情況下，輸出與上述第三邏輯值不同的第四邏輯值。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，在多個選擇器中的至少一個輸出了第一邏輯值的情況下，邏輯電路輸出第三邏輯值。這樣，通過輸入全部的選擇器的輸出成為與第一邏輯值不同的邏輯值的輸入圖形，監(jiān)視邏輯電路的輸出，就能夠測試多個選擇器中是否包含著有故障的選擇器。這樣，由于不需要個別地監(jiān)視各選擇器的測試輸出端子，因此能夠容易地進(jìn)行測試。
此外，上述半導(dǎo)體集成電路也可以進(jìn)一步具有數(shù)據(jù)輸入端子與上述邏輯電路的輸出連接的掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，通過對于多個選擇器設(shè)置一個掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，就能夠檢測全部的選擇器的故障。從而，與對于各選擇器設(shè)置掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的情況相比，能夠大幅度地減少掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數(shù)量。這樣就能夠?qū)崿F(xiàn)削減掃描移動次數(shù)、削減面積和降低時鐘負(fù)荷。
本發(fā)明能夠提供一種能夠檢測多個三態(tài)元件成為有源并發(fā)生數(shù)據(jù)沖突的故障的測試電路、選擇器或半導(dǎo)體集成電路。
關(guān)于本申請背景技術(shù)的其它信息在2006年6月14日提出的日本專利申請No.2006-165248的說明書、附圖和權(quán)利要求書中公開的內(nèi)容的全文都作為參考包含在本文中。


從接下來結(jié)合附圖對本發(fā)明的描述中本發(fā)明的這些和其它目的、優(yōu)點(diǎn)和特征會變得更明顯，這些

了本發(fā)明的特定實(shí)施例。
在附圖中圖1是示出現(xiàn)有的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是示出第一實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖3是示出第二實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖4是示出第三實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖5是示出第四實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。
圖6是示出第五實(shí)施方式涉及的邏輯電路的結(jié)構(gòu)的圖。
圖7是示出第六實(shí)施方式涉及的邏輯電路的結(jié)構(gòu)的圖。
具體實(shí)施例方式
以下，利用

本發(fā)明的實(shí)施方式。
(第一實(shí)施方式)本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及的選擇器通過具有在數(shù)據(jù)輸出端子成為中間電位的情況下輸出邏輯值“1”的電路，能夠檢測多個三態(tài)元件同時成為有源的故障。
首先說明本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)。
圖2是示出本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。圖2中示出的選擇器100是具有檢測自身的故障的測試模式的三輸入的選擇器。選擇器100具有數(shù)據(jù)輸入端子101～103、數(shù)據(jù)選擇端子111～113、模式選擇端子114、數(shù)據(jù)輸出端子121、測試輸出端子122、三態(tài)變換器131、132和133、晶體管134、晶體管135、及變換器141。
三態(tài)變換器131～133的輸出與數(shù)據(jù)輸出端子121連接。三態(tài)變換器131在數(shù)據(jù)選擇端子111是“1”時，反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子101的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出。此外，三態(tài)變換器131的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子111是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。同樣地，三態(tài)變換器132在數(shù)據(jù)選擇端子112是“1”時反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子102的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出。此外，三態(tài)變換器132的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子112是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。三態(tài)變換器133在數(shù)據(jù)選擇端子113是“1”時反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子103的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出。此外，三態(tài)變換器133的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子113是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。此外，數(shù)據(jù)輸出端子121與在正常工作時使用的下一級的電路連接。
晶體管134是NMOSFET，在柵極上連接了模式選擇端子114，漏極和源極中的一方與數(shù)據(jù)輸出端子121連接，漏極和源極中的另一方與變換器141的輸入即節(jié)點(diǎn)123連接。晶體管134根據(jù)是否是測試模式來轉(zhuǎn)換導(dǎo)通/關(guān)斷。模式選擇端子114在測試模式時成為“1”，在正常工作時(測試模式以外時)成為“0”。即，晶體管134在測試模式時數(shù)據(jù)輸出端子121與節(jié)點(diǎn)123成為導(dǎo)通狀態(tài)，在正常工作時成為切斷狀態(tài)。此外，晶體管134是選通脈沖寬度小的晶體管，以使與數(shù)據(jù)輸出端子121連接的漏極電容變小。
晶體管135是PMOSFET，在柵極上連接模式選擇端子114，漏極與節(jié)點(diǎn)123連接，源極與電源連接。晶體管135在正常工作時上拉成為浮動節(jié)點(diǎn)的節(jié)點(diǎn)123。
變換器141的輸入與節(jié)點(diǎn)123連接，輸出與測試輸出端子122連接。變換器141反轉(zhuǎn)節(jié)點(diǎn)123的邏輯，向測試輸出端子122輸出。即，變換器141在測試模式時，按照數(shù)據(jù)輸出端子121的電壓與閾值(變換器141的開關(guān)電位)的大小，向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”或邏輯值“0”。變換器141具有晶體管136和晶體管137。此外，測試輸出端子122與在測試模式時使用的下一級的電路連接。例如，測試輸出端子122直接或者通過1個以上的邏輯電路，與掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器連接。
晶體管136是PMOSFET，柵極與節(jié)點(diǎn)123連接，漏極與測試輸出端子122連接，源極與電源連接。晶體管137是NMOSFET，柵極與節(jié)點(diǎn)123連接，漏極與測試輸出端子122連接，源極與GND連接。此外，晶體管136的驅(qū)動能力被設(shè)定為比晶體管137的驅(qū)動能力高。例如，晶體管136的驅(qū)動能力被設(shè)定為晶體管137的驅(qū)動能力的2倍以上。即，將變換器141的開關(guān)電位設(shè)定得比1/2×VDD(在此，VDD是電源電壓)高。另外，將變換器141的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最大的中間電位高的電位，即，在數(shù)據(jù)選擇端子111～113中的某2個成為“1”而被數(shù)據(jù)多路選擇，三態(tài)變換器131～133的輸出數(shù)據(jù)沖突，數(shù)據(jù)輸出端子121變?yōu)橹虚g電位。
此外，三態(tài)變換器131～133被設(shè)定為驅(qū)動“0”的驅(qū)動能力比驅(qū)動“1”的驅(qū)動能力高。即，數(shù)據(jù)選擇端子111～113中的某2個成為“1”而被數(shù)據(jù)多路選擇，數(shù)據(jù)輸出端子121的中間電位比1/2×VDD低。例如，三態(tài)變換器131～133具有向數(shù)據(jù)輸出端子121供給高電平的電壓(邏輯值“1”)的PMOSFET和向數(shù)據(jù)輸出端子121供給低電平的電壓(邏輯值“0”)的NMOSFET，將NMOSFET的驅(qū)動能力設(shè)定為比PMOSFET的驅(qū)動能力高。例如，將NMOSFET的驅(qū)動能力設(shè)定為PMOSFET的驅(qū)動能力的2倍以上。
在此，作為構(gòu)成變換器141的晶體管136和137的驅(qū)動能力的決定方法，可以使用使晶體管136和137的選通脈沖長度L相同，而變更選通脈沖寬度L的方法。一般地，在選通脈沖長度L與選通脈沖寬度W的比W/L相同的情況下，NMOSFET與PMOSFET的驅(qū)動能力的比成為2.2∶1左右。這樣，為了將PMOSFET的晶體管136的驅(qū)動能力設(shè)定為NMOSFET的晶體管137的2倍以上的驅(qū)動能力，最好將晶體管136的選通脈沖寬度設(shè)定為晶體管137的選通脈沖寬度的4.4倍以上。此外，為了使構(gòu)成三態(tài)變換器131～133的NMOSFET的驅(qū)動能力成為PMOSFET的驅(qū)動能力的2倍以上，使PMOSFET的選通脈沖寬度為NMOSFET的選通脈沖寬度的1.1倍以下即可。
根據(jù)以上的結(jié)構(gòu)，選擇器100在測試模式時，由于故障而要向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出三態(tài)變換器131～133中的某一個為高電平的信號，并且要向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出三態(tài)變換器131～133中的某一個為低電平的信號的情況下，將數(shù)據(jù)輸出端子121上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為邏輯值“1”，向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”。
下面說明圖2中示出的選擇器100的工作。
在正常工作時，模式選擇端子114輸入“0”，通過晶體管134關(guān)斷、晶體管135導(dǎo)通，節(jié)點(diǎn)123就變?yōu)椤?”，從測試輸出端子122輸出“0”。
在檢查工作時，模式選擇端子114通過輸入“1”變?yōu)橛性?，通過晶體管134導(dǎo)通，晶體管135關(guān)斷，數(shù)據(jù)輸出端子121和節(jié)點(diǎn)123就通過晶體管134連接，從測試輸出端子122輸出與數(shù)據(jù)輸出端子121的電位相對應(yīng)的邏輯值(有關(guān)對應(yīng)狀態(tài)以后敘述)。
由這樣的結(jié)構(gòu)要素構(gòu)成的選擇器100通常僅向數(shù)據(jù)選擇端子111～113中的一個端子輸入“1”(有源)，向其他端子輸入“0”(無源)。在僅一個端子有源(單熱)的情況下，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出與單熱的數(shù)據(jù)選擇端子相對應(yīng)的數(shù)據(jù)輸入端子的邏輯反轉(zhuǎn)信號。例如，在數(shù)據(jù)選擇端子111因單熱而有源的情況下，選擇對應(yīng)的數(shù)據(jù)輸入端子101的反轉(zhuǎn)信號后，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出。
這樣的選擇器100在預(yù)先已確定了數(shù)據(jù)選擇端子111～113的值的情況下，由于僅在從數(shù)據(jù)輸入端子101～103到數(shù)據(jù)輸出端子121的三態(tài)變換器的一段中傳播信號，因此，能夠高速地工作。
以下，對如下情況的工作進(jìn)行說明由于數(shù)據(jù)選擇端子111～113自身的1退化故障、或者向數(shù)據(jù)選擇端子111～113供給信號的外部的控制電路的故障，數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某一個發(fā)生了相當(dāng)于1退化故障的故障，成為數(shù)據(jù)多路選擇狀態(tài)。在此，關(guān)于在數(shù)據(jù)選擇端子111中發(fā)生1退化故障而總是成為有源的情況進(jìn)行了說明，但數(shù)據(jù)選擇端子112或113的情況也同樣。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子101的情況下(情況1)，向數(shù)據(jù)選擇端子111輸入“1”。這樣，即使處于數(shù)據(jù)選擇端子111有1退化故障的情況下，也與沒有故障的情況同樣地選擇數(shù)據(jù)輸入端子101。具體地說，無論數(shù)據(jù)輸入端子102和103的值如何，數(shù)據(jù)輸入端子101是“1”時向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“0”，是“0”時向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“1”。
模式輸入信號114是“1”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。即，在數(shù)據(jù)輸入端子101是“1”的情況下，向測試輸出端子122輸出“1”，在數(shù)據(jù)輸入端子101是“0”的情況下，向測試輸出端子122輸出“0”。這樣，數(shù)據(jù)選擇端子111就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子101時的測試輸出端子122的邏輯值，檢測1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子102的情況下(情況2)，由于數(shù)據(jù)選擇端子112是“1”，因?yàn)楣收隙鴶?shù)據(jù)選擇端子111成為“1”，因此，發(fā)生三態(tài)變換器131和132的數(shù)據(jù)多路選擇。以下進(jìn)一步分情況進(jìn)行說明。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“1”的情況下(情況2.1)，由于三態(tài)變換器131和132共同輸出“0”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“0”。這樣就進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。
模式輸入信號114是“1”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。即，與沒有故障的情況同樣地從測試輸出端子122輸出“1”。這樣就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“1”時的測試輸出端子122的邏輯值，檢測數(shù)據(jù)選擇端子111的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“0”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”的情況下(情況2.2)，由于三態(tài)變換器131和132共同輸出“1”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“1”。這樣就進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。
模式輸入信號114是“1”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。即，與沒有故障的情況同樣地從測試輸出端子122輸出“0”。這樣就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“0”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”時的測試輸出端子122的邏輯值，檢測數(shù)據(jù)選擇端子111的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”的情況下(情況2.3)，由于三態(tài)變換器131輸出“0”，三態(tài)變換器132輸出“1”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出中間電位。中間電位的信號依賴于下一級電路的開關(guān)電位，作為邏輯值“0”或“1”進(jìn)行傳播。即，在選擇器自身中不能確定邏輯值。
在模式輸入信號114是“1”的測試模式時，通過晶體管134向變換器141的輸入傳播數(shù)據(jù)輸出端子121的中間電位。將變換器141的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最大的中間電位高的電位，因此向測試輸出端子122輸出“1”，上述情況是指在三態(tài)變換器131～133中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方要輸出“1”，另一方要輸出“0”，從而信號沖突并成為中間電位的情況。在沒有故障的情況下，由于數(shù)據(jù)輸入端子102是“0”，故向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“1”，向測試輸出端子122輸出數(shù)據(jù)輸出端子121的信號的反轉(zhuǎn)信號即“0”。這樣，輸出到測試輸出端子122中的邏輯值就與沒有故障時不同。這樣，就能夠根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”時的測試輸出端子122的邏輯值，檢測數(shù)據(jù)選擇端子111的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“0”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“1”的情況下(情況2.4)，由于三態(tài)變換器131輸出“1”，三態(tài)變換器132輸出“0”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出中間電位。中間電位的信號依賴于下一級電路的開關(guān)電位，作為邏輯值“0”或“1”進(jìn)行傳播。即，在選擇器自身中不能確定邏輯值。
在模式輸入信號114是“1”的測試模式時，通過晶體管134向變換器141的輸入傳播數(shù)據(jù)輸出端子121的中間電位。將變換器141的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最大的中間電位高的電位，因此向測試輸出端子122輸出“1”，上述情況是指三態(tài)變換器131～133中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方輸出“1”，另一方輸出“0”，從而信號沖突并成為中間電位的情況。在沒有故障的情況下，由于數(shù)據(jù)輸入端子102是“1”，故向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出“0”，向測試輸出端子122輸出數(shù)據(jù)輸出端子121的信號的反轉(zhuǎn)信號即“1”。這樣，輸出到測試輸出端子122中的邏輯值就與沒有故障時相同。這樣，就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”時的測試輸出端子122的邏輯值，檢測數(shù)據(jù)選擇端子111的1退化故障。
如上所述，根據(jù)情況2.3(選擇數(shù)據(jù)輸入端子102，向數(shù)據(jù)輸入端子101輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子102輸入“0”的情況)的測試輸出端子122的邏輯值，能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子111的1退化故障。例如，通過將情況1、2.1、2.2、2.3和2.4的圖形作為輸入信號提供，僅情況2.3時的測試輸出端子122的輸出與期待值不一致，就能夠確定數(shù)據(jù)選擇端子111已引起了1退化故障。
再有，雖省略了說明，但選擇數(shù)據(jù)輸入端子103的情況也成為與上述的選擇數(shù)據(jù)輸入端子102的情況同樣的工作。
此外，同樣地也能夠確定數(shù)據(jù)選擇端子112和113的1退化故障。
以上，本實(shí)施方式涉及的選擇器100能夠在由于故障而輸出中間電位的情況下，在測試模式時使中間電位確定為規(guī)定的邏輯值，向測試輸出端子122輸出。這樣，通過在掃描中判定測試輸出端子122的邏輯值是否與期待值一致，就能夠檢測選擇多個三態(tài)元件的故障。即，通過使用本發(fā)明涉及的選擇器100，能夠提高半導(dǎo)體集成電路的故障檢測率。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器100在正常工作時晶體管134關(guān)斷。此外，例如通過減小選通脈沖寬度，來將晶體管134設(shè)定為對于數(shù)據(jù)輸出端子121的負(fù)載電容最小。這樣，在正常工作時能夠降低對于數(shù)據(jù)輸出端子121的負(fù)載電容的增加。從而能夠抑制選擇器100的工作速度的降低。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器100設(shè)定為在由于故障而三態(tài)變換器131～133的輸出沖突的情況下輸出的中間電位低于VDD/2。這樣，由于不需要將變換器141的開關(guān)電位設(shè)定得比VDD/2高很多，因此，能夠容易地進(jìn)行設(shè)計。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器100用NMOSFET形成了轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)輸出端子121與變換器141的輸入的導(dǎo)通和關(guān)斷的開關(guān)。這樣，即使在向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出低電位(例如，晶體管的閾值附近或閾值以下的電位)的情況下，也能夠?qū)⒌碗娢坏男盘杺鞑ソo變換器141的輸入。
再有，在上述說明中，關(guān)于三態(tài)變換器131～133是3個的情況進(jìn)行了說明，但三態(tài)變換器的數(shù)量是2以上即可。
此外，在上述說明中，示出了使用三態(tài)變換器作為三態(tài)元件的例子，但不限定于此。例如，也可以使用三態(tài)緩沖器作為三態(tài)元件。
此外，在上述說明中，示出了三態(tài)元件在控制信號為“1”時變?yōu)橛性吹睦樱部梢允窃凇?”時變?yōu)橛性吹娜龖B(tài)元件。
此外，假設(shè)用作開關(guān)的晶體管134是NMOSFET，但也可以是PMOSFET或者模擬開關(guān)等半導(dǎo)體開關(guān)。該情況下，最好將模式選擇端子114的邏輯設(shè)定為測試模式時開關(guān)導(dǎo)通，正常工作時關(guān)斷。
此外，在上述說明中，選擇器100由MOSFET構(gòu)成，但也可以由雙極型晶體管等其他晶體管形成。
此外，在上述說明中，關(guān)于從數(shù)據(jù)輸出端子121輸出數(shù)據(jù)輸入端子的反轉(zhuǎn)邏輯的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了說明，但也可以是輸出相同邏輯的結(jié)構(gòu)。此外，在上述說明中，關(guān)于從測試輸出端子122輸出與數(shù)據(jù)輸入端子相同的邏輯的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了說明，但也可以是輸出反轉(zhuǎn)邏輯的結(jié)構(gòu)。
此外，在上述說明中，將三態(tài)變換器131～133的驅(qū)動能力設(shè)定為在由于故障而向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出中間電位的情況下，輸出低于VDD/2的值，但只要是變換器141將因故障而向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出的中間電位作為邏輯值“1” 向測試輸出端子122輸出的結(jié)構(gòu)，三態(tài)變換器131～133的驅(qū)動能力就可以是任意的值。這樣就能夠最優(yōu)化選擇器100的工作速度等。
此外，在上述說明中，以具有多個三態(tài)變換器131～133的選擇器100為例進(jìn)行了說明，但本發(fā)明能夠適用于輸出與相同節(jié)點(diǎn)連接的多個三態(tài)元件的測試。例如，也能夠在對連接多個三態(tài)元件的輸出的總線的信號和與總線連接的三態(tài)元件進(jìn)行測試的電路中應(yīng)用本發(fā)明。
(第二實(shí)施方式)在上述的本發(fā)明的第一實(shí)施方式中，關(guān)于在由于故障而向數(shù)據(jù)輸出端子121輸出了中間電位的情況下輸出邏輯值“1”的選擇器100進(jìn)行了說明，但在本發(fā)明的第二實(shí)施方式中，關(guān)于在由于故障而向數(shù)據(jù)輸出端子輸出了中間電位的情況下輸出邏輯值“0”的選擇器進(jìn)行說明。
首先說明本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)。
圖3是示出本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。圖3中示出的選擇器200是具有檢測自身的故障的測試模式的三輸入的選擇器。選擇器200具有數(shù)據(jù)輸入端子201～203、數(shù)據(jù)選擇端子211～213、模式選擇端子214、數(shù)據(jù)輸出端子221、測試輸出端子222、三態(tài)變換器231、232和233、晶體管234、晶體管235、及變換器241。
與第一實(shí)施方式同樣地，三態(tài)變換器231～233的輸出與數(shù)據(jù)輸出端子221連接。三態(tài)變換器231在數(shù)據(jù)選擇端子211是“1”時，反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子201的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出。此外，三態(tài)變換器231的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子211是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。同樣地，三態(tài)變換器232在數(shù)據(jù)選擇端子212是“1”時反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子202的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出。此外，三態(tài)變換器232的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子212是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。三態(tài)變換器233在數(shù)據(jù)選擇端子213是“1”時反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)輸入端子203的邏輯值，向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出。此外，三態(tài)變換器233的輸出在數(shù)據(jù)選擇端子213是“0”時成為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
晶體管234是PMOSFET，在柵極上連接模式選擇端子214，漏極和源極中的一方與數(shù)據(jù)輸出端子221連接，漏極和源極中的另一方與變換器241的輸入即節(jié)點(diǎn)223連接。晶體管234根據(jù)是否是測試模式來轉(zhuǎn)換導(dǎo)通/關(guān)斷。模式選擇端子214在測試模式時成為“0”，在正常工作時(測試模式以外時)成為“1”。即，晶體管234在測試模式時數(shù)據(jù)輸出端子221與節(jié)點(diǎn)223成為導(dǎo)通狀態(tài)，在正常工作時成為切斷狀態(tài)。此外，晶體管234是選通脈沖寬度小的晶體管，以使與數(shù)據(jù)輸出端子221連接的漏極電容變小。
晶體管235是NMOSFET，在柵極上連接了模式選擇端子214，漏極與節(jié)點(diǎn)223連接，源極與電源連接。晶體管235在正常工作時上拉成為浮動節(jié)點(diǎn)的節(jié)點(diǎn)223。
變換器241的輸入與節(jié)點(diǎn)223連接，輸出與測試輸出端子222連接。變換器241反轉(zhuǎn)節(jié)點(diǎn)223的邏輯，向測試輸出端子222輸出。即，變換器241在測試模式時，按照數(shù)據(jù)輸出端子221的電壓與閾值(變換器241的開關(guān)電位)的大小，向測試輸出端子222輸出邏輯值“1”或邏輯值“0”。變換器241具有晶體管236和晶體管237。
晶體管236是PMOSFET，柵極與節(jié)點(diǎn)223連接，漏極與測試輸出端子222連接，源極與電源連接。晶體管237是NMOSFET，柵極與節(jié)點(diǎn)223連接，漏極與測試輸出端子222連接，源極與GND連接。此外，將晶體管237的驅(qū)動能力設(shè)定得比晶體管236的驅(qū)動能力高。例如，將晶體管237的驅(qū)動能力設(shè)定為晶體管236的驅(qū)動能力的2倍以上。即，將變換器241的開關(guān)電位設(shè)定得比1/2×VDD(在此，VDD是電源電壓)低。另外，將變換器241的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最小的中間電位低的電位，即，在數(shù)據(jù)選擇端子211～213中的某2個成為“1”而被數(shù)據(jù)多路選擇，三態(tài)變換器231～233的輸出數(shù)據(jù)沖突，數(shù)據(jù)輸出端子221成為中間電位。
此外，將三態(tài)變換器231～233設(shè)定得驅(qū)動“1”的驅(qū)動能力比驅(qū)動“0”的驅(qū)動能力高。即，數(shù)據(jù)選擇端子211～213中的某2個成為“1”而被數(shù)據(jù)多路選擇，數(shù)據(jù)輸出端子221的中間電位比1/2VDD高。例如，三態(tài)變換器231～233具有向數(shù)據(jù)輸出端子221供給高電平的電壓(邏輯值“1”)的PMOSFET和向數(shù)據(jù)輸出端子221供給低電平的電壓(邏輯值“0”)的NMOSFET，將PMOSFET的驅(qū)動能力設(shè)定得比NMOSFET的驅(qū)動能力高。例如，設(shè)定PMOSFET的驅(qū)動能力是NMOSFET的驅(qū)動能力的2倍以上。
在此，作為構(gòu)成變換器241的晶體管236和237的驅(qū)動能力的決定方法，可以使用使晶體管236和237的選通脈沖長度L相同，變更選通脈沖寬度W的方法。一般地，在選通脈沖長度L與選通脈沖寬度W的比W/L相同的情況下，NMOSFET與PMOSFET的驅(qū)動能力的比就為2.2∶1左右。這樣，為了將NMOSFET的晶體管237的驅(qū)動能力設(shè)定為PMOSFET的晶體管236的2倍以上的驅(qū)動能力，將晶體管236的選通脈沖寬度設(shè)定為晶體管237的選通脈沖寬度的1.1倍以下即可。此外，為了使構(gòu)成三態(tài)變換器231～233的PMOSFET的驅(qū)動能力為NMOSFET的驅(qū)動能力的2倍以上，使PMOSFET的選通脈沖寬度為NMOSFET的選通脈沖寬度的4.4倍以上即可。
根據(jù)以上的結(jié)構(gòu)，選擇器200在測試模式時，在由于故障而要向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出三態(tài)變換器231～233中的某一個為高電平的信號，并且要向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出三態(tài)變換器231～233中的某一個為低電平的信號的情況下，將數(shù)據(jù)輸出端子221上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為邏輯值“0”，向測試輸出端子222輸出邏輯值“0”。
下面說明圖3中示出的選擇器200的工作。
在正常工作時，模式選擇端子214輸入“1”，通過晶體管234關(guān)斷，晶體管235導(dǎo)通，節(jié)點(diǎn)223就變?yōu)椤?”，從測試輸出端子222輸出“1”。
在檢查工作時，模式選擇端子214通過輸入“0”變?yōu)橛性矗ㄟ^晶體管234導(dǎo)通，晶體管235關(guān)斷，數(shù)據(jù)輸出端子221和節(jié)點(diǎn)223就通過晶體管234連接，從測試輸出端子222輸出與數(shù)據(jù)輸出端子221的電位相對應(yīng)的邏輯值(有關(guān)對應(yīng)狀態(tài)以后敘述)。
由這樣的結(jié)構(gòu)要素構(gòu)成的選擇器200通常僅向數(shù)據(jù)選擇端子211～213中的一個端子輸入“1”(有源)，向其他端子輸入“0”(無源)。在僅一個端子有源(單熱)的情況下，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出與單熱的數(shù)據(jù)選擇端子相對應(yīng)的數(shù)據(jù)輸入端子的邏輯反轉(zhuǎn)信號。例如，在數(shù)據(jù)選擇端子211因單熱而有源的情況下，選擇對應(yīng)的數(shù)據(jù)輸入端子201的反轉(zhuǎn)信號后，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出。
這樣的選擇器200在預(yù)先已確定了數(shù)據(jù)選擇端子211～213的值的情況下，由于僅在從數(shù)據(jù)輸入端子201～203到數(shù)據(jù)輸出端子221的三態(tài)變換器的一段中傳播信號，因此，能夠高速地工作。
以下，對如下情況下的工作進(jìn)行說明由于數(shù)據(jù)選擇端子211～213自身的退化故障、或者向數(shù)據(jù)選擇端子211～213供給信號的外部的控制電路的故障，數(shù)據(jù)選擇端子211～213的某一個發(fā)生了相當(dāng)于1退化故障的故障而成為數(shù)據(jù)多路選擇狀態(tài)。在此，關(guān)于在數(shù)據(jù)選擇端子211中發(fā)生1退化故障而總是成為有源的情況進(jìn)行了說明，但數(shù)據(jù)選擇端子212或113的情況也同樣。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子201的情況下(情況1)，向數(shù)據(jù)選擇端子211輸入“1”。這樣，即使在數(shù)據(jù)選擇端子211有1退化故障的情況下，也與沒有故障的情況同樣地選擇數(shù)據(jù)輸入端子201。具體地說，無論數(shù)據(jù)輸入端子202和203的值如何，只要數(shù)據(jù)輸入端子201是“1”就向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“0”，是“0”就向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“1”。
模式輸入信號214是“0”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。即，在數(shù)據(jù)輸入端子201是“1”的情況下，向測試輸出端子222輸出“1”，在數(shù)據(jù)輸入端子201是“0”的情況下，向測試輸出端子222輸出“0”。這樣，數(shù)據(jù)選擇端子211就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子201時的測試輸出端子222的邏輯值，檢測1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子202的情況下(情況2)，由于數(shù)據(jù)選擇端子212是“1”，因?yàn)楣收隙鴶?shù)據(jù)選擇端子211為“1”，因此，發(fā)生三態(tài)變換器231和232的數(shù)據(jù)多路選擇。以下進(jìn)一步分情況進(jìn)行說明。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子202，向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“1”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”的情況下(情況2.1)，由于三態(tài)變換器231和232共同輸出“0”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“0”。這樣就進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。
模式輸入信號214是“0”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。即，與沒有故障的情況同樣地從測試輸出端子222輸出“1”。這樣就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“1”、且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”時的測試輸出端子222的邏輯值，來檢測數(shù)據(jù)選擇端子211的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子202，向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“0”的情況下(情況2.2)，由于三態(tài)變換器231和232共同輸出“1”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“1”。這樣就進(jìn)行猶如沒有故障時那樣的工作。
模式輸入信號214是“0”的測試模式時，也同樣地進(jìn)行猶如沒有故障那樣的工作。即，與沒有故障的情況同樣地從測試輸出端子222輸出“0”。這樣就不能根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”、且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“0”時的測試輸出端子222的邏輯值，來檢測數(shù)據(jù)選擇端子211的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“1”、并且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“0”的情況下(情況2.3)，由于三態(tài)變換器231輸出“0”，三態(tài)變換器232輸出“1”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出中間電位。中間電位的信號依賴于下一級電路的開關(guān)電位，作為邏輯值“0”或“1”進(jìn)行傳播。即，在選擇器自身中不能確定邏輯值。
在模式輸入信號214是“0”的測試模式時，通過晶體管234向變換器241的輸入傳播數(shù)據(jù)輸出端子221的中間電位。將變換器241的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最小的中間電位低的電位，因此向測試輸出端子222輸出“0”，上述情況是指在三態(tài)變換器231～233中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方要輸出“1”，另一方要輸出“0”，信號沖突并成為中間電位的情況。在沒有故障的情況下，由于數(shù)據(jù)輸入端子202是“1”，故向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“0”，向測試輸出端子222輸出數(shù)據(jù)輸出端子221的信號的反轉(zhuǎn)信號即“1”。這樣，輸出到測試輸出端子222中的邏輯值就與沒有故障時不同。這樣，就不能夠根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”、且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”時的測試輸出端子222的邏輯值，來檢測數(shù)據(jù)選擇端子211的1退化故障。
在選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”、并且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”的情況下(情況2.4)，由于三態(tài)變換器231輸出“1”，三態(tài)變換器232輸出“0”，因此，從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出中間電位。中間電位的信號依賴于下一級電路的開關(guān)電位，作為邏輯值“0”或“1”進(jìn)行傳播。即，在選擇器自身中不能確定邏輯值。
在模式輸入信號214是“0”的測試模式時，通過晶體管234向變換器241的輸入傳播數(shù)據(jù)輸出端子221的中間電位。將變換器241的開關(guān)電位設(shè)定為比如下情況下能取得的最小的中間電位低的電位，因此向測試輸出端子222輸出“0”，上述情況是指在三態(tài)變換器231～233中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方要輸出“1”，另一方要輸出“0”，信號沖突并成為中間電位的情況。在沒有故障的情況下，由于數(shù)據(jù)輸入端子202是“1”，故向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出“0”，向測試輸出端子222輸出數(shù)據(jù)輸出端子221的信號的反轉(zhuǎn)信號即“1”。這樣，輸出到測試輸出端子222中的邏輯值就與沒有故障時不同。這樣，就不能夠根據(jù)選擇數(shù)據(jù)輸入端子202、向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”、且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”時的測試輸出端子222的邏輯值，來檢測數(shù)據(jù)選擇端子211的1退化故障。
如上所述，根據(jù)情況2.4(選擇數(shù)據(jù)輸入端子202，向數(shù)據(jù)輸入端子201輸入“0”，并且向數(shù)據(jù)輸入端子202輸入“1”的情況)的測試輸出端子222的邏輯值，能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子211的1退化故障。例如，通過將情況1、2.1、2.2、2.3和2.4的圖形作為輸入信號提供，僅情況2.4時的測試輸出端子222的輸出與期待值不一致，就能夠確定數(shù)據(jù)選擇端子211已引起了1退化故障。
再有，雖然省略了說明，但選擇數(shù)據(jù)輸入端子203的情況也成為與上述的選擇數(shù)據(jù)輸入端子202的情況同樣的工作。
此外，同樣地也能夠特定數(shù)據(jù)選擇端子212和213的1退化故障。
以上，本實(shí)施方式涉及的選擇器200能夠在由于故障而輸出中間電位的情況下，在測試模式時確定中間電位為規(guī)定的邏輯值，向測試輸出端子222輸出。這樣，通過在掃描中判定測試輸出端子222的邏輯值是否與期待值一致，就能夠檢測選擇多個三態(tài)元件的故障。即，通過使用本發(fā)明涉及的選擇器200，能夠提高半導(dǎo)體集成電路的故障檢測率。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器200在正常工作時晶體管234關(guān)斷。此外，例如通過減小選通脈沖寬度，晶體管234被設(shè)定為對于數(shù)據(jù)輸出端子221的負(fù)載電容成為最小。這樣，在正常工作時能夠降低對于數(shù)據(jù)輸出端子221的負(fù)載電容的增加。從而能夠抑制選擇器200的工作速度的降低。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器200被設(shè)定為，在由于故障而三態(tài)變換器231～233的輸出沖突的情況下輸出的中間電位高于VDD/2。這樣，由于不需要比VDD/2極端低地設(shè)定變換器241的開關(guān)電位，因此，能夠容易地進(jìn)行設(shè)計。此外，能夠擴(kuò)寬設(shè)計的幅度。
此外，本實(shí)施方式涉及的選擇器200用PMOSFET形成了轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)輸出端子221與變換器241的輸入的導(dǎo)通和關(guān)斷的開關(guān)。這樣，即使在向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出高電位(例如，(VDD晶體管的閾值附近或VDD晶體管的閾值以上的電位)的情況下，也能夠?qū)⒏唠娢坏男盘杺鞑ソo變換器241的輸入。
再有，在上述說明中，關(guān)于三態(tài)變換器231～233是3個的情況進(jìn)行了說明，但三態(tài)變換器的數(shù)量是2以上即可。
此外，在上述說明中，示出了使用三態(tài)變換器作為三態(tài)元件的例子，但不限定于此。例如，也可以使用三態(tài)緩沖器作為三態(tài)元件。
此外，在上述說明中，示出了三態(tài)元件在控制信號為“1”時變?yōu)橛性吹睦?，但也可以是在?”時變?yōu)橛性吹娜龖B(tài)元件。
此外，假設(shè)用作開關(guān)的晶體管234是PMOSFET，但也可以是NMOSFET或者模擬開關(guān)等半導(dǎo)體開關(guān)。該情況下，模式選擇端子214的邏輯最好設(shè)定為測試模式時開關(guān)導(dǎo)通，正常工作時關(guān)斷。
此外，在上述說明中，選擇器200由MOSFET構(gòu)成，但也可以由雙極型晶體管等其他晶體管形成。
此外，在上述說明中，關(guān)于從數(shù)據(jù)輸出端子221輸出數(shù)據(jù)輸入端子的反轉(zhuǎn)邏輯的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了說明，但也可以是輸出相同邏輯的結(jié)構(gòu)。此外，在上述說明中，關(guān)于從測試輸出端子222輸出與數(shù)據(jù)輸入端子相同邏輯的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了說明，但也可以是輸出反轉(zhuǎn)邏輯的結(jié)構(gòu)。
此外，在上述說明中，三態(tài)變換器231～233的驅(qū)動能力被設(shè)定為，在由于故障而向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出中間電位的情況下，輸出高于VDD/2的值，但只要是變換器241將因故障而向數(shù)據(jù)輸出端子221輸出的中間電位作為邏輯值“0”向測試輸出端子222輸出的結(jié)構(gòu)，三態(tài)變換器231～233的驅(qū)動能力就可以是任意的值。這樣就能夠最優(yōu)化選擇器200的工作速度等。
此外，在上述說明中，以具有多個三態(tài)變換器231～233的選擇器200為例進(jìn)行了說明，但本發(fā)明能夠適用于輸出與同一節(jié)點(diǎn)連接的多個三態(tài)元件的測試。例如，也能夠在對連接多個三態(tài)元件的輸出的總線的信號和與總線連接的三態(tài)元件進(jìn)行測試的電路中應(yīng)用本發(fā)明。
(第三實(shí)施方式)在上述的第一實(shí)施方式中，關(guān)于檢測三態(tài)變換器被多路選擇的不良的選擇器100進(jìn)行了說明，但在第三實(shí)施方式中，說明除了具有檢測三態(tài)變換器被多路選擇的不良的功能以外還具有檢測三態(tài)變換器成為無選擇的不良的功能的選擇器。
圖4是示出本發(fā)明的第三實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。圖4中示出的選擇器300除了圖2中示出的選擇器100，還具有模式選擇端子315和晶體管338。再有，在與圖2相同的要素上標(biāo)記相同符號，省略詳細(xì)的說明。
晶體管338是NMOSFET，在柵極上連接模式選擇端子315，在漏極上連接節(jié)點(diǎn)123，源極接地。施加給模式選擇端子315的信號在測試模式時成為“1”的信號。晶體管338在模式選擇端子315是“1”時下拉節(jié)點(diǎn)123，在“0”時進(jìn)行成為關(guān)斷的工作。即，在模式選擇端子315是“0”時進(jìn)行與第一實(shí)施方式完全相同的工作。
在此，晶體管338的驅(qū)動能力被設(shè)定為，比三態(tài)變換器131～133的驅(qū)動能力充分弱。此外，將變換器141開關(guān)電位設(shè)定為比如下狀態(tài)下節(jié)點(diǎn)123能取得的最大的中間電位高的電位，即，在三態(tài)變換器131～133中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方要輸出“1”，另一方要輸出“0”，在信號沖突了的情況下，進(jìn)而晶體管134和晶體管338導(dǎo)通的狀態(tài)。
模式選擇端子315被設(shè)定為僅在模式選擇端子114是“1”時施加“1”。這是因?yàn)?，若模式選擇端子114是“0”時模式選擇端子315-變?yōu)椤?”，同時晶體管135和晶體管338就變?yōu)閷?dǎo)通，持續(xù)流過貫通電流。為了防止該情況，例如也可以是模式選擇端子114和模式選擇端子315的邏輯積向晶體管338的柵極輸入的結(jié)構(gòu)。
關(guān)于模式選擇端子315是“1”，并且三態(tài)變換器131～133是單熱狀態(tài)，或者數(shù)據(jù)多路選擇了某2個的情況下的工作，進(jìn)行與第一實(shí)施方式相同的工作。這是因?yàn)椋瑢⒆儞Q器141的開關(guān)電位設(shè)定為比在如下狀態(tài)下節(jié)點(diǎn)123能取得的最大的中間電位高的電位，即，在數(shù)據(jù)多路選擇了三態(tài)變換器131～133中的某2個的情況下，在一方輸出“1”，另一方輸出“0”，并且，晶體管338是導(dǎo)通的狀態(tài)。
即，選擇器300與第一實(shí)施方式同樣成為能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子111～113的1退化故障的選擇器。
下面，關(guān)于如下情況下的工作進(jìn)行說明因?yàn)閿?shù)據(jù)選擇端子111～113自身的0退化故障或者向數(shù)據(jù)選擇端子111～113供給信號的外部的控制電路的故障，數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某個發(fā)生相當(dāng)于0退化故障的故障，數(shù)據(jù)輸出端子121變?yōu)楦咦杩沟臓顟B(tài)。
該情況下，由于通過將模式選擇端子114和315共同設(shè)定為“1”，驅(qū)動節(jié)點(diǎn)123僅成為晶體管338的下拉，因此，節(jié)點(diǎn)123變?yōu)椤?”，從測試輸出端子122輸出“1”。例如，通過向測試輸出端子122輸入輸出“0”的圖形，就能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子111～113的0退化故障。
如上所述，本實(shí)施方式涉及的選擇器300在測試模式時三態(tài)變換器131～133的輸出全部成為高阻抗的情況下，向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”。即，本實(shí)施方式涉及的選擇器300能夠定義數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某一個的0退化故障時的測試輸出端子122的狀態(tài)。從而能夠提高數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某一個的0退化故障的故障檢測。
此外，第三實(shí)施方式涉及的選擇器300在正常工作時晶體管134成為關(guān)斷。這樣，對于正常工作時的數(shù)據(jù)輸出端子121的負(fù)載電容與第一實(shí)施方式涉及的選擇器100成為相同程度。從而，第三實(shí)施方式涉及的選擇器300不增加對于數(shù)據(jù)輸出端子121的負(fù)載電容，加之第一實(shí)施方式涉及的選擇器100的功能，還能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子111～113的0退化故障。
再有，在上述說明中，假設(shè)在模式選擇端子114和315是“1”的狀態(tài)下檢測到了數(shù)據(jù)選擇端子111～113的1退化故障，但也可以在模式選擇端子114和315是“1”的狀態(tài)下檢測數(shù)據(jù)選擇端子111～113的0退化故障，在模式選擇端子114是“1”和模式選擇端子315是“0”的狀態(tài)下檢測數(shù)據(jù)選擇端子111～113的1退化故障。
(第四實(shí)施方式)在上述的第三實(shí)施方式中，關(guān)于在數(shù)據(jù)選擇端子有0退化故障的情況下輸出邏輯值“1”的選擇器進(jìn)行了說明，但在本發(fā)明的第四實(shí)施方式中，關(guān)于在數(shù)據(jù)選擇端子有0退化故障的情況下輸出邏輯值“0”的選擇器進(jìn)行說明。
圖5是示出本發(fā)明的第四實(shí)施方式涉及的選擇器的結(jié)構(gòu)的圖。圖5中示出的選擇器400加之圖3中示出的選擇器200，還具有模式選擇端子415和晶體管438。再有，在與圖3相同的要素上標(biāo)記相同符號，省略詳細(xì)的說明。
晶體管438是PMOSFET，在柵極上連接模式選擇端子415，在漏極上連接節(jié)點(diǎn)223，源極接地。施加給模式選擇端子415的信號在測試模式時成為“0”的信號。晶體管438在模式選擇端子415是“0”時上拉節(jié)點(diǎn)223，在“1”時進(jìn)行成為關(guān)斷的工作。即，在模式選擇端子415是“1”時進(jìn)行與第一實(shí)施方式完全相同的工作。
在此，晶體管438的驅(qū)動能力被設(shè)定為比三態(tài)變換器231～233的驅(qū)動能力充分弱。此外，將變換器241的開關(guān)電位設(shè)定為比如下狀態(tài)下的節(jié)點(diǎn)223能取得的最小的中間電位低的電位，即，在三態(tài)變換器231～233中的某2個被數(shù)據(jù)多路選擇的情況下，一方要輸出“1”，另一方要輸出“0”，在信號沖突了的情況下，進(jìn)而晶體管234和晶體管438導(dǎo)通的狀態(tài)。
模式選擇端子415被設(shè)定為僅在模式選擇端子214是“0”時施加“0”。這是因?yàn)?，若模式選擇端子214是“1”時模式選擇端子415-變?yōu)椤?”，同時晶體管235和晶體管438就變?yōu)閷?dǎo)通，持續(xù)流過貫通電流。
為了防止該情況，例如也可以是模式選擇端子214和模式選擇端子415的邏輯積向晶體管438的柵極輸入的結(jié)構(gòu)。
關(guān)于模式選擇端子415是“1”，并且三態(tài)變換器231～233是單熱狀態(tài)，或者數(shù)據(jù)多路選擇了某2個的情況下的工作，進(jìn)行與第二實(shí)施方式相同的工作。這是因?yàn)椋瑢⒆儞Q器241的開關(guān)電位設(shè)定為如下狀態(tài)下節(jié)點(diǎn)223能取得的最小的中間電位低的電位，即，在數(shù)據(jù)多路選擇了三態(tài)變換器231～233中的某2個的情況下，在一方輸出“1”，另一方輸出“0”，并且晶體管438是導(dǎo)通的狀態(tài)。
即，選擇器400與第二實(shí)施方式同樣成為能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子211～213的1退化故障的選擇器。
下面，對如下情況下的工作進(jìn)行說明因?yàn)閿?shù)據(jù)選擇端子211～213自身的0退化故障或者向數(shù)據(jù)選擇端子211～213供給信號的外部的控制電路的故障，數(shù)據(jù)選擇端子211～213的某個發(fā)生相當(dāng)于0退化故障的故障，數(shù)據(jù)輸出端子221成為高阻抗的狀態(tài)。
該情況下，由于通過將模式選擇端子214和415共同設(shè)定為“0”，驅(qū)動節(jié)點(diǎn)223成為僅晶體管438的上拉，因此，節(jié)點(diǎn)223變?yōu)椤?”，從測試輸出端子222輸出“0”。例如，通過向測試輸出端子222輸入輸出“1”的圖形，就能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子211～213的0退化故障。
如上所述，本實(shí)施方式涉及的選擇器400在測試模式時三態(tài)變換器231～233的輸出全部成為高阻抗的情況下，向測試輸出端子222輸出邏輯值“0”。即，本實(shí)施方式涉及的選擇器400能夠定義數(shù)據(jù)選擇端子211～213的某一個的0退化故障時的測試輸出端子222的狀態(tài)。從而能夠提高數(shù)據(jù)選擇端子211～213的某一個的0退化故障的故障檢測。
此外，第四實(shí)施方式涉及的選擇器400在正常工作時晶體管234成為關(guān)斷。這樣，對于正常工作時的數(shù)據(jù)輸出端子221的負(fù)載電容就與第二實(shí)施方式涉及的選擇器200成為相同程度。從而，第四實(shí)施方式涉及的選擇器400不增加對于數(shù)據(jù)輸出端子221的負(fù)載電容，加之第二實(shí)施方式涉及的選擇器200的功能，還能夠檢測數(shù)據(jù)選擇端子211～213的0退化故障。
再有，在上述說明中，假設(shè)在模式選擇端子214和415是“0”的狀態(tài)下檢測到了數(shù)據(jù)選擇端子211～213的1退化故障，但也可以在模式選擇端子214和415是“0”的狀態(tài)下檢測數(shù)據(jù)選擇端子211～213的0退化故障，在模式選擇端子214是“0”和模式選擇端子415是“1”的狀態(tài)下檢測數(shù)據(jù)選擇端子211～213的1退化故障。
(第五實(shí)施方式)在第五實(shí)施方式中，關(guān)于成批檢測具有多個第一實(shí)施方式涉及的選擇器100的多位選擇器的故障的邏輯電路進(jìn)行說明。
圖6是示出本發(fā)明的第五實(shí)施方式涉及的邏輯電路的結(jié)構(gòu)的圖。
圖6中示出的邏輯電路5000具有32個選擇器500～531、邏輯和電路541和雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542。
選擇器500～531分別是圖2中示出的選擇器100。向選擇器500～531的數(shù)據(jù)選擇端子111供給數(shù)據(jù)選擇信號551，向數(shù)據(jù)選擇端子112供給數(shù)據(jù)選擇信號552，向數(shù)據(jù)選擇端子113供給數(shù)據(jù)選擇信號553。此外，向選擇器500～531的模式選擇端子114供給模式輸入信號554。
此外，選擇器500～531的數(shù)據(jù)輸入端子101分別與數(shù)據(jù)輸入端子5100～5131連接，數(shù)據(jù)輸入端子102分別與數(shù)據(jù)輸入端子5200～5231連接，數(shù)據(jù)輸入端子103分別與數(shù)據(jù)輸入端子5300～5331連接。此外，選擇器500～531的數(shù)據(jù)輸出端子121分別與數(shù)據(jù)輸出端子5400～5431連接。即，選擇器500～531作為通過共通的控制信號進(jìn)行共通的工作的32位的選擇器進(jìn)行工作。
邏輯和電路541是32輸入的邏輯和電路，與輸入連接選擇器500～531的測試輸出端子122。即，在選擇器500～531中的1個以上向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”的情況下，邏輯和電路541輸出邏輯值“1”，在選擇器500～531全部向測試輸出端子122輸出邏輯值“0”的情況下，邏輯和電路541輸出邏輯值“0”。
雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542是掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，掃描數(shù)據(jù)輸入端子SI與邏輯和電路541的輸出連接。
關(guān)于各個選擇器500～531的工作，已經(jīng)在第一實(shí)施方式中說明，因此在此省略說明，但在模式輸入信號554是“0”時，作為正常工作即32位的選擇器進(jìn)行工作，分別從測試輸出端子122輸出“0”。
此外，在模式輸入信號554是“1”時，成為測試工作，即能夠檢查32位的選擇器的數(shù)據(jù)多路選擇狀態(tài)的模式。
如在第一實(shí)施方式中說明的，在測試模式時，選擇器500～531在數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某一個有1退化故障，輸出中間電位的情況下，向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”。這樣，在沒有故障的情況下，通過輸入向測試輸出端子122輸出邏輯值“0”的圖形，就能夠檢測選擇器500～531的1退化故障。此外，各選擇器500～531的測試輸出端子122與邏輯和電路541的輸入連接。這樣，就在選擇器500～531中的1個以上的選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，或者數(shù)據(jù)選擇信號551變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，邏輯和電路541輸出“1”。此外，在全部的選擇器500～531正常工作，向測試輸出端子122輸出了“0”的情況下，邏輯和電路541輸出“0”。從雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542的掃描數(shù)據(jù)輸入端子SI向雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542取入邏輯和電路541的輸出信號。
以上，第五實(shí)施方式涉及的邏輯電路5000能夠根據(jù)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542中保持的數(shù)據(jù)，判定32個選擇器500～531中的某一個以上是否是1退化故障狀態(tài)。
此外，第五實(shí)施方式涉及的邏輯電路5000通過僅配置邏輯和電路541和雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542，就實(shí)現(xiàn)了判定32個選擇器是否是1退化故障。即，與對于各選擇器500～531的測試輸出端子122分別配置掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的情況(配置32個雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的情況)相比，能夠大幅度地減少掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數(shù)量。這樣就有削減掃描移動次數(shù)、削減面積和降低時鐘負(fù)荷等的優(yōu)點(diǎn)。
此外，通過使向各選擇器的輸入信號的狀態(tài)變化，看邏輯和電路541的輸出狀態(tài)，就能夠判斷選擇器500～531中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號551自身已成為1退化故障狀況。從而，通過確認(rèn)掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器542的值，就能夠容易地判斷選擇器500～531中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號551自身已成為1退化故障狀況。
再有，在上述說明中，關(guān)于數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障的情況進(jìn)行了說明，但同樣地能夠檢測選擇器500～531中的某一個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子112或113的1退化故障。此外，能夠容易地判斷數(shù)據(jù)選擇信號552或553變?yōu)?退化故障狀態(tài)。
此外，在上述說明中，邏輯電路5000使用了邏輯和電路541，但不限定于該結(jié)構(gòu)。例如，也可以使用邏輯或非電路等。此外，作為選擇器500～531，也可以使用第二實(shí)施方式涉及的選擇器200，也可以使用邏輯積電路或邏輯與非電路等。
(第六實(shí)施方式)在第六實(shí)施方式中，關(guān)于成批檢測具有多個第三實(shí)施方式涉及的選擇器300的多位的選擇器的故障的邏輯電路進(jìn)行說明。
圖7是示出本發(fā)明的第六實(shí)施方式涉及的邏輯電路的結(jié)構(gòu)的圖。
圖7中示出的邏輯電路6000具有32個選擇器600～631、邏輯和電路641和雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642。
選擇器600～631分別是圖4中示出的選擇器300。向選擇器600～631的數(shù)據(jù)選擇端子111供給數(shù)據(jù)選擇信號651，向數(shù)據(jù)選擇端子112供給數(shù)據(jù)選擇信號652，向數(shù)據(jù)選擇端子113供給數(shù)據(jù)選擇信號653。此外，向選擇器600～631的模式選擇端子114供給模式輸入信號654，向模式選擇端子315供給模式輸入信號655。
此外，選擇器600～631的數(shù)據(jù)輸入端子101分別與數(shù)據(jù)輸入端子6100～6131連接，數(shù)據(jù)輸入端子102分別與數(shù)據(jù)輸入端子6200～6231連接，數(shù)據(jù)輸入端子103分別與數(shù)據(jù)輸入端子6300～6331連接。此外，選擇器600～631的數(shù)據(jù)輸出端子121分別與數(shù)據(jù)輸出端子6400～6431連接。即，選擇器600～631作為根據(jù)共通的控制信號進(jìn)行共通的工作的32位的選擇器進(jìn)行工作。
邏輯和電路641是32輸入的邏輯和電路，在輸入上連接選擇器600～631的測試輸出端子122。即，在選擇器600～631中的1個以上向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”的情況下，邏輯和電路641輸出邏輯值“1”，在選擇器600～631全部向測試輸出端子122輸出邏輯值“0”的情況下，邏輯和電路641輸出邏輯值“0”。
雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642是掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，掃描數(shù)據(jù)輸入端子SI與邏輯和電路641的輸出連接。
此外，選擇器600～631的各個測試輸出端子122與32輸入的邏輯和電路641的輸入連接。邏輯和電路641的輸出與掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642的掃描數(shù)據(jù)輸入端子連接。
關(guān)于各個選擇器600～631的工作，已經(jīng)在第三實(shí)施方式中說明過了，因此在此省略說明，但在模式輸入信號654是“0”和模式輸入信號655是“0”時，作為正常工作即32位的選擇器進(jìn)行工作，分別從測試輸出端子122輸出“0”。
此外，在模式輸入信號654是“1”和模式輸入信號655是“0”時，與第五實(shí)施方式同樣地成為測試工作，即能夠檢查32位的選擇器的數(shù)據(jù)多路選擇狀態(tài)的模式。
如在第五實(shí)施方式中說明的，在測試工作模式時，選擇器600～631在數(shù)據(jù)選擇端子111～113的某一個有1退化故障，輸出中間電位的情況下，向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”。這樣，在沒有故障的情況下，通過輸入向測試輸出端子122輸入輸出邏輯值“0”的圖形，就能夠檢測選擇器600～631的1退化故障。此外，各選擇器600～631的測試輸出端子122與邏輯和電路641的輸入連接。這樣，就在選擇器600～631中的1個以上的選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，或者數(shù)據(jù)選擇信號651變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，邏輯和電路641輸出“1”。此外，在全部的選擇器600～631正常工作，向測試輸出端子122輸出了“0”的情況下，邏輯和電路641輸出“0”。從雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642的掃描數(shù)據(jù)輸入端子SI向雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642取入邏輯和電路641的輸出信號。
此外，如在第三實(shí)施方式中說明的，在模式輸入信號654是“1”和模式輸入信號655是“1”時，成為數(shù)據(jù)無選擇測試工作、即能夠檢查32位的選擇器的數(shù)據(jù)無選擇狀態(tài)的模式。
在數(shù)據(jù)無選擇測試工作中，在數(shù)據(jù)選擇端子111有0退化故障，數(shù)據(jù)輸出端子121成為高阻抗?fàn)顟B(tài)的情況下，選擇器600～631向測試輸出端子122輸出邏輯值“1”。這樣，在沒有故障的情況下，通過向測試輸出端子122輸入輸出邏輯值“0”的圖形，就能夠檢測選擇器600～631的0退化故障。此外，各選擇器600～631的測試輸出端子122與邏輯和電路641的輸入連接。這樣，就在選擇器600～631中的1個以上的選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，或者數(shù)據(jù)選擇信號651變?yōu)?退化故障狀態(tài)的情況下，邏輯和電路641輸出“1”。此外，在全部的選擇器600～631正常工作，向測試輸出端子122輸出了“0”的情況下，邏輯和電路641輸出“0”。從雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642的掃描數(shù)據(jù)輸入端子SI向雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642取入邏輯和電路641的輸出信號。
以上，第六實(shí)施方式涉及的邏輯電路6000能夠根據(jù)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642中保持的數(shù)據(jù)，判定32個選擇器600～631中的某一個以上是否是1退化故障狀態(tài)。另外，第六實(shí)施方式涉及的邏輯電路6000能夠根據(jù)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642中保持的數(shù)據(jù)，判定32個選擇器600～631中的某一個以上是否是0退化故障狀態(tài)。
此外，第六實(shí)施方式涉及的邏輯電路6000通過僅配置邏輯和電路641和雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642，就實(shí)現(xiàn)了判定32個選擇器是否是1退化故障或0退化故障。即，與對于各選擇器600～631的測試輸出端子122分別配置掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的情況(配置32個雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的情況)相比，能夠大幅度地減少掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器的數(shù)量。這樣有削減掃描移動次數(shù)、削減面積和降低時鐘負(fù)荷等的優(yōu)點(diǎn)。
此外，通過使向各選擇器的輸入信號的狀態(tài)變化，看邏輯和電路641的輸出狀態(tài)，就能夠判斷選擇器600～631中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號651自身已成為1退化故障狀況。從而，通過確認(rèn)掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642的值，就能夠容易地判斷選擇器600～631中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號651自身已成為1退化故障。同樣地，通過使向各選擇器的輸入信號的狀態(tài)變化，看邏輯和電路641的輸出狀態(tài)，就能夠判斷選擇器600～631中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是0退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號651自身已經(jīng)變?yōu)榱?退化故障狀況。從而，通過確認(rèn)掃描對應(yīng)雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器642的值，就能夠容易地判斷選擇器600～631中的哪個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子111是0退化故障，或者數(shù)據(jù)選擇信號651自身已經(jīng)變?yōu)榱?退化故障狀況。
再有，在上述說明中，關(guān)于數(shù)據(jù)選擇端子111是1退化故障或0退化故障的情況進(jìn)行了說明，但同樣地能夠檢測選擇器600～631中的某一個選擇器的數(shù)據(jù)選擇端子112或113的1退化故障或0退化故障。此外，能夠容易地判斷數(shù)據(jù)選擇信號652或653變?yōu)?退化故障或0退化故障狀態(tài)。
此外，在上述說明中，邏輯電路6000使用了邏輯和電路641，但不限定于該結(jié)構(gòu)。例如，也可以使用邏輯或非電路等。此外，作為選擇器600～631，也可以使用第四實(shí)施方式涉及的選擇器400，也可以使用邏輯積電路或邏輯與非電路等。
盡管上面僅詳細(xì)地描述了本發(fā)明的一些示例性的實(shí)施例，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員會很容易地認(rèn)識到，在不脫離本發(fā)明的創(chuàng)新性和優(yōu)點(diǎn)的情況下可以在示例性的實(shí)施例中作出許多改變。因此，所有這類改變都應(yīng)包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。
工業(yè)上的可利用性本發(fā)明能夠適用于測試電路、選擇器和半導(dǎo)體集成電路，特別是能夠適用于在要求高集成和高速工作的半導(dǎo)體集成電路中使用的選擇器和測試電路。
權(quán)利要求
1.一種測試電路，進(jìn)行輸出與同一節(jié)點(diǎn)連接的第一三態(tài)元件和第二三態(tài)元件的測試，其特征在于，具有測試輸出端子；測試單元，根據(jù)上述節(jié)點(diǎn)的電壓與閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值，在上述第一三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述節(jié)點(diǎn)上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
2.一種選擇器，具有檢測故障的測試模式，其特征在于，具有數(shù)據(jù)輸出端子；測試輸出端子；第一三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；第二三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；測試單元，在測試模式時，根據(jù)上述數(shù)據(jù)輸出端子的電壓和閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值，在測試模式時，在上述第一三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述數(shù)據(jù)輸出端子上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
3.如權(quán)利要求2所述的選擇器，其特征在于，上述測試單元具有半導(dǎo)體開關(guān)，一端與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接，在測試模式時導(dǎo)通，在測試模式以外時關(guān)斷；變換器，輸入與上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端連接，輸出與上述測試輸出端子連接。
4.如權(quán)利要求3所述的選擇器，其特征在于，上述第一邏輯值是邏輯值“1”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地；上述第一p型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第一n型晶體管的驅(qū)動能力。
5.如權(quán)利要求4所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二n型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第二p型晶體管的驅(qū)動能力。
6.如權(quán)利要求3所述的選擇器，其特征在于，上述第一邏輯值是邏輯值“0”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一n型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第一p型晶體管的驅(qū)動能力。
7.如權(quán)利要求6所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二p型晶體管的驅(qū)動能力高于上述第二n型晶體管的驅(qū)動能力。
8.如權(quán)利要求3所述的選擇器，其特征在于，上述第一邏輯值是邏輯值“1”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
9.如權(quán)利要求8所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
10.如權(quán)利要求3所述的選擇器，其特征在于，上述第一邏輯值是邏輯值“0”，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
11.如權(quán)利要求10所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
12.如權(quán)利要求2所述的選擇器，其特征在于，在測試模式時，在上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件的輸出成為高阻抗的情況下，上述測試單元向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
13.如權(quán)利要求4所述的選擇器，其特征在于，上述測試單元還包括向柵極輸入測試模式時成為邏輯值“1”的信號、在漏極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端、源極接地的第三n型晶體管。
14.如權(quán)利要求6所述的選擇器，其特征在于，上述測試單元還包括向柵極輸入測試模式時成為邏輯值“0”的信號、在漏極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端、在源極上連接電源的第三p型晶體管。
15.一種半導(dǎo)體集成電路，其特征在于，包括具有檢測故障的測試模式的多個選擇器，上述各選擇器具有數(shù)據(jù)輸出端子；測試輸出端子；第一三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；第二三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；測試單元，在測試模式時，根據(jù)上述數(shù)據(jù)輸出端子的電壓和閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值，在測試模式時，在上述第一三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述數(shù)據(jù)輸出端子輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述數(shù)據(jù)輸出端子上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。上述半導(dǎo)體集成電路還包括邏輯電路，所述邏輯電路在上述多個選擇器中的一個以上向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值的情況下，輸出第三邏輯值，在上述多個選擇器的全部輸出上述第二邏輯值的情況下，輸出與上述第三邏輯值不同的第四邏輯值。
16.如權(quán)利要求15所述的半導(dǎo)體集成電路，其特征在于，還包括數(shù)據(jù)輸入端子與上述邏輯電路的輸出連接的掃描對象的雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器。
17.一種選擇器，具有檢測故障的測試模式，其特征在于，具有數(shù)據(jù)輸出端子；測試輸出端子；第一三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；第二三態(tài)元件，輸出與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接；半導(dǎo)體開關(guān)，一端與上述數(shù)據(jù)輸出端子連接，根據(jù)是否是測試模式，轉(zhuǎn)換導(dǎo)通/關(guān)斷；變換器，輸入與上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端連接，輸出與上述測試輸出端子連接。
18.如權(quán)利要求17所述的選擇器，其特征在于，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
19.如權(quán)利要求18所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
20.如權(quán)利要求17所述的選擇器，其特征在于，上述變換器具有第一p型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，在源極上連接電源；第一n型晶體管，在柵極上連接上述半導(dǎo)體開關(guān)的另一端，在漏極上連接上述測試輸出端子，源極接地，上述第一p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第一n型晶體管的選通脈沖寬度的1.1倍以下。
21.如權(quán)利要求20所述的選擇器，其特征在于，上述第一三態(tài)元件和上述第二三態(tài)元件具有第二p型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給高電平的電壓；第二n型晶體管，向上述數(shù)據(jù)輸出端子供給低電平的電壓；上述第二p型晶體管的選通脈沖寬度是上述第二n型晶體管的選通脈沖寬度的4.4倍以上。
全文摘要
本發(fā)明涉及的測試電路是進(jìn)行輸出與同一節(jié)點(diǎn)連接的第一三態(tài)元件和第二三態(tài)元件的測試的測試電路，具有測試輸出端子和測試單元，該測試單元根據(jù)上述節(jié)點(diǎn)的電壓與閾值的大小，向上述測試輸出端子輸出第一邏輯值或第二邏輯值，在上述第一三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出高電平的信號，并且上述第二三態(tài)元件要向上述節(jié)點(diǎn)輸出低電平的信號的情況下，上述測試單元將上述節(jié)點(diǎn)上出現(xiàn)的中間電位轉(zhuǎn)換為第一邏輯值，向上述測試輸出端子輸出上述第一邏輯值。
文檔編號G01R31/28GK101089644SQ20071011000
公開日2007年12月19日 申請日期2007年6月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年6月14日
發(fā)明者井上源一郎 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社