專利名稱：一種dc/dc模塊老化測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及老化測試電路，更具體地說，涉及一種DC/DC模塊老化 測試電路。
背景技術(shù)：
目前電源產(chǎn)品的老化測試一般用電阻或回饋模塊作為電源產(chǎn)品的負載來 老化，但電阻做負載的缺點是老化成本高，電能完全損耗掉，回饋模塊做負載 的缺點是設(shè)備成本高，且回饋效率低。
實用新型內(nèi)容
本實用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種 DC/DC模塊老化測試電路。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是構(gòu)造一種DC/DC模塊 老化測試電路，被測試的DC/DC模塊的輸出端通過回饋電路連接到輸入端。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是一可 調(diào)電阻，所述可調(diào)電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和正輸入端之間或 連接在所述DC/DC模塊的負輸出端和負輸入端之間。所述可調(diào)電阻包括:MOS 管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模塊的正輸出端相連、漏 極連接到所述DC/DC模塊的正輸入端、柵極連接到所述控制電路；或所述 MOS管的源極與DC/DC模塊的負輸出端相連、漏極連接到DC/DC模塊的負 輸入端、柵極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是可調(diào) 電阻，所述可調(diào)電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊的正輸出端連接、第一 輸出端與所述DC/DC模塊的正輸入端連接，第二輸入端與所述DC/DC模塊 的負輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC模塊的負輸入端連接。所述可調(diào) 電阻包括:第一、二MOS管和控制電路;所述第一MOS管的源極與所述DC/DC 模塊的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊的正輸入端、柵極連接到 所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與所述DC/DC模塊的負輸出端相連、 漏極連接到所述DC/DC模塊的負輸入端、柵極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是固定 電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和正輸入端之間，在 電源的正輸入端和所述DC/DC模塊的正輸入端之間連接有可調(diào)電阻；或所述 固定電阻連接在所述DC/DC模塊的負輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸 入端和所述DC/DC模塊的負輸入端之間連接有所述可調(diào)電阻。所述可調(diào)電阻 包括MOS管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與 所述DC/DC模塊的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路；或所述MOS 管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊的負輸入端連接、柵 極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路包括第 一、二固定電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和所 述DC/DC模塊的正輸入端之間，所述第二固定電阻連接在所述DC/DC模塊 的負輸出端和所述DC/DC模塊的負輸入端之間；在電源的輸入端和所述 DC/DC模塊的輸入端之間連接有可調(diào)電阻。所述可調(diào)電阻包括第一、二MOS 管和控制電路；所述第一 MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述 DC/DC模塊的正輸入端連接、柵極連接至+所述控偉l他路；所述第二MOS管的 源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊的負輸入端連接、柵極連 接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述DC/DC模塊包 括一個DC/DC變換器或串聯(lián)連接的至少兩個DC/DC變換器。
實施本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路，具有以下有益效果電能 利用率高，設(shè)備成本低，且回饋效率高。


下面將結(jié)合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中
圖1是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第一實施例的邏輯框圖2是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第二實施例的邏輯框圖3是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第三實施例的邏輯框圖4是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第四實施例的邏輯框圖5是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第五實施例的邏輯框圖6是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第六實施例的邏輯框圖-,
具體實施方式
如圖1、 2、 3、 4、 5、 6所示，在本實用新型的DC/DC模塊老化測試電 路中，被測試的DC/DC模塊1的輸出端通過回饋電路2連接到輸入端。
如圖1所示的實施方式中，所述回饋電路2是一可調(diào)電阻，所述可調(diào)電阻 連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和正輸入端之間。所述可調(diào)電阻包括 MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模塊1的正輸出端相 連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的正輸入端、柵極連接到所述控制電路。
如圖2所示的實施方式中，所述回饋電路2是一可調(diào)電阻，所述可調(diào)電阻 連接在所述DC/DC模塊1的負輸出端和負輸入端之間。所述可調(diào)電阻包括 MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與DC/DC模塊1的負輸出端相連、 漏極連接到DC/DC模塊1的負輸入端、柵極連接到所述控制電路。
如圖3所示的實施方式中，進一步地，所述回饋電路2是可調(diào)電阻，所述 可調(diào)電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊1的正輸出端連接、第一輸出端與 所述DC/DC模塊1的正輸入端連接，第二輸入端與所述DC/DC模塊1的負 輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接。所述可調(diào)電 阻包括第一、二 MOS管和控制電路；所述第一 MOS管的源極與所述DC/DC 模塊1的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的正輸入端、柵極連 接到所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與所述DC/DC模塊1的負輸出 端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的負輸入端、柵極連接到所述控制電 路。
如圖4所示的實施方式中，所述回饋電路2是固定電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和正輸入端之間，在電源的正輸入端和所 述DC/DC模塊1的正輸入端之間連接有可調(diào)電阻；所述可調(diào)電阻包括MOS 管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC 模塊1的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
如圖5所示的實施方式中，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的負 輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸入端和所述DC/DC模塊1的負輸入端 之間連接有所述可調(diào)電阻。所述可調(diào)電阻包括MOS管和控制電路，所述MOS 管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接、 柵極連接到所述控制電路。
如圖6所示的實施方式中，進一步地，所述回饋電路2包括第一、二固定 電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和所述DC/DC 模塊1的正輸入端之間，所述第二固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的負輸 出端和所述DC/DC模塊1的負輸入端之間；在電源的輸入端和所述DC/DC 模塊1的輸入端之間連接有可調(diào)電阻。所述可調(diào)電阻包括第一、二MOS管和 控制電路；所述第一MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC 模塊l的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路；所述第二MOS管的源極 與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接、柵極連接 到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述DC/DC模塊1 包括一個DC/DC變換器或串聯(lián)連接的至少兩個DC/DC變換器。
如DC/DC變換器為700W，效率為86%，那么輸入電壓為54V的情況下，
輸入電流為15A，兩個模塊輸入電流為30A，如果我們設(shè)置調(diào)節(jié)電阻為(56-54)
/24=0.083歐姆，那么回饋電流為24A，同樣老化功率的情況下，輸入電流只
需要6A。老化700W的DC/DC變換器原來需要輸入功率54*15=810\￥，現(xiàn)在
只需要54*3=162百，節(jié)能80%。
實際上一次電源的輸出是可調(diào)節(jié)的，我們考慮二次模塊的輸出誤差為
O.IV，那么兩個串聯(lián)的誤差為0.2V， 一次電源系統(tǒng)的輸出誤差為O.IV，再考
慮到接觸電阻壓差，線上損耗，那么一次電源輸出和兩個DC/DC變換器的串
聯(lián)電壓差為IV，那么兩個DC/DC變換器的1400W輸出功率，除了
25A"V二25W損耗外，其余的1375W都回饋了，效率98.2%。
進一步地，在本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路中用一智能器件(單 片機或D S P )控制功率器件在線性狀態(tài)，并采樣DC/DC模塊的輸出電流， 輸出電壓和其他老化信息，將采集到的信息上報給運行于P C機的后臺軟件， 可以做到老化監(jiān)控和老化模式的柔性(老化負載可動態(tài)跳變)。
權(quán)利要求1、一種DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，被測試的DC/DC模塊(1)的輸出端通過回饋電路(2)連接到輸入端。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述回饋電路(2)是一可調(diào)電阻，所述可調(diào)電阻連接在所述DC/DC模塊(1) 的正輸出端和正輸入端之間或連接在所述DC/DC模塊(1 )的負輸出端和負輸 入端之間。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述可調(diào)電阻包括MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模 塊(1)的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1)的正輸入端、柵 極連接到所述控制電路；或所述MOS管的源極與DC/DC模塊(1 )的負輸出 端相連、漏極連接到DC/DC模塊(1)的負輸入端、柵極連接致所述控帝J電路。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述回饋電路(2)是可調(diào)電阻，所述可調(diào)電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊(1)的正輸出端連接、第一輸出端與所述DC/DC模塊(1)的正輸入端連接， 第二輸入端與所述DC/DC模塊(1)的負輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC 模塊(1)的負輸入端連接。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述可調(diào)電阻包括第一、二MOS管和控制電路；所述第一MOS管的源極與 所述DC/DC模塊(1)的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1) 的正輸入端、柵極連接到所述控制電路;所述第二MOS管的源極與所述DC/DC 模塊(1)的負輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1)的負輸入端、 柵極連接到所述控制電路。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述回饋電路(2)是固定電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的 正輸出端和正輸入端之間，在電源的正輸入端和所述DC/DC模塊(1)的正輸 入端之間連接有可調(diào)電阻；或所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的負輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸入端和所述DC/DC模塊(1)的負輸入 端之間連接有所述可調(diào)電阻。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述可調(diào)電阻包括MOS管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連 接、漏極與所述DC/DC模塊(1 )的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路; 或所述MOS管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊(1)的 負輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征在于，所 述回饋電路(2)包括第一、二固定電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC 模塊(1)的正輸出端和所述DC/DC模塊(1)的正輸入端之間，所述第二固 定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的負輸出端和所述DC/DC模塊(1)的 負輸入端之間；在電源的輸入端禾U所述DC/DC模塊(1)的輸入端之間連接有 可調(diào)電阻。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的DC/DC模塊老化 試電路，其特征在于，所 述可調(diào)電阻包括第一、二MOS管和控制電路；所述第一MOS管的源極與電 源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊(1)的正輸入端連接、柵極連接到 所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述 DC/DC模塊(1)的負輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
10、 根據(jù)權(quán)利要求1 9任意所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特征 在于，所述DC/DC模塊(1)包括一個DC/DC變換器或串聯(lián)連接的至少兩個 DC/DC變換器。
專利摘要本實用新型涉及一種DC/DC模塊老化測試電路，被測試的DC/DC模塊的輸出端通過回饋電路連接到輸入端。實施本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路電能利用率高，設(shè)備成本低，且回饋效率高。
文檔編號G01R31/40GK201072437SQ20072012134
公開日2008年6月11日 申請日期2007年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月9日
發(fā)明者田志文 申請人:艾默生網(wǎng)絡能源有限公司