專利名稱：測試裝置以及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試裝置以及測試方法，且特別是有關(guān)于一種具 備可分別測試數(shù)個受測元件的控制裝置，且可分別并行測試數(shù)個受測元件 的測試裝置以及測試方法。本發(fā)明與美國專利申請?zhí)?0/403, 817 (申請日西元2003年3月31日) 相關(guān)。對于認(rèn)可美國優(yōu)先權(quán)的國家，該美國申請案的內(nèi)容并入本發(fā)明而視 為本發(fā)明一部分。
背景技術(shù)：
習(xí)知的測試裝置是由一個控制裝置，通過控制總線(總線即為匯流排， 以下皆稱為總線)(bus)提供數(shù)個測試模組(test module)的控制數(shù)據(jù)(數(shù) 據(jù)即為資料，以下皆稱為數(shù)據(jù))，以控制數(shù)個測試模組，并且并行(parallel) 進(jìn)行已連接上測試;漠組的 一個或數(shù)個受測元件的測試。這樣的測試裝置， 例如曰本專利第2583055號說明書、曰本專利第2583056號說明書、曰本 專利第2583057號說明書、曰本專利第2587940號說明書、曰本專利第 2587941號說明書、日本專利第2627751號說明書中所揭露的。當(dāng)測試CPU等復(fù)雜的邏輯回路時，不但測試項(xiàng)目多，而且根據(jù)測試的 結(jié)果，每一個受測元件必須測試不同的測試順序(sequence)。因此，希望葉吏 數(shù)個受測元件并行且獨(dú)立的進(jìn)行測試。然而習(xí)知的裝置中，是以一個控制 裝置并行進(jìn)行數(shù)個受測元件，當(dāng)每一個受測元件要進(jìn)行不同測試順序時，各 測試順序需循序(sequential)處理，因此無法有效率地進(jìn)行測試。再者，即使有以數(shù)個控制裝置測試數(shù)個受測元件的測試裝置，數(shù)個測 試模組和數(shù)個受測元件的連接是固定的話，很難讓接腳(pin)數(shù)等不同的各 種受測元件和控制裝置能 一 直對應(yīng)而測試。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供能解決上述問題的測試裝置及測試方法。此目的 利用組合申請范圍中獨(dú)立項(xiàng)所記載的特征而達(dá)成。而依附項(xiàng)是規(guī)定本發(fā)明的更佳具體范例。為了達(dá)成上述目的，依照本發(fā)明的一觀點(diǎn)，本發(fā)明提供一種測試裝置，適 用于測試數(shù)個受測元件，此測試裝置具備有數(shù)個測試模組、數(shù)個控制裝置 以及連接設(shè)定裝置。其中數(shù)個控制模組與數(shù)個受測元件的任何一個連接，并 供給測試信號給受測元件。控制裝置控制數(shù)個測試模組，且分別并行測試 數(shù)個受測元件。連接設(shè)定裝置以數(shù)個控制裝置分別連接于各個受測元件的 方式，設(shè)定數(shù)個控制裝置與數(shù)個測試模組的連接形式。每一個控制裝置根據(jù)各個受測元件的測試結(jié)果以控制數(shù)個測試模組，并可 對數(shù)個受測元件并行執(zhí)行不同的試驗(yàn)順序。連接設(shè)定裝置亦可在以數(shù)個控制裝置進(jìn)行數(shù)個受測元件的測試之前，根據(jù) 數(shù)個控制裝置中的一個控制裝置的指示，在測試中，設(shè)定數(shù)個控制裝置與 數(shù)個受測元件的連接形式。連接設(shè)定裝置亦可具有串列介面(serial intersurface)以及閑置封包 (IDLE pocket)產(chǎn)生部，其中串列介面將來自測試模組的數(shù)據(jù)封包(data pocket) 傳送給控制裝置，而當(dāng)串列介面未接受來自測試模組的數(shù)據(jù)封包時，為了不 使串列介面?zhèn)魉涂盏拇袛?shù)據(jù)，會由閑置封包產(chǎn)生部提供一 閑置封包。各個控制裝置亦可具備有性能判定測試執(zhí)行部、動作規(guī)格決定部、良 劣判定測試執(zhí)行部以及良劣判定部。其中性能判定測試執(zhí)行部對受測元件 執(zhí)行判定其性能的性能判定測試。動作規(guī)格決定部根據(jù)該性能判定測試的 結(jié)果，以決定受測元件的動作規(guī)格。良劣判定測試執(zhí)行部根據(jù)動作規(guī)格決 定部所決定的動作規(guī)格，對受測元件執(zhí)行良劣判定測試。良劣判定部根據(jù) 良劣判定測試的結(jié)果，依據(jù)動作規(guī)格決定部所決定的動作規(guī)格，判定受測 元件的良劣。而且，依照本發(fā)明的一觀點(diǎn)，本發(fā)明更提供一種測試裝置，適用于測 試受測元件，該測試裝置配備有控制裝置，而控制裝置具有性能判定測試 執(zhí)行部、動作規(guī)格決定部、良劣判定測試執(zhí)行部以及良劣判定部。其中性 能判定測試執(zhí)行部對該受測元件執(zhí)行判定其性能的性能判定測試。動作規(guī) 格決定部根據(jù)該性能判定測試的結(jié)果，以決定該受測元件的動作規(guī)格。良 劣判定測試執(zhí)行部根據(jù)該動作規(guī)4各決定部所決定的該動作規(guī)j格，對該受測 元件執(zhí)行良劣判定測試。良劣判定部根據(jù)良劣判定測試的結(jié)果，依據(jù)動作 規(guī)格決定部所決定的動作規(guī)格，判定受測元件的良劣。性能判定測試執(zhí)行部，對受測元件執(zhí)行判定其記憶體性能的性能判定 測試。當(dāng)記憶體的一部分沒有動作的情況，該動作規(guī)格決定部，亦可將受 測元件的動作規(guī)格之一的記憶體容量，決定成小于記憶體中有動作的部分 的記憶體容量。良劣判定測試執(zhí)行部是把受測元件當(dāng)作具有動作規(guī)格決定 部所決定的記憶體容量的元件，對受測元件執(zhí)行良劣判定測試亦佳。良劣判定部是把受測元件當(dāng)作具有規(guī)格決定部所決定的記憶體容量的元件，判 定受測元件的良劣亦佳。再者，依照本發(fā)明的一觀點(diǎn)，本發(fā)明再提供一種測試方法，適用于以 數(shù)個控制裝置分別并行測試數(shù)個受測元件，其中各個控制裝置的特征為分 別執(zhí)行判定測試執(zhí)行階段、動作規(guī)格決定階段、良劣判定測試執(zhí)行階段以 及良劣判定階段。其中判定測試執(zhí)行階段對受測元件執(zhí)行判定其性能的性 能判定測試。動作規(guī)格決定階段根據(jù)性能判定測試的結(jié)果，而決定該受測 元件的動作規(guī)格。良劣判定測試執(zhí)行階段依據(jù)已經(jīng)決定的動作規(guī)格，對受 測元件執(zhí)行良劣判定測試。良劣判定階段根據(jù)良劣判定測試的結(jié)果，判定 已決定動作規(guī)格的受測元件的良劣。另外，依照本發(fā)明的一觀點(diǎn)，本發(fā)明更再提供一種測試方法，由具備有 數(shù)個測試模組與數(shù)個控制裝置的測試裝置所執(zhí)行，數(shù)個測試模組連接任何 一個受測元件并將測試信號供給連接的受測元件，而數(shù)個控制裝置控制數(shù) 個測試模組并測試數(shù)個受測元件。其中測試方法具有連接切換設(shè)定lt據(jù)取 得階段、連接形式設(shè)定階段以及測試階段。連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)取得階段取 得表示數(shù)個控制裝置與數(shù)個測試模組的連接形式的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)。連 接形式設(shè)定階段根據(jù)連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)，以將各個控制裝置分別與各個受 測元件連接的方式，而設(shè)定數(shù)個控制裝置與數(shù)個測試模組的連接形式。測 試階段由數(shù)個控制裝置控制數(shù)個測試模組且分別并行測試數(shù)個受測元件。為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉 較佳實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。


圖1是測試裝置10的一例的組成表示圖。圖2是測試裝置10的一例的組成表示圖。圖3是分站控制裝置130的一例的機(jī)能組成表示圖。圖4是連接設(shè)定裝置140的硬體組成的一例表示圖。圖5是連接設(shè)定裝置140的硬體組成的一例表示圖。圖6是組態(tài)暫存器250的數(shù)據(jù)組成的一例表示圖。圖7是連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)的一例表示圖。10:測試裝置 1Q0a-d:受測元件110:系統(tǒng)控制裝置 120:通訊網(wǎng)路130a h:分站控制裝置 140:連接設(shè)定裝置150a g:測試才莫組 160a~d:載斗反170:性能判定測試執(zhí)行部 180:動作規(guī)4各決定部190:測試條件儲存部 200:良劣判定測試執(zhí)行部205:良劣判定部220a ~h: FIFO暫存器記憶體210a ~h: 0/E解碼器 230a ~h: FIFO控制器 250:組態(tài)暫存器240:組態(tài)控制器 260a~g:多工器270a ~g: 0/E解碼器 290a ~g: FIFO控制器 310a ~h:仲裁器280a ~g: FIFO暫存器記憶體 300a ~h:多工器320 a~h:閑置封包產(chǎn)生部具體實(shí)施方式
以下雖通過本發(fā)明的實(shí)施例說明本發(fā)明，但本發(fā)明的申請專利范圍并 非限定為本實(shí)施例。本發(fā)明對于解決課題所采用的手段，亦不限定須為實(shí) 施例中所說明的所有特征的組合。圖1及圖2表示關(guān)于本發(fā)明實(shí)施例測試裝置10的組成圖。測試裝置10 產(chǎn)生測試信號并將此信號供給DUT100(受測元件，Device Under Test)，DUTlOO依測試信號作動的結(jié)果而輸出結(jié)果信號，沖艮據(jù)該結(jié)果信號是 否與期待值一致，以判斷DUT100的良劣。本實(shí)施例的測試裝置10根據(jù)開 放架構(gòu)(open architecture)而實(shí)現(xiàn)，作為供《合測試信號^合DUT100的測試 模組150 a~g，可以根據(jù)開放架構(gòu)以使用模組。于是，連接設(shè)定裝置140 按照DUT100的接腳數(shù)、載板(load board) 160a ~d的配線形式、測試模 組150 a~g的種類等，以設(shè)定分站控制裝置(site controller) 130與測試才莫 組150 a ~ g的連接形式。因此，測試裝置10中,分站控制裝置130與DUT100 是以一對一的對應(yīng)方式連接，一個分站控制裝置測試一個DUTIOO。因此，數(shù) 個分站控制裝置130a h可并行測試數(shù)個DUT10(),而且，數(shù)個分站控制裝 置a ~ h可以按照個別DUT100的性能以執(zhí)行不同的測試順序。測試裝置10具備系統(tǒng)控制裝置110、通訊網(wǎng)路120、分站控制裝置 130a ~h、連接設(shè)定裝置140、測試模組150a-f、以及載板160a d,并且 連接在DUT100a ~d上。測試裝置10通過使用于DUT100的測試控制程式(program)、測試程式 以及測試數(shù)據(jù)(data)等外部網(wǎng)路等接受信號，并由系統(tǒng)控制裝置IIO儲存這 些信號。通訊網(wǎng)路120連接系統(tǒng)控制裝置110與分站控制裝置130a ~h，以 傳遞其間的通i凡。分站控制裝置130a~h是關(guān)于本發(fā)明控制裝置的一個例子，控制數(shù)個 測試模組，且分別并行測試數(shù)個DUTIOO。以此方式，數(shù)個分站控制裝置 130a h個別控制每一個DUT100的測試。例如，在圖1中，分站控制裝置 130a與連接在DUT100a上的測試模組150a ~ f相連接，以控制DUT100a的 測試。而在圖2中，分站控制裝置130a與連接在DUTlOOb上的測試模組150a ~b相連接，以控制DUT100b的測試。分站控制裝置130b與連接在 DUT100c上的測試才莫組150c ~ d相連接，以控制DUT100c的測試。更具體而言，分站控制裝置130a~h通過通訊網(wǎng)路120從系統(tǒng)控制裝 置110取得并執(zhí)行測試控制程式。然后，分站控制裝置130a~h根據(jù)測試 控制程式，從系統(tǒng)控制裝置110取得使用于DUT100a ~ d的測試程式及測試 數(shù)據(jù)，并通過連接設(shè)定裝置140將應(yīng)使用于DUTIOO的測試儲存于測試模組 150a~f。然后，分站控制裝置130a h通過連接設(shè)定裝置14Q，根據(jù)測試 程式及測試數(shù)據(jù)對測試模組150a ~f下達(dá)測試開始的指令。然后，分站控 制裝置130a~h會產(chǎn)生測試結(jié)束的中斷指令等，例如從測試模組150a~f 接受信號，根據(jù)測試結(jié)果使各個模組進(jìn)行下一個測試。也就是說，數(shù)個分 站控制裝置130a ~ h "J安照個別的測試結(jié)果以控制測試^^組150a ~ f,并且對 數(shù)個DUTIOO并行執(zhí)行不同的測試順序。連接設(shè)定裝置140是用以個別連接數(shù)個分站控制裝置130a ~h與數(shù)個 DUTIOO,而設(shè)定數(shù)個分站控制裝置130a ~h與數(shù)個測試模組150a ~f的連 接形式。意即，數(shù)個分站控制裝置130a~h，分別與分站控制裝置130a~h 所分別控制的測試模組150a ~ f的任何一個相連接，以傳遞其間的通訊。連接設(shè)定裝置140，在以數(shù)個分站控制裝置13Oa ~ h測試數(shù)個DUTIOO 之前，根據(jù)數(shù)個分站控制裝置130a ~h中的一個分站控制裝置130的指 示，設(shè)定以數(shù)個分站控制裝置130a ~h的DUTIOO測試中，數(shù)個分站控制裝 置130a h與數(shù)個測試模組150a f的連接形式。例如圖2中，分站控制裝 置130a :沒定成連4妄凄t個測試才莫組150a ~ b,并以此寺丸4于DUT100b的測試。而 且，分站控制裝置130b設(shè)定成連接數(shù)個測試模組150c ~d,并以此執(zhí)行 DUT100c的測試。數(shù)個DUTIOO裝載于載板16Ga ~ d上，且數(shù)個測試才莫組150a ~ f與所對 應(yīng)的DUTIOO端子連接。圖2中所示的分站控制裝置130a~h使用數(shù)個測試模組150a ~f以測 試DUT100b d的組成及動作，與圖l中表示的，分站控制裝置130a使用數(shù)個 測試;漠組150a ~ f以測試DUT100a的組成及動作大致相同，因此，以下，除 去圖l與圖2的相異點(diǎn)，在圖1中說明分站控制裝置130a用以測試DUT100a 的中心組成及動作。數(shù)個測試模組150a ~ f與DUT100a的數(shù)個端子的各部分別連接，并根據(jù) 分站控制裝置130a儲存的測試程式及測試數(shù)據(jù)，進(jìn)行DUT100a的測試。于 DUT100a的測試中，測試模組150a ~ f是根據(jù)由測試程式所決定的順序，從 測試數(shù)據(jù)中產(chǎn)生測試信號，并將信號供給予分別與測試模組150a ~f連接 的DUT100a的端子。取得DUT100a才艮據(jù)測試信號作動的結(jié)果而輸出的信號 后與期待值做比較，并儲存比較的結(jié)果。而且，測試模組150a~f在測試程式處理終了的時候，或者是測試程 式執(zhí)行中發(fā)生異常的時候等等，會對分站控制裝置130a發(fā)生中斷訊息，這 個中斷訊息，通過連接設(shè)定裝置140通知與測試模組150a ~f對應(yīng)的分站 控制裝置130a,由具有處理器(processor)的分站控制裝置執(zhí)行中斷。根據(jù)以上敘述，測試裝置10以開放架構(gòu)而實(shí)現(xiàn)并可使用滿足開放架構(gòu) Mi各的各種模組。因此,測試裝置10可在連接設(shè)定裝置140所具有的任意連接 槽(slot)中插入并使用測試模組150a ~ f 。此時，測試裝置的使用者等，例如 通過分站控制裝置130a，變更連接設(shè)定裝置140的連接形式，可將用于 DUTIOO的數(shù)個測試模組150a ~f連接上控制DUTIOO測試的分站控制裝置 130a ~h中任何一個。以此方式，測試裝置10的使用者按照數(shù)個DUTIOO的 任一個端子數(shù)、端子的配置、端子的種類或測試的種類等，數(shù)個分站控制 裝置130a ~ h與測試模組150a ~ f適當(dāng)?shù)剡B接，并且使分站控制裝置130與 DUTIOO —對一的對應(yīng)，可以獨(dú)立的并行進(jìn)行數(shù)個DUT100的測試。因此，對 數(shù)個DUTIOO而言，不但以不同的測試順序測試，且藉由數(shù)個DUTIOO并行 進(jìn)行測試的方式，可縮短測試進(jìn)行的時間。圖3表示的是關(guān)于本實(shí)施例分站控制裝置130的機(jī)能組成的一個例子。每 一個分站控制裝置130a ~h皆具有性能判定測試^Vf于部170、動作身見格決定部 180、測試^f牛儲存部190、良劣判定測試執(zhí)行部200以及良劣判定部205。其 中，性能判定測試^Vf于部170對DUTIOO扭^于性能判定測試并判定其性能。動作 規(guī)格決定部180決定DUTIOO的動作規(guī)格。測試條件儲存部190是對應(yīng)于 DUTIOO的動作規(guī)格儲存良劣判定測試的測試條件的種類。良劣判定測試執(zhí) 行部2 00對DUT100執(zhí)行良劣判定測試。良劣判定部2 05以動作規(guī)格決定部 180決定的動作判定DUTIOO的良劣。性能判定測試執(zhí)行部170使測試模組150 a ~ g執(zhí)行判定DUTIOO性能 的性能判定測試，如DUTIOO的記憶體(memory)性能的記憶體容量(例如快 取記憶體的大小(cache size))、動作頻率、系統(tǒng)總線頻率、容許電壓、消 耗電力、對系統(tǒng)總線的驅(qū)動(drive)能力等。而動作規(guī)格決定部180，根據(jù) 由性能判定測試執(zhí)行部170的性能判定測試的結(jié)果，決定作為DUTIOO動作 規(guī)格的記憶體容量、動作頻率、系統(tǒng)總線頻率、容許電壓、消耗電力，驅(qū)動 (drive)能力等。例如，當(dāng)DUTIOO—部分的記憶體沒有動作時，屬于DUTIOO 動作規(guī)格其中之一的記憶體容量，會決定成小于DUTIOO的記憶體中有動作 的部分的記憶體容量。良劣判定測試執(zhí)行部200從測試條件儲存部190,按照動作規(guī)格決定部 180所決定的動作規(guī)格，選擇良劣判定測試的測試條件，并按照動作規(guī)格決 定部180所決定的動作規(guī)格，使測試模組150 a ~ g執(zhí)行良劣判定測試。具 體而言，把DUTIOO當(dāng)作具有動作規(guī)格決定部180所決定的記憶體容量，并且以動作規(guī)J各決定部180所決定的動作頻率、系統(tǒng)總線頻率、容許電壓、消 耗電力以及/或驅(qū)動能力動作的元件，對DUT100執(zhí)行良劣判定測試。然后， 良劣判定部205，根據(jù)良劣判定測試執(zhí)行部200良劣判定測試的結(jié)果，把 DUT100當(dāng)作具有動作規(guī)格決定部180所決定的記憶體容量，并且以動作規(guī) 格決定部180所決定的動作頻率、系統(tǒng)總線頻率、容許電壓、消耗電力以 及/或驅(qū)動能力動作的元件，判定DUT100的良劣。依照本實(shí)施例的分站控制裝置130，根據(jù)DUT100性能的測試結(jié)果，選別 決定的動作規(guī)格，之后，按照被選出的動作規(guī)格依測試順序執(zhí)行測試，可判 定是否滿足所選出動作規(guī)格的條件。再者，藉由數(shù)個分站控制裝置130a~h 與數(shù)個DUTIOO—對一的對應(yīng)，可并行數(shù)個分站控制裝置130a~h，并對數(shù) 個DUTIOO個別不同的測試順序做動作，可使動作規(guī)格的選別以及測試的進(jìn) 行更有效率。圖4表示關(guān)于本實(shí)施例中連接裝置140的硬體(hardware)組成的一 例。圖4所示為連接設(shè)定裝置140的硬體組成中，用以將數(shù)據(jù)由分站控制 裝置130傳送到測試^f莫組150 a g的部分。連接設(shè)定裝置140具有數(shù)個0/E (output enable)解碼器 (decoder) 210a ~ h、數(shù)個FIFO (fist in first out)暫存器記憶體(regi s ter memory) 220a ~ h、數(shù)個FIFO控制器(controller) 230a ~ h、組態(tài)控制器 (configuration controller)240 、 組態(tài)暫存器 (configuration register) 250 、 lt個多工器(mul t iplexer) 260a ~ g及數(shù)個0/E解碼器 270a ~g。數(shù)個0/E解碼器210a~h從數(shù)個分站控制裝置130a ~h各自將命令及 數(shù)據(jù)寫入對應(yīng)的測試模組150a ~f內(nèi)的記錄區(qū)，或接受讀出命令等的控制 數(shù)據(jù)以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，并各自供給予數(shù)個FIFO暫存器記憶體220a ~ h。數(shù) 個FIFO暫存器記憶體220a ~ h取得并暫時保存由各個0/E解碼器210a ~ h 經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換的控制數(shù)據(jù)。數(shù)個FIFO控制器230a-h將來自各個FIFO暫 存器記憶體220a ~ h的控制數(shù)據(jù)讀出，并供給予各個多工器260a ~ g。組態(tài)控制器240取得FIFO控制器230a讀出的控制數(shù)據(jù)中，含有連接 設(shè)定裝置140的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)。而連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)是表示出分站控 制裝置130a ~ h與測試才莫組150a ~ g連接形式的數(shù)據(jù)。組態(tài)暫存器250保存 由組態(tài)控制器240取得的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)，并設(shè)定數(shù)個多工器260a g。數(shù) 個多工器260a g，根據(jù)組態(tài)暫存器250保存的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)，從FIFO 控制器230a ~h所讀出的控制數(shù)據(jù)中選出任一個控制數(shù)據(jù)，并個別供給予 數(shù)個0/E解碼器270a ~ g。數(shù)個0/E解碼器270a ~ g將數(shù)個多工器各自選擇 的控制數(shù)據(jù)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，并將訊號傳送給各自的測試模組150a ~ g。如上所述，由組態(tài)暫存器250保存從分站控制裝置130a供給的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)，以設(shè)定多工器260a~g,以數(shù)個分站控制裝置130a-h與數(shù)個 DUT100 —對一對應(yīng)的方式，可使分站控制裝置130a ~ h與測試模組150a ~ g 連接。圖5表示關(guān)于本實(shí)施例的連接設(shè)定裝置140的硬體組成的一例。圖5 所示為連接設(shè)定裝置140的硬體組成中，用以將數(shù)據(jù)由測試模組150 a~g 傳送到分站控制裝置130的部分，而該數(shù)據(jù)為對寫入命令的應(yīng)答(response) 或?qū)ψx出命令的讀出數(shù)據(jù)等。連接設(shè)定裝置140另外還具有數(shù)個FIFO暫存器記憶體280a ~ g、數(shù)個 FIFO控制器290a ~g、數(shù)個多工器300a ~h、數(shù)個仲裁器(arbitor) 310a ~ h 及數(shù)個閑置封包(idle pocket)產(chǎn)生部320a ~h。且，0/E解碼器210a ~h 是本發(fā)明的串列介面(serial interface)的一個例子，把接受來自于測試 模組150a ~ g的數(shù)據(jù)封包傳送至分站控制裝置130a ~ h。數(shù)個0/E解碼器270a ~ g接受讀出數(shù)據(jù)以做光電轉(zhuǎn)換，并各別供給予 數(shù)個FIFO暫存器記憶體。而前述讀出數(shù)據(jù)是各個測試模組根據(jù)數(shù)個分站控 制裝置130a~h的要求，而輸出表示DUT100測試結(jié)果的讀出數(shù)據(jù)。然后數(shù) 個FIFO暫存器記憶體280a ~ g取得并暫存各個0/E解碼器270a ~ g經(jīng)光電 轉(zhuǎn)換后的讀出數(shù)據(jù)。再由數(shù)個FIFO控制器290a~g讀出來自各個FIFO暫 存器記憶體280a g的讀出數(shù)據(jù)。各個FIFO控制器290a ~ g具有用以對各個多工器300a ~ h要求傳送數(shù) 據(jù)的數(shù)個REQ輸出端子，并對要求傳送數(shù)據(jù)的仲裁器310輸出要求命令 (request command, REQ)。而且，各個FIFO控制器290a ~ g都有GNT輸入 端子，該端子用以接受來自與REQ對應(yīng)的數(shù)個仲裁器(arbiter) 310a ~h的 應(yīng)答，以從要求數(shù)據(jù)傳送的多工器300接受核可命令(grant command, GNT)。數(shù)個FIFO控制器290a ~ g供給讀出數(shù)據(jù)(R-DATA)給任何一個分站控制 裝置130a ~h時，會先供給REQ給對應(yīng)于供給該讀出數(shù)據(jù)的分站控制裝置 130的任一仲裁器310a ~h。仲裁器310a h從任一個FIFO控制器290a ~ g 接受REQ后，根據(jù)組態(tài)暫存器250保存的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)，供給核可命 令(GNT)給FIFO控制器290a ~ g之中允許輸出R—DATA者。然后，已接受GNT 的FIFO控制器290再將R—DATA供給多工器300a ~h。數(shù)個多工器300a h根據(jù)仲裁器310a ~h的控制，分別選出來自FIFO 控制器290的R—DATA,并供給予每一個0/E解碼器210a ~ h。前述FIFO控 制器290是已經(jīng)由仲裁器310a ~ h供給GNT者。數(shù)個0/E解碼器210a ~ h,對每 一個多工器所選擇的R_DATA進(jìn)行電光轉(zhuǎn)換，并將訊息傳送給每一個對應(yīng)的 分站控制裝置。當(dāng)數(shù)個解碼器210a ~ h未接受來自測試模組150a ~ g的數(shù)據(jù)封包時，意 即，當(dāng)仲裁器310a~h未選擇任何一個FIFO控制器2S*0a~g時，為了不產(chǎn)生數(shù)個解碼器210a ~ h傳送空的串列數(shù)據(jù)給測試模組150a ~ g的狀況，閑置 封包產(chǎn)生部320a ~ h會在數(shù)個0/E解碼器210a ~ h所傳送的串列數(shù)據(jù)中插 入閑置封包。而且，多工器300a會取得組態(tài)控制器240從組態(tài)暫存器250 讀出的設(shè)定數(shù)據(jù)，并供給分站控制裝置130a。利用上述方式，仲裁器310a~h根據(jù)組態(tài)暫存器250保存的連接切換 設(shè)定數(shù)據(jù)，選擇多工器300a ~ h要取得讀出數(shù)據(jù)的FIFO控制器290a ~ g,藉 此，分站控制裝置130可從已送出控制數(shù)據(jù)的測^f莫組150 a ~g取得讀出數(shù) 據(jù)。而且，利用閑置封包產(chǎn)生部320a ~h，防止傳送空的串列數(shù)據(jù)給測試才莫 組150a ~ g的方式，可一直維持測試模組150a ~ g的鎖相回路(phase locked loop, PLL)內(nèi)部時月永(clock)的相位鎖定(phase lock),且于測試才莫組150a ~ g的內(nèi)部時脈(clock)中不產(chǎn)生偏移而能傳送高速串列數(shù)據(jù)。圖6表示有關(guān)本實(shí)施例的組態(tài)暫存器250的數(shù)據(jù)組成的一例。組態(tài)暫 存器250是對應(yīng)于位址(address) (17h ~ lEh)的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)(切換選 擇1 切換選擇8)，意即，數(shù)個多工器260保有分別選擇的分站控制裝置 130。例如，儲存在位址17h的切換選擇1是設(shè)定1 ~ 8接點(diǎn)(joint)的多 工器260的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)。儲存在位址18h的切換選擇2是設(shè)定9 ~ 16 接點(diǎn)(joint)的多工器260的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)。組態(tài)暫存器250保有對應(yīng) 于連接設(shè)定裝置140的多工器260的數(shù)量的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)。圖7表示關(guān)于本實(shí)施例的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)260的一例。圖7中并將 圖6所表示的連接切換設(shè)定數(shù)據(jù)(切換選擇1) 300的具體內(nèi)容表示出來。組態(tài)暫存器250對應(yīng)連接設(shè)定裝置140的埠(埠1 ~埠8),以儲存分站 控制裝置130的編號(CPU NO.)以及設(shè)定的有效/無效(ON/OFF)。連接設(shè)定 裝置140的埠(埠1 ~埠8)對應(yīng)1 ~ 8接點(diǎn)的多工器260，分站控制裝置130 的編號(CPU NO.)表示1 8接點(diǎn)的多工器260所選擇的分站控制裝置130。本實(shí)施例中，雖然是由組態(tài)暫存器250儲存連接設(shè)定裝置140的連接 切換設(shè)定的有效/無效，但是以分站控制裝置130控制設(shè)定的有效/無效等 的手段亦可實(shí)現(xiàn)同樣的機(jī)能。利用上述組態(tài)暫存器250的數(shù)據(jù)組成，切換數(shù)個多工器260所選擇的 分站控制裝置130, —對一地對應(yīng)連接分站控制裝置130與DUT100,可實(shí) 現(xiàn)并行數(shù)個分站控制裝置130以執(zhí)行數(shù)個DUT100的測試。產(chǎn)業(yè)利用性由以上清楚的說明，利用本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)數(shù)個受測元件個別并行進(jìn)行測 試的測試裝置及測試方法。雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何 熟習(xí)此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與潤 飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種測試裝置，其特征在于其適用于測試受測元件，且配備有測試該受測元件的分站控制裝置，該分站控制裝置包括性能判定測試執(zhí)行部，用以對該受測元件執(zhí)行判定其性能的性能判定測試；動作規(guī)格決定部，根據(jù)該性能判定測試的結(jié)果，以決定該受測元件的動作規(guī)格；良劣判定測試執(zhí)行部，對該受測元件，根據(jù)該動作規(guī)格決定部所決定的該動作規(guī)格，以執(zhí)行良劣判定測試；以及良劣判定部，根據(jù)該良劣判定測試的結(jié)果，依據(jù)該動作規(guī)格決定部所決定的該動作規(guī)格，判定該受測元件的良劣。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試裝置，其特征在于其中所述的性能判定 測試執(zhí)行部，對該受測元件執(zhí)行判定其記憶體性能的該性能判定測試，且當(dāng)該記憶體的一部分沒有動作時，該動作規(guī)j才各決定部會將該受測元件 的該動作規(guī)格之一的記憶體容量，決定成小于該記憶體中有動作的部分的 記憶體容量，且該良劣判定測試執(zhí)行部是把該受測元件當(dāng)作具有該動作規(guī)格決定部所 決定的記憶體容量的元件，對該受測元件執(zhí)行該良劣判定測試，且該良劣判定部是把該受測元件當(dāng)作具有規(guī)格決定部所決定的該記憶體 容量的元件，判定該受測元件的良劣。
3、 一種測試方法，適用于以數(shù)個分站控制裝置分別并行測試數(shù)個受測 元件，其特征在于每一該些分站控制裝置分別#^行下列階段判定測試執(zhí)行階段，用以對該受測元件執(zhí)行判定其性能的性能判定測試；動作規(guī)格決定階段，根據(jù)該性能判定測試的結(jié)果，而決定該受測元件 的動作規(guī)格；良劣判定測試執(zhí)行階段，依據(jù)已經(jīng)決定的該動作規(guī)格，對該受測元件 執(zhí)行良劣判定測試；以及良劣判定階段，根據(jù)該良劣判定測試的結(jié)果，判定已決定該動作規(guī)格 的該受測元件的良劣。
全文摘要
一種測試裝置(10)，具備有數(shù)個測試模組(150a～g)、數(shù)個分站控制裝置(130)以及連接設(shè)定裝置(140)。其中數(shù)個測試模組(150a～g)與數(shù)個受測元件(100)的任何一個連接，并供給測試信號給受測元件(100)。分站控制裝置(130)控制數(shù)個測試模組(150a～g)，且分別并行測試數(shù)個受測元件(100)。連接設(shè)定裝置(140)以數(shù)個分站控制裝置(130)分別連接于各個受測元件(100)的方式，設(shè)定數(shù)個分站控制裝置(130)與數(shù)個測試模組(150a～g)的連接形式。
文檔編號G01R31/319GK101231325SQ200810006859
公開日2008年7月30日 申請日期2004年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月31日
發(fā)明者市吉清司 申請人:愛德萬測試株式會社