專利名稱：衛(wèi)星整星表面熱控材料原位測試探頭調(diào)整平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種高精度機械位置控制設(shè)備，具體說來，涉及一種用于衛(wèi)星整星表
面熱控材料原位測試探頭的快速調(diào)整平臺。
背景技術(shù)：
為掌握衛(wèi)星在生產(chǎn)過程中以及出廠前表面熱控材料性能的變化情況，從而更好的 確定和判斷衛(wèi)星的性能狀況，目前我國生產(chǎn)的部分衛(wèi)星已經(jīng)開始使用表面原位測量技術(shù)對 熱控性能進行監(jiān)督和控制。這一測試主要靠衛(wèi)星整星表面原位測試工裝來完成，其中的測 試探頭部分由便攜式測試儀配合高精度開關(guān)組成。在測量中，測量的準確性主要靠測試儀 小孔和被測表面的平行度以及距離來保證。為了保證上述兩個因素，目前是通過控制測試 探頭四周的四個高精度開關(guān)的位置來做到的。傳統(tǒng)的做法是，將測試探頭安裝在測試工裝 上，對照測試表面模擬板先確定測試探頭與被測表面的距離和平行程度，然后再反復調(diào)整 四個高精度開關(guān)，直至所有的高精度開關(guān)都在同一適當?shù)钠矫嫔稀Ｓ捎谥苯釉谀M表面附 近調(diào)整開關(guān)位置，不易控制精度，且使四個開關(guān)觸腳處于同一平面十分不易做到，所以往往 導致四個高精度開關(guān)調(diào)整效率和效果都不夠理想。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種調(diào)整平臺，可以高精度、高效率地完成測試探頭位置以 及其四個高精度開關(guān)的調(diào)整，從而大大縮短衛(wèi)星整星表面熱控材料光學性能原位測量的準 備周期，為按時高效、高質(zhì)量的完成每次測量任務提供了有力的支持。
本發(fā)明的可由以下技術(shù)方案完成 —種用于衛(wèi)星整星表面熱控材料原位測試探頭的調(diào)整平臺，調(diào)整平臺的基板呈長 方形，其每個角上均設(shè)置有一個用于調(diào)整高度的調(diào)整螺母，基板的一對相對側(cè)的調(diào)整螺母 之間的基板面上設(shè)置溝槽，在每個溝槽內(nèi)設(shè)置有兩個滑塊，分別位于溝槽的兩端，并通過調(diào) 整螺桿與鄰近的調(diào)整螺母連接，四個滑塊支撐開關(guān)調(diào)整平板，在沒有設(shè)置溝槽的基板的另 一對相對側(cè)上，設(shè)置有探頭支架，探頭支架的兩端從基板的所述另一對相對側(cè)上垂直向上 突出一定高度，然后水平折向基板中部連成整體，呈門形扣在基板上，將開關(guān)調(diào)整平板容納 在探頭支架和基板形成的空間中，探頭支架不接觸到開關(guān)調(diào)整平板，測試探頭放置于探頭 支架的水平部分上。 其中，測試探頭由光學測試儀、高精度測試開關(guān)支架和高精度開關(guān)共同組成，光學 測試儀下方水平地安裝有與測試儀外部形狀匹配的環(huán)形的高精度測試開關(guān)支架，開關(guān)支架 的下表面垂直的設(shè)置有多個高精度開關(guān)，開關(guān)均布于開關(guān)支架上。
其中，探頭支架的水平部分不接觸開關(guān)支架和多個高精度開關(guān)。
其中，高精度開關(guān)為四個。 其中，滑塊為缺角的立方體形狀，缺失的體積也是立方體。
本發(fā)明的有益效果在于
3
a.探頭從測試工裝上取下，單獨調(diào)整，避免了在線調(diào)整時難度大和易觸碰被測表 面的危險； b.高精度開關(guān)的觸腳接觸開關(guān)調(diào)整平板，可以精確確定高精度開關(guān)的安裝位置；
c.開關(guān)調(diào)整平臺的四角斜坡開槽保證與滑塊斜面平穩(wěn)貼合，并能限制平板橫向移 動，高度調(diào)整使用滑塊與螺紋螺母機構(gòu)，較小的滑塊斜面斜率和螺紋螺母調(diào)整都保證了調(diào) 整平板高度的可精確控制性。


圖l為調(diào)整平臺示意圖。 其中，1為光學測試儀，2為高精度測試開關(guān)支架，3為高精度開關(guān)，4為探頭支架，5 為開關(guān)調(diào)整平板，6為滑塊，7為調(diào)整螺母。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明作詳細說明。 光學測試儀1下方水平地安裝有與測試儀1外部形狀匹配的環(huán)形的高精度測試開 關(guān)支架2，開關(guān)支架2的下表面垂直地設(shè)置有多個高精度開關(guān)3，開關(guān)3均布于開關(guān)支架2 上。光學測試儀1、高精度測試開關(guān)支架2和高精度開關(guān)3共同組成測試探頭。通常取四個 開關(guān)3進行測試。 調(diào)整平臺的基板呈長方形，其每個角上均設(shè)置有一個用于調(diào)整高度的調(diào)整螺母7， 基板的一對相對側(cè)的調(diào)整螺母7之間的基板面上設(shè)置溝槽，在每個溝槽內(nèi)設(shè)置有兩個滑塊 6，分別位于溝槽的兩端，并通過調(diào)整螺桿8與鄰近的調(diào)整螺母7連接。四個滑塊6支撐開 關(guān)調(diào)整平板5?；瑝K6為缺角的立方體形狀，缺失的體積也是立方體，這種形狀能限制開關(guān) 調(diào)整平板5的橫向移動。旋轉(zhuǎn)四個角上的調(diào)整螺母7，可以使對應的四個滑塊6在溝槽內(nèi)滑 動，從而使開關(guān)調(diào)整平板5隨之上下移動。在沒有設(shè)置溝槽的基板的另一對相對側(cè)上，設(shè)置 有探頭支架4，探頭支架4的兩端從基板的所述另一對相對側(cè)上垂直向上突出一定高度，然 后水平折向基板中部連成整體，呈門形扣在基板上，將開關(guān)調(diào)整平板5容納在探頭支架4和 基板形成的空間中，但是不接觸到開關(guān)調(diào)整平板5。 將測試探頭放置于探頭支架4之上，使測試儀的探測小孔朝下，此時開關(guān)3與開關(guān)
支架2處于放松狀態(tài)。然后旋轉(zhuǎn)四個角上的調(diào)整螺母7，在上下移動過程中，檢測測試儀的
小孔與開關(guān)調(diào)整平板5之間的相對位置，直至開關(guān)調(diào)整平板5達到合適位置便停止調(diào)整。接
著，再使各個高精度開關(guān)3的觸腳均處于剛好貼合開關(guān)調(diào)整平板5的位置，隨即固定開關(guān)3，
從而完成測試探頭的調(diào)整。最后取下測試探頭，安裝于衛(wèi)星測試工裝之上。 盡管上文對本發(fā)明的具體實施方式
給予了詳細描述和說明，但是應該指明的是，
我們可以依據(jù)本發(fā)明的構(gòu)想對上述實施方式進行各種等效改變和修改，其所產(chǎn)生的功能作
用仍未超出說明書及附圖所涵蓋的精神時，均應在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種用于衛(wèi)星整星表面熱控材料原位測試探頭的調(diào)整平臺，其特征在于，調(diào)整平臺的基板呈長方形，其每個角上均設(shè)置有一個用于調(diào)整高度的調(diào)整螺母(7)，基板的一相對側(cè)的調(diào)整螺母(7)之間的基板面上設(shè)置溝槽用于定位兩個滑塊(6)，分別位于溝槽的兩端，并通過調(diào)整螺桿(8)與鄰近的調(diào)整螺母(7)連接，四個滑塊(6)支撐開關(guān)調(diào)整平板(5)，在沒有設(shè)置溝槽的基板的另一對相對側(cè)上，設(shè)置有探頭支架(4)，探頭支架(4)的兩端從基板的所述另一對相對側(cè)上垂直向上突出一定高度，然后水平折向基板中部連成整體，呈冂形扣在基板上，將開關(guān)調(diào)整平板(5)容納在探頭支架(4)和基板形成的空間中，探頭支架(4)不接觸到開關(guān)調(diào)整平板(5)，測試探頭放置于探頭支架(4)的水平部分上。
2. 如權(quán)利要求l所述的調(diào)整平臺，其特征在于，測試探頭由光學測試儀(1)、高精度測 試開關(guān)支架(2)和高精度開關(guān)(3)共同組成，光學測試儀(1)下方水平地安裝有與光學測 試儀(1)外部形狀匹配的環(huán)形的高精度測試開關(guān)支架(2)，高精度測試開關(guān)支架(2)的下表 面垂直的設(shè)置有多個高精度開關(guān)(3)，高精度開關(guān)(3)均布于高精度測試開關(guān)支架(2)上。
3. 如權(quán)利要求2所述的調(diào)整平臺，其特征在于，探頭支架(4)的水平部分不接觸開關(guān)支 架(2)和多個高精度開關(guān)(3)。
4. 如權(quán)利要求2或3所述的調(diào)整平臺，其特征在于，高精度開關(guān)(3)為四個。
5. 如權(quán)利要求l所述的調(diào)整平臺，其特征在于，滑塊(6)為缺角的立方體形狀，缺失的 體積也是立方體。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于衛(wèi)星整星表面熱控材料原位測試探頭的調(diào)整平臺，調(diào)整平臺通過調(diào)整螺母(7)、調(diào)整螺桿(8)和滑塊(6)的高度調(diào)整機構(gòu)，可以實現(xiàn)開關(guān)調(diào)整平板(5)距測試探頭距離的精確控制。利用該調(diào)整平臺可以高精度、高效率地完成對高精度開關(guān)和測試探頭位置的調(diào)整，從而大大縮短衛(wèi)星整星表面熱控材料光學性能原位測量的準備周期，為按時高效、高質(zhì)量的完成每次測量任務提供了有力的支持。
文檔編號G01N33/00GK101769912SQ20081018807
公開日2010年7月7日 申請日期2008年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月29日
發(fā)明者丁義剛, 馮偉泉, 劉宇明, 姜利祥, 沈自才, 趙雪, 鄭慧奇 申請人:北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所