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      鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀的制作方法

      文檔序號(hào):6038535閱讀:458來源:國知局
      專利名稱:鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及鐵合金微碳鉻鐵中硅含量的測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域。
      背景技術(shù)
      微碳鉻鐵中硅含量的測(cè)量一般采用化學(xué)法,即選取一塊冷卻后的微碳鉻鐵試樣,將其粉 碎成粉沫狀,加入一定量的化學(xué)試劑,進(jìn)行化學(xué)反應(yīng),再由測(cè)定儀對(duì)硅元素進(jìn)行計(jì)量?;?yàn) 室常規(guī)測(cè)定一般需2小時(shí)才能測(cè)出試樣中含硅含量的數(shù)據(jù),對(duì)正在冶煉中微碳鉻鐵的產(chǎn)品的 質(zhì)量的不能起到及時(shí)快速判斷,不利于及時(shí)采用技術(shù)措施來提高產(chǎn)品的質(zhì)量及合格率。

      實(shí)用新型內(nèi)容
      本實(shí)用新型的目的就是為了克服化驗(yàn)室常規(guī)微碳鉻鐵中含硅量測(cè)定時(shí)間長(zhǎng),無法及時(shí)指 導(dǎo)現(xiàn)場(chǎng)冶煉生產(chǎn)的缺點(diǎn),提供一種微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,該儀器不僅能測(cè)出被測(cè)試 樣中的含硅量,同時(shí)能在幾分鐘的時(shí)間內(nèi)獲取含硅的數(shù)據(jù)。
      為達(dá)上述目的,本實(shí)用新型所采用的具體技術(shù)方案如下-
      鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,包括測(cè)硅傳感器、溫度控制器、V/F轉(zhuǎn)換器、熱電 勢(shì)放大器及單片機(jī)和顯示器,其中測(cè)硅傳感器通過電路連接有溫度控制器使其恒溫,測(cè)硅傳 感器還通過電路依次與熱電勢(shì)放大器、V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)及顯示器連接。
      上述的鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,較佳的方案是所說的測(cè)硅傳感器,其包 括黃銅制作的圓錐形,圓錐形內(nèi)設(shè)置的電熱管及與圓錐形接觸的鉑熱電阻。其中鉑電阻通過 V/F校正器后與溫度控制器連接,電熱管通過電路與溫度控制器連接。測(cè)硅傳感器通過溫度控 制器,使其恒溫在280。C ±2°C 。
      測(cè)硅傳感器還把測(cè)硅傳感器與壓緊裝置之間的試樣中的硅含量的數(shù)據(jù)經(jīng)熱電勢(shì)放大器、 V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)在顯示器顯示出來。
      熱電勢(shì)放大器優(yōu)選美國A/D公司生產(chǎn)2B31型信號(hào)調(diào)理器,熱電勢(shì)放大器的輸出電壓經(jīng)過 V/F轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成脈沖量,送入單片機(jī)中。
      本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型的微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀能現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)定合金 鐵中的硅含量,且不需要對(duì)微碳鉻鐵進(jìn)行特別處理;也不需要使用其它的試劑,簡(jiǎn)單方便。 另外,微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀本身的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙、簡(jiǎn)單,最后的電腦能顯示最終測(cè)試結(jié)果。

      圖1為本實(shí)用新型微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀結(jié)構(gòu)原理示意圖
      圖2為V/F轉(zhuǎn)換器電路
      圖3為鉑熱電阻非線性測(cè)量線路
      圖4為鉑熱電阻校正線路
      圖5為控制電路
      圖6為控制波形圖
      附圖標(biāo)記說明1-黃銅制成的圓錐形 2-鉑熱電阻 3-電熱管
      具體實(shí)施方式實(shí)施例1
      如圖1所示,本實(shí)用新型所述的微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,包括測(cè)硅傳感器、溫度 控制器、VZF轉(zhuǎn)換器、熱電勢(shì)放大器及由單片機(jī)和顯示器,其中測(cè)硅傳感器通過電路連接有溫 度控制器使其恒溫,測(cè)硅傳感器還通過電路依次與熱電勢(shì)放大器、V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)及顯示 器連接。測(cè)硅傳感器把測(cè)硅傳感器與壓緊裝置之間的試樣中的硅含量的數(shù)據(jù)經(jīng)熱電勢(shì)放大器、 V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)在顯示器上顯示出來。
      一、具體儀器組成
      1、 傳感器
      由黃銅材質(zhì)制成圓錐形狀,其尺寸為小80X110 (H),與之接觸的有一個(gè)檢測(cè)溫度的鉑電 阻,圓錐形內(nèi)設(shè)有電熱管加熱,要求恒溫在28(rC±2°C;所以應(yīng)考慮其有十分良好的保溫性 能;
      2、 溫度控制器
      該控制器的核心是單片機(jī)。鉑電阻檢測(cè)傳感器的溫度,經(jīng)過非線性校正后由單片機(jī)采集 該溫度,控制電熱管來對(duì)傳感器加熱,并使傳感器恒溫在28(TC 。加熱控制硅采用"調(diào)功"方 式,使其有很高的控制精度。
      根據(jù)熱電原理,要求一種導(dǎo)體性質(zhì)及溫度不變及有一定恒溫特性,所以傳感器作為一種 導(dǎo)體,要求其溫度控制必須符合熱電原理。
      3、 熱電勢(shì)放大器
      4被測(cè)的微炭鉻鐵的樣塊須先在常溫水中冷卻后,敲開斷面,將其放置在傳感器與壓緊裝 置之間并緊密接觸。根據(jù)熱電原理,傳感器與試樣接觸后,會(huì)產(chǎn)生熱電勢(shì)。由于微炭絡(luò)中的 其他成分Cr, C, Fe等基本不變,也就是Fe, Cr, C基本不與黃銅探頭起反應(yīng),而微炭鉻中 的Si與黃銅探頭起了熱電效應(yīng),產(chǎn)生了 0 1mV之間的熱電勢(shì)。該微弱電勢(shì),必須經(jīng)過信號(hào)放 大,才能被單片微機(jī)接收,由于放大的是微伏信號(hào),所以要考慮微弱信號(hào)檢測(cè)及噪音的抑制 等問題。
      放大器選用美國A/D公司生產(chǎn)2B31型信號(hào)調(diào)理器。它由一個(gè)高性能的儀器放大器、 一個(gè) 具塞爾三極點(diǎn)低通過濾器和一個(gè)可調(diào)激勵(lì)電源三個(gè)主要部分構(gòu)成。此放大器具有體積小、價(jià) 格低、漂移小(0.5uV/°C)、噪聲低(In Vp-P)、共模抑制比高(最低為140dB)、線性優(yōu)良(最 大為0.0025%)、 130V^的輸入保護(hù)能力及低通濾波的截止頻率(2HZ—5KHZ)、放大倍數(shù)(l一 2000倍)、輸出失調(diào)電平和電橋激勵(lì)源(電壓方式4V—15V), 100mA,電流方式(100yA— 10mA)都是可調(diào)等許多優(yōu)良性能。放大器的輸出電壓經(jīng)過V/F轉(zhuǎn)換成脈沖量,送入單片機(jī)中。
      4、 V/F轉(zhuǎn)換電路
      V/F轉(zhuǎn)換器作用是將放大器輸出信號(hào)經(jīng)轉(zhuǎn)換成脈沖量(即數(shù)字量),其實(shí)質(zhì)是A/D轉(zhuǎn)換器。 其轉(zhuǎn)換電路如圖2所示。
      上述電路的輸出頻率f。與輸入電壓仏的關(guān)系為
      二 iW J。 2.09KC,
      Rs用來調(diào)節(jié)增益大小以獲得所需的轉(zhuǎn)換精度,脈沖信號(hào)通過MCS-51單片機(jī)的引腳T1讀入 內(nèi)存,根據(jù)脈沖數(shù)便測(cè)得傳感器的溫度了。
      5、 數(shù)據(jù)處理
      首先按確定的樣本進(jìn)行標(biāo)定。樣本當(dāng)然越多越好。但是由于樣本數(shù)據(jù)的離散性。可能要 占據(jù)很大的內(nèi)存空間。我們可以采用數(shù)值方法進(jìn)行分段擬合成直線方程,也就形成了測(cè)硅的 數(shù)學(xué)模型,也可以用最小二乘解求曲線方程。
      當(dāng)進(jìn)行爐前快速測(cè)試時(shí),根據(jù)讀入的數(shù)字量就可以尋找相應(yīng)的區(qū)間,通過計(jì)算找出對(duì)應(yīng) 的Siy。量。
      6、 壓緊裝置
      由黃銅材質(zhì)和彈簧組成的機(jī)構(gòu)。 二.溫度控制1、 鉑電阻的非線性校正。
      傳感器的溫度是通過鉑電阻來測(cè)量。
      鉑熱電阻是一種廣泛應(yīng)用的溫度傳感器,測(cè)量的范圍0 50(TC,溫度與電阻間存在非線性 關(guān)系,通常將鉑電阻接入不平衡電橋進(jìn)行溫度測(cè)量,以獲得電壓信號(hào)。
      如圖3。此電路的輸出Us與溫度t間的關(guān)系是非線性的,非線性誤差的大小與電路參數(shù)
      有關(guān),均為百分之幾至百分之十幾,因此要得到線性的溫度一電壓轉(zhuǎn)換關(guān)系,必須進(jìn)行非線 性校正。
      圖4所示為校正線路,電路中的R4是用以引入適量的正反饋,從而抵消在測(cè)量上限 段的較嚴(yán)重的非線性誤差。電路中設(shè)置的零點(diǎn)與滿度調(diào)節(jié)可實(shí)現(xiàn)1—5V DC標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào) 輸出。此電路輸出電壓U。與溫度t的關(guān)系式如下
      "o =/^(1 +夂2"卜《2(/ +尺 +L )
      其中t的高次項(xiàng)與其一次、二次項(xiàng)相比非常之小,可忽略不計(jì)而不會(huì)對(duì)精度產(chǎn)生影響,
      Id、 K2 、 K3是與電路有關(guān)的常數(shù),顯然,若使"+ ^^:0便可消除造成非線性的二次 項(xiàng),從而實(shí)現(xiàn)非線性校正。K3與正反饋電阻R4及電路其它元件參數(shù)有關(guān),可按滿足
      / +《3 2=0來選取R4的值。按此原理得到R4計(jì)算式為
      i 0, + "2)(,-1)
      A=-T^^5^
      i o-(/ + "2) + ^
      電路元件參數(shù)若為R^R^lkQ, R3=100Q,R6/R5=R8/R7=4則可得R^2. 1KQ,在實(shí)際制作 中,需保證元件參數(shù)的精確,可設(shè)置R4為精密電位器,結(jié)合零點(diǎn)與滿度調(diào)節(jié)使電路輸出擬合 理想的線性溫度電壓特性曲線,以保證轉(zhuǎn)換精度。
      2、 校正線路的輸出
      校正線路的輸出經(jīng)V/F送入溫控單片機(jī)。V/F轉(zhuǎn)換方法同前,不再重復(fù)。
      3、 可控硅調(diào)功控制
      傳感器的溫度控制采用雙向可控硅交流"調(diào)功"方式控制加熱電熱管發(fā)熱量,即上述采集 溫度值與傳感器預(yù)置溫度28(TC相差大時(shí),控制可控硅導(dǎo)通、升溫,通過PID調(diào)節(jié),使準(zhǔn)確達(dá) 到預(yù)定的溫度。所謂調(diào)功,即在每一個(gè)控制周期時(shí)間內(nèi),改變加在電熱管上交流電壓半波的 個(gè)數(shù)來調(diào)節(jié)電熱絲的發(fā)熱量。
      設(shè)電熱絲在額定交流電壓下的發(fā)熱功率為^ ,交流電的頻率為/,則每秒鐘交流半周波的
      6個(gè)數(shù)為2/,在額定電壓下,每一個(gè)半周波在電熱絲上所消耗的電功率為^/2/ ,當(dāng)在每一控 制周期T內(nèi)交流半周波的總個(gè)數(shù)為N,而實(shí)際導(dǎo)通的個(gè)數(shù)為n,不導(dǎo)通的個(gè)數(shù)為(W-"),則在 一個(gè)控制周期T內(nèi)電熱絲消耗的電能量為『r = "'^m/ ,對(duì)K個(gè)控制周期而言,電熱 絲所消耗的電能為『=^^ = "^7^/2/ ,設(shè)K個(gè)控制周期的時(shí)間,則 f^-AP"/2/ ,由此可見,改變每個(gè)控制周期內(nèi)通過加熱電熱管交流半周波的個(gè)數(shù),就能 改變電熱絲所消耗的電能,也就改變了加熱電熱絲的發(fā)熱量。
      數(shù)字實(shí)現(xiàn)SCR的過零控制需要解決的兩個(gè)問題 一是要能實(shí)現(xiàn)工頻電壓的正負(fù)過零檢測(cè), 并在過零時(shí)產(chǎn)生脈沖信號(hào);二是過零脈沖信號(hào)必須受單片機(jī)輸出信息的控制。從而控制SCR 過零觸發(fā)脈沖的個(gè)數(shù)。
      (1) 硬件電路設(shè)計(jì)
      ① 工頻電壓的正負(fù)過零檢測(cè),且在過零時(shí)產(chǎn)生50HZ和100HZ的脈沖序列。其中50HZ脈 沖作為工頻電壓過零的同步信號(hào),而100HZ脈沖是提供SCR過零觸發(fā)的脈沖。
      ② 由單片機(jī)發(fā)出的控制電平,去控制SCR的過零觸發(fā)的脈沖數(shù)。
      控制電路如圖5,波形圖如圖6。它由緩沖放大器U,,電壓比較器lk、 U2B、 單穩(wěn)電路 與門控電路組成,其工作原理說明如下
      將幅值為40V的工頻電壓的Usr施加到緩沖放大器U,的輸入端,經(jīng)緩沖后,將其負(fù)半周 電壓削波(這里為了與電壓比較器相匹配所需的)送至電壓比較器U2A、 U2B、 U2C ,
      U2A是由電壓比較器組成的一個(gè)史密特觸發(fā)器,通過U2A的工頻正弦信號(hào),被整形成矩形方 波U2,1]2再去觸發(fā)后一級(jí)的單穩(wěn),形成一個(gè)頻率50HZ,脈寬約7 u s的信號(hào),這個(gè)信號(hào)連至8031
      單片機(jī)的^端,作為工頻電壓過零的同步信號(hào),這意味著,只要中斷請(qǐng)求,^信號(hào)有 效,即工頻電壓過零時(shí)刻到來。
      U2B, lk組成工頻電壓的正,負(fù)過零檢測(cè)電路。U2B, Lk的輸出經(jīng)微分電路復(fù)合后去驅(qū)動(dòng)后 一級(jí)的單穩(wěn)電路。單穩(wěn)電路輸出一個(gè)頻率為100Hz,脈寬為400yS的正脈沖序列。然后通過 門控電路仏去實(shí)現(xiàn)SCR的過零觸發(fā)。
      單片微機(jī)設(shè)定P1.0位為輸出控制電平信號(hào),加至門控電路1]3,用以控制SCR過零觸發(fā)的 觸發(fā)脈沖電路。由上可知,硬件電路提供了工頻電壓過零的同步信號(hào)SCR的過零觸發(fā)脈沖信 號(hào),以及控制電平,但并不能把這些信號(hào)有機(jī)聯(lián)系起來,這些任務(wù)由軟件完成。
      (2) 軟件設(shè)計(jì)
      ①識(shí)別工頻的過零時(shí)刻,并在過零時(shí)刻開啟和關(guān)閉控制門,以保證SCR主回路產(chǎn)生整數(shù)個(gè)正弦全波。
      ②保證門控電路的打開時(shí)間正比于單片機(jī)輸出控制量。那么,要完成上述軟件任務(wù)。首
      先應(yīng)將單片機(jī)輸出控制量在主程序中,換算成SCR主回路中整數(shù)正弦全波個(gè)數(shù)N。由于信 號(hào)反映工頻電壓過零時(shí)刻;因此只要在外中斷1的中斷服務(wù)程序中執(zhí)行下述功能,就可以按 照運(yùn)算結(jié)果控制量的要求實(shí)現(xiàn)SCR的過零控制。
      外中斷的中斷服務(wù)程序具體實(shí)現(xiàn)的功能是i )中斷時(shí),完成控制門的開啟與關(guān)閉。即
      單片機(jī)8031的P1.0位置"1"或復(fù)"O"。 2)利用中斷服務(wù)次數(shù),對(duì)控制量N進(jìn)行記數(shù)和判斷, 即每中斷一次,對(duì)N進(jìn)行減一計(jì)數(shù),如N^0,保持控制電平P1.0為1,繼續(xù)打開控制門。如 N,O,則使控制電平P1.0復(fù)位為"0",關(guān)閉控制門,使SCR過零觸發(fā)脈沖不再通過。而達(dá)到 按控制量控制的效果。
      權(quán)利要求1. 鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,其特征在于,包括測(cè)硅傳感器、溫度控制器、V/F轉(zhuǎn)換器、熱電勢(shì)放大器及單片機(jī)和顯示器,其中測(cè)硅傳感器通過電路連接有溫度控制器使其恒溫,測(cè)硅傳感器還通過電路依次與熱電勢(shì)放大器、V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)及顯示器連接。
      2. 如權(quán)利要求1所述的鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,其特征在于,所說的測(cè)硅傳感 器包括黃銅制作的圓錐形,圓錐形內(nèi)設(shè)置的電熱管及與圓錐形接觸的鉑熱電阻。
      3. 如權(quán)利要求2所述的鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,其特征在于,所說的鉑熱電阻通過V/F校正器后與溫度控制器連接,電熱管通過電路與溫度控制器連接。
      4. 如權(quán)利要求1所述的鐵合金微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀,其特征在于,熱電勢(shì)放大器為 2B31型信號(hào)調(diào)理器。
      專利摘要本實(shí)用新型涉及鐵合金微碳鉻鐵中硅含量的測(cè)試儀器技術(shù)領(lǐng)域。本實(shí)用新型所述的微碳鉻鐵中硅含量快速測(cè)試儀包括測(cè)硅傳感器、溫度控制器、V/F轉(zhuǎn)換器、熱電勢(shì)放大器及由單片機(jī)和顯示器,其中測(cè)硅傳感器通過電路連接有溫度控制器使其恒溫,測(cè)硅傳感器還通過電路依次與熱電勢(shì)放大器、V/F轉(zhuǎn)換器、單片機(jī)及顯示器連接。本實(shí)用新型的測(cè)試儀能現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)定合金鐵中的硅含量,且不需要對(duì)微碳鉻鐵進(jìn)行特別處理,也不需要使用其它的試劑,簡(jiǎn)單方便,電腦能直接顯示最終測(cè)試結(jié)果。
      文檔編號(hào)G01N27/14GK201281701SQ20082015345
      公開日2009年7月29日 申請(qǐng)日期2008年9月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月25日
      發(fā)明者蘇家健 申請(qǐng)人:上海第二工業(yè)大學(xué)
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