專利名稱：提高元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法
技術領域：
本發(fā)明是有關于一種提高元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法，特 別是有關于一種提高高頻元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法。
背景技術：
各式集成電路(IC)晶片例如射頻(RF) IC、存儲介質或是消費性IC、邏輯與混合 信號IC、感光元件、驅動IC等經(jīng)過設計、封裝制造后，為了確保品質，尚須經(jīng)過測試機臺 (TESTER)測試，才能確保電性與功能正?？梢赃\作。上述各式受測元件(Device under test)送至測試機臺進行測試驗證功能是否正常，是由測試機臺提供受測元件信號以測試 受測元件。而受測元件通常對于高頻電磁干擾十分敏感，特別是射頻IC或無線區(qū)域網(wǎng)路元 件、移動電話所用元件等受測元件的測試更是容易受到電磁干擾的影響而造成測試結果的 誤判，有可能造成原本功能正常的受測元件因電磁干擾而未通過測試被測試機臺判斷為功 能異常(Fail-bin)，或是原本功能異常的受測元件因電磁干擾而通過測試被測試機臺判斷 為功能正常(Pass-bin)，甚至造成受測元件的瀕臨測試邊緣異常(Marginal Fail)結果， 造成的準確率損失(yield loss)與時間及人力的無謂浪費。為了避免因為環(huán)境的干擾，造成受測元件測試結果的誤判，一般通常在開始量產(chǎn) 或是進行測試前，先作環(huán)境干擾的檢測。并限制無線通訊器材的使用，或預先調整其他會影 響高頻元件測試的條件。但這無法真實及時的反映出不可預期因電磁波干擾造成的問題， 且因為電磁波的特性是隨位置，時間不同而強弱不一定，不一定會影響元件測試。所以電磁 波干擾元件測試問題常常因為此特性造成無法及時在量產(chǎn)推測是否有電磁干擾造成的準 確率損失，而及時作適當?shù)奶幹靡员苊鉁蚀_率損失發(fā)生，或者是預計有多少的是由電磁干 擾產(chǎn)生，可做準確率損失回復(Yield Loss Recovery)的可行性評估。由此可見，上述現(xiàn)有的元件的測試方法與裝置在使用上，顯然仍存在有不便與缺 陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題，相關廠商莫不費盡心思來謀求解決 之道，但長久以來一直未見適用的設計被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品及方法又沒有適切的結構 及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設一種新的 提高元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法，實屬當前重要研發(fā)課題之一，亦成 為當前業(yè)界極需改進的目標。

發(fā)明內容
為了解決上述的問題，本發(fā)明提出一種提高元件測試準確率的測試裝置、測試系 統(tǒng)及測試方法，以避免因為環(huán)境的電磁干擾所造成的測試誤差，并可真實及時的反映出不 可預期的因電磁波干擾造成的準確率損失，進而提高測試效率節(jié)省時間、人力并降低測試 成本。本發(fā)明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出 的一種提高元件測試準確率的測試裝置，其包含一測試流程模塊在一測試機臺內；及一干擾接收模塊，該干擾接收模塊接收量測電磁干擾，并將干擾信號輸出至該測試機臺，其中 該測試流程模塊根據(jù)元件測試結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。本發(fā)明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現(xiàn)。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的測試流程模塊包含一電腦可 讀取媒體，該電腦可讀取媒體存有處理器可執(zhí)行的程序指令以執(zhí)行提高元件測試準確率的 測試方法。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的電腦可讀取媒體的處理器 可執(zhí)行的程序指令用以執(zhí)行提高元件測試準確率的測試方法，該測試方法包含(a)執(zhí)行 元件測試及干擾量測；(b)判斷元件是否通過測試；(c)若元件未通過測試，則檢查判斷干 擾量測值是否超過預設標準值；(d)若干擾量測值超過預設標準值則重新執(zhí)行步驟(a)至 (c)；及(e)若元件測試仍未通過測試且干擾量測值仍超過預設標準值則停止測試。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的干擾接收模塊包含一天線模 塊。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的天線模塊經(jīng)由該測試機臺的 射頻輸入端子將干擾信號輸入至該測試機臺。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的干擾接收模塊還包含一射頻 功率偵測器，該射頻功率偵測器將該天線模塊接收到的電磁干擾轉換成直流電壓信號，并 輸出至該測試機臺。前述的提高元件測試準確率的測試裝置，其中所述的干擾接收模塊還包含一低雜 訊放大器，該低雜訊放大器將電磁干擾放大輸出至該射頻功率偵測器。本發(fā)明的目的及解決其技術問題還采用以下技術方案來實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的 一種提高元件測試準確率的測試系統(tǒng)，其包含一測試機臺；一測試介面，該測試機臺經(jīng)該 測試介面與受測元件進行測試信號傳輸以測試該受測元件；一干擾接收模塊，該干擾接收 模塊接收量測電磁干擾，并將干擾信號輸出至該測試機臺，其中該測試機臺根據(jù)元件測試 結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。本發(fā)明的目的及解決其技術問題另外再采用以下技術方案來實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種提高元件測試準確率的測試方法，其包含以下步驟(a)執(zhí)行元件測試及干擾量 測；(b)判斷元件是否通過測試；(c)若元件未通過測試，則檢查判斷干擾量測值是否超過 預設標準值；(d)若干擾量測值超過預設標準值則重新執(zhí)行步驟(a)至(c)；及(e)若元件 測試仍未通過測試且干擾量測值仍超過預設標準值則停止測試。本發(fā)明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現(xiàn)。前述的提高元件測試準確率的測試方法，其中步驟(e)還包含該測試機臺停止進 行測試并通知一檢選分類機臺發(fā)出警示聲響，以通知操作人員排除干擾。本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。借由上述技術方案，本發(fā)明 提高元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法至少具有下列優(yōu)點及有益效果本 發(fā)明可真實及時的反映出不可預期的因電磁波干擾造成的準確率損失，進而提高測試準確 率與效率并有效降低測試成本。上述說明僅是本發(fā)明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術手段， 而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。


圖1是執(zhí)行本發(fā)明提高元件測試準確率的測試方法的測試系統(tǒng)的一實施例的方 框示意圖。圖2是本發(fā)明提高元件測試準確率的測試方法的一實施例的流程示意圖。圖3A與圖3B分別是本發(fā)明干擾接收模塊的兩實施例的示意圖。圖4是載波雜訊比(Carrier to Noise, C/N)與位元錯誤率(BER)對應圖。圖5是干擾接收模塊接收的射頻信號功率轉換成直流電壓信號的關系圖。圖6是測試機臺接收的干擾信號轉換后的直流電壓對時間關系圖。100測試系統(tǒng)102測試機臺
104主機106測試流程模塊
108干擾接收模塊110測試介面
112受測元件202執(zhí)行元件測試及干擾量測
204判斷受測元件是否通過測試206繼續(xù)進行其他測試
208檢查干擾量測值210判斷干擾量測值是否超過標準
212停止進行測試并示警302天線模塊
304低雜訊放大器306射頻功率偵測器
具體實施例方式本發(fā)明的一些實施例將詳細描述如下。然而，除了如下描述外，本發(fā)明還可以廣泛 地在其他的實施例施行，且本發(fā)明的范圍并不受實施例的限定，其以權利要求為準。再者， 為提供更清楚的描述及更易理解本發(fā)明，圖式內各部分并沒有依照其相對尺寸繪圖，某些 尺寸與其他相關尺度相比已經(jīng)被夸張；不相關的細節(jié)部分也未完全繪出，以求圖式的簡潔。請參閱圖1所示，是執(zhí)行本發(fā)明提高元件測試準確率的測試方法的測試系統(tǒng)的一 實施例的方框示意圖。本發(fā)明一實施例的提高元件測試準確率的測試系統(tǒng)100包含測試機 臺(TESTER) 102、干擾接收模塊108與測試介面110。上述的測試機臺102包含主機104，主機104作為測試系統(tǒng)100的控制管理中樞， 以控制測試系統(tǒng)100中所有測試動作包含信號輸出輸入、檢選分類機臺(HANDLER)動作以 取放分類受測元件(Device under Test/DUT)、根據(jù)測試信號判斷受測元件是否合格通過 測試等，主機104具有控制單元例如中央處理器(CPU)、資料儲存媒體例如硬盤、存儲裝置 等儲存媒體。主機104包含測試流程模塊106，測試流程模塊106包含中央處理器、存有中 央處理器可執(zhí)行的指令或程序的電腦可讀取媒體(Computer ReadableMedium)以及儲存于 電腦可讀取媒體的可執(zhí)行本發(fā)明一實施例的提高元件測試準確率的測試方法的指令或程 序。電腦可讀取媒體包含硬盤、存儲裝置等儲存媒體。用于執(zhí)行本發(fā)明較佳實施例的提高 元件測試準確率的測試方法的程序可以C/C++語言撰寫，但不限于C/C++語言。上述的干擾接收模塊108連接至測試機臺102用于接收電磁干擾雜訊，并將干擾 雜訊輸出至測試機臺102由主機104與測試流程模塊106判斷干擾雜訊是否對元件測試造 成影響。
上述的測試介面110包含受測元件電路板(DUT board)或電路承載板(load board)，測試介面110作為測試機臺102與受測元件112之間信號傳輸?shù)慕槊?。受測元件 112包含無線區(qū)域網(wǎng)路(WLAN)元件WLAN802. lla/b/g/n、射頻(RF)元件、移動電話所用元 件例如通用封包無線服務技術(GPRS)、碼分多址(CDMA)技術等元件以及藍芽(Bluetooth) 元件等，但不限于此。請參閱圖2所示，是本發(fā)明提高元件測試準確率的測試方法的一實施例的流程示 意圖。本發(fā)明提高元件測試準確率的測試方法，以圖1中所示的測試系統(tǒng)100為例，進行測 試時，測試機臺102控制檢選分類機臺(未圖示)將受測元件112送至測試介面110上。測 試機臺102經(jīng)測試介面110傳送信號至測試介面110上的受測元件112以執(zhí)行元件測試， 干擾接收模塊108則量測電磁干擾并將資料輸出至測試機臺102，即步驟202執(zhí)行元件測 試及干擾量測。其中元件測試的項目是視受測元件112的規(guī)格或需求而定，例如向量誤差 值(Error Vector Magnitude/EVM)、位元錯誤率(BitError Rate/BER)、信號對雜訊比(S/ N)與雜訊值(Noise)等，但不限于此。為了量測電磁干擾，必須先根據(jù)受測元件112工作 頻率帶，設定或選擇干擾接收模塊108欲量測的電磁干擾頻率帶。接著，完成元件測試及干 擾量測后，測試機臺102根據(jù)受測元件112經(jīng)測試介面110回傳的測試信號判斷受測元件 112是否通過測試，即步驟204。若測試機臺102根據(jù)預設的規(guī)格或標準比對判斷受測元件 112測試通過，則測試機臺102繼續(xù)進行其他測試，即步驟206。若測試機臺102判斷受測 元件112測試不通過，則測試機臺102根據(jù)預設的標準檢查比對干擾接收模塊108輸入的 電磁干擾量測值，即步驟208。測試機臺102接著判斷由干擾接收模塊108輸入的電磁干擾 量測值是否超過標準，即步驟210。若測試機臺102判斷干擾接收模塊108輸入的電磁干擾 量測值并未超過預設標準值，則測試機臺102判斷受測元件112是因本身的問題造成測試 不通過，測試機臺102則繼續(xù)進行其他測試。若測試機臺102判斷電磁干擾量測值超過預 設標準值，則測試機臺102重新執(zhí)行步驟202，再次執(zhí)行元件測試及干擾量測。接著測試機 臺102再次執(zhí)行步驟204判斷受測元件112是否通過測試。若再次執(zhí)行步驟204的結果是 測試機臺102判斷受測元件112測試通過，則繼續(xù)進行其他測試。若再次執(zhí)行步驟204的 結果是測試機臺102仍然判斷受測元件112測試不通過，則測試機臺102再次執(zhí)行步驟208 檢查比對電磁干擾量測值。測試機臺102接著執(zhí)行步驟210判斷電磁干擾量測值是否超過 標準。若測試機臺102判斷電磁干擾量測值并未超過預設標準值，則測試機臺102判斷受 測元件112是因本身的問題造成測試不通過，測試機臺102則執(zhí)行步驟206繼續(xù)進行其他 測試。若測試機臺102判斷電磁干擾量測值再次超過預設標準值，則測試機臺102停止進 行測試并可通知檢選分類機臺發(fā)出警示聲響，以通知操作人員排除電磁干擾，即步驟212。請參閱圖3A與圖3B所示，分別是本發(fā)明干擾接收模塊的兩實施例的示意圖。在圖 3A的實施例中，干擾接收模塊108包含一天線模塊302。天線模塊302包含雙極性全方位 的特性天線，設計工作頻率為受測元件的操作頻率帶，可藉由測試機臺102的射頻輸入端 子(RF Port)將接收或量測到的電磁干擾信號輸入至測試機臺102。圖4顯示載波雜訊比 (Carrier toNoise, C/N)與位元錯誤率(Bit Error Rate, BER)對應圖。干擾雜訊之發(fā)射 源為個人手持式電話系統(tǒng)(Personal Handy-phone System/PHS)，信號頻率為1900MHz，而 受測元件量測的項目為位元錯誤率，天線模塊302量測到之干擾雜訊可作為受測元件的背 景雜訊(Background noise)，此外部干擾雜訊會使受測元件位元錯誤率增高，若已知受測元件的調變系統(tǒng)和載波測試功率C，可將所量得外部干擾雜訊N，藉由圖4可預期得知此干 擾雜訊所造成的位元錯誤率，由真正量到的位元錯誤率減去干擾雜訊造成位元錯誤率即可 立即得知真正受測元件的位元錯誤率，如此不需因外部干擾雜訊做位元錯誤率的重測。圖4 中顯示的調變系統(tǒng)包含相位偏移調變或相位移鍵(PSK，Phase Shift Keying)與正交振幅 調變(QAM，QuadratureAmplitude Modulation)，二位元相位偏移調變(BPSK)、四位元相位 偏移調變(QPSK)、八位元相位偏移調變(8PSK)、十六位元相位偏移調變(16PSK)與三十二 位元相位偏移調變(32PSK)，以及十六位元正交振幅調變(16QAM)、六十四位元正交振幅調 變(64QAM)與二五六位元正交振幅調變(256QAM)。圖3B是本發(fā)明干擾接收模塊的另一實施例。在圖3B的實施例中，干擾接收模塊 108包含一天線模塊302、低雜訊放大器(Low Noise Amplif ier) 304與射頻功率偵測器(RF Power Detector) 306。天線模塊302包含雙極性全方位的特性天線，設計工作頻率為受測 元件的操作頻率帶，低雜訊放大器304將電磁干擾放大輸出至射頻功率偵測器306。低雜 訊放大器304可視需要省略，而射頻功率偵測器306將接收到的射頻信號，依接收強度的不 同，轉換成不同的直流電壓(DC Voltage)信號，并輸出至測試機臺102。圖5是干擾接收模 塊接收的射頻信號功率轉換成直流電壓信號的關系圖。圖5中顯示，平均大于0. 6V即表示 有外部電磁干擾的可能，但此0. 6V僅為舉例說明。此直流電壓量測可包含下列兩種方式a)使用機臺的電壓電流(VI)量測儀器在一段時間內做累加平均，以圖5為例，若 大于0. 6V表示該測試項有外部干擾電磁波的可能。b)使用測試機臺102的輸出輸入(l/0)pin連接此直流電壓輸出做功能測試 (function test)。圖6是測試機臺接收的干擾信號轉換后的直流電壓對時間關系圖。圖 6中顯示，直流電壓高峰值維持期間為577 μ s，使用1 μ s的周期時間足以執(zhí)行功能測試，另 外設定臨限電壓(thresholdvoltage)為1. 0V，以此臨限電壓進行比較compare to low, 當功能測試不通過時表示該測試項有外部干擾電磁波的可能，這個方式可同時與受測元件 一般測試項同時進行，以監(jiān)控電磁干擾可能性，不會增加測試時間，更能節(jié)省機臺資源的使 用。本發(fā)明利用測試機臺、干擾接收模塊與測試介面執(zhí)行射頻元件測試，測試機臺內 主機的測試流程模塊執(zhí)行提高射頻元件測試準確率的測試方法可避免因為環(huán)境的電磁干 擾所造成的測試誤差，并可真實及時的反映出不可預期的因電磁波干擾造成的準確率損 失，進而提高測試準確率與效率并有效降低測試成本。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖 然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術人 員，在不脫離本發(fā)明技術方案范圍內，當可利用上述揭示的方法及技術內容作出些許的更 動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術方案的內容，依據(jù)本發(fā)明的 技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術方案 的范圍內。
權利要求
一種提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于包含一測試流程模塊在一測試機臺內；及一干擾接收模塊，該干擾接收模塊接收量測電磁干擾，并將干擾信號輸出至該測試機臺，其中該測試流程模塊根據(jù)元件測試結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。
2.根據(jù)權利要求1所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的測 試流程模塊包含一電腦可讀取媒體，該電腦可讀取媒體存有處理器可執(zhí)行的程序指令以執(zhí) 行提高元件測試準確率的測試方法。
3.根據(jù)權利要求2所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的電 腦可讀取媒體的處理器可執(zhí)行的程序指令用以執(zhí)行提高元件測試準確率的測試方法，該測 試方法包含(a)執(zhí)行元件測試及干擾量測；(b)判斷元件是否通過測試；(c)若元件未通過測試，則檢查判斷干擾量測值是否超過預設標準值；(d)若干擾量測值超過預設標準值則重新執(zhí)行步驟(a)至(c)；及(e)若元件測試仍未通過測試且干擾量測值仍超過預設標準值則停止測試。
4.根據(jù)權利要求1所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的干 擾接收模塊包含一天線模塊。
5.根據(jù)權利要求4所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的天 線模塊經(jīng)由該測試機臺的射頻輸入端子將干擾信號輸入至該測試機臺。
6.根據(jù)權利要求4所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的干 擾接收模塊還包含一射頻功率偵測器，該射頻功率偵測器將該天線模塊接收到的電磁干擾 轉換成直流電壓信號，并輸出至該測試機臺。
7.根據(jù)權利要求6所述的提高元件測試準確率的測試裝置，其特征在于其中所述的干 擾接收模塊還包含一低雜訊放大器，該低雜訊放大器將電磁干擾放大輸出至該射頻功率偵 測器。
8.一種提高元件測試準確率的測試系統(tǒng)，其特征在于其包含 一測試機臺；一測試介面，該測試機臺經(jīng)該測試介面與受測元件進行測試信號傳輸以測試該受測元件；一干擾接收模塊，該干擾接收模塊接收量測電磁干擾，并將干擾信號輸出至該測試機臺，其中該測試機臺根據(jù)元件測試結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。
9.一種提高元件測試準確率的測試方法，其特征在于其包含以下步驟(a)執(zhí)行元件測試及干擾量測；(b)判斷元件是否通過測試；(c)若元件未通過測試，則檢查判斷干擾量測值是否超過預設標準值；(d)若干擾量測值超過預設標準值則重新執(zhí)行步驟(a)至(c)；及(e)若元件測試仍未通過測試且干擾量測值仍超過預設標準值則停止測試。
10.根據(jù)權利要求9所述的提高元件測試準確率的測試方法，其特征在于其中步驟(e) 還包含該測試機臺停止進行測試并通知一檢選分類機臺發(fā)出警示聲響，以通知操作人員排 除干擾。
全文摘要
本發(fā)明是有關一種提高元件測試準確率的測試裝置、測試系統(tǒng)及測試方法。該測試裝置包含一測試流程模塊及一干擾接收模塊，其中該測試流程模塊根據(jù)元件測試結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。該測試系統(tǒng)，包含一測試機臺、一測試介面及一干擾接收模塊，該干擾接收模塊接收量測電磁干擾，其中該測試機臺根據(jù)元件測試結果與該干擾信號判斷干擾信號是否影響元件測試結果。該測試方法，包含a.執(zhí)行元件測試及干擾量測；b.判斷元件是否通過測試；c.若元件未通過測試，則檢查判斷干擾量測值是否超過預設標準值；d.若干擾量測值超過預設標準值則重新執(zhí)行步驟a至c；及e.若元件測試仍未通過測試且干擾量測值仍超過預設標準值則停止測試。
文檔編號G01R31/00GK101871983SQ20091013722
公開日2010年10月27日 申請日期2009年4月24日 優(yōu)先權日2009年4月24日
發(fā)明者柯宣仲, 王韋蘋 申請人:京元電子股份有限公司