專利名稱:一種集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
一種集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及一種光譜成像儀,尤其涉及一種集成全色和偏振超光譜探測能 力的成像儀。
背景技術(shù):
[0002]利用光譜圖像信息可以獲得目標(biāo)的物質(zhì)組成、含量等化學(xué)特征及其空間分布信 息,因而成像光譜技術(shù)在國民經(jīng)濟(jì)社會(huì)的各個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。[0003]首先,成像光譜儀可以作為空間飛行器的有效載荷,利用其獲取的光譜信息可 以應(yīng)用于以下領(lǐng)域土地資源調(diào)查(礦產(chǎn)勘探、城市規(guī)劃、城郊土地分類利用、土地沙 化治理和土壤侵蝕監(jiān)測等)、林業(yè)(林業(yè)資源調(diào)查和伐林造林監(jiān)測等)、生態(tài)(環(huán)境監(jiān) 測、陸地生態(tài)研究和區(qū)域生態(tài)環(huán)境評價(jià)等)、農(nóng)業(yè)(大面積農(nóng)業(yè)資源監(jiān)測、農(nóng)作物產(chǎn)量預(yù) 測、農(nóng)作物長勢分析預(yù)測、病蟲害監(jiān)測等)、深空探測(月球、火星等星體的礦物勘探、 太陽系行星大氣探測等)等領(lǐng)域。其次,光譜分析技術(shù)還廣泛應(yīng)用于食品飲料、石油化 工、紡織、臨床醫(yī)學(xué)等各個(gè)行業(yè)。[0004]偏振圖像信息提供了關(guān)于目標(biāo)的粗糙度、含水量、空隙度、微粒粒徑等物理特 征及其空間分布信息。偏振遙感與傳統(tǒng)遙感相比,有許多獨(dú)特之處,它可以解決普通光 度學(xué)無法解決的一些問題,如云和氣溶膠的粒徑分布等。來自地物的散射光往往為線偏 振光,如林冠覆蓋、耕地、草場的散射光具有20%以上的偏振度,泥灘和水面的反射光 具有50%以上的偏振度,不同地物具有不同的偏振特征,而人造目標(biāo)往往具有比自然目 標(biāo)更強(qiáng)的偏振特征,利用這些偏振信息可以反演出地物目標(biāo)的物理結(jié)構(gòu)、水份含量、巖 石中的金屬含量等,監(jiān)測海水污染狀況,探測地面上空云分布、種類、高度及大氣氣溶 膠粒子的尺寸分布等。無疑,與成像光譜技術(shù)和成像偏振技術(shù)相比,偏振超光譜成像技 術(shù)可以獲取更詳盡、更全面的目標(biāo)信息。[0005]成像光譜技術(shù)依分光原理可分為干涉型(空間調(diào)制型、時(shí)間調(diào)制型)、色散型 (光柵型和棱鏡型)和濾光型(旋轉(zhuǎn)濾光片、液晶可調(diào)諧濾光器(Liquid CrystalTunable Filter, LCTF)、聲光可調(diào)諧濾光器(Acousto-Optic Tunable Filter,AOTF)等)三種,每種 均有其優(yōu)缺點(diǎn)及其適用范圍,其中基于聲光可調(diào)諧濾光器(AcoustoOptic Tunable Filter, AOTF)的成像光譜技術(shù)具有光譜通道和光譜透過率可快速電調(diào)諧所提供的靈活性(光譜 通道順序或隨機(jī)調(diào)諧、多通道同時(shí)獲取、智能自主光譜通道選擇和獲取、實(shí)現(xiàn)矩形光譜 響應(yīng)曲線等)、無運(yùn)動(dòng)部件帶來的結(jié)構(gòu)緊湊性(適應(yīng)惡劣的力學(xué)環(huán)境)、無需復(fù)雜數(shù)據(jù)處 理帶來的易用性以及能同時(shí)獲取偏振、光譜和圖像等多維信息(提高目標(biāo)探測和識別的 能力)的集成性等諸多特色,而具有廣泛的應(yīng)用前景。[0006]由于自然光經(jīng)AOTF衍射后產(chǎn)生偏振態(tài)正交的窄帶O光和E光,同時(shí)采集窄帶 O光和E光圖像即可構(gòu)成最簡單和緊湊的偏振超光譜成像系統(tǒng)(Li-JenCheng,Tien-Hsin Chao, Mack Dowdy, Clayton LaBaw, Cohn Mahoney, GeorgeReyes, “Multispectral imaging systems using acousto-optic tunable filter” , Proc.SPIE Vol.1874, pp.223-231,1993.)。但已有技術(shù)方案有以下缺陷(1)需要兩個(gè)探測器去分別獲取O光圖像和E光 圖像,無疑使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本增加;(2)沒有補(bǔ)償AOTF調(diào)諧時(shí)引起的圖像飄移,從 而導(dǎo)致復(fù)原光譜因譜段混疊而信噪比惡化;(3) AOTF驅(qū)動(dòng)裝置采用DDS芯片,只能工作 在單頻模式,無法獲得多頻模式下多譜段復(fù)合圖像;(4)沒有利用零級衍射光信息;(5) 沒有光路轉(zhuǎn)折而導(dǎo)致系統(tǒng)結(jié)構(gòu)尺寸較長。實(shí)用新型內(nèi)容[0007]為了解決背景技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供了一種通過光學(xué)拼 接裝置將O光圖像和E光圖像拼接在同一個(gè)探測器的感光面上、通過光路轉(zhuǎn)折使系統(tǒng)結(jié) 構(gòu)緊湊、通過光楔補(bǔ)償裝置和圖像配準(zhǔn)算法進(jìn)行圖像漂移補(bǔ)償、基于任意波形發(fā)生器方 案實(shí)現(xiàn)多頻AOTF驅(qū)動(dòng)、能同時(shí)獲取全色圖像信息和窄帶正交偏振圖像信息的可編程偏 振超光譜和全色聯(lián)合成像儀。[0008]本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是本實(shí)用新型提供了一種集成全色和偏振超光譜 探測能力的成像儀,其特殊之處在于所述集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀包 括前置鏡、視場光闌、準(zhǔn)直鏡、聲光可調(diào)諧濾光器、轉(zhuǎn)折鏡、偏振超光譜成像系統(tǒng)以及 全色成像系統(tǒng);所述前置鏡、視場光闌、準(zhǔn)直鏡、聲光可調(diào)諧濾光器和轉(zhuǎn)折鏡依次設(shè)置 于同一光路上;所述經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在一級衍射光的光路上設(shè)置有偏振超光譜成像系統(tǒng) 以及經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在零級衍射光的光路上設(shè)置有全色成像系統(tǒng)。[0009]上述偏振超光譜成像系統(tǒng)包括偏振超光譜探測器、偏振超光譜探測器控制處理 系統(tǒng)以及經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在O光光路上的O光成像系統(tǒng)和在E光光路上的E光成像系統(tǒng); 所述O光成像系統(tǒng)與E光成像系統(tǒng)拼接后依次和偏振超光譜探測器以及偏振超光譜探測 器控制處理系統(tǒng)相連。[0010]上述O光成像系統(tǒng)包括O光轉(zhuǎn)折鏡和O光成像鏡;所述O光轉(zhuǎn)折鏡和O光成像 鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡和偏振超光譜探測器之間。[0011]上述O光成像系統(tǒng)還包括O光光楔;所述O光光楔置于O轉(zhuǎn)折鏡和成像鏡之間 的準(zhǔn)直光路中。[0012]上述O光光楔是單光楔或多個(gè)單光楔的組合。[0013]上述E光成像系統(tǒng)包括E光轉(zhuǎn)折鏡和E光成像鏡;所述E光轉(zhuǎn)折鏡和E光成像 鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡和偏振超光譜探測器之間。[0014]上述E光成像系統(tǒng)還包括E光光楔;所述E光光楔置于E轉(zhuǎn)折鏡和成像鏡之間 的準(zhǔn)直光路中。[0015]上述E光光楔是單光楔或多個(gè)單光楔的組合。[0016]上述全色成像系統(tǒng)包括全色成像鏡、全色探測器以及全色探測器控制處理系 統(tǒng);所述全色成像鏡和全色探測器依次設(shè)置在經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在零級衍射光的光路上; 所述全色探測器和全色探測器控制處理系統(tǒng)電性連接。[0017]上述成像儀還包括和聲光可調(diào)諧濾光器電性連接的聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器, 所述聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器是基于FPGA與DAC的結(jié)合結(jié)構(gòu)或CPLD與DAC的結(jié)合結(jié) 構(gòu)的任意波形發(fā)生器。[0018]上述偏振超光譜探測器和全色探測器是紫外探測器、可見光探測器或紅外探測器;對于紫外探測器尤其是紫外CCD;對于可見光探測器,尤其是CCD、CMOS或 EMCCD。[0019]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是[0020]1、能同時(shí)獲取全色圖像和偏振超光譜圖像。本實(shí)用新型在零級衍射光路上設(shè)置 全色成像探測系統(tǒng),能在獲取偏振超光譜圖像的同時(shí)獲得全色圖像。[0021]2、可實(shí)現(xiàn)光路轉(zhuǎn)折。本實(shí)用新型所提供的光譜成像儀在聲光可調(diào)諧濾光器出射 端零級衍射光和一級衍射光未分離處設(shè)置轉(zhuǎn)折鏡進(jìn)行光路轉(zhuǎn)折,使得儀器結(jié)構(gòu)緊湊。[0022]3、可實(shí)現(xiàn)圖像拼接。本實(shí)用新型將現(xiàn)有技術(shù)中兩個(gè)分離的O光像面和E光像面 用光學(xué)拼接裝置拼接在同一個(gè)探測器感光面的不同位置,從而將現(xiàn)有技術(shù)中兩套探測器 控制處理系統(tǒng)合二為一,大大簡化了系統(tǒng)結(jié)構(gòu),使得儀器體積小,重量輕,結(jié)構(gòu)緊湊, 抗沖擊振動(dòng)能力強(qiáng),具有較強(qiáng)的航天環(huán)境適應(yīng)能力。[0023]4、可對圖像漂移進(jìn)行補(bǔ)償。本實(shí)用新型分別在O光光路和E光光路內(nèi)設(shè)置有 O光光楔和E光光楔,該部件的設(shè)置使得本實(shí)用新型可對圖像漂移進(jìn)行補(bǔ)償,另外,對采 集到的O光光譜圖像和E光光譜圖像用圖像配準(zhǔn)算法進(jìn)行譜段配準(zhǔn)可以進(jìn)一步消除圖像 漂移,從而提高偏振光譜復(fù)原精度和信噪比。[0024]5、多譜段復(fù)合成像。本實(shí)用新型將現(xiàn)有的聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器用多頻驅(qū)動(dòng) 器替代,可以實(shí)現(xiàn)多譜段復(fù)合成像。
[0025]圖1為本實(shí)用新型所提供的集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀的結(jié)構(gòu)示 意圖。
具體實(shí)施方式
[0026]參見圖1,本實(shí)用新型提供了一種成像儀,包括前置鏡2、視場光闌3、準(zhǔn)直鏡 4、聲光可調(diào)諧濾光器5;前置鏡2、視場光闌3、準(zhǔn)直鏡4、聲光可調(diào)諧濾光器5依次設(shè) 置在同一光路上;聲光可調(diào)諧濾光器5出射光路包括一級衍射光(O光和E光)和零級衍 射光;在一級衍射光(該一級衍射光包括O光和E光)和零級衍射光未分離處設(shè)置轉(zhuǎn)折鏡 6進(jìn)行光路轉(zhuǎn)折;在經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡6轉(zhuǎn)折的O光光路上設(shè)置有O光成像系統(tǒng)20 ;在經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡 6轉(zhuǎn)折的E光光路上設(shè)置有E光成像系統(tǒng)21 ; O光成像系統(tǒng)20的像面和E光成像系統(tǒng)21 的像面在偏振超光譜探測器13的感光面上形成拼接在一起的O光光譜圖像和E光光譜圖 像;在經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡6轉(zhuǎn)折的零級衍射光光路上依次設(shè)置有全色成像鏡15和全色探測器16 ; 全色探測器15與全色探測器控制處理系統(tǒng)16相連;偏振超光譜探測器13與偏振超光譜 探測器控制處理系統(tǒng)14相連;偏振超光譜探測器控制處理系統(tǒng)14和全色探測器控制處理 系統(tǒng)16與控制采集處理計(jì)算機(jī)18相連。[0027]O光成像系統(tǒng)20依次包括O光轉(zhuǎn)折鏡7、O光光楔8以及O光成像鏡9。O光 成像系統(tǒng)20設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡6轉(zhuǎn)折光路中零級衍射光和一級衍射光完全分離處。為了消除 聲光可調(diào)諧濾光器5調(diào)諧時(shí)所引起的圖像漂移,在O光轉(zhuǎn)折鏡7和O光成像鏡9之間的 光路中設(shè)置O光光楔8,O光光楔8是單光楔或多個(gè)單光楔的組合。[0028]E光成像系統(tǒng)21依次包括E光轉(zhuǎn)折鏡10、E光光楔11以及E光成像鏡12。E光成像系統(tǒng)21設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡6轉(zhuǎn)折光路中零級衍射光和一級衍射光完全分離處。為了消 除聲光可調(diào)諧濾光器5調(diào)諧時(shí)所引起的圖像漂移,在E光轉(zhuǎn)折鏡10和E光成像鏡12之間 的光路中設(shè)置E光光楔11,E光光楔11是單光楔或多個(gè)單光楔的組合。[0029]O光光楔8和E光光楔11的光學(xué)材料色散特性應(yīng)與聲光可調(diào)諧濾光器5聲光材 料的色散特性相匹配,并且其設(shè)計(jì)參數(shù)應(yīng)進(jìn)行優(yōu)化,以使聲光調(diào)諧所引起的探測器14感 光面上圖像漂移小于十分之一像元。[0030]該可編程偏振超光譜成像儀還包括和聲光可調(diào)諧濾光器5電性連接的聲光可調(diào) 諧濾光器驅(qū)動(dòng)器19,該聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器19是基于FPGA與DAC的結(jié)合結(jié)構(gòu)或 CPLD與DAC的結(jié)合結(jié)構(gòu)的任意波形發(fā)生器。[0031]偏振超光譜探測器13和全色探測器15是紫外探測器、可見光探測器或紅外探 測器;對于紫外探測器尤其是紫外CCD ;對于可見光探測器,尤其是CCD、CMOS或 EMCCD。[0032]控制采集處理計(jì)算機(jī)18設(shè)置偏振超光譜探測器控制處理系統(tǒng)14、全色探測器控 制處理系統(tǒng)16和聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器19的工作模施和工作參數(shù),調(diào)諧聲光可調(diào)諧濾 光器5的光譜通道,采集超光譜探測器控制處理系統(tǒng)14輸出的一系列不同譜段的O光光 譜圖像和E光光譜圖像和全色探測器控制處理系統(tǒng)16輸出的全色圖像,通過圖像配置算 法進(jìn)一步補(bǔ)償聲光可調(diào)諧濾光器偏振超光譜圖像漂移,最后通過偏振光譜反演算法獲得 目標(biāo)場景的偏振超光譜圖像數(shù)據(jù)立方體。[0033]為了保證寬譜段成像質(zhì)量和偏振超光譜信噪比,前置鏡2、準(zhǔn)直鏡4、O光成像 鏡9、E光成像鏡12采用復(fù)消色差設(shè)計(jì),保證在全譜段范圍內(nèi),全系統(tǒng)單色光彌散圓直徑 小于偏振超光譜探測器13的像元尺寸。為了充分利用聲光可調(diào)諧濾光器5的有效孔徑, 準(zhǔn)直鏡4的出瞳以及O光成像鏡9和E光成像鏡12的入瞳應(yīng)設(shè)置在聲光可調(diào)諧濾光器5 的中心。[0034]偏振超光譜探測器13和全色探測器15可以是紫外探測器(紫外CCD)、可見光 探測器(CCD、CMOS、EMCCD等)或紅外探測器。[0035]通過調(diào)諧聲光可調(diào)諧濾光器5的驅(qū)動(dòng)頻率以選擇感興趣的窄帶偏振光譜圖像。 聲光可調(diào)諧濾光器5采用非共線設(shè)計(jì),聲光材料可以是化02、TAS等,其輸出的兩路偏 振態(tài)正交的O光和E光經(jīng)O光成像系統(tǒng)20和E光成像系統(tǒng)21獲得在偏振超光譜探測器 13的感光面上拼接在一起的正交偏振光譜圖像。[0036]本實(shí)用新型所提供的該偏振超光譜成像儀的工作過程是來自目標(biāo)場景1的發(fā) 射、反射或透射光經(jīng)前置鏡2收集后在其后焦面處獲得一次像面。位于前置鏡2像面處 的視場光闌3限制成像視場范圍。目標(biāo)的一次像面像經(jīng)前置準(zhǔn)直鏡4準(zhǔn)直、聲光可調(diào)諧 濾光器5分光后分成零級衍射光和一級衍射光(O光和E光)。零級衍射光經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡6和 全色成像鏡在全色探測器上獲得全色圖像,經(jīng)全色探測器控制處理系統(tǒng)15處理和控制采 集處理計(jì)算機(jī)18采集處理后獲得全色數(shù)字圖像。O光光束經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡6以及由O光轉(zhuǎn)折鏡 7、O光光楔8、O光成像鏡9組成的O光成像系統(tǒng)20獲得O光圖像,E光光束經(jīng)轉(zhuǎn)折 鏡6以及由E光轉(zhuǎn)折鏡10、E光光楔11、E光成像鏡12組成的E光成像系統(tǒng)21獲得E 光圖像,O光圖像和E光圖像在偏振超光譜探測器13的感光面上拼接在一起,經(jīng)偏振超 光譜探測器控制處理系統(tǒng)14處理和控制采集處理計(jì)算機(jī)18采集處理后獲得O光光譜數(shù)字圖像和E光光譜數(shù)字圖像,采集和處理一系列譜段的O光光譜數(shù)字圖像和E光光譜數(shù)字 圖像后,經(jīng)圖像配準(zhǔn)和光譜反演后形成目標(biāo)場景1的偏振超光譜圖像數(shù)據(jù)立方體??刂?采集處理計(jì)算機(jī)18通過控制聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器19輸出的驅(qū)動(dòng)信號頻點(diǎn)數(shù)和頻率值 可以選擇感興趣的窄帶偏振光譜圖像或多譜段復(fù)合圖像,通過控制聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū) 動(dòng)器19輸出驅(qū)動(dòng)信號的功率可以控制聲光可調(diào)諧濾光器5的衍射效率。
權(quán)利要求1.一種集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀,其特征在于所述集成全色和偏 振超光譜探測能力的成像儀包括前置鏡、視場光闌、準(zhǔn)直鏡、聲光可調(diào)諧濾光器、轉(zhuǎn)折 鏡、偏振超光譜成像系統(tǒng)以及全色成像系統(tǒng);所述前置鏡、視場光闌、準(zhǔn)直鏡、聲光可 調(diào)諧濾光器和轉(zhuǎn)折鏡依次設(shè)置于同一光路上;所述經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在一級衍射光的光路 上設(shè)置有偏振超光譜成像系統(tǒng)以及經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在零級衍射光的光路上設(shè)置有全色成 像系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀,其特征在于 所述偏振超光譜成像系統(tǒng)包括偏振超光譜探測器、偏振超光譜探測器控制處理系統(tǒng)以及 經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在O光光路上的O光成像系統(tǒng)和在E光光路上的E光成像系統(tǒng);所述O 光成像系統(tǒng)與E光成像系統(tǒng)拼接后依次和偏振超光譜探測器以及偏振超光譜探測器控制 處理系統(tǒng)相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述O光成像系 統(tǒng)包括O光轉(zhuǎn)折鏡和O光成像鏡;所述O光轉(zhuǎn)折鏡和O光成像鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡和偏 振超光譜探測器之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述O光成像系 統(tǒng)還包括O光光楔;所述O光光楔置于O轉(zhuǎn)折鏡和成像鏡之間的準(zhǔn)直光路中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述O光光楔是 單光楔或多個(gè)單光楔的組合。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述E光成像系統(tǒng) 包括E光轉(zhuǎn)折鏡和E光成像鏡;所述E光轉(zhuǎn)折鏡和E光成像鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)折鏡和偏振 超光譜探測器之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述E光成像系統(tǒng) 還包括E光光楔;所述E光光楔置于E轉(zhuǎn)折鏡和成像鏡之間的準(zhǔn)直光路中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的可編程偏振超光譜成像儀,其特征在于所述E光光楔是單 光楔或多個(gè)單光楔的組合。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8任一權(quán)利要求所述的集成全色和偏振超光譜探測能力的成像 儀,其特征在于所述全色成像系統(tǒng)包括全色成像鏡、全色探測器以及全色探測器控制 處理系統(tǒng);所述全色成像鏡和全色探測器依次設(shè)置在經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在零級衍射光的光 路上;所述全色探測器和全色探測器控制處理系統(tǒng)電性連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀,其特征在于 所述成像儀還包括和聲光可調(diào)諧濾光器電性連接的聲光可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器,所述聲光 可調(diào)諧濾光器驅(qū)動(dòng)器是基于FPGA與DAC的結(jié)合結(jié)構(gòu)或CPLD與DAC的結(jié)合結(jié)構(gòu)的任意 波形發(fā)生器。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀,其特征在于 所述偏振超光譜探測器和全色探測器是紫外探測器、可見光探測器或紅外探測器;對于 紫外探測器尤其是紫外CCD ;對于可見光探測器,尤其是CCD、CMOS或EMCCD。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種集成全色和偏振超光譜探測能力的成像儀,包括依次設(shè)置于同一光路上的前置鏡、視場光闌、準(zhǔn)直鏡、聲光可調(diào)諧濾光器和轉(zhuǎn)折鏡,經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在一級衍射光的光路上設(shè)置有偏振超光譜成像系統(tǒng),經(jīng)轉(zhuǎn)折鏡轉(zhuǎn)折后在零級衍射光的光路上設(shè)置有全色光成像系統(tǒng)。本實(shí)用新型提供了一種通過光學(xué)拼接裝置將O光圖像和E光圖像拼接在同一個(gè)探測器的感光面上、通過光路轉(zhuǎn)折使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、通過光楔補(bǔ)償裝置和圖像配準(zhǔn)算法進(jìn)行圖像漂移補(bǔ)償、基于任意波形發(fā)生器方案實(shí)現(xiàn)多頻AOTF驅(qū)動(dòng)、能同時(shí)獲取全色圖像信息和窄帶正交偏振圖像信息的可編程偏振超光譜和全色聯(lián)合成像儀。
文檔編號G01J3/447GK201811790SQ200920245469
公開日2011年4月27日 申請日期2009年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月27日
發(fā)明者李英才, 趙葆常, 邱躍洪 申請人:中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所