專利名稱：光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于大塊光學(xué)玻璃的應(yīng)力雙折射測量裝置，特別涉及一種立式光學(xué) 玻璃應(yīng)力雙折射測量裝置。
背景技術(shù)：
光學(xué)玻璃是一種各向同性物質(zhì)，但如果玻璃有應(yīng)力，就會(huì)呈現(xiàn)各向異性。光通過具有內(nèi) 應(yīng)力的光學(xué)玻璃后會(huì)分解微折射率不相同的正常光(o光)和非常光(e光)兩部分。當(dāng)光沿 垂直光軸方向傳播時(shí)，o光和e光的速度相差最大，當(dāng)光以這個(gè)方向通過一塊有內(nèi)應(yīng)力厚度為 d的光學(xué)玻璃后，由應(yīng)力雙折射所產(chǎn)生的o光和e光之間的光程差A(yù)可以表示為△= (n。一 iie) Xd。玻璃的內(nèi)應(yīng)力越大，由雙折射所引起的n。和ne相差就越大，所以，光學(xué)玻璃關(guān)于應(yīng) 力大小的質(zhì)量指標(biāo)可以用光通過玻璃后o光和e光之間的光程差來表示。我國無色光學(xué)玻璃國 家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力指標(biāo)，按照光通過l厘米厚的光學(xué)玻璃雙折射所產(chǎn)生的o光和e 光之間的光程差來表示，國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7962.5-1987《無色光學(xué)玻璃測試方法》中規(guī)定，應(yīng) 力測量采用四分之一波片法偏光應(yīng)力儀，儀器光路圖如圖l所示，光從光源l發(fā)出，依此經(jīng)過 漫射濾光片2、起偏器3、被測樣品4、入/4波片5和檢偏器6，該偏光應(yīng)力儀帶有一個(gè)和檢偏 器6聯(lián)動(dòng)的光程差讀數(shù)盤(刻度值與濾光片的峰值波長一致)，可在讀數(shù)盤上直接讀取光程 差。
采用上述偏光應(yīng)力儀測量時(shí)，樣品與應(yīng)力測試儀橫向放置，也就是說測量光路與水平面 平行，這種設(shè)計(jì)對于日常測試小塊樣品比較方便，但不利于大塊玻璃的測量。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種能測量大塊光學(xué)玻璃的應(yīng)力的測量裝置。
本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，包括應(yīng)力測量 儀和樣品臺(tái)，所述裝置的測量光路垂直于水平面。
本實(shí)用新型的有益效果是由于本實(shí)用新型的測量光路垂直于水平面，因此玻璃樣品可 水平放置在樣品臺(tái)上，這種放置方式對玻璃樣品的體積大小沒有限制，可非常方便地測量大 塊光學(xué)玻璃樣品的應(yīng)力；測量裝置可在測試室中移動(dòng)，提高了測量工作的效率；本實(shí)用新型 采用可旋轉(zhuǎn)的樣品臺(tái)，在測試光學(xué)玻璃的不同位置時(shí)，更加方便。

圖1是現(xiàn)有的四分之一波片法偏光應(yīng)力儀的光路圖。
圖2是本實(shí)用新型的裝置示意圖。
圖3是本實(shí)用新型的測量光路圖。
具體實(shí)施方式
如圖2所示，本實(shí)用新型由應(yīng)力測量儀和樣品臺(tái)組成，應(yīng)力測量儀的光源l、漫射濾光片 2、起偏器3、入/4波片5、檢偏器6和讀數(shù)盤10都安裝在鋼架7上，鋼架7與地面垂直，所述應(yīng) 力測量儀為豎式結(jié)構(gòu)，鋼架7底部安裝有滾輪，可在測量室內(nèi)自由移動(dòng)；樣品臺(tái)包括圓盤8和 底座9，圓盤8安裝在底座9的中軸上，圓盤8與地面平行，且圓盤8可繞底座9的中軸轉(zhuǎn)動(dòng)，為 了減少摩擦，可在圓盤8與底座9上的中軸的接觸位置設(shè)置橡皮墊11。將玻璃樣品4制作成矩 形或圓形等形狀，并在玻璃樣品4的兩個(gè)觀測面上涂抹相應(yīng)的折射液后，放置于圓盤8上，按 工藝規(guī)程保溫。本實(shí)用新型的裝置縱向放置，也就是說本實(shí)用新型的裝置的測量原理與圖l 相同，但測量光路垂直于水平面，如圖3所示。
測量時(shí)，推動(dòng)立式應(yīng)力測量儀到樣品臺(tái)，如圖2所示位置，旋轉(zhuǎn)圓盤8，按《光學(xué)玻璃測 試方法國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7962.5-1987》測試玻璃各個(gè)部位的邊緣應(yīng)力。
權(quán)利要求1.光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，包括應(yīng)力測量儀和樣品臺(tái)，其特征在于所述裝置的測量光路垂直于水平面。
2 如權(quán)利要求l所述的光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，其特征在于所述樣 品臺(tái)包括底座(9)和安裝在底座(9)的中軸上的圓盤(8)。
3 如權(quán)利要求l所述的光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，其特征在于所述應(yīng) 力測量儀的光源(1)、漫射濾光片(2)、起偏器(3)、入/4波片(5)、檢偏器(6)和 讀數(shù)盤(10)安裝在鋼架(7)上，所述鋼架(7)與地面垂直。
4 如權(quán)利要求l所述的光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，其特征在于，所述鋼 架(7)底部安裝有滾輪。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種能測量大塊光學(xué)玻璃的應(yīng)力的測量裝置。光學(xué)玻璃應(yīng)力測量裝置，包括應(yīng)力測量儀和樣品臺(tái)，所述裝置的測量光路垂直于水平面。由于本實(shí)用新型的測量光路垂直于水平面，因此玻璃樣品可水平放置在樣品臺(tái)上，這種放置方式對玻璃樣品的體積大小沒有限制，可非常方便地測量大塊光學(xué)玻璃樣品的應(yīng)力；測量裝置可在測試室中移動(dòng)，提高了測量工作的效率；本實(shí)用新型采用可旋轉(zhuǎn)的樣品臺(tái)，在測試光學(xué)玻璃的不同位置時(shí)，更加方便。
文檔編號(hào)G01L1/24GK201429483SQ20092030527
公開日2010年3月24日 申請日期2009年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月29日
發(fā)明者吳志強(qiáng), 張世澤, 毛露路, 田豐貴, 熔 胡, 許國珍 申請人:成都光明光電股份有限公司