專利名稱：阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及阻抗元件自動分選檢測系統(tǒng)，特別涉及具有評估模塊的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在電子元件中最基礎(chǔ)是的阻抗元件，如電容器、電阻器在國內(nèi)大規(guī)模生產(chǎn)并大量出口，隨著阻抗元件用途的拓展，要求的提高，生產(chǎn)規(guī)模的擴大，對其檢測要求也更高。目前高品質(zhì)阻抗元件的發(fā)展趨勢是朝著“三高”即高溫、高頻、高壓方向，有些阻抗元器件須在頻率IkHz--IOOkHz,電壓4kV條件下的測試，并且生產(chǎn)廠家需要在測試后對阻抗元件的質(zhì)量有一個評估，查明生產(chǎn)設(shè)備和工藝裝備的實際精度，以便作出正確的技術(shù)決定。在阻抗元件生產(chǎn)檢測技術(shù)方面領(lǐng)先的意大利、日本例如阿可、TOWA公司等的設(shè)備，近年即使阻抗元件生產(chǎn)大量轉(zhuǎn)向中國而它們的檢測設(shè)備由于價格等因素卻難以進(jìn)入國內(nèi)，造成生產(chǎn)和檢測的脫節(jié)，限制了阻抗元件生產(chǎn)向高水平發(fā)展。而且，國內(nèi)尚無適合此要求的阻抗元件批量生產(chǎn)專用檢測設(shè)備可提供市場，如果使用進(jìn)口設(shè)備不僅在于高昂的價格，而且很重要的是難以得到及時的售后服務(wù)，特別當(dāng)整機中有部分儀器或零件損壞，整臺設(shè)備就有可能報廢。所以為了滿足國內(nèi)的要求研制高精度的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)是非常必要的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，能夠?qū)ψ杩乖骷臋z測分選并對參數(shù)進(jìn)行分析和處理，形成可使用戶能評估阻抗元器件質(zhì)量的評估報告。為了解決上述的技術(shù)問題，本發(fā)明的技術(shù)方案如下一種阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，包括一用來精確定位被測阻抗元件的 LCR分選設(shè)備；用來測量阻抗元件參數(shù)的LCR測量儀；用來控制LCR分選設(shè)備精確定位，從而協(xié)助測試單元和LCR測量儀測量被測阻抗元件參數(shù)的控制單元，其特征在于，所述系統(tǒng)還設(shè)有一采集并結(jié)合LCR測量儀上被測阻抗元件參數(shù)以及控制單元上輸出的數(shù)據(jù)并通過數(shù)據(jù)模型處理后得出質(zhì)量評估報告的處理單元；所述處理單元內(nèi)設(shè)有用來采集被測阻抗元件數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集模塊；可以將已經(jīng)保存的數(shù)據(jù)讀入的歷史數(shù)據(jù)讀入模塊；可以顯示被測阻抗元件數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)結(jié)果的顯示模塊；用來保存被測阻抗元件數(shù)據(jù)的存儲模塊；負(fù)責(zé)將被測阻抗元件參數(shù)經(jīng)過數(shù)據(jù)模型處理的數(shù)據(jù)評估模塊，以及負(fù)責(zé)將數(shù)據(jù)評估模塊處理的數(shù)據(jù)以圖形方式輸出的評估報告模塊。進(jìn)一步特征為，所述的數(shù)據(jù)采集模塊包括用來獲取可編程控制器數(shù)據(jù)和LCR測量儀數(shù)據(jù)同步信號的采集分選設(shè)備同步信號模塊，采集LCR測量儀數(shù)據(jù)模塊，采集可編程控制器數(shù)據(jù)模塊，用來查看數(shù)據(jù)是否異常的分析數(shù)據(jù)模塊。進(jìn)一步特征為，所述數(shù)據(jù)評估模型實現(xiàn)讀入至少100個LCR元器件的參數(shù)；將讀入的數(shù)據(jù)進(jìn)行分組，每5個一組，不滿5個的不參與統(tǒng)計；計算各子組樣本的平均數(shù)Xi =(Xil+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5 ；計算各子組樣本極差Ri = max (xi j)-min (xi j)；計算各樣本子組平均值的總平均值X與各樣本子組極差值的總平均值R ；計算控制圖的上限UCLR，中心值 CLR,下限LCLR ；計算過程能力指數(shù)Cp，偏移過程能力指數(shù)Cpk。進(jìn)一步特征為，所述數(shù)據(jù)評估模塊讀入100個LCR元器件的參數(shù)，找出所有數(shù)據(jù)中的最大值Xmax和最小值Xmin;算出所有數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差值R = Xmax-Xmin ；計算分組組距h = R/k，k為分組數(shù)；計算各分組數(shù)據(jù)范圍；計算各分組數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的包含數(shù)據(jù)個數(shù)；計算每組數(shù)據(jù)；計算樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差值S ；計算過程能力指數(shù)Cp和偏移過程能力指數(shù)Cpk。進(jìn)一步特征為，所述LCR分選設(shè)備包括機械傳動機構(gòu)，給機械傳動機構(gòu)中的分度機構(gòu)采用間歇分度機構(gòu)，所述控制單元包括可編程控制器、可編程角度計數(shù)器、旋轉(zhuǎn)編碼器，在機械傳動部分主軸上設(shè)置傳感器，該傳感器輸出電脈沖信號給旋轉(zhuǎn)編碼器，該旋轉(zhuǎn)編碼器發(fā)出信號觸發(fā)可編程角度計數(shù)器，根據(jù)擬定好的時序圖輸出低電平信號給可編程控制
ο進(jìn)一步特征為，所述的間歇分度機構(gòu)為馬歇爾間歇機構(gòu)。進(jìn)一步特征為，所述測量阻抗原件數(shù)據(jù)的檢測單元要完成包括低電平開路容量檢測單元、直流跳火單元、直流耐壓單元、交流耐壓檢測單元、絕緣電阻測試單元；LCR測量儀要完成損耗檢測及容量分選單元的測試。并且所述LCR分選設(shè)備包括測試夾具，該測試夾具的測試觸點采用合金材料，LCR 測量儀在IOOkHz下，通過處理器對經(jīng)計量的標(biāo)準(zhǔn)件的參數(shù)進(jìn)行運算、分段校正、設(shè)計補償表；可編程控制器利用時序嚴(yán)格控制，錯時啟動在4kv高壓下測量；可編程控制器為PLC控制器。本發(fā)明的優(yōu)點為不僅能分析其電參數(shù)檢測的共性需求，結(jié)合對電容器、電阻、電感檢測的研究，使其能對阻抗元件的生產(chǎn)起更大的作用。進(jìn)行檢測數(shù)據(jù)的采集后，建立數(shù)據(jù)庫，管理檢測數(shù)據(jù)的記錄、統(tǒng)計，并繪制相應(yīng)圖形，通過數(shù)據(jù)模型處理后得出質(zhì)量評估報告， 方便質(zhì)量檢查，跟蹤。還能精確測量阻抗元器件的電性能參數(shù)，并且在高頻、高壓的情況下也能精確測量。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明中數(shù)據(jù)采集原理示意圖。圖3為本發(fā)明數(shù)據(jù)采集模塊的工作流程圖。圖4為本發(fā)明數(shù)據(jù)采集模塊算法示意圖。圖5為本發(fā)明中評估報告模塊輸出的元器件標(biāo)準(zhǔn)差和極差控制圖樣圖。圖6為本發(fā)明中評估報告模塊輸出的元器件電容量直方圖樣圖。圖7為本發(fā)明中機械傳動結(jié)構(gòu)分度機構(gòu)在轉(zhuǎn)動時的結(jié)構(gòu)示意圖。圖8為本發(fā)明中機械傳動結(jié)構(gòu)分度機構(gòu)在靜止時的結(jié)構(gòu)示意圖。圖9為本發(fā)明中機械傳動結(jié)構(gòu)示意圖。圖10為本發(fā)明LCR分選設(shè)備中測試單元中直流跳火測試單元電路原理圖。圖11為本發(fā)明LCR分選設(shè)備中測試單元中直流耐壓測試單元電路原理圖。
圖12為本發(fā)明LCR分選設(shè)備中測試單元中交流耐壓測試單元電路原理圖。圖13為本發(fā)明LCR分選設(shè)備中測試單元中絕緣電阻測試單元電路原理圖。
具體實施例方式為了使本發(fā)明實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。如圖1所示，阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)包括LCR分選設(shè)備1，用來測量阻抗元件參數(shù)的LCR測量儀6 ；用來控制LCR分選設(shè)備正確定位，從而協(xié)助測試單元和LCR測量儀測量被測阻抗元件參數(shù)的控制單元5 ；數(shù)據(jù)處理單元；所述的LCR分選設(shè)備包括測試單元 2、機械傳動機構(gòu)4和測試夾具3，所述的數(shù)據(jù)處理單元包括數(shù)據(jù)采集模塊、可以顯示被測阻抗元件數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)結(jié)果的顯示模塊、用來保存被測阻抗元件數(shù)據(jù)的存儲模塊、負(fù)責(zé)將被測阻抗元件參數(shù)經(jīng)過數(shù)據(jù)模型處理的數(shù)據(jù)評估模塊、以及負(fù)責(zé)將數(shù)據(jù)評估模塊處理的數(shù)據(jù)以圖形方式輸出的評估報告模塊。在LCR分選設(shè)備1完成各個測試單元2包括低電平開路容量檢測單元(CO)、直流跳火單元(FO)、直流耐壓單元(DCTV)、交流耐壓檢測單元(ACTV)、絕緣電阻測試單元的測試(IR)，每個元器件經(jīng)過測試后所得合格或不合格的信號傳輸給PLC控制器5，如圖2所示，PLC控制器5通過RS232通訊協(xié)議輸入給處理單元中的數(shù)據(jù)采集模塊；同時LCR測量儀 6測試各個元器件損耗檢測參數(shù)(主參數(shù)C)及容量分選單元參數(shù)(副參數(shù)D)還有LCR元器件等級品參數(shù)(ACl，AC2)，這些參數(shù)檢測合格與否的信號傳輸給PLC控制器5，通過PLC 控制器5輸入給數(shù)據(jù)采集模塊，參數(shù)的具體數(shù)值LCR測量儀6通過RS232通訊協(xié)議輸入給數(shù)據(jù)采集模塊，也就是說數(shù)據(jù)采集模塊負(fù)責(zé)實時監(jiān)控阻抗元器件和LCR測量儀測試結(jié)果。處理單元的數(shù)據(jù)采集模塊的工作流程圖參見圖3，數(shù)據(jù)開始采集后，PLC控制器5 和LCR測量儀6給出同步信號，保證采集到的數(shù)據(jù)是同一個阻抗元器件的，如果超過時間沒有獲得同步信號，就回到采集分選設(shè)備同步信號模塊等待，當(dāng)獲得了同步信號以后，就啟動采集LCR測量儀數(shù)據(jù)模塊子線程和采集PLC控制器數(shù)據(jù)模塊子線程，如果超時沒有采集到數(shù)據(jù)，就會到數(shù)據(jù)異常報錯單元，沒有超時就分析采集到的各監(jiān)測點的數(shù)據(jù)，并顯示已完成所有檢測的阻抗元器件到用戶界面，達(dá)到設(shè)定的采集數(shù)量，采集就完成了。對采集LCR測量儀數(shù)據(jù)模塊和采集PLC控制器數(shù)據(jù)模塊的算法原理參見圖4，對數(shù)據(jù)的采集是通過節(jié)點鏈表循環(huán)保存，鏈表節(jié)點為一個比較大的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)體，該鏈表節(jié)點對應(yīng)LCR分選設(shè)備上的每個夾具，保存了該夾具上的阻抗元器件在分選過程中所有檢測的數(shù)據(jù)及該元器件的分選狀態(tài)。因分選設(shè)備所有檢測點在分選設(shè)備運行時同時對相應(yīng)的夾具進(jìn)行檢測，故需對所有的檢測結(jié)果進(jìn)行排序，以保證夾具進(jìn)行所有檢測后的能夠獲知對應(yīng)的正確數(shù)據(jù)。例如當(dāng)一個元器件(標(biāo)號No. 1)通過CO的檢測點后，把檢測結(jié)果存入節(jié)點1，同時FO檢測點也獲得了元器件數(shù)據(jù)，按分選設(shè)備的運行機制，F(xiàn)O檢測點的數(shù)據(jù)是對應(yīng)第一個元器件往前數(shù)的第12 個元器件(假設(shè)CO工位是第1個工位的話，F(xiàn)O工位為第13個工位的話，夾具需走12個工位才能到達(dá)FO工位，每個工位可以理解為一個夾具)，因此把FO檢測結(jié)果保存到相應(yīng)的節(jié)點13，與之對應(yīng)。當(dāng)標(biāo)號No. 1元器件通過CO檢測后，后面的標(biāo)號No. 2的元器件也到達(dá)CO 檢測工位進(jìn)行檢測，并有檢測數(shù)據(jù)產(chǎn)生，上位機獲得該數(shù)據(jù)后把該數(shù)據(jù)存入節(jié)點1前的一個節(jié)點(可以把節(jié)點的保存變化理解為設(shè)備上的夾具，朝后走了一個工位)，因鏈表為循環(huán)鏈表，所以節(jié)點1前的節(jié)點為節(jié)點觀2(對應(yīng)了 282個夾具)。以此類推可知其它檢測工位的數(shù)據(jù)保存方式。用戶可以使用一個工控機，在工控機內(nèi)嵌入該處理單元，便于人機交互。處理單元的軟件系統(tǒng)考慮采用Wndows平臺下的VC++與MATLAB軟件的混合編程。目前，Matlab廣泛的應(yīng)用于自動控制、數(shù)學(xué)運算、信號分析、圖像處理、財務(wù)分析等各行各業(yè)，特別是在數(shù)據(jù)統(tǒng)計、計算、分析方面擁有強大的優(yōu)勢。但Matlab是一種解釋性語言，其特點是以矩陣為基本數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致其執(zhí)行效率相對低于C或C++語言；同時因為Matlab程序不能脫離其環(huán)境運行，故不能直接用于該處理單元軟件的開發(fā)。與此相反，VC++由于其豐富的人機界面，高效的執(zhí)行效率已經(jīng)成為基于Windows平臺下開發(fā)軟件的必備工具。因此將VC++與Matlab 結(jié)合，發(fā)揮各自的優(yōu)勢將是本系統(tǒng)的亮點所在。本系統(tǒng)另一特點就是適應(yīng)性強。現(xiàn)在阻抗元器件行業(yè)的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)有多種，有國際標(biāo)準(zhǔn)，有國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，甚至每個生產(chǎn)廠家都有自己廠家內(nèi)部的標(biāo)準(zhǔn)。基于這一現(xiàn)象，本處理單元在開發(fā)時設(shè)計出用戶輸入質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的界面，然后由本軟件系統(tǒng)根據(jù)用戶提供的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)用于分析所采集的數(shù)據(jù)，最后得出一份符合生產(chǎn)廠家要求的質(zhì)量評估報告。下面對數(shù)據(jù)處理單元中的數(shù)據(jù)評估模塊處理數(shù)據(jù)，提供評估報告模塊輸出標(biāo)準(zhǔn)差和極差圖的評估報告以及輸出控制直方圖的評估報告的工作原理進(jìn)行闡述。1、標(biāo)準(zhǔn)差和極差控制圖的計算過程及過程能力指數(shù)的計算。1)讀入至少100個LCR元器件的參數(shù)(例如電容器的容量值或損耗值)；2)將采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分組，每5個一組，不滿5個的不參與統(tǒng)計；3)計算各子組樣本的平均數(shù) Xi = (Xil+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5 ；4)計算各子組樣本極差 Ri = max (xij) -min (xij)；5)計算各樣本子組平均值的總平均值X與各樣本子組極差值的總平均值R ；6)計算控制圖的上限(UCLR)，中心值(CLR)，下限(LCLR)；a)標(biāo)準(zhǔn)差控制圖計算公式上限UCLR = 2. 114*R中心值 CLR = R下限LCRR = Ob)極差控制圖計算公式上限UCLX = X+0. 577*R中心值 CLX = X下限LCRX = X-0. 577*R7)計算過程能力指數(shù)Cp，偏移過程能力指數(shù)Cpkd2 = 2. 326 ； δ = R/d2 ；Cp = (Tu-TL)/(6* δ ) (Tu, TL規(guī)范值，既生產(chǎn)工藝上的產(chǎn)品合格范圍)；
K = 2* I (Tu-TL) /2-X | / (Tu-TL)；Cpk= (I-K)^Cp樣圖參見圖5。2、過程控制直方圖的繪制及過程能力指數(shù)的計算。1)采集100個LCR元器件的參數(shù)(例如電容器的容量值或損耗值)；
2)找出所有數(shù)據(jù)中的最大值Xmax和最小值Xmin ；3)計算所有數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差值R = Xmax-Xmin ；4)計算分組組距h = R/k，k為分組數(shù)，確定組數(shù)的原則是分組的結(jié)果能正確地反映數(shù)據(jù)的分布規(guī)律。組數(shù)應(yīng)根據(jù)數(shù)據(jù)多少來確定。組數(shù)過少，會掩蓋數(shù)據(jù)的分布規(guī)律；組數(shù)過多，使數(shù)據(jù)過于零亂分散，也不能顯示出質(zhì)量分布狀況。按用戶需求取分組數(shù)為7即h = R/7 ；5)計算各分組數(shù)據(jù)范圍(組限)第一組[Xmin，Xmin+h)；第二組[Xmin+h，Xmin+2*h)；第三組[Xmin+2*h，Xmin+3*h)；第四組[Xmin+3*h，Xmin+4*h)；第五組[Xmin+4*h，Xmin+5*h)；第六組[Xmin+5*h，Xmin+6*h)；第七組[Xmin+6*h，Xmin+7*h)；(第一組下限aO= Xmin第一組上限al = aO+h第二組下限al 第二組上限 a2 = al+h …)6)計算各分組數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的包含數(shù)據(jù)個數(shù)(頻數(shù)f)；第一組Xfl e [Xmin, Xmin+h)獲得第一組分組內(nèi)的數(shù)據(jù)頻數(shù)(個數(shù))Π ；第二組Xf2 e [Xmin+h, Xmin+2*h)獲得第一組分組內(nèi)的數(shù)據(jù)頻數(shù)(個數(shù))f2 ；..........第七組Xf7 e [Xmin+6*h，Xmin+7*h)獲得第一組分組內(nèi)的數(shù)據(jù)頻數(shù)(個數(shù))f7 ；7)計算各組數(shù)據(jù)，為后面的樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差值計算做準(zhǔn)備
權(quán)利要求
1.一種阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，包括一用來精確定位被測阻抗元件的LCR 分選設(shè)備，用來測量阻抗元件參數(shù)的LCR測量儀；用來控制LCR分選設(shè)備正確定位，從而協(xié)助測試單元和LCR測量儀測量被測阻抗元件參數(shù)的控制單元，其特征在于，所述系統(tǒng)還設(shè)有一采集并結(jié)合LCR測量儀上被測阻抗元件參數(shù)以及控制單元上輸出的數(shù)據(jù)并通過數(shù)據(jù)模型處理后得出質(zhì)量評估報告的處理單元；所述處理單元內(nèi)設(shè)有用來采集被測阻抗元件數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集模塊；可以將已經(jīng)保存的數(shù)據(jù)讀入的歷史數(shù)據(jù)讀入模塊；可以顯示被測阻抗元件數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)結(jié)果的顯示模塊；用來保存被測阻抗元件數(shù)據(jù)的存儲模塊；負(fù)責(zé)將被測阻抗元件參數(shù)經(jīng)過數(shù)據(jù)模型處理的數(shù)據(jù)評估模塊，以及負(fù)責(zé)將數(shù)據(jù)評估模塊處理的數(shù)據(jù)以圖形方式輸出的評估報告模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所示的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述的數(shù)據(jù)采集模塊包括用來獲取可編程控制器數(shù)據(jù)和LCR測量儀數(shù)據(jù)同步信號的采集分選設(shè)備同步信號模塊，采集LCR測量儀數(shù)據(jù)模塊，采集可編程控制器數(shù)據(jù)模塊，用來查看數(shù)據(jù)是否異常的分析數(shù)據(jù)模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所示的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)評估模型實現(xiàn)讀入至少100個LCR元器件的參數(shù)；將讀入的數(shù)據(jù)進(jìn)行分組，每5個一組，不滿5 個的不參與統(tǒng)計；計算各子組樣本的平均數(shù)Xi = (Xil+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5 ；計算各子組樣本極差Ri =max (xij)-Hiin(Xij)；計算各樣本子組平均值的總平均值X與各樣本子組極差值的總平均值R ；計算控制圖的上限UCLR，中心值CLR，下限LCLR ；計算過程能力指數(shù)Cp， 偏移過程能力指數(shù)Cpk。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所示的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)評估模塊讀入100個LCR元器件的參數(shù)，找出所有數(shù)據(jù)中的最大值Xmax和最小值Xmin ；算出所有數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差值R = Xmax-Xmin計算分組組距h = R/k，k為分組數(shù)；計算各分組數(shù)據(jù)范圍；計算各分組數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的包含數(shù)據(jù)個數(shù)；計算每組數(shù)據(jù)；計算樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差值S ；計算過程能力指數(shù)Cp和偏移過程能力指數(shù)Cpk。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所示的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述LCR分選設(shè)備中機械傳動機構(gòu)中的分度機構(gòu)采用間歇分度機構(gòu)，所述控制單元包括可編程控制器、 可編程角度計數(shù)器、旋轉(zhuǎn)編碼器，在機械傳動機構(gòu)主軸上設(shè)置傳感器，該傳感器輸出電脈沖信號給旋轉(zhuǎn)編碼器，該旋轉(zhuǎn)編碼器發(fā)出信號觸發(fā)可編程角度計數(shù)器，根據(jù)擬定好的時序圖輸出低電平信號給可編程控制器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述的間歇分度機構(gòu)為馬歇爾間歇機構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述LCR分選設(shè)備中測量阻抗原件數(shù)據(jù)的測試單元要完成包括低電平開路容量檢測單元、直流跳火單元、直流耐壓單元、交流耐壓檢測單元、絕緣電阻測試單元；LCR測量儀要完成損耗檢測及容量分選單元的測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，所述LCR分選設(shè)備中測試夾具的測試觸點采用合金材料。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，LCR測量儀在 IOOkHz下，通過處理器對經(jīng)計量的標(biāo)準(zhǔn)件的參數(shù)進(jìn)行運算、分段校正、設(shè)計補償表。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，其特征在于，可編程控制器利用時序嚴(yán)格控制，錯時啟動在4kv高壓下測量。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種阻抗元件自動分選檢測評估系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括阻抗元器件自動分選檢測部分，還設(shè)有一采集并結(jié)合LCR測量儀上被測阻抗元件參數(shù)以及控制單元上輸出的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)模型處理后得出質(zhì)量評估報告的處理單元；所述處理單元內(nèi)設(shè)有用來采集被測阻抗元件數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集模塊；可以將已經(jīng)保存的數(shù)據(jù)讀入的歷史數(shù)據(jù)讀入模塊；可以顯示被測阻抗元件數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)結(jié)果的顯示模塊；用來保存被測阻抗元件數(shù)據(jù)的存儲模塊；負(fù)責(zé)將被測阻抗元件參數(shù)經(jīng)過數(shù)據(jù)模型處理的數(shù)據(jù)評估模塊，以及負(fù)責(zé)將數(shù)據(jù)評估模塊處理的數(shù)據(jù)以圖形方式輸出的評估報告模塊。解決了對阻抗元器件的檢測參數(shù)進(jìn)行分析和處理，形成可使用戶能直接評估阻抗元器件質(zhì)量的評估報告。
文檔編號G01R31/00GK102193035SQ201010120310
公開日2011年9月21日 申請日期2010年3月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月9日
發(fā)明者滕華強, 陳德宏, 韓之文, 黃永慶 申請人:上海儀器儀表研究所