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      近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)及其測試方法

      文檔序號(hào):5871323閱讀:366來源:國知局
      專利名稱:近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)及其測試方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種屏蔽效能測試系統(tǒng)及其測試方法,特別是一種用于測量電磁屏蔽室對近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能的測試系統(tǒng)及其測試方法。

      背景技術(shù)
      低頻磁場干擾是一種很難屏蔽的干擾。通常電磁屏蔽設(shè)計(jì)所考慮的頻率范圍在10kHz以上頻段,用于電磁屏蔽室屏蔽效能測量的裝置,主要測量電場以及高頻電磁場,10kHz以下頻段一般不予考慮。GB/T 12190-2006《電磁屏蔽室屏蔽效能的測試方法》中詳細(xì)規(guī)定了屏蔽室屏蔽效能的測量方法,其規(guī)定的頻段從9kHz~18GHz。本單位作為全軍電磁脈沖防護(hù)研究測試中心,已建立有用于脈沖強(qiáng)磁場、脈沖強(qiáng)電場測量的模擬器,以及成套的電磁屏蔽室屏蔽效能測試設(shè)備,其所測電磁場的頻率最小為14kHz。工程應(yīng)用中的電磁屏蔽室一般大小有限,內(nèi)部還會(huì)有通信、監(jiān)控等設(shè)備,這就要求測試裝置體積要小,便于操作。
      在北京工業(yè)大學(xué)袁巖興的碩士論文“低頻磁屏蔽材料的制備與研究”中提出了一種測量低阻抗磁場屏蔽效能的亥姆霍茲線圈(或螺線管)法,采用亥姆霍茲線圈作為模擬場源,將樣品整體放入磁場源中進(jìn)行低頻磁場屏蔽效能測試。但測試時(shí)的磁場頻率固定為工頻50Hz,且僅能測量較小的樣品,無法用于工程中電磁屏蔽室的測試。在公開號(hào)為CN2279616,發(fā)明名稱為“低頻磁場測量儀”的中國專利中公開了一種用于測量低頻磁場的測量儀,其測量的磁場為低頻弱磁場,磁場的頻率范圍為(30~400)Hz,且僅能檢測磁場的大小,并不涉及屏蔽體對低頻磁場屏蔽效能的測試。
      目前尚未報(bào)道有用于測量電磁屏蔽室對低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能的測試系統(tǒng),因此迫切需要研制測量動(dòng)態(tài)范圍大,體積小方便攜帶的低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)。


      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的是彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的空白,提供一種能夠評(píng)價(jià)屏蔽室對近區(qū)低頻強(qiáng)磁場的屏蔽效能的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測量系統(tǒng)。
      本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),包括下列部件 1)用于產(chǎn)生和發(fā)射磁場信號(hào)的低頻大電流源和發(fā)射環(huán)天線; 2)用于接收和處理磁場信號(hào)的接收環(huán)天線、接收機(jī)和帶有Matlab軟件和可視化軟件的計(jì)算機(jī); 其中,所說的低頻大電流源輸出交變方波電流的調(diào)節(jié)范圍為(20~300)A,電流頻率范圍為(30~1k)Hz,電流電壓最大值為25V;所說的發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線為直徑為30cm的小環(huán)天線;所說的接收機(jī)為靈敏度較高的數(shù)字示波器。低頻大電流源產(chǎn)生大小、頻率連續(xù)可調(diào)的電流信號(hào),流經(jīng)所述發(fā)射環(huán)天線的大電流可以在近區(qū)產(chǎn)生以磁場為主的強(qiáng)感應(yīng)場。接收環(huán)天線用于接收磁場信號(hào)并將信號(hào)傳送至接收機(jī),計(jì)算機(jī)用于數(shù)據(jù)采集、波形繪制、屏蔽效能計(jì)算??梢暬浖?,具有對示波器參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置、對示波器的測量數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)采集、對已存的數(shù)據(jù)進(jìn)行回讀處理、波形繪制、計(jì)算磁場峰值屏蔽效能等功能,能夠?qū)崿F(xiàn)磁場接收設(shè)備數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理的一體化。
      優(yōu)選地, 本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)中,所說的低頻大電流源包括主電路和控制電路兩部分,其中主電路采用兩級(jí)逆變結(jié)構(gòu),功率轉(zhuǎn)換器件選用絕緣柵雙極型晶體管(IGBT),控制電路包括單片機(jī)PIC6F73、主電路的驅(qū)動(dòng)控制模塊、電壓電流采樣模塊、故障報(bào)警與處理模塊和參數(shù)給定與顯示模塊。
      本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)中,所說的發(fā)射環(huán)天線由可以承受大電流的銅條繞制而成,直徑是30cm,共13匝;接收環(huán)天線由漆包線繞制而成,直徑是30cm,共1200匝。
      本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試方法,包括下列步驟 1)將發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線共軸放置,二者距屏蔽體外邊緣均為30cm; 2)調(diào)節(jié)低頻大電流源輸出電流的頻率和幅度,分別記錄自由空間和有屏蔽體時(shí)接收機(jī)的測試波形; 3)對有屏蔽、無屏蔽時(shí)接收機(jī)的測量波形進(jìn)行快速傅里葉變換,記錄兩個(gè)頻譜中對應(yīng)點(diǎn)的幅值; 4)根據(jù)測試數(shù)據(jù),可按式(1)求得屏蔽室被測部位在不同頻率上的屏蔽效能SEM 式中,B0為沒有屏蔽體時(shí)某點(diǎn)測得的場強(qiáng),Bi為有屏蔽體時(shí)同一點(diǎn)測得的場強(qiáng)。
      本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)依據(jù)GB/T12190-2006《電磁屏蔽室屏蔽效能的測試方法》中的小環(huán)天線法,構(gòu)建低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)。
      測試系統(tǒng)中發(fā)射環(huán)天線作為負(fù)載串接于大電流源的輸出回路,其幾何配置如圖4所示。當(dāng)r<<λ/2π時(shí),環(huán)天線產(chǎn)生的輻射近區(qū)磁場近似為 式中a=0.15m為發(fā)射環(huán)半徑;r為場點(diǎn)(屏蔽體)到圓環(huán)中心的距離,共軸測量時(shí)r=0.3m,共面時(shí)r=0.45m;n為發(fā)射環(huán)的匝數(shù);I0為流過線圈的電流;θ為俯仰角,共軸測量時(shí)θ=0,共面時(shí)θ=π/2。
      電流源輸出的電流頻率范圍為30Hz~1kHz,這個(gè)頻段對應(yīng)的波長均應(yīng)大于300km,在幾十米的范圍內(nèi)滿足r<<λ/2π的近似條件。環(huán)電流產(chǎn)生的磁場可由式(2)計(jì)算。由(2)可看出,在時(shí)域中,磁場強(qiáng)度和電流成正比,而與距離的立方成反比,其比例系數(shù)和頻率無關(guān)。因此,環(huán)天線產(chǎn)生的磁場時(shí)域波形和環(huán)天線電流波形形狀相同。
      接收環(huán)天線采用小環(huán)天線,坐標(biāo)z軸與環(huán)平面垂直,接收天線的感應(yīng)磁場開路電壓e(t)與通過線圈的磁通變化率成正比,其輸出的電壓信號(hào)加到數(shù)字示波器的輸入端。接收環(huán)天線的等效電路如圖5所示。
      圖中e(t)、La、Rin、Uo分別為感應(yīng)電壓、環(huán)天線電感、測量電路輸入阻抗、Rin上的電壓。由法拉第電磁感應(yīng)定律可知,圖中的開路電壓e(t)為 e(t)=-ndφ/dt=-nAcosθdB/dt (3) 經(jīng)付氏變換得e(jω)=-jωnAcosθB(jω) (4) 式中,

      為穿過環(huán)天線的磁通;B為磁感應(yīng)強(qiáng)度;A、n分別為環(huán)天線的面積和匝數(shù);θ為磁場極化方向與環(huán)天線軸向間的夾角。
      由圖4環(huán)天線的等效電路可求出負(fù)載上的電壓為 接收環(huán)天線用以測量磁場波形,實(shí)際的環(huán)天線參數(shù)為La=850nH,Rin=50Ω。由于所測量的低頻磁場信號(hào)最高頻率在10kHz以下,滿足Rin>>ωL條件,可采用高阻測量法來實(shí)現(xiàn)對磁感應(yīng)強(qiáng)度的求解,即 Uo(jω)=-jωnAsinθB(jω) (6) 由此可得 磁感應(yīng)強(qiáng)度B的波形,可通過對負(fù)載電壓波形積分得到。
      本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)能夠直接對屏蔽室進(jìn)行屏蔽效能測量,可以借此預(yù)估材料的屏蔽性能,為低頻強(qiáng)磁場屏蔽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提供依據(jù),同時(shí)為工程中屏蔽室的質(zhì)量驗(yàn)收提供必要的檢測手段。
      本發(fā)明的測試系統(tǒng)及其方法具有如下技術(shù)效果 1)能夠模擬頻率為10kHz以下的低頻低阻抗強(qiáng)磁場的主要特性,并能對屏蔽室進(jìn)行直接測量; 2)抗干擾能力強(qiáng),測量動(dòng)態(tài)范圍大,體積小方便攜帶,能夠進(jìn)入工程內(nèi)部對屏蔽室進(jìn)行直接測量; 3)帶有操作簡單、使用靈活的可視化軟件,能夠?qū)崿F(xiàn)磁場接收設(shè)備數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理的一體化; 4)測試時(shí)實(shí)時(shí)性好,可用于工程中材料屏蔽性能的檢測及電磁屏蔽室的質(zhì)量驗(yàn)收。



      圖1是本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖2是本發(fā)明的低頻大電流源結(jié)構(gòu)框圖; 圖3是本發(fā)明的低頻大電流源輸出的電流信號(hào)波形; 圖4是本發(fā)明的發(fā)射環(huán)天線的幾何配置; 圖5是本發(fā)明的接收環(huán)天線的等效電路; 圖6a是實(shí)施例2在測試過程中無屏蔽時(shí)的磁場時(shí)域波形; 圖6b是實(shí)施例2在測試過程中無屏蔽時(shí)的磁場頻譜; 圖7a是實(shí)施例3在測試過程中有屏蔽時(shí)的磁場時(shí)域波形; 圖7b是實(shí)施例3在測試過程中有屏蔽時(shí)的磁場頻譜; 圖8是本發(fā)明的低頻磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)軟件界面; 圖9是本發(fā)明在測試屏蔽室對低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能時(shí)實(shí)測值與理論值的比較。

      具體實(shí)施例方式 下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
      來對本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
      實(shí)施例1 如圖1所示,本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),包括用于產(chǎn)生和發(fā)射磁場信號(hào)的低頻大電流源和發(fā)射環(huán)天線;用于接收和處理磁場信號(hào)的接收環(huán)天線、數(shù)字示波器和帶有可視化軟件的計(jì)算機(jī);其中,低頻大電流源輸出交變方波電流的調(diào)節(jié)范圍為(20~300)A,電流頻率范圍為(30~1k)Hz,電流電壓最大值為25V;發(fā)射環(huán)天線由可以承受大電流的銅條繞制而成,直徑是30cm,共13匝;接收環(huán)天線由漆包線繞制而成,直徑是30cm,共1200匝。發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線距屏蔽體外邊緣均為30cm。利用計(jì)算機(jī)內(nèi)的Matlab軟件對計(jì)算機(jī)RS232串口進(jìn)行編程,通過計(jì)算機(jī)串口控制示波器,從而實(shí)現(xiàn)把示波器采集到得數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)并進(jìn)行處理。如圖8所示,計(jì)算機(jī)中的可視化軟件可對示波器參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置、對示波器的測量數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)采集、對已存的數(shù)據(jù)進(jìn)行回讀處理、波形繪制、計(jì)算磁場峰值屏蔽效能等功能,能夠?qū)崿F(xiàn)磁場接收設(shè)備數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理的一體化。
      如圖2、3所示,本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng)中,低頻大電流源包括主電路和控制電路兩部分,其中主電路采用兩級(jí)逆變結(jié)構(gòu),功率轉(zhuǎn)換器件選用絕緣柵雙極型晶體管(IGBT),一次逆變用于調(diào)節(jié)輸出電流的大小,二次逆變用于調(diào)節(jié)輸出電流的頻率。主電路的工作原理為電網(wǎng)三相50Hz交流電經(jīng)一次整流濾波后變成脈動(dòng)的直流電,然后經(jīng)一次逆變變換成高頻(20kHz)交流矩形波脈沖;一次逆變后的高頻電流電壓幅值比較高,采用高頻降壓變壓器將其降為低壓大電流的交流電;20kHz低壓方波電流經(jīng)二次整流濾波后變?yōu)槠交拿}動(dòng)直流電流,再經(jīng)二次逆變后得到頻率和大小均可調(diào)的低壓交流電流輸出。
      控制電路包括單片機(jī)PIC6F73、主電路的驅(qū)動(dòng)控制模塊、電壓電流采樣模塊、故障報(bào)警與處理模塊和參數(shù)給定與顯示模塊。輸出電流反饋信號(hào)借助Rogowski線圈采樣獲得,通過PI調(diào)節(jié)來控制一次IGBT逆變器的輸出脈沖寬度,進(jìn)而控制電流源輸出電流的大小,構(gòu)成閉環(huán)控制;PWM控制器采用集成芯片SG3525;一次逆變的IGBT采用脈沖變壓器驅(qū)動(dòng);二次逆變主要是對電流源輸出電流的頻率、相位等內(nèi)特性進(jìn)行控制,其功率器件IGBT采用四塊EXB841進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。整個(gè)電路動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)性能好,電路結(jié)構(gòu)清晰,調(diào)試相對容易。
      實(shí)施例2 用本發(fā)明的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試方法對屏蔽室進(jìn)行屏蔽效能測試,步驟如下 1)將發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線共軸放置,二者距屏蔽體外邊緣均為30cm; 2)電流大小為180A,頻率為130Hz時(shí),由示波器可觀測到自由空間中磁場接收信號(hào)的時(shí)域波形,如圖6a所示; 3)計(jì)算機(jī)對數(shù)字示波器的測量波形進(jìn)行FFT變換,把時(shí)域數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為頻域數(shù)據(jù),可得其頻譜,如圖6b所示。
      實(shí)施例3 采用上述方法進(jìn)行低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試,保持電流源輸出電流大小為180A不變,頻率為130Hz時(shí),由示波器可觀測到有屏蔽時(shí)的磁場接收信號(hào)的時(shí)域波形,如圖7a所示,計(jì)算機(jī)對數(shù)字示波器的測量波形進(jìn)行FFT變換,把時(shí)域數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為頻域數(shù)據(jù),可得其頻譜,如圖7b所示。
      實(shí)施例4 如圖9所示,采用上述方法進(jìn)行低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試,保持電流源輸出電流大小為180A不變,調(diào)節(jié)電流源輸出電流的頻率,分別記錄自由空間和有屏蔽體時(shí)示波器的測試波形。對有屏蔽、無屏蔽時(shí)示波器的測量波形進(jìn)行FFT變換,記錄兩個(gè)頻譜中對應(yīng)點(diǎn)的幅值。根據(jù)測試數(shù)據(jù),可按式(1)求得屏蔽室被測部位在不同頻率上的屏蔽效能。將實(shí)測值與理論計(jì)算值進(jìn)行對比,二者一致性較好,從而驗(yàn)證了測設(shè)系統(tǒng)的可信性。
      權(quán)利要求
      1.近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),其特征在于,包括下列部件
      1)用于產(chǎn)生和發(fā)射磁場信號(hào)的低頻大電流源和發(fā)射環(huán)天線;
      2)用于接收和處理磁場信號(hào)的接收環(huán)天線、接收機(jī)和帶有Matlab軟件和可視化軟件的計(jì)算機(jī);
      其中,所說的低頻大電流源輸出交變方波電流的調(diào)節(jié)范圍為20~300A,電流頻率范圍為30~1kHz,輸出電壓最大值為25V;所說的發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線為直徑為30cm的小環(huán)天線;所說的接收機(jī)為數(shù)字示波器。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),其特征在于,所說的低頻大電流源包括主電路和控制電路兩部分,其中主電路采用兩級(jí)逆變結(jié)構(gòu),功率轉(zhuǎn)換器件選用絕緣柵雙極型晶體管,控制電路包括單片機(jī)PIC6F73、主電路的驅(qū)動(dòng)控制模塊、電壓電流采樣模塊、故障報(bào)警與處理模塊和參數(shù)給定與顯示模塊。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),其特征在于,所說的發(fā)射環(huán)天線由銅條繞制而成,直徑是30cm,共13匝;接收環(huán)天線由漆包線繞制而成,直徑是30cm,共1200匝。
      4.近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試方法,其特征在于,包括下列步驟
      1)將發(fā)射環(huán)天線和接收環(huán)天線共軸放置,二者距屏蔽體外邊緣均為30cm;
      2)調(diào)節(jié)低頻大電流源輸出電流的頻率和幅度,分別記錄自由空間和有屏蔽體時(shí)接收機(jī)的測試波形;
      3)計(jì)算機(jī)對有屏蔽、無屏蔽時(shí)接收機(jī)的測量波形進(jìn)行快速傅里葉變換,記錄兩個(gè)頻譜中對應(yīng)點(diǎn)的幅值;
      4)根據(jù)測試數(shù)據(jù),可按式(1)求得屏蔽室被測部位在不同頻率上的屏蔽效能SEM
      式中,B0為沒有屏蔽體時(shí)某點(diǎn)測得的場強(qiáng),Bi為有屏蔽體時(shí)同一點(diǎn)測得的場強(qiáng)。
      全文摘要
      本發(fā)明提供了一種近區(qū)低頻強(qiáng)磁場屏蔽效能測試系統(tǒng),包括下列部件1)用于產(chǎn)生和發(fā)射磁場信號(hào)的低頻大電流源和發(fā)射環(huán)天線;2)用于接收和處理磁場信號(hào)的接收環(huán)天線、接收機(jī)和帶有Matlab軟件和可視化軟件的計(jì)算機(jī)。本發(fā)明具有如下技術(shù)效果1)能夠模擬頻率范圍為(30~1k)Hz的低頻低阻抗強(qiáng)磁場的主要特性;2)抗干擾能力強(qiáng),測量動(dòng)態(tài)范圍大,體積小方便攜帶,能夠進(jìn)入工程內(nèi)部對屏蔽室進(jìn)行直接測量;3)帶有操作簡單、使用靈活的可視化軟件,能夠?qū)崿F(xiàn)磁場接收設(shè)備數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理的一體化;4)測試時(shí)實(shí)時(shí)性好,可用于工程中材料屏蔽性能的檢測及電磁屏蔽室的質(zhì)量驗(yàn)收。
      文檔編號(hào)G01R31/00GK101813732SQ20101016690
      公開日2010年8月25日 申請日期2010年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月10日
      發(fā)明者高成, 劉曉, 石立華, 李炎新, 周璧華, 陳彬, 朱翼超, 陳海林 申請人:中國人民解放軍理工大學(xué)
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