專利名稱：一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法及校準(zhǔn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及信號測試設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法及校準(zhǔn)系 統(tǒng)。
背景技術(shù)：
測試設(shè)備是將接收到的傳感器的電壓或電流等信號，經(jīng)過采樣后，再按照其工作 特性曲線計(jì)算出被測信號量值的一種裝置。從標(biāo)準(zhǔn)化的角度而言，測試設(shè)備大致可分為標(biāo) 準(zhǔn)測試設(shè)備和非標(biāo)測試設(shè)備，標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備如示波器等，而非標(biāo)測試設(shè)備則是根據(jù)不同的 現(xiàn)場應(yīng)用情況、不同的用途而專門開發(fā)的測試設(shè)備。對于測量實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的信號，比較適合使用示波器等標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備，而對現(xiàn)場信號 的測量，一般不適合用示波器，其原因主要有以下幾條一是示波器攜帶不方便，并且示波 器工作時(shí)必須要外接交流220V的工作電源，而對于機(jī)車或車輛的車載現(xiàn)場環(huán)境，往往只有 直流電源，不易找到220V交流電源；二是和示波器相配套的測試探頭長度有限，一般只有1 米左右，而現(xiàn)場信號的測量，往往需要3米以上的測試線；三是示波器都有自己專門的、標(biāo) 準(zhǔn)的測試探頭，而現(xiàn)場信號則有各種各樣的測試接頭，與示波器的測試探頭連接方式并不 匹配?；谏鲜鲈?，為適應(yīng)現(xiàn)場信號的測量，往往會開發(fā)相應(yīng)的非標(biāo)測試設(shè)備。對于非標(biāo)測試設(shè)備，在出廠時(shí)，根據(jù)對設(shè)備各個(gè)部件、各個(gè)元器件的檢測、調(diào)試，會 設(shè)置一個(gè)初始的校準(zhǔn)系數(shù)，但是非標(biāo)測試設(shè)備的測量精度會隨著時(shí)間或溫度的變化而變 化，校準(zhǔn)系數(shù)也需要動態(tài)的變化。出廠后，非標(biāo)測試設(shè)備使用者由于受到條件的限制，如不 方便任意打開測試設(shè)備盒體對其中的元器件進(jìn)行檢測、調(diào)試等，校準(zhǔn)系數(shù)往往很難調(diào)整。目前，常用的校準(zhǔn)方法為“零點(diǎn)”校準(zhǔn)法，即將非標(biāo)測試設(shè)備的輸入通道與地線相 連接，再啟動測試設(shè)備，此時(shí)測試設(shè)備采集到的數(shù)值為零漂值，在正常測試時(shí)，再將所測數(shù) 據(jù)減去零漂值。但是，上述的“零點(diǎn)”校準(zhǔn)法沒有借助于標(biāo)準(zhǔn)的信號源對測試設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)， 而是借助于地線“零點(diǎn)”作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)際中，地線的零點(diǎn)可能并非真實(shí)的零值，所以只能 進(jìn)行較為粗略的校準(zhǔn)，不能適應(yīng)現(xiàn)場對高精度測試設(shè)備的需求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，該方法可提高現(xiàn)場測試設(shè)備 的測試精度。本發(fā)明提供一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝 置、標(biāo)準(zhǔn)信號源，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備，測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn) 換裝置，接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；該方法包括測試設(shè)備采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的 標(biāo)準(zhǔn)正弦波；校驗(yàn)設(shè)備檢測測試設(shè)備N個(gè)通道的采樣值；用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣 值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；測試設(shè)備工作時(shí)，獲取N個(gè)通道采集的原始數(shù)據(jù)；將N個(gè)通道 的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，得到校準(zhǔn)采樣值。優(yōu)選的，若采用一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)為用IV除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)； J為N個(gè)通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量，al, a2, . . . , aN分別為各通道采樣值。優(yōu)選的，若采用多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通 道的校準(zhǔn)系數(shù)為分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系
數(shù)； aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個(gè)通道的采樣值；校準(zhǔn)系數(shù)為Jz = (Jl+J2+J3+J4+J5)/5= [(l/all+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5，· · ·，(l/alN+2/a2N+3/a3N+4/a4N+5/ a5N)/5]= [jl, j2, ... , jN]優(yōu)選的，所述校驗(yàn)設(shè)備為PC機(jī)。優(yōu)選的，所述PC機(jī)保存N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)。優(yōu)選的，所述測試線與被測設(shè)備連接，測試線的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。本發(fā)明還提供一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可提高現(xiàn)場測試設(shè)備的精度本發(fā)明提供一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng)，包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝 置、標(biāo)準(zhǔn)信號源，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備，測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn) 換裝置，接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；所述測試設(shè)備，用于采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn) 正弦波；工作時(shí)，獲取N個(gè)通道采集的原始數(shù)據(jù)；所述校驗(yàn)設(shè)備，用于檢測測試設(shè)備N個(gè)通 道的采樣值，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；將N個(gè)通道的 原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，得到校準(zhǔn)采樣值。優(yōu)選的，若采用一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通 道的校準(zhǔn)系數(shù)為用IV除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；
J為N個(gè)通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量，al,a2,..., aN分別為各通道采樣值。優(yōu)選的，若采用多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通 道的校準(zhǔn)系數(shù)為分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)； aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個(gè)通道的采樣值；校準(zhǔn)系數(shù)為；Jz = (Jl+J2+J3+J4+J5)/5= [(l/all+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5，· · ·，(l/alN+2/a2N+3/a3N+4/a4N+5/ a5N)/5]= [jl，j2，···，jN]優(yōu)選的，所述測試線與被測設(shè)備連接，測試線的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明能對應(yīng)用于現(xiàn)場的測試設(shè)備(包括測試線)進(jìn)行整體的校準(zhǔn)，提高現(xiàn)場測 試設(shè)備的精度，既可對系統(tǒng)進(jìn)行單點(diǎn)數(shù)據(jù)校準(zhǔn)，又可對系統(tǒng)進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)，并給出了多點(diǎn)校 準(zhǔn)時(shí)校準(zhǔn)系數(shù)的算法，校準(zhǔn)方法簡單，現(xiàn)場容易實(shí)施。本方發(fā)明將校準(zhǔn)系數(shù)存儲在PC機(jī)中， 并不要求測試設(shè)備具有非易失性存儲器，因而擴(kuò)大了方案的應(yīng)用范圍。


圖1為本發(fā)明測試設(shè)備正常工作時(shí)的連接關(guān)系示意圖；圖2為本發(fā)明測試設(shè)備校準(zhǔn)時(shí)的連接關(guān)系示意圖；圖3為本發(fā)明現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法流程圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。參見圖1，示出測試設(shè)備正常工作時(shí)的連接關(guān)系。包括校驗(yàn)設(shè)備(可為安裝有測試 軟件的PC機(jī)1)、測試設(shè)備2、被測設(shè)備3、標(biāo)準(zhǔn)USB線4、測試線5，其中PC機(jī)1和測試設(shè)備 2之間用標(biāo)準(zhǔn)USB線4連接，USB線4既為測試設(shè)備2提供工作電源，也為PC機(jī)1和測試設(shè) 備2之間傳輸命令和數(shù)據(jù)，PC機(jī)1可選臺式機(jī)，也可以選便攜式筆記本。由于便攜式筆記本具有2-4個(gè)小時(shí)的續(xù)航能力，能夠在現(xiàn)場無電源的情況下也能 進(jìn)行2-4個(gè)小時(shí)的信號采集測量，擴(kuò)大測試設(shè)備2在現(xiàn)場的使用范圍。測試設(shè)備2和被測 設(shè)備3之間用測試線5相連，測試線5根據(jù)現(xiàn)場需求，長度可在3-6米之間，甚至更長。測 試線5和被測設(shè)備3相連接處會根據(jù)被測設(shè)備3已有的接頭，設(shè)計(jì)成相配合的接頭。如測 量地鐵牽引逆變器時(shí)，由于牽引逆變器預(yù)留的測量接頭為48芯的歐式連接器(針式)，所以 測試線5相應(yīng)的也設(shè)計(jì)成48芯的歐式連接器(孔式)。參見圖2，示出測試設(shè)備校準(zhǔn)時(shí)的連接關(guān)系。包括安裝有測試軟件的PC機(jī)1、測試 設(shè)備2、接線轉(zhuǎn)換裝置6、標(biāo)準(zhǔn)信號源7、標(biāo)準(zhǔn)USB線4、測試線5、由標(biāo)準(zhǔn)示波器探頭改造的連 接線8，其中標(biāo)準(zhǔn)USB線4將PC機(jī)1與測試設(shè)備2相連接，測試線5將測試設(shè)備2和接線 轉(zhuǎn)換裝置6連接，由標(biāo)準(zhǔn)示波器探頭改造的連接線8將接線轉(zhuǎn)換裝置6和標(biāo)準(zhǔn)信號源7連 接。此時(shí)PC機(jī)1、標(biāo)準(zhǔn)USB線4、測試設(shè)備2、測試線5使用狀態(tài)與正常使用時(shí)的狀態(tài)一樣。 由前面介紹可知，特定的測試設(shè)備2具有特定接頭的測試線5，因此測試線5和標(biāo)準(zhǔn)信號源 7之間往往不能直接相連接，必須通過接線轉(zhuǎn)換裝置6才能連接。參見圖3，示出本發(fā)明現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，具體包括以下步驟步驟S301、將上述各個(gè)部分連接好后，使標(biāo)準(zhǔn)信號源7 (可選校準(zhǔn)后的安捷倫信號 發(fā)生器，型號為AFG3022)發(fā)出頻率為ΙΚΗζ、幅值為IV的標(biāo)準(zhǔn)正弦波，并啟動PC機(jī)1的校準(zhǔn) 軟件，測試設(shè)備2通過測試線5采集到標(biāo)準(zhǔn)信號源的正弦波，通過標(biāo)準(zhǔn)USB線4傳輸?shù)絇C 機(jī)1。步驟S302、PC機(jī)1計(jì)算此時(shí)得到N個(gè)通道的信號幅值，假定分別為A= [al, a2, . . . , aN]式 1式1中，A為各通道采樣值al，a2，. . .，aN構(gòu)成的矢量；步驟S303、用IV除以各個(gè)通道的采樣值，由此得到各個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；
式 2式2中，J為各通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量；若測試設(shè)備2的測試線5性度較好，即在滿量程的范圍內(nèi)均有相同的測試偏差，則 進(jìn)行一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的校準(zhǔn)即可；若測試設(shè)備2的線性度較差，可進(jìn)行多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的校準(zhǔn)并得 到多個(gè)校準(zhǔn)系數(shù)，最后對多個(gè)校準(zhǔn)系數(shù)進(jìn)行加權(quán)處理，得到最終的校準(zhǔn)系數(shù)。例如，由MP425測試模塊構(gòu)成的測試設(shè)備2，其測試范圍為0V-5V，若進(jìn)行多個(gè)數(shù)據(jù) 點(diǎn)的校準(zhǔn)時(shí)，可按照如下步驟進(jìn)行，先按照上述方法，分別得到在1V、2V、3V、4V、5V處的校 準(zhǔn)系數(shù) 式3中，aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個(gè)通道的采樣值。最終的校準(zhǔn)系數(shù)為Jz = (Jl+J2+J3+J4+J5)/5= [(l/all+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5，· · ·，(l/alN+2/a2N+3/a3N+4a4N+5/ a5N)/5]式 4= [jl，j2，···，jN]PC機(jī)1將此系數(shù)保存到校準(zhǔn)系數(shù)文件中，作為校準(zhǔn)系數(shù)，完成對測試設(shè)備2校準(zhǔn)。步驟S304、測試設(shè)備2正常工作時(shí)，若各個(gè)通道采集到的原始數(shù)據(jù)為B = [bl, h2, ... , bN]式 5式5中，B為各通道原始采樣值bl，b2，. . .，bN構(gòu)成的矢量；步驟S305、將各通道的原始采樣值均乘以各通道對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，即可得到較為 準(zhǔn)確的采樣值，即B' = BXJ = [blX jl, b2X j2, . . . , bNX jN] 式 6式6中，B’為各通道校準(zhǔn)后采樣值構(gòu)成的矢量。按照上述方法，對現(xiàn)場使用的帶4米長的測試線的某測試設(shè)備2進(jìn)行整體校準(zhǔn)，測 試數(shù)據(jù)表明，校準(zhǔn)后，測試設(shè)備2的測量精度能達(dá)到0. 05%，為現(xiàn)場獲得準(zhǔn)確測試數(shù)據(jù)提供 了物質(zhì)基礎(chǔ)和技術(shù)保障?；诂F(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，本發(fā)明還提供一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng)。該 校準(zhǔn)系統(tǒng)包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備2、接線轉(zhuǎn)換裝置6、標(biāo)準(zhǔn)信號源7，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線4連接 校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備2，測試線5連接測試設(shè)備2和接線轉(zhuǎn)換裝置6，接線轉(zhuǎn)換裝置6和標(biāo) 準(zhǔn)信號源7連接。校驗(yàn)設(shè)備可為PC機(jī)1。上述設(shè)備在功能方面與方法中描述的相同，不再 贅述。本發(fā)明能對應(yīng)用于現(xiàn)場的測試設(shè)備2 (包括測試線)進(jìn)行整體的校準(zhǔn)，提高現(xiàn)場測 試設(shè)備的精度，既可對系統(tǒng)進(jìn)行單點(diǎn)數(shù)據(jù)校準(zhǔn)，又可對系統(tǒng)進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)，并給出了多點(diǎn)校 準(zhǔn)時(shí)校準(zhǔn)系數(shù)的算法，校準(zhǔn)方法簡單，現(xiàn)場容易實(shí)施。本方發(fā)明將校準(zhǔn)系數(shù)存儲在PC機(jī)中， 并不要求測試設(shè)備具有非易失性存儲器，因而擴(kuò)大了方案的應(yīng)用范圍。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，并不構(gòu)成對本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何 在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán) 利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
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權(quán)利要求
一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，其特征在于，包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝置、標(biāo)準(zhǔn)信號源，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備，測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn)換裝置，接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；該方法包括測試設(shè)備采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)正弦波；校驗(yàn)設(shè)備檢測測試設(shè)備N個(gè)通道的采樣值；用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；測試設(shè)備工作時(shí)，獲取N個(gè)通道采集的原始數(shù)據(jù)；將N個(gè)通道的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，得到校準(zhǔn)采樣值。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若采用一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N 個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)為用IV除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；J = \KvKr-'VJJ為N個(gè)通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量，al, a2, . . . , aN分別為各通道采樣值。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若采用多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N 個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)為分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；J1 = lXll'Xl2'-'XJJ2 = VaiiV2Air''''2AIN ■J3 = 1%31，％32，...，％3iV.J4 = 1%41，％42，…，％4iV.aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個(gè)通道的采樣值； 校準(zhǔn)系數(shù)為Jz = (Jl+J2+J3+J4+J5)/5=[(l/all+2/a21+3/a31+4/a41+5/a51)/5, · · ·，(l/alN+2/a2N+3/a3N+4/a4N+5/ a5N)/5]=[jl， j2，···， jN]
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述校驗(yàn)設(shè)備為PC機(jī)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述PC機(jī)保存N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)。
6.如權(quán)利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述測試線與被測設(shè)備連接，測試線 的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。
7.一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng)，其特征在于，包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝 置、標(biāo)準(zhǔn)信號源，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備，測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn) 換裝置，接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；所述測試設(shè)備，用于采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)正弦波；工作時(shí)，獲取N個(gè)通道采集的原始數(shù)據(jù)；所述校驗(yàn)設(shè)備，用于檢測測試設(shè)備N個(gè)通道的采樣值，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣 值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；將N個(gè)通道的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，得到標(biāo)準(zhǔn)采樣值。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，若采用一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N 個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)為用IV除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)；J為N個(gè)通道校準(zhǔn)系數(shù)構(gòu)成的矢量，al, a2, . . . , aN分別為各通道采樣值。
9.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，若采用多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)校準(zhǔn)，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N 個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)為分別用1V、2V、3V、4V、5V除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)； aij中表示第i次校準(zhǔn)、第j個(gè)通道的采樣值； 校準(zhǔn)系數(shù)為
10.如權(quán)利要求7、8或9所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試線與被測設(shè)備連接，測試線 的接頭與被測設(shè)備接頭相適配。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)方法，包括校驗(yàn)設(shè)備、測試設(shè)備、接線轉(zhuǎn)換裝置、標(biāo)準(zhǔn)信號源，使用標(biāo)準(zhǔn)USB線連接校驗(yàn)設(shè)備和測試設(shè)備，測試線連接測試設(shè)備和接線轉(zhuǎn)換裝置，接線轉(zhuǎn)換裝置和標(biāo)準(zhǔn)信號源連接；該方法包括測試設(shè)備采集標(biāo)準(zhǔn)信號源發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)正弦波，校驗(yàn)設(shè)備檢測測試設(shè)備N個(gè)通道的采樣值，用標(biāo)準(zhǔn)電壓除以N個(gè)通道的采樣值，得到N個(gè)通道的校準(zhǔn)系數(shù)，測試設(shè)備工作時(shí)，獲取N個(gè)通道采集的原始數(shù)據(jù)，將N個(gè)通道的原始數(shù)據(jù)均乘以對應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)，得到校準(zhǔn)采樣值。本發(fā)明還涉及一種現(xiàn)場測試設(shè)備的校準(zhǔn)系統(tǒng)。本發(fā)明可提高現(xiàn)場測試設(shè)備的測試精度。
文檔編號G01R35/00GK101915902SQ20101027658
公開日2010年12月15日 申請日期2010年9月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月6日
發(fā)明者李小文, 李進(jìn)進(jìn), 蘇理, 譚利紅, 陳明奎 申請人:株洲南車時(shí)代電氣股份有限公司