專利名稱：有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)量尺，尤其涉及一種測(cè)量有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷的測(cè)量 尺。
背景技術(shù)：
有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED)的面板缺陷測(cè)量一般需要測(cè)量一下幾項(xiàng)(1)測(cè)量切割后 的的OLED顯示屏基片玻璃棱角處缺陷大小；(2)測(cè)量切割后的OLED顯示屏后蓋玻璃棱角 處缺陷大?。籆3)測(cè)量OLED顯示屏基片玻璃與IC (驅(qū)動(dòng)模塊)綁定的邊沿處缺陷大??；(4) 測(cè)量OLED顯示屏基片玻璃另外3邊沿處的缺陷大??；( 測(cè)量OLED顯示屏基片與后蓋玻 璃粘合時(shí)UV膠線壓合后的寬度；(6)測(cè)量基片及后蓋玻璃的表面缺陷大小(主要為凹坑)； (7)測(cè)量OLED顯示屏偏光片的缺陷大小。傳統(tǒng)工序中測(cè)量時(shí)，往往采用普通的測(cè)量工具(如 米尺、量角器等)，通過(guò)測(cè)量基片玻璃、后蓋玻璃和偏光片上的缺陷的長(zhǎng)和寬，看其長(zhǎng)與寬是 否在規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)缺陷允許范圍內(nèi)，從而判斷給有機(jī)發(fā)光顯示器的面板是否合格。然而，使用普通測(cè)量工具測(cè)量有機(jī)發(fā)光顯示器(0LED顯示器)的面板缺陷，每次測(cè) 量時(shí)均需核對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，而且測(cè)量并不方便，測(cè)量步驟多、人為誤差大。因此，急需一種使用 方便、人為誤差小的面板缺陷測(cè)量工具。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種使用方便、人為誤差小的有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺。為了實(shí)現(xiàn)上有目的，本發(fā)明公開(kāi)了一種有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，用于 有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量，所述有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的尺面上標(biāo)示有 有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖樣，所述缺陷圖樣包括測(cè)量切割后的基片玻璃棱角處缺陷的 第一缺陷圖樣、測(cè)量切割后的后蓋玻璃棱角處缺陷的第二缺陷圖樣、測(cè)量基片玻璃與驅(qū)動(dòng) 模塊綁定的邊沿處缺陷的第三缺陷圖樣、測(cè)量基片玻璃未切割的邊沿處缺陷的第四缺陷圖 樣、測(cè)量基片與后蓋玻璃粘合時(shí)膠線壓合后寬度的長(zhǎng)度圖樣、測(cè)量基片和后蓋玻璃的表面 缺陷的第五缺陷圖樣，以及測(cè)量有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏偏光片缺陷的第六缺陷圖樣。較佳地，所述缺陷圖樣由一組透明缺陷圖樣和一組陰暗缺陷圖樣組成。采用透明 的和不透明的兩組圖樣作為缺陷圖樣，可以更好的、更加直觀的測(cè)量OLED面板的缺陷。較佳地，所述第一缺陷圖樣呈長(zhǎng)為2毫米，寬為1. 5毫米的長(zhǎng)方形；所述第二缺陷 圖樣呈長(zhǎng)為2毫米，寬為1. 5毫米的長(zhǎng)方形；所述第三缺陷圖樣呈長(zhǎng)為3毫米，寬為0. 5毫 米的長(zhǎng)方形；所述第四缺陷圖樣呈長(zhǎng)為4毫米，寬為1毫米的長(zhǎng)方形；所述長(zhǎng)度圖樣呈長(zhǎng) 為1. 4毫米的帶狀；所述第五缺陷圖樣由三個(gè)并行排列的直徑分別為0. 5毫米、1. 0毫米和 1. 5毫米的圓形組成；所述第六缺陷圖樣由五個(gè)并行排列的直徑分別為0. 05毫米、0. 1毫 米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圓形組成。上述缺陷圖樣的規(guī)格大小是通過(guò)對(duì)OLED 生產(chǎn)過(guò)程中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析總結(jié)得到的，使用上述缺陷圖樣可以準(zhǔn)確的測(cè)量處OLED顯示器面板是否可用。較佳地，所述有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的邊緣標(biāo)示有刻度。使得本發(fā)明 具有常用的長(zhǎng)度尺的功能，可以適用于多種場(chǎng)合，更加全面的測(cè)量面板的缺陷。較佳地，所述有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺包括角度尺。在有機(jī)發(fā)光顯示器 的面板缺陷測(cè)量尺的尺面上標(biāo)示有角度尺，使得本發(fā)明具有測(cè)量角度功能，可以適用于多 種場(chǎng)合，更加全面的測(cè)量面板的缺陷。本發(fā)明有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺上標(biāo)示有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖 樣，所述缺陷圖樣是本領(lǐng)域技術(shù)人員通過(guò)對(duì)OLED生產(chǎn)過(guò)程中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析總結(jié)設(shè)置的， 測(cè)量面板缺陷時(shí)，直接將面板上的缺陷與有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺上對(duì)應(yīng)的缺陷 圖樣比對(duì)，若該缺陷的投影的邊界超出缺陷圖樣的區(qū)域，則該OLED顯示屏不可用，反之合 格。與現(xiàn)有技術(shù)中使用長(zhǎng)度尺和角度尺等普通測(cè)量工具相比，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)OLED顯示器面板 缺陷測(cè)量的專業(yè)化，其操作簡(jiǎn)單，人為誤差小。


圖1是本發(fā)明有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的示意圖。圖2是圖1中A部分的放大示意圖。圖3是圖1中B部分的放大示意圖。圖4是待測(cè)基片玻璃的缺陷示意圖。圖fe-圖恥是使用本發(fā)明測(cè)量缺陷的示意圖。
具體實(shí)施例方式為詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式 并配合附圖詳予說(shuō)明。參考圖1，本發(fā)明有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺100采用透明材料制成，其邊 緣處表示有刻度，右上角處標(biāo)示有角度尺(Angle meterUO，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明有機(jī) 發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺100的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED顯示器)面板的 缺陷圖樣。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第一缺陷圖樣(EL CORNER) 11，用于測(cè)量切割后的 OLED顯示屏基片玻璃棱角處缺陷，所述第一缺陷圖樣11包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖 樣。其中，該第一缺陷圖樣11呈大小為2*1. 5mm的長(zhǎng)方形，測(cè)量時(shí)，將缺陷與尺面上的第一 缺陷圖樣11相對(duì)比，如果缺陷的投影邊界超出第一缺陷圖樣11的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第二缺陷圖樣(C/G CORNER) 12，用于測(cè)量切割后的 OLED顯示屏后蓋玻璃棱角處缺陷，所述第二缺陷圖樣12包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖 樣。其中，該第二缺陷圖樣12呈大小為2*1. 5mm的長(zhǎng)方形，測(cè)量時(shí)，將缺陷與尺面上的第二 缺陷圖樣12相對(duì)比，如果缺陷的投影邊界超出第二缺陷圖樣12的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第三缺陷圖樣(PAD 3*0. 5mm, ) 13，用于測(cè)量OLED顯 示屏基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊(IC)綁定的邊沿處缺陷，所述第三缺陷圖樣13包括透明缺陷圖 樣和陰暗缺陷圖樣。其中，該第三缺陷圖樣13呈大小為3*0. 5mm的長(zhǎng)方形，測(cè)量時(shí)，將缺陷 與尺面上的第三缺陷圖樣13相對(duì)比，如果缺陷的投影邊界超出第三缺陷圖樣13的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第四缺陷圖樣(Panel Side&Dummy Pad) 14，用于測(cè)量 OLED顯示屏基片玻璃另外3邊沿處的缺陷，第四缺陷圖樣14包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷 圖樣。其中，該第四缺陷圖樣14呈大小為4*lmm的長(zhǎng)方形，測(cè)量時(shí)，將缺陷與尺面上的第四 缺陷圖樣14相對(duì)比，如果缺陷的投影邊界超出第四缺陷圖樣14的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括長(zhǎng)度圖樣(Resin Width) 15，用于測(cè)量OLED顯示屏基 片與后蓋玻璃粘合時(shí)UV膠線壓合后的寬度，所述長(zhǎng)度圖樣15包括透明缺陷圖樣和陰暗缺 陷圖樣。其中，該長(zhǎng)度圖樣15呈長(zhǎng)為1.4毫米的帶狀，測(cè)量時(shí)，如果膠線寬度小于量尺上標(biāo) 示寬度1. 4mm，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第五缺陷圖樣16，用于測(cè)量基片及后蓋玻璃的表面 缺陷(主要為凹坑)，所述第五缺陷圖樣16包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖樣。所述第五 缺陷圖樣16由三個(gè)并行排列的直徑分別為0. 5毫米、1. 0毫米和1. 5毫米的圓形組成，測(cè)量 時(shí)，將缺陷與尺面上的第五缺陷圖樣16相對(duì)比，如果缺陷的投影邊界超出第五缺陷圖樣16 的區(qū)域，則不可用。參考圖1-圖3，所述缺陷圖樣包括第六缺陷圖樣17，用于測(cè)量OLED顯示屏偏光片 的缺陷，所述第六缺陷圖樣17包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖樣。所述第六缺陷圖樣17 由五個(gè)并行排列的圓形組成，上述五個(gè)圓形的直徑分別為0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、 0. 2毫米和0. 3毫米。測(cè)量時(shí)，將缺陷與尺面上的第六缺陷圖樣17相對(duì)比，如果缺陷的投影 邊界超出第六缺陷圖樣17的區(qū)域，則不可用。參考圖4，基片玻璃20的缺陷示意圖，基片20上具有切割后的基片玻璃棱角處的 缺陷21，基片玻璃另外三邊沿處的缺陷22，基片玻璃的表面缺陷(圖中為凹坑)23。以缺陷 22為例，測(cè)量基片玻璃20，將本發(fā)明有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺上的第一缺陷圖樣 11的透明缺陷圖樣放置在基片玻璃20的缺陷22上方，參考圖5a，如果缺陷22在尺面上的 投影邊界超出第四缺陷圖樣14的透明缺陷圖樣的區(qū)域，該基片玻璃20不可用；參考圖恥， 如果缺陷22在尺面上的投影在所述第四缺陷圖樣14的透明缺陷圖樣的區(qū)域內(nèi)，該基片玻 璃20的缺陷22在允許誤差內(nèi)。其他幾種OLED顯示器面板上的缺陷測(cè)量方法與上述測(cè)量 缺陷21的測(cè)量方法類似，再次就不予詳述。以上所揭露的僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來(lái)限定本發(fā)明之權(quán)利 范圍，因此依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，用于有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量，其 特征在于所述有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器面板的 缺陷圖樣，所述缺陷圖樣包括測(cè)量切割后的基片玻璃棱角處缺陷的第一缺陷圖樣、測(cè)量切 割后的后蓋玻璃棱角處缺陷的第二缺陷圖樣、測(cè)量基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊綁定的邊沿處缺陷 的第三缺陷圖樣、測(cè)量基片玻璃未切割的邊沿處缺陷的第四缺陷圖樣、測(cè)量基片與后蓋玻 璃粘合時(shí)膠線壓合后寬度的長(zhǎng)度圖樣、測(cè)量基片和后蓋玻璃的表面缺陷的第五缺陷圖樣， 以及測(cè)量有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏偏光片缺陷的第六缺陷圖樣。
2.如權(quán)利要求1所述的有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，其特征在于所述缺陷圖 樣由一組透明缺陷圖樣和一組陰暗缺陷圖樣組成。
3.如權(quán)利要求1所述的有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，其特征在于所述第一缺 陷圖樣呈長(zhǎng)2毫米，寬1. 5毫米的長(zhǎng)方形；所述第二缺陷圖樣呈長(zhǎng)2毫米，寬1. 5毫米的長(zhǎng) 方形；所述第三缺陷圖樣呈長(zhǎng)3毫米，寬0.5毫米的長(zhǎng)方形；所述第四缺陷圖樣呈長(zhǎng)4毫米， 寬1毫米的長(zhǎng)方形；所述長(zhǎng)度圖樣呈長(zhǎng)1. 4毫米的帶狀；所述第五缺陷圖樣由三個(gè)并行排 列的直徑分別為0. 5毫米、1. 0毫米和1. 5毫米的圓形組成；所述第六缺陷圖樣由五個(gè)并行 排列的直徑分別為0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圓形組成。
4.如權(quán)利要求1所述的有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，其特征在于所述有機(jī)發(fā) 光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的邊緣標(biāo)示有刻度。
5.如權(quán)利要求1所述的有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，其特征在于所述有機(jī)發(fā) 光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺包括角度尺。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺，用于有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量，該有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測(cè)量尺的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖樣，上述缺陷圖樣包括七種，分別用于測(cè)量切割后的基片玻璃棱角處缺陷、切割后的后蓋玻璃棱角處缺陷、基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊綁定的邊沿處缺陷、基片玻璃未切割的邊沿處缺陷、基片與后蓋玻璃粘合時(shí)膠線壓合后寬度的長(zhǎng)度、基片和后蓋玻璃的表面缺陷，以及有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏偏光片缺陷。本發(fā)明直接將OLED顯示器面板上的缺陷與尺面上的缺陷圖樣比對(duì)，若缺陷的投影邊界超出缺陷圖樣的區(qū)域，則不可用。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了面板缺陷測(cè)量的專業(yè)化，操作簡(jiǎn)單，人為誤差小。
文檔編號(hào)G01B3/04GK102095339SQ20101056846
公開(kāi)日2011年6月15日 申請(qǐng)日期2010年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月1日
發(fā)明者劉惠森, 楊明生, 王勇, 王學(xué)敬, 王曼媛, 范繼良 申請(qǐng)人:東莞宏威數(shù)碼機(jī)械有限公司