專(zhuān)利名稱(chēng)：用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)的測(cè)試套件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及通信網(wǎng)絡(luò)，更具體地說(shuō)，涉及一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù) 的測(cè)試套件。
背景技術(shù)：
在網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中，需要使用網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器，它包含隔離變壓器 (Isolationtransformers)和共模抑制(common mode chokes)。網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器能提供阻 抗匹配、信號(hào)整形和訓(xùn)練(signal shaping and conditioning)、高電壓隔離、隔離異常以 及降低共模噪聲。網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器作為模擬信號(hào)接口，其中包含變壓(transformer)、共模 扼流圈(Common Mode Choke)和自耦合變壓器(Autotransformer)三大部分，共模扼流圈 被設(shè)計(jì)用于降低共模抑制級(jí)別，用以降低電磁干擾(EMI)的影響。目前由于生產(chǎn)工藝可控性、自動(dòng)化程度不高，關(guān)鍵的繞線(xiàn)、焊接工藝需要依靠人工 操作，使得制造出的網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的性能一致性差，從而造成網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器各端口的 電性能參數(shù)有一定的離散性。這些參數(shù)包括回程損耗(return loss)、插入損耗(insertion loss)、串繞(crosstalk)、電感值、漏電感值和雜散電容值(CW/W)。因此，在生產(chǎn)或使用過(guò) 程中通常需要對(duì)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器中各個(gè)線(xiàn)對(duì)的性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，例如，對(duì)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓 器的每組線(xiàn)對(duì)進(jìn)行回程損耗(return loss)測(cè)試、插入損耗(insertion loss)測(cè)試、串繞 (crosstalk)測(cè)試等。圖1所示是一個(gè)典型的網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器原理圖，其包括8個(gè)獨(dú)立的變壓器，每個(gè)變 壓器包括一組線(xiàn)對(duì)，例如第一變壓器包括編號(hào)為1、2、3和46、47、48的線(xiàn)對(duì)、第二變壓器包 括編號(hào)為4、5、6和43、44、45的線(xiàn)對(duì)，……第8變壓器包括編號(hào)為22、23、24和25、26、27 的線(xiàn)對(duì)。在測(cè)試過(guò)程中，需要對(duì)每組線(xiàn)對(duì)進(jìn)行測(cè)試。現(xiàn)以對(duì)第一變壓器和第二變壓器TX2的測(cè)試為例來(lái)說(shuō)明現(xiàn)有技術(shù)中如何測(cè)試 網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的性能參數(shù)。(1)信號(hào)變壓器插入損耗測(cè)試圖2是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器插入損耗的測(cè)試連線(xiàn)圖。如圖2所示，其中DUT 為網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的待測(cè)線(xiàn)對(duì)，此處是指(2、3)和(46、47)線(xiàn)對(duì)。BALUN 為平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器，500hm(非平衡)_1000hm(平衡)的轉(zhuǎn)換器，工作 頻段為 0. 1MHz 100MHz。測(cè)試之前需對(duì)網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)之后，現(xiàn)有技術(shù)的做法是在2、3兩個(gè)連 接點(diǎn)處使用飛線(xiàn)焊接連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀(Network Analyzer)的射頻輸出端口(RF/Out)， 46、47兩個(gè)連接點(diǎn)處使用飛線(xiàn)焊接連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸入端口(RF/In)，然后讀取 網(wǎng)絡(luò)分析儀上的測(cè)試數(shù)據(jù)。(2)信號(hào)變壓器回程損耗測(cè)試圖3是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器回程損耗的測(cè)試連線(xiàn)圖。[0014]測(cè)試之前需對(duì)網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)之后，現(xiàn)有技術(shù)的做法是在2、3兩個(gè)連 接點(diǎn)處使用飛線(xiàn)焊接連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端口(RF/Out)，46、47兩個(gè)連接點(diǎn)使用 飛線(xiàn)連接100歐姆(Ohm)負(fù)載。然后讀取網(wǎng)絡(luò)分析儀上的測(cè)試數(shù)據(jù)。(3)信號(hào)變壓器串?dāng)_測(cè)試圖4是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器串?dāng)_的測(cè)試連線(xiàn)圖。其測(cè)試的是第一變壓器與第 二變壓器TX2之間的串?dāng)_。測(cè)試之前需對(duì)網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)之后，現(xiàn)有技術(shù)的做法是第一變壓器 的2、3兩個(gè)連接點(diǎn)處使用飛線(xiàn)焊接連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端口(RF/Out)，46、
47兩個(gè)連接點(diǎn)使用飛線(xiàn)連接lOOOhm負(fù)載。第二變壓器TX2的5，6兩個(gè)連接點(diǎn)使用飛線(xiàn)連 接lOOOhm負(fù)載，44、43兩個(gè)連接點(diǎn)處使用飛線(xiàn)焊接連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸入端口(RF/ In)。此時(shí)再讀取網(wǎng)絡(luò)分析儀上的測(cè)試數(shù)據(jù)。上述測(cè)試方式中存在較大的問(wèn)題是采用飛線(xiàn)方式連接，由于飛線(xiàn)無(wú)法固定，測(cè)試 出來(lái)的測(cè)量數(shù)值離散度較大，且網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器引腳較多，使用飛線(xiàn)焊接方式，效率極低。因此需要開(kāi)發(fā)一種準(zhǔn)確、可靠及高效的測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器性能參數(shù)的方法及系 統(tǒng)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述采用飛線(xiàn)連接方式來(lái)測(cè) 試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器性能參數(shù)使得測(cè)試出來(lái)的測(cè)量數(shù)值離散度大且測(cè)試產(chǎn)效率低的缺陷，提 供一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)的測(cè)試套件。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是構(gòu)造一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變 壓器參數(shù)的測(cè)試套件，包括基座，其上安裝有第一平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器、與所述第一平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器的平 衡輸出端相連的第一對(duì)連接件，第二平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器、與所述第二平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器 的平衡輸出端相連的第二對(duì)連接件；校準(zhǔn)電路板，其上設(shè)置有至少一個(gè)校準(zhǔn)模塊，所述至少一個(gè)校準(zhǔn)模塊中至少設(shè)置 有一對(duì)彼此間通過(guò)信號(hào)線(xiàn)相連的校準(zhǔn)排針，且每一對(duì)校準(zhǔn)排針中，至少有一個(gè)校準(zhǔn)排針可 選擇地通過(guò)跳線(xiàn)與一只匹配電阻相連；測(cè)試電路板，其上設(shè)置有用于接納待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的IC插座以及與所述待 測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器端口數(shù)量相對(duì)應(yīng)的多對(duì)測(cè)試排針，其中每對(duì)測(cè)試排針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連 接至所述IC插座中與待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的對(duì)應(yīng)端口相連的引線(xiàn)對(duì)，且每一個(gè)所述測(cè)試 排針可選擇地通過(guò)跳線(xiàn)與一只匹配電阻相連；轉(zhuǎn)接電路板，其上設(shè)置有至少一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，用于在校準(zhǔn)操作時(shí)，將所述基座上的 第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至所述校準(zhǔn)電路板上的所述校準(zhǔn)排針；或用于在測(cè)試 操作時(shí)，將所述基座上的第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至所述測(cè)試排針。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述轉(zhuǎn)接模塊包括插入損耗測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊、回 程損耗測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊、串?dāng)_測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述測(cè)試電路板包括千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器 測(cè)試電路板、千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述校準(zhǔn)模塊包括千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校 準(zhǔn)模塊、千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊，其中各 個(gè)校準(zhǔn)模塊中的信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)度分別等于對(duì)應(yīng)的測(cè)試電路板上信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)度。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述第一平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器和第二平衡_非 平衡轉(zhuǎn)換器分別設(shè)置在所述基座的兩側(cè)面，且其非平衡端口向外伸出；所述第一對(duì)連接件 和所述第二對(duì)連接件設(shè)置在所述基座的上表面。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述基座的上表面和所述轉(zhuǎn)接電路板上設(shè)置有 用于將所述轉(zhuǎn)接電路板固定在所述基座上的定位機(jī)構(gòu)。 在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述電路板為印刷電路板，所述信號(hào)線(xiàn)由印刷 在PCB板上的導(dǎo)電材料構(gòu)成。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述校準(zhǔn)排針為H型排列。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述測(cè)試排針為H型排列。在本實(shí)用新型所述的測(cè)試套件中，所述至少一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊包括兩個(gè)轉(zhuǎn)接排母，所 述轉(zhuǎn)接排母為單列10位插槽的排母。實(shí)施本實(shí)用新型的用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)的測(cè)試套件，具有以下有益效 果本實(shí)用新型的測(cè)試套件改進(jìn)了目前網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器采用焊線(xiàn)方式進(jìn)行測(cè)試的落后手 段，且成本低廉，測(cè)試效率較高，利用跳線(xiàn)可以完成網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器所有線(xiàn)對(duì)的高頻性能測(cè) 試，因測(cè)試線(xiàn)路連接較為固定，提高了高頻參數(shù)測(cè)試精確度的穩(wěn)定性。

下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，附圖中圖1所示是一個(gè)典型的網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器原理圖；圖2是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器插入損耗的測(cè)試原理圖；圖3是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器回程損耗的測(cè)試原理圖；圖4是測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器串?dāng)_的測(cè)試原理圖；圖5是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的基座的示意圖；圖6是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的轉(zhuǎn)接電路板的示意圖；圖7是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的校準(zhǔn)電路板的示意圖；圖8A是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第一實(shí)施例的示意圖；圖8B是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第二實(shí)施例的示意圖；圖8C是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第三實(shí)施例的示意圖；圖9A是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行插入損耗(IL)測(cè)試校準(zhǔn)操作時(shí)的等效電 路圖；圖9B是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行IL測(cè)試操作時(shí)的測(cè)試電路板上的排針跳 線(xiàn)連接示意圖；圖9C是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行IL測(cè)試操作時(shí)的等效電路圖；圖10A是回程損耗(RL)的測(cè)試的原理示意圖；圖10B是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行RL測(cè)試校準(zhǔn)操作時(shí)的等效電路圖；[0052]圖10C是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行RL測(cè)試操作時(shí)的測(cè)試電路板上的排針跳 線(xiàn)連接示意圖；圖10D是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行IL測(cè)試操作時(shí)的等效電路圖；圖11A是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行串?dāng)_(CT)測(cè)試操作時(shí)的測(cè)試電路板上的 排針跳線(xiàn)連接示意圖；圖11B是根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例，進(jìn)行CT測(cè)試操作時(shí)的等效電路圖。
具體實(shí)施方式
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一套測(cè)試套件，包括基座、轉(zhuǎn)接 電路板、校準(zhǔn)電路板和測(cè)試電路板，以及連接線(xiàn)(例如同軸線(xiàn)纜)和轉(zhuǎn)換頭(例如N頭、N頭 轉(zhuǎn)BNC頭)。使用該套件配合網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，能夠?qū)y(cè)量數(shù) 值離散度控制在較小范圍，并且可以提高測(cè)試效率。測(cè)試參數(shù)包括插入損耗(Insertion loss,簡(jiǎn)稱(chēng) IL)，回程損耗(Return loss,簡(jiǎn)稱(chēng) RL)，串?dāng)_(Crosstalk,簡(jiǎn)稱(chēng) CT)。以下分別對(duì)測(cè)試套件中的各個(gè)部件及其測(cè)試方法進(jìn)行說(shuō)明。一、基座圖5是本實(shí)用新型測(cè)試套件中基座的一個(gè)實(shí)施例的示意圖(俯視圖)。如圖5所 示，基座100上安裝有兩個(gè)平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器(BALUN)，即第一平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器110 和第二平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器120。與所述第一平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器110的平衡輸出端電連 接的第一對(duì)連接件121、122，與所述第二平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器120的平衡輸出端電連接的 第二對(duì)連接件123、124。在測(cè)試和校準(zhǔn)操作中，使用同軸線(xiàn)纜、N頭、N頭轉(zhuǎn)BNC頭將第一 平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器110的非平衡端連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸入端或輸出端，將第二平 衡_非平衡轉(zhuǎn)換器120的非平衡端連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出端或輸入端。在本實(shí)施例 中，第一對(duì)連接件121、122和第二對(duì)連接件123、124為導(dǎo)電柱，其固定在基座的上表面，排 列在矩形的四個(gè)頂角上。另外，基座和轉(zhuǎn)接電路板上還可以設(shè)置定位機(jī)構(gòu)，用于將轉(zhuǎn)接電路板固定在基座 上，以保持其穩(wěn)定度。該定位機(jī)構(gòu)可以是帶有內(nèi)螺紋的臺(tái)柱，分別設(shè)置在基座上表面的四個(gè) 角處。類(lèi)似地，可在轉(zhuǎn)接電路板的相應(yīng)位置處設(shè)置定位孔，使用螺帽穿過(guò)定位孔并擰入臺(tái) 柱，就可將轉(zhuǎn)接電路板固定在基座上。二、轉(zhuǎn)接電路板圖6是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的轉(zhuǎn)接電路板200的示意圖。在本實(shí)施例中，如圖 6所示，轉(zhuǎn)接電路板上設(shè)置有三個(gè)轉(zhuǎn)接模塊。每個(gè)轉(zhuǎn)接模塊中，設(shè)置有四個(gè)通孔，其位置和尺寸與前述基座上的第一對(duì)連接件 121,122和第二對(duì)連接件123、124的位置和尺寸相配合。如第一轉(zhuǎn)接模塊中有第一組通孔 T1-T4、第二轉(zhuǎn)接模塊中有第二組通孔T5-T8、第三轉(zhuǎn)接模塊中有第三組通孔T9-T12。另外， 每個(gè)轉(zhuǎn)接模塊中，設(shè)置有四個(gè)排母。如第一轉(zhuǎn)接模塊中有第一組排母W1、W2、W7和W8、第二 轉(zhuǎn)接模塊中有第二組排母W3、W4、W9和W10、第三轉(zhuǎn)接模塊中有第三組排母W5、W6、W11和 W12。且在第一轉(zhuǎn)接模塊中，通孔T1和T2分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第一排母W1的第一和 第二位插槽；通孔T3和T4分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第七排母W7的第一和第二位插槽。在第二轉(zhuǎn)接模塊中，通孔T5和T6分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第三排母W3的第一和第二位插槽；通 孔T7和T8分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第十排母W10的第一和第二位插槽。在第三轉(zhuǎn)接模塊中， 通孔T9和T10分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第六排母W6的第一和第二位插槽；通孔T11和T12 分別通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第十二排母W12的第一和第二位插槽。從圖6中可以看出，第一轉(zhuǎn)接模塊中，僅使用了左邊的排母，即第一排母W1和第七 排母W7 ；第三轉(zhuǎn)接模塊中，僅使用了右邊的排母，即第六排母W6和第十二排母W12 ；而在第 二轉(zhuǎn)接模塊中，上排使用了左邊的排母，即第三排母W3，下排使用了右邊的排母，即第十排 母W10。第二轉(zhuǎn)接模塊的設(shè)計(jì)是為了與后面將描述的測(cè)試電路板的布線(xiàn)設(shè)計(jì)相配合，專(zhuān)門(mén)用 于測(cè)試相鄰線(xiàn)對(duì)間的串?dāng)_。本實(shí)用新型不限于上述實(shí)施例。作為替代實(shí)施方式，可以去除轉(zhuǎn)接電路板上沒(méi)有 用到的排母(例如排母擬、18、14、19、15和111)。另外，在本實(shí)施例中，采用的是單列10 位(1x10位)排母，由于所用排母只利用了其前兩位插槽，所以還可以選用只有兩位插槽的 排母。當(dāng)然也還可以選擇其它排列形式(如雙列、三列)但至少帶有兩位插槽的排母。另 外，轉(zhuǎn)接電路板上的三個(gè)轉(zhuǎn)接模塊可以集成在一塊電路板上，也可以分別做成三個(gè)單獨(dú)的 轉(zhuǎn)接電路板。需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中，選擇多個(gè)1x10位排母的好處還在于可以用其作為支 撐件，在校準(zhǔn)或測(cè)試操作起支撐上層電路板的作用。三、校準(zhǔn)電路板圖7是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的校準(zhǔn)電路板300的示意圖。如圖7所示，在本實(shí) 施例中，校準(zhǔn)電路板上設(shè)置有三個(gè)校準(zhǔn)模塊千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊、千兆雙口 網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊。其間的區(qū)別僅在于其中的 信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)度不同，分別與以下將描述的千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板、千兆雙口網(wǎng) 絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板上的信號(hào)線(xiàn)的長(zhǎng)度相對(duì) 應(yīng)(等同)。在本實(shí)施例中，每一個(gè)校準(zhǔn)模塊中設(shè)置有兩對(duì)彼此間通過(guò)信號(hào)線(xiàn)相連的校準(zhǔn)排 針，作為替代實(shí)施方式，每一個(gè)校準(zhǔn)模塊中也可以只設(shè)置一對(duì)校準(zhǔn)排針。如圖7所示，本實(shí)施例采用的是4-2-4排列的排針(V1-V12)，即左、右兩列分別為 4個(gè)插針，中間一列為2個(gè)插針的排列方式，在本文中將這種排列方式稱(chēng)為“H型”排列。第一校準(zhǔn)模塊(即千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊)中，第一排針VI通過(guò)信號(hào) 線(xiàn)與第二排針V2相連。具體地說(shuō)，第一排針VI中的2#和3#插針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至 第二排針V2的23#和22#插針；第一排針VI中的6#和5#插針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第 二排針V2的19#和20#插針。第三排針V3中的8#和9#插針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第四 排針V4的17#和16#插針；第三排針V3中的12#和11#插針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至第四 排針V4的13#和14#插針。另外，第一排針VI下方還設(shè)置有兩個(gè)并列的2位排針H1、H2， 排針HI中有一個(gè)插針與第一排針VI中間兩位插針之一通過(guò)信號(hào)線(xiàn)相連，排針H2中的一個(gè) 插針與第一排針VI中間兩位中的另一個(gè)插針通過(guò)信號(hào)線(xiàn)相連，排針HI和H2中未與第一排 針VI相連的那兩個(gè)插針之間連接一個(gè)100歐姆的匹配電阻R1。同樣，第三排針V3下方也 設(shè)置有兩個(gè)并列的2位排針H3、H4，其中插針與第三排針V3中的插針連接方式及匹配電阻 R2的連接方式與第一排針VI、排針HI和H2的連接方式相同。[0073]第二校準(zhǔn)模塊(即千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊)和第三校準(zhǔn)模塊(即 千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊)中各個(gè)排針之間的連接方式與第一校準(zhǔn)模塊的相同， 只是第五排針V5與第六排針V6之間信號(hào)線(xiàn)的長(zhǎng)度、第七排針V7與第八排針V8之間信號(hào) 線(xiàn)的長(zhǎng)度、第九排針V9與第十排針V10之間信號(hào)線(xiàn)的長(zhǎng)度、以及第十一排針VII與第十二 排針V12之間信號(hào)線(xiàn)的長(zhǎng)度與第一校準(zhǔn)模塊上的不同。因此，此處不再對(duì)其重復(fù)描述。再有，每一對(duì)校準(zhǔn)排針(例如VI和V2、V3和V4……或VII和V12)中，兩個(gè)排針 之間的距離與轉(zhuǎn)接模塊同一列中兩個(gè)排母(例如W1和W7、W2和W8……W6和W12)之間的 距離相等。相鄰兩個(gè)校準(zhǔn)排針(例如V2和V4、V6和V8、……或V10和V12)之間的距離， 與轉(zhuǎn)接模塊同一排中兩個(gè)相鄰排母(例如W1和W2、W3和W4……W11和W12)之間的距離相 等。使得校準(zhǔn)電路板上每對(duì)校準(zhǔn)排針中間一列的兩根插針可以插入轉(zhuǎn)接電路板排母的相應(yīng) 插槽中。作為選擇，校準(zhǔn)電路板上的三個(gè)校準(zhǔn)模塊可以集成在一塊電路板上，也可以分別 做成三個(gè)單獨(dú)的校準(zhǔn)電路板。四、測(cè)試電路板圖8A是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第一實(shí)施例，即千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào) 變壓器測(cè)試電路板410的示意圖。如圖8A所示，測(cè)試電路板410上設(shè)置有用于接納待測(cè)網(wǎng) 絡(luò)信號(hào)變壓器的IC插座411以及與所述待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器端口數(shù)量相對(duì)應(yīng)的4對(duì)測(cè)試 排針U1-U5、U2-U6、U3-U7、U4-U8。本實(shí)施例采用的是4_2_4排列的排針，即左、右兩列分 別為4個(gè)插針，中間一列為2個(gè)插針的排列方式(在本文中將這種排列方式稱(chēng)為“H型”排 列)。其中每個(gè)排針左、右兩列中間兩位插針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)與IC插座的相應(yīng)的引出線(xiàn)相 連。當(dāng)將網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器插入IC插座中，其各個(gè)待測(cè)線(xiàn)對(duì)的端點(diǎn)分別連接至這4對(duì)排針的 相同編號(hào)的插針上。例如，網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的(2、3)和(46、47)線(xiàn)對(duì)連接至第一和第五排 針U1和TO的2#、3#、46#、47#插針、網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的(5、6)和(43、44)線(xiàn)對(duì)連接至第一 和第五排針U1和U5的5#、6#、43#、44#插針、……網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的(23,24)和(25,26) 線(xiàn)對(duì)連接至第四和第八排針U4和U8的23#、24#、25#、26#插針。另外，每一個(gè)排針中，左邊 一列排針的第一位和第四位插針之間連接有一個(gè)100歐姆的匹配電阻R ；同樣地，右邊一列 排針的第一位和第四位插針之間連接有一個(gè)100歐姆的匹配電阻R。在本實(shí)施例中，左、右 兩列排針的第一位和第四位插針之間連接的是同一只電阻。作為替代方案，也可以設(shè)置兩 只電阻，即左列一個(gè)、石列一個(gè)。再有，每一對(duì)測(cè)試排針(例如U1和U5、U3和U4……或U11和U12)中，兩個(gè)排針 之間的距離與轉(zhuǎn)接模塊同一列中兩個(gè)排母(例如W1和W7、W2和W8……W6和W12)之間的 距離相等。相鄰兩個(gè)測(cè)試排針(例如U1和U2、U2和U3、……或U7和U8)之間的距離，與 轉(zhuǎn)接模塊同一排中兩個(gè)相鄰排母(例如W1和W2、W3和W4……W11和W12)之間的距離相 等。使得測(cè)試電路板上每對(duì)測(cè)試排針中間一列的兩根插針可以插入轉(zhuǎn)接電路板排母的相應(yīng) 插槽中。圖8A中，右邊的3個(gè)方框分別為測(cè)試插入損耗(IL)、回程損耗(RL)和串?dāng)_(CT) 時(shí)的跳線(xiàn)指示圖。圖8B是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第二實(shí)施例，即千兆單口網(wǎng)絡(luò)信號(hào) 變壓器測(cè)試電路板420的示意圖。除了端口數(shù)目比千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器端口少、信號(hào)線(xiàn)更短、每一個(gè)待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器只配置兩對(duì)排針外，其它連接方式與千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信 號(hào)變壓器測(cè)試電路板相同，此處不再贅述。圖8C是本實(shí)用新型測(cè)試套件中的測(cè)試電路板第三實(shí)施例，即千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào) 變壓器測(cè)試電路板430的示意圖。除了端口數(shù)據(jù)比千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器端口多、信號(hào) 線(xiàn)更長(zhǎng)、每一個(gè)待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器配置八對(duì)排針外，其它連接方式與千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào) 變壓器測(cè)試電路板相同，此處不再贅述。五、測(cè)試方式以下均以48腳(pin)千兆雙口貼片信號(hào)變壓器測(cè)試舉例進(jìn)行說(shuō)明。(1)插入損耗(Insertion Loss，簡(jiǎn)稱(chēng) IL)測(cè)試IL測(cè)試原理如圖2所示。測(cè)試原理簡(jiǎn)單概括通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀引入一定電壓幅值 E1的信號(hào)源(輸出的是正弦信號(hào))，流經(jīng)DUT (在此即為48pin千兆雙口貼片信號(hào)變壓器的 2、3引腳，46、47引腳)，能量有一定損耗，后流入網(wǎng)絡(luò)分析儀，統(tǒng)計(jì)此時(shí)電壓幅值為E2，而插 入損耗即指輸入與輸出信號(hào)的振幅電壓比db = 201og(El/E2)，以db值來(lái)表示度量單位， 以“-”來(lái)表示衰減。此項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)即反映了流經(jīng)DUT的第一對(duì)線(xiàn)路后，損失的能量，DUT內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖 1所示。使用本實(shí)用新型的測(cè)試套件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，首先將轉(zhuǎn)接電路板固定在基座之上，螺 帽穿過(guò)定位孔并擰入臺(tái)柱的內(nèi)螺紋中擰緊。如前所述，測(cè)試電路板上設(shè)置有三個(gè)轉(zhuǎn)接模塊。 IL測(cè)試使用第一個(gè)模塊，其包括第一組通孔T1-T4和第一組排母Wl、W2、W7和W8。使用連 接線(xiàn)及轉(zhuǎn)換頭分別將基座上的第一平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器110和第二平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器 120的非平衡端連接至網(wǎng)絡(luò)分析儀的射頻輸出和輸入接口，差分信號(hào)源將從T1、T2輸出，流 入1X10排母W1的AP部分，這樣信號(hào)可流入上一層板(校準(zhǔn)電路板或千兆變壓器測(cè)試電 路板)，信號(hào)在上一層板流經(jīng)DUT后，最后回到該測(cè)試電路板1 X 10排母W7的AP部分，通過(guò) T3、T4流回至網(wǎng)絡(luò)分析儀。在IL測(cè)試校準(zhǔn)時(shí)，將校準(zhǔn)電路板的第二校準(zhǔn)模塊(即千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校 準(zhǔn)模塊)的第五排針V5與第六排針V6的中間兩根插針?lè)謩e插入排母W7和W1的相應(yīng)插槽 (在本實(shí)施例中分別為W7和W1的第一、第二插槽)中，并用跳帽將第六排針V6中左邊的 23#、22#插針?lè)謩e與中間的上、下兩根插針連接，將第五排針V5中左邊的2#、3#插針?lè)謩e與 中間的上、下兩根插針連接?；蛘?，用跳帽將第六排針V6中右邊的19#、20#插針?lè)謩e與中 間的上、下兩根插針連接，將第五排針V5中右邊的5#、6#插針?lè)謩e與中間的上、下兩根插針 連接。這樣，差分信號(hào)通過(guò)轉(zhuǎn)接電路板第一排母W1上的AP從轉(zhuǎn)接電路板流入上一層(校 準(zhǔn)電路板)，經(jīng)過(guò)跳線(xiàn)連接后通過(guò)信號(hào)線(xiàn)流入轉(zhuǎn)接電路板第七排母W7上的AP(參見(jiàn)圖7)， 進(jìn)入轉(zhuǎn)接電路板后流回網(wǎng)絡(luò)分析儀。最終達(dá)到的效果如圖9A所示。IL校準(zhǔn)完成后開(kāi)始進(jìn)行IL測(cè)試。取下校準(zhǔn)電路板，換上千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓 器測(cè)試電路板。如圖9B所示，以測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器(2、3)和(46、47)線(xiàn)對(duì)的IL為例，將 第一對(duì)測(cè)試排針U1、TO的中間一列的兩根插針?lè)謩e插入轉(zhuǎn)接電路板上排母W7和Wl的相應(yīng) 插槽中，并用跳帽將第五測(cè)試排針TO中左邊的47#、46#插針?lè)謩e與中間一列的上、下兩根 插針連接，將第一測(cè)試排針U1中左邊的3#、2#插針?lè)謩e與中間一列的上、下兩根插針連接。差分信號(hào)通過(guò)API從轉(zhuǎn)接電路板流入，信號(hào)流經(jīng)信號(hào)變壓器后從AP2流出，最后流入網(wǎng)絡(luò)分 析儀。最終實(shí)現(xiàn)的效果如圖9C所示。(2)回程損耗(Return Loss，簡(jiǎn)稱(chēng)RL)測(cè)試RL測(cè)試原理回程損耗是指待測(cè)物的阻抗與標(biāo)準(zhǔn)阻抗的差距比，或者是對(duì)輸入信 號(hào)的反射比?；爻虛p耗是用來(lái)定義源(source)和負(fù)載(load)阻抗之間的匹配等級(jí)?；爻?損耗也反映出在反射過(guò)程中所損失能量的總量。由于阻抗不匹配而導(dǎo)致反射能量消耗會(huì)降 低系統(tǒng)的工作效率以及產(chǎn)生有干擾的噪聲。圖10A所示為回程損耗(RL)的測(cè)試的原理示意圖。其中，al代表輸入信號(hào)，bl代 表反射后輸出信號(hào)。計(jì)算公式S11= bl/al端口1 的 RL(dB) = _201og(|Sll|)。測(cè)試時(shí)要實(shí)現(xiàn)的要點(diǎn)是(1)變壓器2，3線(xiàn)對(duì)接入網(wǎng)絡(luò)分析儀。(2)另一側(cè)對(duì)應(yīng)的 46，47線(xiàn)對(duì)接入100歐姆負(fù)載。轉(zhuǎn)接電路板分成了三個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，RL測(cè)試可使用第一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊或第三個(gè)轉(zhuǎn)接模 塊。例如，當(dāng)使用第一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊測(cè)試時(shí)，使用螺帽固定好轉(zhuǎn)接電路板后，差分信號(hào)源將從 T1、T2輸出，流入第一排母W1的AP部分，這樣信號(hào)可流入上一層板(校準(zhǔn)電路板或千兆變 壓器測(cè)試電路板)，信號(hào)在上一層板流經(jīng)DUT負(fù)載后，反射信號(hào)最后回到該測(cè)試電路板第一 排母W1的AP部分，通過(guò)Tl、T2流回至網(wǎng)絡(luò)分析儀。在RL測(cè)試校準(zhǔn)時(shí)，將校準(zhǔn)電路板的第二校準(zhǔn)模塊(即千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校 準(zhǔn)模塊)的第五排針V5與第六排針V6的中間兩根插針?lè)謩e插入轉(zhuǎn)接電路板第七和第一排 母W7和W1的相應(yīng)插槽中，并用跳帽將第六排針V6左邊的23#、22#插針?lè)謩e與中間一列的 上、下兩根插針連接，用跳帽將排針H5的兩根插針跳接、并用跳帽將排針H6的兩根插針跳接。RL校準(zhǔn)使用的是V5部分，連接方式按照跳線(xiàn)指示使用跳帽實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)方式 Open (開(kāi)路)、Short (短路)、Load (負(fù)載)。如圖10B所示。RL校準(zhǔn)完成后開(kāi)始進(jìn)行RL測(cè)試。取下校準(zhǔn)電路板，換上千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓 器測(cè)試電路板。如圖10C所示，以測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器(2、3)和(46、47)線(xiàn)對(duì)的RL為例， 將第一對(duì)測(cè)試排針U1、U5的中間兩根插針?lè)謩e插入轉(zhuǎn)接電路板上第七和第一排母W7和W1 的相應(yīng)插槽中，并用跳帽將第五測(cè)試排針U5中左邊的47#、46#插針?lè)謩e與中間一列的上、 下兩根插針連接，用跳帽將第一測(cè)試排針U1中左邊的3#插針與左邊第一位插針跳接，并用 跳帽將第一測(cè)試排針U1中左邊的2#插針與左邊第四位插針跳接，以接入100歐姆的匹配 電阻。差分信號(hào)通過(guò)API從轉(zhuǎn)接電路板流入，按照Return loss (RL)跳線(xiàn)指示使用跳帽 連接，信號(hào)流經(jīng)信號(hào)變壓器后，反射信號(hào)從API流回，最后流入網(wǎng)絡(luò)分析儀。最終實(shí)現(xiàn)的效 果如圖10D所示。(3)串?dāng)_(Crosstalk，簡(jiǎn)稱(chēng) CT)測(cè)試轉(zhuǎn)接電路板分成了三個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，在測(cè)試第一變壓器的2、3和46、47線(xiàn)對(duì)與第二 變壓器的5、6和43、44線(xiàn)對(duì)之間的串?dāng)_時(shí)，使用第一或第三轉(zhuǎn)接模塊，而測(cè)試第二變壓器的 5、6和43、44線(xiàn)對(duì)與第三變壓器的8、9和40、41線(xiàn)對(duì)之間的串?dāng)_時(shí)，使用第二個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，以此類(lèi)推。也就是說(shuō)，如果相鄰兩組線(xiàn)對(duì)是連接在同一對(duì)測(cè)試排針上，則使用第一或第三轉(zhuǎn) 接模塊來(lái)測(cè)試其間的串?dāng)_；如果相鄰兩組線(xiàn)對(duì)分別連接在相鄰的兩對(duì)測(cè)試排針上，則使用 第二轉(zhuǎn)接模塊來(lái)測(cè)試其間的串?dāng)_?，F(xiàn)以測(cè)試第二變壓器的5、6和43、44線(xiàn)對(duì)與第三變壓器的8、9和40、41線(xiàn)對(duì)之 間的串?dāng)_為例來(lái)說(shuō)明。第二個(gè)轉(zhuǎn)接模塊包括第二組通孔T5-T8和第二組排母W3、W4、W9和 W10。在CT測(cè)試校準(zhǔn)時(shí)，將校準(zhǔn)電路板的第二校準(zhǔn)模塊(即千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模 塊)的第七排針V7與第六排針V6中間一列的兩根插針?lè)謩e插入轉(zhuǎn)接電路板上的排母W10 和W3的相應(yīng)插槽中。使用螺帽固定好轉(zhuǎn)接電路板后，差分信號(hào)源將從T5、T6輸出，流入第 三排母W3 部分，這樣信號(hào)可流入上一層板(校準(zhǔn)電路板或千兆變壓器測(cè)試電路板)， 信號(hào)在上一層板流經(jīng)信號(hào)變壓器后，耦合信號(hào)通過(guò)相鄰信號(hào)通道最后回到該測(cè)試電路板第 十排母W10的AP部分，通過(guò)T7、T8流回至網(wǎng)絡(luò)分析儀。校準(zhǔn)方式跟插入損耗測(cè)試校準(zhǔn)方式一樣，此處不再贅述。CT校準(zhǔn)完成后開(kāi)始進(jìn)行CT測(cè)試。取下校準(zhǔn)電路板，換上千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器 測(cè)試電路板。以測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器(5、6)、(43,44)線(xiàn)對(duì)與(8、9)、(40,41)線(xiàn)對(duì)之間的串?dāng)_為 例，如圖11A所示，將第一對(duì)測(cè)試排針中的第五排針U5的中間兩根插針插入轉(zhuǎn)接電路板上 排母W3的相應(yīng)插槽中，將第二對(duì)測(cè)試排針中的第二排針U2的中間兩根插針插入轉(zhuǎn)接電路 板上排母W10的相應(yīng)插槽中。并用跳帽將第五測(cè)試排針U5中右邊的43#、44#插針?lè)謩e與 中間一列的兩根插針跳接，將第二測(cè)試排針U2中左邊的8#、9#插針?lè)謩e與中間一列的兩根 插針跳接。用跳帽將第一測(cè)試排針U1中右邊的5#插針與右邊第一位插針跳接，并用跳帽 將第一測(cè)試排針U1中右邊的6#插針與右邊第四位插針跳接，以接入100歐姆的匹配電阻。 用跳帽將第六測(cè)試排針U6中左邊的41#插針與左邊第一位插針跳接，并用跳帽將第六測(cè)試 排針U6中左邊的40#插針與左邊第四位插針跳接，以接入100歐姆的匹配電阻。差分信號(hào)通過(guò)API從測(cè)試電路板流入，按照Crosstalk跳線(xiàn)指示使用跳帽連接，信 號(hào)流經(jīng)信號(hào)變壓器后，耦合信號(hào)從AP2流回，最后流入網(wǎng)絡(luò)分析儀。最終實(shí)現(xiàn)的效果如圖 11B所示。需要說(shuō)明的是，除了之前提及的轉(zhuǎn)接電路板上的排母可以用其它替代方案外，對(duì) 于校準(zhǔn)電路板和測(cè)試電路板，還可選擇其它布線(xiàn)方案和/或選擇其它排列方式的排針，只 要滿(mǎn)足能夠通過(guò)轉(zhuǎn)接電路板將校準(zhǔn)電路板上相應(yīng)的插針與基座上的平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器 的平衡端電連接、通過(guò)轉(zhuǎn)接電路板分別將測(cè)試電路板上的各個(gè)待測(cè)線(xiàn)對(duì)或相鄰線(xiàn)對(duì)與基座 上的平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器的平衡端電連接。例如，可用兩個(gè)單列6位或更多位的排針來(lái)替 代校準(zhǔn)電路板和或測(cè)試電路板上的一個(gè)H型排列的排針。當(dāng)然，在這種情況下，轉(zhuǎn)接電路板 上排母的位置也需要做相應(yīng)調(diào)整，尤其是串?dāng)_測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊這部分的排母位置。再有，還要 注意的是校準(zhǔn)電路板上各個(gè)校準(zhǔn)模塊中信號(hào)線(xiàn)的長(zhǎng)度應(yīng)與對(duì)應(yīng)的測(cè)試電路板上的信號(hào)線(xiàn) 長(zhǎng)度相同。另外，基座上第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件也可以用排母來(lái)實(shí)現(xiàn)，這種情況下，轉(zhuǎn) 接電路板上的通孔可用排針來(lái)替代，并使其位置應(yīng)與基座上的排母位置相對(duì)應(yīng)。在本實(shí)用新型的實(shí)施例中，測(cè)試套件中的電路板選擇印刷電路板(PCB板)，其中 信號(hào)線(xiàn)由印刷在PCB板上的導(dǎo)電材料構(gòu)成，因而性能穩(wěn)定、傳輸性能優(yōu)越、一致性好。[0112] 本實(shí)用新型提供了一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器高頻參數(shù)的測(cè)試套件，解決了現(xiàn) 有測(cè)試方式效率、精度較低，測(cè)試可靠性、穩(wěn)定性不高的問(wèn)題。
權(quán)利要求一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)的測(cè)試套件，其特征在于，包括基座，其上安裝有第一平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器、與所述第一平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器的平衡輸出端相連的第一對(duì)連接件，第二平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器、與所述第二平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器的平衡輸出端相連的第二對(duì)連接件；校準(zhǔn)電路板，其上設(shè)置有至少一個(gè)校準(zhǔn)模塊，所述至少一個(gè)校準(zhǔn)模塊中至少設(shè)置有一對(duì)彼此間通過(guò)信號(hào)線(xiàn)相連的校準(zhǔn)排針，且每一對(duì)校準(zhǔn)排針中，至少有一個(gè)校準(zhǔn)排針可選擇地通過(guò)跳線(xiàn)與一只匹配電阻相連；測(cè)試電路板，其上設(shè)置有用于接納待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的IC插座以及與所述待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器端口數(shù)量相對(duì)應(yīng)的多對(duì)測(cè)試排針，其中每對(duì)測(cè)試排針?lè)謩e通過(guò)信號(hào)線(xiàn)連接至所述IC插座中與待測(cè)網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器的對(duì)應(yīng)端口相連的引線(xiàn)對(duì)，且每一個(gè)所述測(cè)試排針可選擇地通過(guò)跳線(xiàn)與一只匹配電阻相連；轉(zhuǎn)接電路板，其上設(shè)置有至少一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，用于在校準(zhǔn)操作時(shí)，將所述基座上的第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至所述校準(zhǔn)電路板上的所述校準(zhǔn)排針；或用于在測(cè)試操作時(shí)，將所述基座上的第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至所述測(cè)試排針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接模塊包括插入損耗測(cè)試轉(zhuǎn) 接模塊、回程損耗測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊、串?dāng)_測(cè)試轉(zhuǎn)接模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述測(cè)試電路板包括千兆單口網(wǎng)絡(luò) 信號(hào)變壓器測(cè)試電路板、千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器測(cè)試電路板和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器 測(cè)試電路板。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述校準(zhǔn)模塊包括千兆單口網(wǎng)絡(luò)信 號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊、千兆雙口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模塊和千兆四口網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器校準(zhǔn)模 塊，其中各個(gè)校準(zhǔn)模塊中的信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)度分別等于對(duì)應(yīng)的測(cè)試電路板上信號(hào)線(xiàn)長(zhǎng)度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述第一平衡-非平衡轉(zhuǎn)換器和第二 平衡_非平衡轉(zhuǎn)換器分別設(shè)置在所述基座的兩側(cè)面，且其非平衡端口向外伸出；所述第一 對(duì)連接件和所述第二對(duì)連接件設(shè)置在所述基座的上表面。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述基座的上表面和所述轉(zhuǎn)接電路 板上設(shè)置有用于將所述轉(zhuǎn)接電路板固定在所述基座上的定位機(jī)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述電路板為印刷電路板，所述信號(hào) 線(xiàn)由印刷在PCB板上的導(dǎo)電材料構(gòu)成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述校準(zhǔn)排針為H型排列。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述測(cè)試排針為H型排列。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試套件，其特征在于，所述至少一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊包括兩個(gè)轉(zhuǎn) 接排母，所述轉(zhuǎn)接排母為單列10位插槽的排母。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種用于測(cè)試網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器參數(shù)的測(cè)試套件，包括基座、校準(zhǔn)電路板、測(cè)試電路板和轉(zhuǎn)接電路板。轉(zhuǎn)接電路板上設(shè)置有至少一個(gè)轉(zhuǎn)接模塊，用于在校準(zhǔn)操作時(shí)，將基座上的第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至校準(zhǔn)電路板上的校準(zhǔn)排針；或用于在測(cè)試操作時(shí)，將基座上的第一對(duì)連接件和第二對(duì)連接件電連接至測(cè)試排針。本實(shí)用新型的測(cè)試套件改進(jìn)了目前網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器采用焊線(xiàn)方式進(jìn)行測(cè)試的落后手段，且成本低廉，測(cè)試效率較高，利用跳線(xiàn)可以完成網(wǎng)絡(luò)信號(hào)變壓器所有線(xiàn)對(duì)的高頻性能測(cè)試，因測(cè)試線(xiàn)路連接較為固定，提高了高頻參數(shù)測(cè)試精確度的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)G01R1/073GK201607505SQ20102012089
公開(kāi)日2010年10月13日 申請(qǐng)日期2010年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月25日
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