專利名稱：糖類碳水化合物安培檢測池及其檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及糖類化合物的安培檢測技術(shù)，更具體地說，涉及一種糖類碳水化合物 安培檢測池及其檢測方法。
背景技術(shù)：
由于糖類碳水化合物可以在貴金屬(金、鉬等)電極上被氧化，因此，傳統(tǒng)的糖類碳 水化合物安培檢測池的工作電極一般采用金作為制作材料。但是，在實際使用過程中，由于 氧化反應(yīng)的產(chǎn)物亦會毒化電極的表面，使得材料為金的工作電極在恒電位條件下，測定糖 類化合物時極易被污染，以至于抑制了對被測物的進(jìn)一步檢測。請參見圖1所示，圖1為葡 萄糖在金質(zhì)工作電極上進(jìn)行恒電位檢測的I-T曲線圖，從圖1中我們可以清晰的看出信號 隨著進(jìn)樣次數(shù)的增加而衰減明顯，這是由于金質(zhì)工作電極的表面被鈍化所造成的，最終導(dǎo) 致得到的檢測信號較小，靈敏度和穩(wěn)定性較差，沒有很好的重復(fù)性。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述缺點，本發(fā)明的目的是提供一種糖類碳水化合物安培 檢測池及其檢測方法，用以保證檢測的穩(wěn)定性、重復(fù)性并提高檢測的靈敏度。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案
一方面，本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測池，包括池體、設(shè)于池體下方的工作電極 座、設(shè)于池體與工作電極座之間的流通池，池體上設(shè)有分別與流通池相連通的載液入口和 參比電極孔，參比電極孔內(nèi)安裝有參比電極，參比電極孔一側(cè)還開有廢液出口 ；工作電極座 上還設(shè)有與流通池相接觸的工作電極，工作電極為銅。所述的流通池是由夾設(shè)于池體與工作電極座之間且中間設(shè)有空腔的薄膜所構(gòu)成。所述的工作電極為99. 99%的銅。另一方面，本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測方法，通過安培檢測池的載液入口 以強堿性流動相將待分析物質(zhì)流過安培檢測池，當(dāng)待分析物質(zhì)通過安培檢測池的工作電極 表面時，在材料為銅的工作電極上，在所施加的恒電位下進(jìn)行發(fā)生氧化還原反應(yīng)，并由電化 學(xué)安培檢測器檢測結(jié)果；通過廢液出口將檢測反應(yīng)后的被分析物質(zhì)排出。所述的流通池采用中間設(shè)有空腔的薄膜夾設(shè)于池體與工作電極座之間所構(gòu)成。所述的工作電極選用99. 99%的銅制作。在上述技術(shù)方案中，本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測池及其檢測方法，通過采 用以銅為材料的工作電極對糖類碳水化合物進(jìn)行恒電位的安培檢測，能夠提高糖類碳水化 合物在工作電極上恒電位檢測的靈敏度，并增大信號強度，同時，銅質(zhì)工作電極在糖類碳水 化合物檢測方面也具有較好的穩(wěn)定性，信號衰減小，具有極佳的重復(fù)性。


圖1是葡萄糖在傳統(tǒng)的金質(zhì)工作電極上進(jìn)行恒電位檢測的I-T曲線圖；圖2是本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測池的結(jié)構(gòu)剖視圖； 圖3是葡萄糖在本發(fā)明的銅質(zhì)工作電極上進(jìn)行恒電位檢測的I-T曲線圖； 圖4是圖1與圖3合并比較圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖和實施例進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。請結(jié)合圖2所示，本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測池包括池體1、設(shè)于池體1下 方的工作電極座2、設(shè)于池體1與工作電極座2之間的流通池3，池體1上設(shè)有分別與流通 池3相連通的載液入口 4和參比電極孔5，參比電極孔5內(nèi)安裝有參比電極6，參比電極孔 5 一側(cè)還開有廢液出口 7 ；工作電極座2上還設(shè)有與流通池3相接觸的工作電極8，該工作 電極8的材料為銅。作為一個較佳的實施例，工作電極8可選用99. 99%的銅制作。作為另 一個實施例，該流通池3是由夾設(shè)于池體1與工作電極8座2之間且中間設(shè)有空腔9的薄 膜10所構(gòu)成。該安培檢測池的工作原理如下
采用電化學(xué)安培檢測方法，通過安培檢測池的載液入口以強堿性流動相將如糖類碳水 化合物的待分析物質(zhì)流過安培檢測池，當(dāng)待分析物質(zhì)通過安培檢測池的工作電極表面時， 在材料為銅的工作電極上，在所施加的恒電位下進(jìn)行發(fā)生氧化還原反應(yīng)，由電化學(xué)安培檢 測器檢測結(jié)果；通過廢液出口將檢測反應(yīng)后的如糖類碳水化合物的被分析物質(zhì)排出。以葡萄糖為例，葡萄糖在銅質(zhì)工作電極8上的檢測原理為金屬銅電極在強堿溶 液中隨著電位的增加，會逐漸被氧化到較高價態(tài)，在0. IM NaOH中分別是-0. 43V Cu(O)/ Cu( I ),-0. 18 Cu(0)/Cu( II ), +0. 50V Cu( II )/Cu(III)0 其中，Cu( II )/Cu (III)的氧 化在NaOH空白溶液中是不可逆。當(dāng)銅質(zhì)工作電極8在+0. 50V電位時進(jìn)行檢測糖類碳水化 合物，因為糖本身是還原劑，所以糖在該電位下很容易被Cu( III)氧化，能夠出現(xiàn)明顯的電 化學(xué)信號，而且重復(fù)性很好。請參見圖3所示，從圖3中的I-T曲線可以看出，葡萄糖在銅質(zhì)工作電極8上的恒 電位檢測還是比較明顯的，其信號強度也比較大，同時銅電極在葡萄糖的檢測方面具有較 好的穩(wěn)定性。請參見圖4所示，現(xiàn)把葡萄糖在金質(zhì)工作電極和銅質(zhì)工作電極8上的恒電位I-T 曲線作比較，在恒電位的檢測模式下，由圖4可以進(jìn)一步說明與傳統(tǒng)的金質(zhì)工作電極相 比，采用銅質(zhì)工作電極8具有檢測信號較大，靈敏度高，穩(wěn)定性和重復(fù)性較好，信號衰減小 等諸多優(yōu)點，效果十分顯著。由于本發(fā)明的糖類碳水化合物安培檢測方法的原理與上述檢測池實質(zhì)相同，在次 不再贅述。本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到，以上的實施例僅是用來說明本發(fā)明， 而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實質(zhì)精神范圍內(nèi)，對以上所述實施例的變 化、變型都將落在本發(fā)明的權(quán)利要求書范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種糖類碳水化合物安培檢測池，其特征在于包括池體、設(shè)于池體下方的工作電極座、設(shè)于池體與工作電極座之間的流通池，池體上 設(shè)有分別與流通池相連通的載液入口和參比電極孔，參比電極孔內(nèi)安裝有參比電極，參比 電極孔一側(cè)還開有廢液出口 ；工作電極座上還設(shè)有與流通池相接觸的工作電極，工作電極 為銅。
2.如權(quán)利要求1所述的糖類碳水化合物安培檢測池，其特征在于所述的流通池是由夾設(shè)于池體與工作電極座之間且中間設(shè)有空腔的薄膜所構(gòu)成。
3.如權(quán)利要求1所述的糖類碳水化合物安培檢測池，其特征在于所述的工作電極為99. 99%的銅。
4.一種糖類碳水化合物安培檢測方法，其特征在于采用電化學(xué)安培檢測方法，通過安培檢測池的載液入口以強堿性流動相將待分析物質(zhì) 流過安培檢測池，當(dāng)待分析物質(zhì)通過安培檢測池的工作電極表面時，在材料為銅的工作電 極上，在所施加的恒電位下進(jìn)行發(fā)生氧化還原反應(yīng)，并由電化學(xué)安培檢測器檢測結(jié)果；通過 廢液出口將檢測反應(yīng)后的被分析物質(zhì)排出。
5.如權(quán)利要求4所述的糖類碳水化合物安培檢測方法，其特征在于所述的流通池采用中間設(shè)有空腔的薄膜夾設(shè)于池體與工作電極座之間所構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求4所述的糖類碳水化合物安培檢測方法，其特征在于所述的工作電極選用99. 99%的銅制作。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種糖類碳水化合物安培檢測池及其檢測方法，通過采用以銅為材料的工作電極對糖類碳水化合物進(jìn)行恒電位的安培檢測，能夠提高糖類碳水化合物在工作電極上恒電位檢測的靈敏度，并增大信號強度，同時，銅質(zhì)工作電極在糖類碳水化合物檢測方面也具有較好的穩(wěn)定性，信號衰減小，具有極佳的重復(fù)性。
文檔編號G01N27/416GK102095771SQ20111002410
公開日2011年6月15日 申請日期2011年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月21日
發(fā)明者周紅, 樊華軍, 馬雷 申請人:上海天美科學(xué)儀器有限公司