專利名稱：鍵盤線路敲擊力測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及鍵盤線路敲擊力測試治具。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的電磁閥測試機(jī)包括底座、水平設(shè)置在底座上方用于支撐待測試鍵盤線路的測試臺(tái)面、位于該測試臺(tái)面上方水平放置的測試夾板，該測試夾板上開設(shè)的多個(gè)沿豎直方向延伸的穿孔中固定有電磁閥。該電磁閥包括磁芯1、電磁閥體2、錐形測試膠頭3和彈簧 (圖中未示出)，如圖Ι-a所示，磁芯1包括鐵針4、碳棒5和卡簧6，且磁芯1的鐵針4上套有錐形測試膠頭，如圖l_b所示，電磁閥體2包括螺帽7、筒體8、線圈繞組(圖中未示出)和引出線(圖中未示出)。磁芯前端具有直徑為1.6mm的鐵軸。該電磁閥測試機(jī)工作時(shí)，電磁閥的磁芯1插入電磁閥體2，磁芯1上的鐵針4前端的鐵軸插入錐形測試膠頭3中，由測試機(jī)臺(tái)的直流電源提供48V的恒定電壓對(duì)電磁閥體2通電產(chǎn)生磁場力將磁芯1推出，從而推動(dòng)測試膠頭3按壓待測鍵盤線路的按鍵點(diǎn)，完成其敲擊力的上限測試，斷電后彈簧回彈磁芯回升。該測試中機(jī)臺(tái)只能對(duì)待測鍵盤線路進(jìn)行敲擊力的上限測試，而不能完成敲擊力的下限測試，且直流電源提供的恒壓48V使得敲擊在鍵盤測試點(diǎn)上的敲擊力超過50g，一般情況下遠(yuǎn)超過要求的上限值，測試不準(zhǔn)確，對(duì)于不同的測試點(diǎn)，敲擊力的上限值不能按實(shí)際要求進(jìn)行調(diào)節(jié)；由于該電磁閥的磁芯前端的鐵軸直徑偏小容易產(chǎn)生彎曲，測試時(shí)彎曲的鐵軸導(dǎo)致測試膠頭不在測試點(diǎn)的中心，且由于使用了錐形測試膠頭，而其在多次測試時(shí)容易出現(xiàn)磨損變形而導(dǎo)致測試接觸面變小和測試點(diǎn)偏離測試點(diǎn)的中心位置，導(dǎo)致測試的結(jié)果不準(zhǔn)確。此外，測試機(jī)臺(tái)上的測試夾板采用氣缸帶動(dòng)，在升降的過程中容易發(fā)生偏移而定位不準(zhǔn)確，使得測量結(jié)果精度降低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種能夠?qū)︽I盤線路進(jìn)行敲擊力的上下限測試的鍵盤線路敲擊力測試治具，該測試治具還通過設(shè)置擋板控制測試夾板下降的高度，以及通過設(shè)置不同的砝碼重量、通電電壓和調(diào)節(jié)電磁閥閥芯粗桿部在閥體內(nèi)的長度，來滿足不同按鍵點(diǎn)敲擊力的上下限測試要求，并且還通過將電磁閥的磁芯桿上細(xì)桿部直徑加大，并直接抵觸在待測試產(chǎn)品上對(duì)鍵盤線路按鍵點(diǎn)直接進(jìn)行敲擊力測試，避免細(xì)桿部的彎曲或變形，同時(shí)避免使用錐形測試膠頭引起的磨損與測量中心位置改變。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是鍵盤線路敲擊力測試治具，包括底座、水平設(shè)置在所述底座上方用于支撐所述鍵盤線路的測試臺(tái)面、位于所述測試臺(tái)面上方并且水平設(shè)置的測試夾板、開設(shè)在所述測試夾板上并沿豎直方向延伸的穿孔、固定插在所述穿孔中的電磁閥、用于向所述電磁閥供電的電源，所述電磁閥包括豎直插在所述穿孔中的中空閥體、豎直插在所述閥體中的磁芯桿，所述電源與所述閥體相連接，所述磁芯桿包括沿其桿長度方向從上至下依次分布的粗桿部、細(xì)桿部，所述細(xì)桿部穿出所述閥體，其特征在于所述底座上設(shè)置有位于所述測試夾板下方能夠抵觸定位該測試夾板的擋板，在所述敲擊力測試治具測試所述鍵盤線路時(shí)，所述測試夾板抵壓在所述擋板的上面，所述磁芯桿上的細(xì)桿部穿出所述閥體的下端部直接抵觸在位于所述測試臺(tái)面上的所述鍵盤線路上，所述細(xì)桿部的下端部的最大直徑為1. 8 3. 0mm，所述粗桿部的上端部上可拆卸地設(shè)置有砝碼， 所述砝碼露在所述閥體的外面，所述電源的電壓是能夠調(diào)節(jié)的。優(yōu)選地，所述閥體的下端部縮小，該縮小的下端部的外側(cè)面上設(shè)置有與螺母相配合的外螺紋，所述測試夾板上的穿孔包括位于上面的粗孔、位于下面的細(xì)孔，所述粗孔的孔壁與所述細(xì)孔的孔壁相接處形成擋部，所述閥體穿過所述粗孔，抵緊在所述擋部上，該閥體上縮小的下端部穿過所述細(xì)孔，穿出的部位上配合有螺母，該螺母抵緊在所述測試夾板上。作為一種具體的實(shí)施方式，所述細(xì)孔的高度1. 3mm 4. 5mm。作為一種具體的實(shí)施方式，所述擋板的高度15mm 30mm。優(yōu)選地，所述閥體內(nèi)具有能夠容納所述粗桿部的大孔、能夠容納所述細(xì)桿部的小孔，所述大孔、所述小孔分別比所述粗桿部、所述細(xì)桿部略大點(diǎn)。作為一種具體的實(shí)施方式，所述大孔的孔壁與所述小孔的孔壁相接處形成能夠與所述粗桿部的邊緣相抵觸的擋部，在所述粗桿部抵觸在所述擋部上時(shí)，所述砝碼與所述閥體之間存在間隔距離。優(yōu)選地，所述粗桿部上端面的中心部位上設(shè)置有連接件，該連接件的外側(cè)面上設(shè)置有外螺紋，所述砝碼的中心開設(shè)有螺紋孔，通過所述外螺紋與所述螺紋孔的配合，所述砝碼可拆卸地設(shè)置在所述粗桿部的上端。作為一種具體的實(shí)施方式，所述電磁閥有多個(gè)，一個(gè)所述電磁閥對(duì)應(yīng)所述鍵盤線路上的一個(gè)按鍵點(diǎn)，所述測試夾板上的穿孔也有多個(gè)，一個(gè)所述電磁閥固定插在一個(gè)所述穿孔中，對(duì)應(yīng)于具有不同敲擊力要求的按鍵點(diǎn)，所述電磁閥上的砝碼的質(zhì)量不同或者所述穿孔中細(xì)孔的高度不同。優(yōu)選地，所述測試夾板的上面設(shè)置有穿線板，所述穿線板上開設(shè)有沿上下延伸的穿線孔，所述閥體上與所述電源相連接的導(dǎo)線向上穿過所述穿線孔。由于上述技術(shù)方案的運(yùn)用，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn)該鍵盤線路敲擊力測試治具在使用時(shí)，將待測試鍵盤線路放置在測試臺(tái)面上，通過設(shè)置砝碼對(duì)鍵盤線路的按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的下限測試，再對(duì)電磁閥進(jìn)行通電使其產(chǎn)生電磁力來對(duì)鍵盤線路的按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的上限測試，通過測試前根據(jù)待測試按鍵點(diǎn)不同的上下限要求，設(shè)置不同的砝碼重量、通電電壓和調(diào)節(jié)電磁閥閥芯粗桿部在閥體內(nèi)的長度，來滿足不同按鍵點(diǎn)敲擊力的上下限測試要求；通過設(shè)置擋板控制測試夾板下降的高度，從而使得電磁閥上閥芯桿細(xì)桿部準(zhǔn)確定位到待測試鍵盤線路的按鍵點(diǎn)上；通過將電磁閥的磁芯桿上細(xì)桿部直徑加大，并直接抵觸在待測試產(chǎn)品上對(duì)鍵盤線路按鍵點(diǎn)直接進(jìn)行敲擊力測試，避免了細(xì)桿部的彎曲或變形，同時(shí)避免了使用錐形測試膠頭引起的磨損與測量中心位置改變，提高了測試的精度。


附圖Ι-a為現(xiàn)有電磁閥測試機(jī)使用的電磁閥閥芯的示意圖，其鐵針上套有錐形測試膠頭；
附圖l_b為現(xiàn)有電磁閥測試機(jī)使用的電磁閥體的示意圖； 附圖2為本發(fā)明鍵盤線路敲擊力測試治具的示意圖； 附圖3為本發(fā)明的使用的電磁閥的示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖來進(jìn)一步闡述本發(fā)明的結(jié)構(gòu)。參見圖2、3所示，鍵盤線路敲擊力測試治具，包括底座1、水平設(shè)置在底座1上方用于支撐鍵盤線路的測試臺(tái)面2、位于測試臺(tái)面2上方并且水平設(shè)置的測試夾板3、開設(shè)在測試夾板3上并沿豎直方向延伸的穿孔4、固定插在穿孔4中的電磁閥5、用于向電磁閥5 供電的電源，電磁閥5包括豎直插在穿孔4中的中空閥體7、豎直插在閥體7中的磁芯桿8， 電源與閥體7相連接，磁芯桿8包括沿其桿長度方向從上至下依次分布的粗桿部9、細(xì)桿部 10，細(xì)桿部10穿出閥體7，底座1上設(shè)置有位于測試夾板3下方能夠抵觸定位該測試夾板的擋板6，在敲擊力測試治具測試鍵盤線路時(shí)，測試夾板3抵壓在擋板6的上面，磁芯桿8上的細(xì)桿部10穿出閥體7的下端部直接抵觸在位于測試臺(tái)面2上的鍵盤線路上，細(xì)桿部10的下端部的最大直徑為1. 8 3. 0mm，粗桿部9的上端部上可拆卸地設(shè)置有砝碼11，砝碼11 露在閥體7的外面，電源的電壓是能夠調(diào)節(jié)的。該鍵盤線路敲擊力測試治具在對(duì)鍵盤線路進(jìn)行敲擊力測試時(shí)，將待測試的鍵盤線路置于測試臺(tái)面2上，電磁閥5的細(xì)桿部10直接抵觸在待測試的鍵盤線路上，可通過設(shè)置砝碼11的重量對(duì)鍵盤線路的按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的下限測試，再對(duì)電磁閥5通電使其產(chǎn)生電磁力從而對(duì)按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的上限測試。如某按鍵點(diǎn)的敲擊力的下限為6g時(shí)，可先設(shè)置砝碼11，使其與磁芯桿8的重量之和為6g (有時(shí)考慮到克服摩擦力，可設(shè)置砝碼11使其與磁芯桿8的重量之和比6g稍大些)來對(duì)測試點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的下限測試，將磁芯桿8上細(xì)桿部10的端部直接抵觸待測鍵盤線路的按鍵點(diǎn)， 此時(shí)如果按鍵點(diǎn)處電路導(dǎo)通，說明下限不良，再給閥體7通電，對(duì)磁芯桿8產(chǎn)生向下的電磁作用力，完成上限測試，如按鍵點(diǎn)的敲擊力的上限為22g時(shí)，則產(chǎn)生的電磁作用力與砝碼11 和磁芯桿8的重量之和在超過22g時(shí)(有時(shí)考慮到克服摩擦力，可使重量之和減去摩擦力超過22g時(shí))，按鍵點(diǎn)處電路應(yīng)該不導(dǎo)通，如果導(dǎo)通，說明上限不良，按鍵點(diǎn)的敲擊力只在合適的范圍如6g 22g之間導(dǎo)通，說明測試合格。對(duì)于鍵盤線路，每個(gè)按鍵點(diǎn)的敲擊力上下限可能不同，可以根據(jù)各個(gè)按鍵點(diǎn)的敲擊力的上下限要求，在測試前采用不同的砝碼重量、通電電壓、調(diào)節(jié)電磁閥閥芯粗桿部9在閥體7內(nèi)的長度，從而滿足各個(gè)測試點(diǎn)敲擊力的上下限測試要求。通過增加擋板6，使得測試夾板3的下降高度得到控制，從而使得細(xì)桿部10穿出閥體7的下端部能準(zhǔn)確的抵觸在位于測試臺(tái)面2上待測試鍵盤線路的按鍵點(diǎn)上。通過將細(xì)桿部10的直徑增大，并直接抵觸在待測試產(chǎn)品上對(duì)測試點(diǎn)直接進(jìn)行敲擊力測試，避免了其彎曲或變形，同時(shí)避免了使用錐形測試膠頭引起的磨損與測量中心位置改變，提高了測量的精度。參見圖2、3所示，閥體7的下端部縮小，該縮小的下端部的外側(cè)面上設(shè)置有與螺母相配合的外螺紋，測試夾板3上的穿孔4包括位于上面的粗孔、位于下面的細(xì)孔，粗孔的孔壁與細(xì)孔的孔壁相接處形成擋部，閥體7穿過粗孔，抵緊在擋部上，該閥體上縮小的下端部穿過細(xì)孔，穿出的部位上配合有螺母，該螺母抵緊在測試夾板3上。細(xì)孔的高度1. 3mm 4. 5mm。電磁閥5有多個(gè)，一個(gè)電磁閥5對(duì)應(yīng)鍵盤線路上的一個(gè)按鍵點(diǎn)，測試夾板上的穿孔4 也有多個(gè)，一個(gè)電磁閥5固定插在一個(gè)穿孔4中，對(duì)應(yīng)于具有不同敲擊力要求的按鍵點(diǎn)，電磁閥5上的砝碼11的質(zhì)量不同或者穿孔4中細(xì)孔的高度不同。這樣設(shè)置能夠根據(jù)待測試的鍵盤線路各按鍵點(diǎn)的敲擊力上下限的要求設(shè)置砝碼和調(diào)節(jié)電磁閥5的磁芯桿8上的粗桿部9在閥體7內(nèi)的長度，從而滿足測試要求。同時(shí)，將多個(gè)電磁閥5固定在測試夾板3上， 能夠使得待測試的鍵盤線路的所有按鍵點(diǎn)在一次測試過程中完成測試。參見圖3所示，電磁閥5取消了錐形測試膠頭，測試時(shí)，細(xì)桿部10直接抵觸在待測試產(chǎn)品上，磁芯桿8總長度加長，磁芯桿2的總長度40mnT80mm。為了控制測試夾板3下降的高度，擋板的高度15mm 30mm。參見圖3所示，閥體7內(nèi)具有能夠容納粗桿部9的大孔、能夠容納細(xì)桿部10的小孔，大孔、小孔分別比粗桿部9、細(xì)桿部10略大點(diǎn)。大孔的孔壁與小孔的孔壁相接處形成能夠與粗桿部9的邊緣相抵觸的擋部，在粗桿部9抵觸在擋部上時(shí)，砝碼11與閥體7之間存在間隔距離。這樣設(shè)置為磁芯桿8在豎直方向上提供了導(dǎo)向與定位，同時(shí)能夠?qū)Υ判緱U8的上下位置進(jìn)行調(diào)節(jié)，從而可以調(diào)節(jié)電磁力，滿足不同要求下測試點(diǎn)敲擊力上限測試的要求。參見圖3所示，粗桿部9上端面的中心部位上設(shè)置有連接件，該連接件的外側(cè)面上設(shè)置有外螺紋，砝碼11的中心開設(shè)有螺紋孔，通過外螺紋與螺紋孔的配合，砝碼11可拆卸地設(shè)置在粗桿部9的上端。這樣設(shè)置能夠方便的固定和更換砝碼，從而可以快速有效地調(diào)整不同測試點(diǎn)的敲擊力的下限。測試夾板3的上面設(shè)置有穿線板12，穿線板12上開設(shè)有沿上下延伸的穿線孔，閥體7上與電源相連接的導(dǎo)線向上穿過穿線孔。這樣設(shè)置可以對(duì)測試用電磁閥體進(jìn)行通電， 從而完成對(duì)鍵盤線路按鍵點(diǎn)的敲擊力上限測試。
權(quán)利要求
1.鍵盤線路敲擊力測試治具，包括底座、水平設(shè)置在所述底座上方用于支撐所述鍵盤線路的測試臺(tái)面、位于所述測試臺(tái)面上方并且水平設(shè)置的測試夾板、開設(shè)在所述測試夾板上并沿豎直方向延伸的穿孔、固定插在所述穿孔中的電磁閥、用于向所述電磁閥供電的電源，所述電磁閥包括豎直插在所述穿孔中的中空閥體、豎直插在所述閥體中的磁芯桿，所述電源與所述閥體相連接，所述磁芯桿包括沿其桿長度方向從上至下依次分布的粗桿部、細(xì)桿部，所述細(xì)桿部穿出所述閥體，其特征在于所述底座上設(shè)置有位于所述測試夾板下方能夠抵觸定位該測試夾板的擋板，在所述敲擊力測試治具測試所述鍵盤線路時(shí)，所述測試夾板抵壓在所述擋板的上面，所述磁芯桿上的細(xì)桿部穿出所述閥體的下端部直接抵觸在位于所述測試臺(tái)面上的所述鍵盤線路上，所述細(xì)桿部的下端部的最大直徑為1. 8^3. 0mm，所述粗桿部的上端部上可拆卸地設(shè)置有砝碼，所述砝碼露在所述閥體的外面，所述電源的電壓是能夠調(diào)節(jié)的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述閥體的下端部縮小，該縮小的下端部的外側(cè)面上設(shè)置有與螺母相配合的外螺紋，所述測試夾板上的穿孔包括位于上面的粗孔、位于下面的細(xì)孔，所述粗孔的孔壁與所述細(xì)孔的孔壁相接處形成擋部，所述閥體穿過所述粗孔，抵緊在所述擋部上，該閥體上縮小的下端部穿過所述細(xì)孔，穿出的部位上配合有螺母，該螺母抵緊在所述測試夾板上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述細(xì)孔的高度 1. 3mm^4. 5mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述擋板的高度 15mnT30mmo
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述閥體內(nèi)具有能夠容納所述粗桿部的大孔、能夠容納所述細(xì)桿部的小孔，所述大孔、所述小孔分別比所述粗桿部、所述細(xì)桿部略大點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述大孔的孔壁與所述小孔的孔壁相接處形成能夠與所述粗桿部的邊緣相抵觸的擋部，在所述粗桿部抵觸在所述擋部上時(shí)，所述砝碼與所述閥體之間存在間隔距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述粗桿部上端面的中心部位上設(shè)置有連接件，該連接件的外側(cè)面上設(shè)置有外螺紋，所述砝碼的中心開設(shè)有螺紋孔，通過所述外螺紋與所述螺紋孔的配合，所述砝碼可拆卸地設(shè)置在所述粗桿部的上端。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述電磁閥有多個(gè)， 一個(gè)所述電磁閥對(duì)應(yīng)所述鍵盤線路上的一個(gè)按鍵點(diǎn)，所述測試夾板上的穿孔也有多個(gè)，一個(gè)所述電磁閥固定插在一個(gè)所述穿孔中，對(duì)應(yīng)于具有不同敲擊力要求的按鍵點(diǎn)，所述電磁閥上的砝碼的質(zhì)量不同或者所述穿孔中細(xì)孔的高度不同。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤線路敲擊力測試治具，其特征在于所述測試夾板的上面設(shè)置有穿線板，所述穿線板上開設(shè)有沿上下延伸的穿線孔，所述閥體上與所述電源相連接的導(dǎo)線向上穿過所述穿線孔。
全文摘要
本發(fā)明公開了鍵盤線路敲擊力測試治具，它在原有的電磁閥測試機(jī)上增加了擋板設(shè)置，并更換了電源和電磁閥設(shè)置，當(dāng)該鍵盤線路敲擊力測試治具在使用時(shí)，通過設(shè)置砝碼對(duì)鍵盤線路的按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的下限測試，再對(duì)電磁閥進(jìn)行通電使其產(chǎn)生電磁力來對(duì)鍵盤線路的按鍵點(diǎn)進(jìn)行敲擊力的上限測試，能夠根據(jù)待測試點(diǎn)的不同的上下限要求，設(shè)置不同的砝碼重量、通電電壓和調(diào)節(jié)電磁閥閥芯桿粗桿部在閥體內(nèi)的長度，從而滿足不同測試點(diǎn)敲擊力的上下限測試要求；通過設(shè)置擋板控制測試夾板下降的高度，從而使得電磁閥上閥芯桿細(xì)桿部準(zhǔn)確定位到待測試鍵盤線路的按鍵點(diǎn)上；通過將電磁閥的磁芯桿上細(xì)桿部直徑加大，并直接抵觸在待測試產(chǎn)品上對(duì)鍵盤線路按鍵點(diǎn)直接進(jìn)行敲擊力測試，避免了細(xì)桿部的彎曲或變形，同時(shí)避免了使用錐形測試膠頭引起的磨損與測量中心位置改變，提高了測量的精度。
文檔編號(hào)G01R31/327GK102253332SQ201110105178
公開日2011年11月23日 申請(qǐng)日期2011年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月26日
發(fā)明者鄧龍升 申請(qǐng)人:昆山興協(xié)和光電科技有限公司