專利名稱：一種等厚干涉法測量液體折射率裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種物理實驗測量裝置，尤其是一種等厚干涉法測量液體折射率裝置。
背景技術(shù)：
折射率是反映材料光學性質(zhì)的ー個重要物理參量。液體折射率的測量方法有多種，常用的方法是將一束光斜射向液體表面，通過測量入射角和折射角，再利用折射定律算出液體的折射率。這種方法在測量角度時往往不夠精確，給折射率的測量帶來誤差。另ー種阿貝折射率測量儀能達到較高的測量精度，但該儀器結(jié)構(gòu)復雜，并且由于是根據(jù)全反射原理來測量的，它所用棱鏡的折射率限制了它所能測量的范圍。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題，是提供ー種結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、能精確測量各種液體折射率的實驗裝置。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所述的ー種等厚干涉法測量液體折射率裝置由一平玻璃、一平凹玻璃和ー長方形容器組成。平玻璃和平凹玻璃均為長方形，平玻璃疊放在平凹玻璃上并放置在長方形容器內(nèi)。平凹玻璃的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一等高的平臺用于支撐平玻璃。所述平玻璃和平凹玻璃均為透明光學玻璃。實際測量時，用単色平行光垂直照射本發(fā)明所述裝置中的平玻璃和平凹玻璃，當容器內(nèi)未放液體時，利用讀數(shù)顯微鏡測量平玻璃與平凹玻璃間的“ V”形空氣膜上下表面反射光所形成的干涉條紋的間距Λχ。然后，向容器內(nèi)注入待測液體，使液面淹沒平凹玻璃，再測量平玻璃與平凹玻璃間的“ V”形液體膜上下表面反射光所形成的干涉條紋的間距Λχ’。
則根據(jù)等厚干涉原理，待測液體的折射率為〃=。
Δχ本發(fā)明由于采用上述設(shè)計，其結(jié)構(gòu)簡単，方法新穎，操作方便，能精確測定各種液體的折射率。


下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進ー步說明。圖I是本發(fā)明所述的ー種等厚干涉法測量液體折射率裝置的正視圖、俯視圖和側(cè)視圖。圖2是本發(fā)明所述的ー種等厚干涉法測量液體折射率裝置中平玻璃與平凹玻璃的立體示意圖。圖3是利用本發(fā)明所述裝置測量時產(chǎn)生的干涉條紋形狀示意圖。圖中I.平玻璃，2.平凹玻璃，3.容器，4.待測液體，5.等厚干涉條紋。
具體實施例方式如圖I、圖2所示，平玻璃I和平凹玻璃2均為長方形，平玻璃I疊放在平凹玻璃2上并放置在長方形容器3內(nèi)。平凹玻璃2的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一等高的平臺用于支撐平玻璃I。平玻璃I和平凹玻璃2均為透明光學玻璃。如圖3所示，用単色平行光垂直照射本發(fā)明所述裝置中的平玻璃I和平凹玻璃2，當容器3內(nèi)未放液體時，利用讀數(shù)顯微鏡測量平玻璃I與平凹玻璃2間的“ V”形空氣膜上下表面反射光所形成的等厚干涉條紋5的平均間距Λχ。然后，向容器3內(nèi)注入待測液體4，使液面淹沒平凹玻璃2，以確保待測液體充滿平玻璃I與平凹玻璃2之間的“ V”形凹槽。此時，測量平玻璃I與平凹玻璃2間的“ V”形液體膜上下表面反射光所形成的等厚干涉條
紋的平均間距ΛΧ’。由此求得待測液體的折射率為《 = g。
Δχ
權(quán)利要求
1.一種等厚干涉法測量液體折射率裝置，由平玻璃(I)、平凹玻璃(2)和容器(3)組成，其特征在于平玻璃(I)和平凹玻璃(2)均為長方形，平玻璃(I)疊放在平凹玻璃(2)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種等厚干涉法測量液體折射率裝置，其特征在于平凹玻璃(2)的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一用于支撐平玻璃(I)的等高平臺。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種等厚干涉法測量液體折射率裝置，該裝置由一平玻璃、一平凹玻璃和一長方形容器組成，平玻璃和平凹玻璃均為長方形，平玻璃疊放在平凹玻璃上并放置在長方形容器內(nèi)。平凹玻璃的中部呈“V”字形凹槽，兩邊各有一等高的平臺用于支撐平玻璃。平玻璃和平凹玻璃均為透明光學玻璃。用單色平行光垂直照射本發(fā)明所述裝置中的平玻璃和平凹玻璃，分別測量當形容器內(nèi)未放液體和放入待測液體時，平玻璃與平凹玻璃間的“V”形膜上下表面反射光所形成的干涉條紋的間距，即可根據(jù)光的等厚干涉原理求出待測液體的折射率。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，方法新穎，操作方便，能精確測定各種液體的折射率。
文檔編號G01N21/45GK102830093SQ201110162848
公開日2012年12月19日 申請日期2011年6月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月16日
發(fā)明者陳健, 姜琪, 朱純, 郝宏玥, 覃巧玲 申請人:江南大學