專利名稱：一種電磁波測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電磁波測試裝置。
背景技術(shù)：
電磁波在傳遞過程中遇到媒質(zhì)會發(fā)生折射、反射等物理現(xiàn)象，通過搭建測試平臺可以實現(xiàn)對折射波和反射波的測試實驗，以得出電磁通過折射或反射后的情形?，F(xiàn)有測試平臺多是平面直角坐標(biāo)平臺，其兩個導(dǎo)軌相互垂直，因此只能滿足單一軸線上的測試，對于那些要求兩個導(dǎo)軌的夾角不是90度的測試實驗，完全無法滿足，且夾角不能從平臺上直接讀出，往往需要借助輔助工具測量得到，不夠精確也比較費時費力。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的的缺陷，提供一種通用性強的電 磁波測試裝置。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種電磁波測試裝置，所述電磁波測試裝置包括支撐盤、分度盤、第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌以及轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸的下端固定在支撐盤上，所述轉(zhuǎn)軸的上端穿過分度盤、第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌能夠繞轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一導(dǎo)軌上設(shè)置有第一滑塊，所述第二導(dǎo)軌上設(shè)置有第二滑塊。進一步地，所述分度盤具有中心通孔，所述轉(zhuǎn)軸穿過分度盤的中心通孔。進一步地，所述支撐盤呈圓形。進一步地，所述分度盤呈圓形，并具有刻度。進一步地，所述第一滑塊可相對第一導(dǎo)軌滑動。進一步地，所述第二滑塊可相對第二導(dǎo)軌滑動。進一步地，所述第一導(dǎo)軌靠近分度盤的位置上設(shè)置第一指針板，所述第二導(dǎo)軌靠近分度盤的位置上設(shè)置第二指針板。進一步地，所述第一導(dǎo)軌的下側(cè)表面設(shè)置有滑動裝置。進一步地，所述第二導(dǎo)軌的下側(cè)表面設(shè)置有滑動裝置。進一步地，所述滑動裝置包括與第一導(dǎo)軌或第二導(dǎo)軌可轉(zhuǎn)動連接的滑動板，以及設(shè)置在滑動板下方兩端的兩個滑動輪。根據(jù)本發(fā)明的電磁波測試裝置，第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌相對可以轉(zhuǎn)動，并且第一導(dǎo)軌與第二導(dǎo)軌的夾角可以直接從分度盤上讀出，因此測試方便快捷，并且通用性強。


圖I是本發(fā)明提供的電磁波測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式如圖I所示，根據(jù)本發(fā)明的電磁波測試裝置包括支撐盤I、分度盤2、第一導(dǎo)軌3、第二導(dǎo)軌4以及轉(zhuǎn)軸5，所述轉(zhuǎn)軸5的下端固定在支撐盤I上，所述轉(zhuǎn)軸5的上端穿過分度盤2、第一導(dǎo)軌3及第二導(dǎo)軌4，所述第一導(dǎo)軌3及第二導(dǎo)軌4能夠繞轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一導(dǎo)軌3上設(shè)置有可相對第一導(dǎo)軌3滑動的第一滑塊6，所述第二導(dǎo)軌4上設(shè)置有可相對第二導(dǎo)軌4滑動第二滑塊7。第一滑塊6與第二滑塊7上安裝測試平臺9，例如圖中的喇叭天線
8。由于所述第一滑塊6可相對第一導(dǎo)軌3滑動，第二滑塊7可相對第二導(dǎo)軌4滑動，因此，可以實現(xiàn)測試平臺在第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌上的相對位置，實現(xiàn)各種不同測試，通用性好。本發(fā)明中，所述分度盤2具有中心通孔21，所述轉(zhuǎn)軸5穿過分度盤2的中心通孔21。轉(zhuǎn)軸5與分度盤2固定連接在一起，這樣，分度盤2與支撐盤I就不會有相對的轉(zhuǎn)動。所述分度盤2呈圓形，并具有刻度，刻度設(shè)置在分度盤2的邊緣，360度分布。為了配合分度盤2，使得本發(fā)明的裝置更為美觀，進一步地，所述支撐盤I也呈圓形。所述第一導(dǎo)軌3靠近分度盤2的位置上設(shè)置第一指針板31，所述第二導(dǎo)軌4靠近分度盤2的位置上設(shè)置第二指針板41。第一指針板31的尖角310對準(zhǔn)分度盤刻度的一個位置，第二指針板41的尖角410對準(zhǔn)分度盤刻度的另一個位置，刻度上這兩個位置的差值就是第一導(dǎo)軌與第二導(dǎo)軌的 夾角，因此可以很方便快捷地得到第一導(dǎo)軌與第二導(dǎo)軌的夾角，并且相當(dāng)精確。另外，所述第一導(dǎo)軌3及第二導(dǎo)軌4的下側(cè)表面均設(shè)置有滑動裝置100。第一導(dǎo)軌3下側(cè)的滑動裝置與第二導(dǎo)軌4下側(cè)的滑動裝置等高，以使得整個測試裝置水平。本發(fā)明中，所述滑動裝置包括與第一導(dǎo)軌3或第二導(dǎo)軌4可轉(zhuǎn)動連接的滑動板101，以及設(shè)置在滑動板101下方兩端的兩個滑動輪102。滑動板101與第一導(dǎo)軌3及第二導(dǎo)軌4相平行設(shè)置，兩個滑動輪102的尺寸一樣，以保證整個測試裝置水平。根據(jù)本發(fā)明的電磁波測試裝置，第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌相對可以轉(zhuǎn)動，并且第一導(dǎo)軌與第二導(dǎo)軌的夾角可以直接從分度盤上讀出，因此測試方便快捷，并且通用性強。上面結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行了描述，但是本發(fā)明并不局限于上述的具體實施方式
，上述的具體實施方式
僅僅是示意性的，而不是限制性的，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的啟示下，在不脫離本發(fā)明宗旨和權(quán)利要求所保護的范圍情況下，還可做出很多形式，這些均屬于本發(fā)明的保護之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電磁波測試裝置，其特征在于，所述電磁波測試裝置包括支撐盤、分度盤、第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌以及轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸的下端固定在支撐盤上，所述轉(zhuǎn)軸的上端穿過分度盤、第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌能夠繞轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一導(dǎo)軌上設(shè)置有第一滑塊，所述第二導(dǎo)軌上設(shè)置有第二滑塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述分度盤具有中心通孔，所述轉(zhuǎn)軸穿過分度盤的中心通孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述支撐盤呈圓形。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述分度盤呈圓形，并具有刻度。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述第一滑塊可相對第一導(dǎo) 軌滑動。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述第二滑塊可相對第二導(dǎo)軌滑動。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述第一導(dǎo)軌靠近分度盤的位置上設(shè)置第一指針板，所述第二導(dǎo)軌靠近分度盤的位置上設(shè)置第二指針板。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述第一導(dǎo)軌的下側(cè)表面設(shè)置有滑動裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述第二導(dǎo)軌的下側(cè)表面設(shè)置有滑動裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的電磁波測試裝置，其特征在于，所述滑動裝置包括與第一導(dǎo)軌或第二導(dǎo)軌可轉(zhuǎn)動連接的滑動板，以及設(shè)置在滑動板下方兩端的兩個滑動輪。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電磁波測試裝置，所述電磁波測試裝置包括支撐盤、分度盤、第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌以及轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸的下端固定在支撐盤上，所述轉(zhuǎn)軸的上端穿過分度盤、第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌能夠繞轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一導(dǎo)軌上設(shè)置有第一滑塊，所述第二導(dǎo)軌上設(shè)置有第二滑塊。根據(jù)本發(fā)明的電磁波測試裝置，第一導(dǎo)軌及第二導(dǎo)軌相對可以轉(zhuǎn)動，并且第一導(dǎo)軌與第二導(dǎo)軌的夾角可以直接從分度盤上讀出，因此測試方便快捷，并且通用性強。
文檔編號G01R29/00GK102798767SQ20111018099
公開日2012年11月28日 申請日期2011年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月30日
發(fā)明者劉若鵬, 季春霖, 楊松濤 申請人:深圳光啟高等理工研究院, 深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司