專利名稱：輔助測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，特別涉及一種輔助測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
一般來說，市面上的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在出貨前，通常都要對(duì)其各項(xiàng)性能指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。在某些機(jī)種設(shè)計(jì)為多模塊(例如記憶體模塊與中央處理器模塊)且多層的架構(gòu)下，需要整機(jī)組合后方可進(jìn)行測(cè)試功能。由于整機(jī)組合后的體積較大且受測(cè)試設(shè)備的限制，使得在進(jìn)行電路內(nèi)測(cè)試(In-Circuit Testing, ICT)測(cè)試時(shí),而無法做到整機(jī)測(cè)試。因此，測(cè)試設(shè)備僅能支持單片單板做上電測(cè)試，也即將電源供應(yīng)器直接連接至單一模塊，通過電源供應(yīng)器來改變或調(diào)整供應(yīng)至單一模塊的電源，這樣的做法無法有效讓前述各個(gè)模塊可正常進(jìn)行上電測(cè)試。然而，利用前述單片單板的測(cè)試方法，并不能控制應(yīng)有電源的啟動(dòng)時(shí)序以及單一模塊所需的操作信號(hào)。并且，在沒有考量待測(cè)物(例如主板)是否已允許上電啟動(dòng)以及沒有對(duì)錯(cuò)誤電源時(shí)序(incorrect power sequence)的保護(hù)下，由于實(shí)際中存在供電不穩(wěn)定的情況，電源供應(yīng)器并不能有效控制輸出至待測(cè)物的電源。如此一來，不僅造成待測(cè)物的元件損壞的潛在的機(jī)率增加，并且也額外提高生產(chǎn)的成本。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上的問題，本發(fā)明的目的在于提供一種輔助測(cè)試裝置，藉以使待測(cè)物可依據(jù)正確的電源時(shí)序進(jìn)行上電并給予待測(cè)物對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)，以進(jìn)行單一模塊測(cè)試而無須將整機(jī)整合后測(cè)試，進(jìn)而減少待測(cè)物的電路元件的損壞機(jī)率，并增加測(cè)試的便利性。本發(fā)明的一種輔助測(cè)試裝置，適于待測(cè)物。此輔助測(cè)試裝置包括電源單元、儲(chǔ)存單元與控制單元。電源單元用以提供多個(gè)電壓，其中前述電壓互不相同。儲(chǔ)存單元用以儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)待測(cè)物的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表。控制單元耦接儲(chǔ)存單元與電源單元，用以依據(jù)電源時(shí)序表，提供多個(gè)電源時(shí)序控制信號(hào)，使電源單元依據(jù)前述電源時(shí)序控制信號(hào)，依序提供前述電壓給待測(cè)物，并依據(jù)模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供對(duì)應(yīng)待測(cè)物的模擬信號(hào)給待測(cè)物，且控制單元接收待測(cè)物回應(yīng)于前述電壓與模擬信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)狀態(tài)信號(hào)。在一實(shí)施例中，前述輔助測(cè)試裝置還包括更新單元。此更新單元耦接儲(chǔ)存單元，用以接收并依據(jù)更新信號(hào)，以更新電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表。在一實(shí)施例中，前述輔助測(cè)試裝置還包括顯示單元。顯示單元耦接控制單元，用以通過控制單元接收前述狀態(tài)信號(hào)，以顯示前述狀態(tài)信號(hào)。在一實(shí)施例中，前述儲(chǔ)存單元更用儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)待測(cè)物的另一電源時(shí)序表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，而輔助測(cè)試裝置還包括檢測(cè)單元。此檢測(cè)單元耦接控制單元，用以檢測(cè)待測(cè)物的類型，以產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)。其中，控制單元用以接收并依據(jù)檢測(cè)信號(hào)，而選用并依據(jù)電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表或另一電源時(shí)序表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供前述電源時(shí)序信號(hào)以及模擬信號(hào)。
在一實(shí)施例中，前述控制單元與儲(chǔ)存單元配置于復(fù)雜可程序邏輯裝置(ComplexProgramming Logic Device, CPLD)中。本發(fā)明的輔助測(cè)試裝置，通過在輔助測(cè)試裝置與待測(cè)物連接后，依據(jù)待測(cè)物所對(duì)應(yīng)的電源時(shí)序，依序提供對(duì)應(yīng)電源時(shí)序的工作電壓，使得待測(cè)物可依據(jù)其正確的電源時(shí)序進(jìn)行上電，并提供待測(cè)物對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)。如此一來，可進(jìn)行單一模塊測(cè)試而無須將整機(jī)組合后測(cè)試，以減少待測(cè)物的電路元件的損壞機(jī)率，并增加測(cè)試的便利性。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。


圖1為本發(fā)明的輔助測(cè)試裝置的方框圖；圖2為本發(fā)明的另一輔助測(cè)試裝置的方框圖。其中，附圖標(biāo)記100、200 輔助測(cè)試裝置110,210 電源單元

120,220 儲(chǔ)存單元130,230 控制單元180,280 待測(cè)物240顯示單元250檢測(cè)單元260更新單元
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述:請(qǐng)參考圖1所示，其為本發(fā)明的輔助測(cè)試裝置的方框圖。本實(shí)施例的輔助測(cè)試裝置100適于一待測(cè)物(unit under test，UUT) 180，其中此待測(cè)物180例如為記憶體模塊(DIMM module)、中央處理器模塊(CPU module)、主要輸入輸出板(Main 1/0 board)等的個(gè)體單板，但本發(fā)明不以此為限。輔助測(cè)試裝置100包括電源單元110、儲(chǔ)存單元120與控制單元130。電源單元110用以提供多個(gè)電壓，其中這些電壓互不相同。其中，前述電壓例如為3.3V、5V、12V等，但本發(fā)明不以此為限。儲(chǔ)存單元120用以儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)待測(cè)物180的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表。其中，電源時(shí)序表例如記錄有待測(cè)物180由開機(jī)至正常運(yùn)作的上電順序，模擬信號(hào)產(chǎn)生表例如記錄有待測(cè)物180初始程序前的電源良好(Power Good)信號(hào)或是前置元件的信號(hào)。控制單元130耦接儲(chǔ)存單元120與電源單元110，用以依據(jù)電源時(shí)序表，提供多個(gè)電源時(shí)序控制信號(hào)，并將電源時(shí)序控制信號(hào)提供給電源單元110。假設(shè)，電源時(shí)序表記錄的電壓輸出的順序，例如12V、5V、3.3V，則控制單元130據(jù)此提供依序提供12V、5V、3.3V所對(duì)應(yīng)的電源時(shí)序控制信號(hào)。接著，電源單元110會(huì)依據(jù)電源時(shí)序控制信號(hào)，依序提供待測(cè)物180所需的工作電壓給待測(cè)物180，以使待測(cè)物180可由開機(jī)階段運(yùn)行至正常運(yùn)作階段。也就是說，電源單元110會(huì)依據(jù)前述的電源時(shí)序控制信號(hào)，而依序提供前述12V、5V、3.3V的電壓給待測(cè)物180，以確保待測(cè)物180可以正確的電源時(shí)序進(jìn)行運(yùn)作。另外，控制單元130還會(huì)依據(jù)模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供模擬信號(hào)給待測(cè)物180。其中，模擬信號(hào)可以是前一階段的電源良好(Power Good)信號(hào)或是前置元件的信號(hào)，也即與待測(cè)物180相關(guān)的其他模塊所提供的信號(hào)。舉例來說，記憶體模塊的初始則需要有中央處理器存在的確認(rèn)信號(hào)。也就是說，假設(shè)待測(cè)物180為記憶體模塊時(shí)，則控制單元130會(huì)提供中央處理器存在的確認(rèn)信號(hào)，則待測(cè)物180才會(huì)進(jìn)行初始程序。控制單元130除了提供電源時(shí)序控制信號(hào)與模擬信號(hào)的外，還可接收待測(cè)物180回應(yīng)于電壓?jiǎn)卧?10提供的電壓以及模擬信號(hào)而產(chǎn)生的多個(gè)狀態(tài)信號(hào)。其中，前述狀態(tài)信號(hào)例如為電源正確或錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)以及初始程序正確或錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)等。也就是說，當(dāng)待測(cè)物180內(nèi)的電路元件接收到12V的電壓并進(jìn)行運(yùn)作后，會(huì)回傳對(duì)應(yīng)12V的電壓的正確或錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)給控制單元130 ;當(dāng)待測(cè)物180內(nèi)的電路元件接收到5V的電壓并進(jìn)行后，會(huì)回傳對(duì)應(yīng)此5V的正確或錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)給控制單元130 ;其余則類推。也即，本實(shí)施例可通過控制單元130監(jiān)控待測(cè)物180的上電時(shí)序與初始程序過程以及待測(cè)物180內(nèi)的元件對(duì)應(yīng)前述電壓與模擬信號(hào)的運(yùn)作狀況。另外，控制單元130例如可將前述狀態(tài)信號(hào)儲(chǔ)存至儲(chǔ)存單元120。如此一來，使用者可通過讀取儲(chǔ)存單元120儲(chǔ)存的信息，以得知待測(cè)物180是否已執(zhí)行到正常運(yùn)作狀態(tài)，而據(jù)以使用主要測(cè)試裝置對(duì)待測(cè)物180進(jìn)行后續(xù)的測(cè)量。在本實(shí)施例中，儲(chǔ)存單元120與控制單元130可以一復(fù)雜可程序邏輯裝置(Complex Programming Logic Device, CPLD)來實(shí)現(xiàn)。本實(shí)施例的輔助測(cè)試裝置100可提供對(duì)應(yīng)待測(cè)物180應(yīng)有的上電時(shí)序的電壓以及模擬信號(hào)給待測(cè)物180，則待測(cè)物180無需組合其他模塊的情況下，仍可具有所有模塊組裝后的上電程序與初使程序而進(jìn)行操作，使得待測(cè)物180可以單一模塊(記憶體模塊或中央處理器模塊)單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試。如此一來，可減少待測(cè)物的電路元件的損壞機(jī)率，并增加測(cè)試的便利性。請(qǐng)參考圖2所示，其為本發(fā)明的另一輔助測(cè)試裝置的方框圖。本實(shí)施例的輔助測(cè)試裝置200適于一待測(cè)物(unit under test，UUT) 280。輔助測(cè)試裝置200包括電源單元210、儲(chǔ)存單元220、控制單元230、顯示單元240、檢測(cè)單元250與更新單元260。電源單元210用以提供多個(gè)電壓，其中這些電壓互不相同。其中，前述電壓例如為
3.3V、5V、12V等。儲(chǔ)存單元220用以儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)待測(cè)物280的電源時(shí)序表與另一電源時(shí)序表以及模擬信號(hào)產(chǎn)生表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表。也就是說，儲(chǔ)存單元220可儲(chǔ)存兩種不同類型的待測(cè)物280所需的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表。前述的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表僅以兩個(gè)為例，但本發(fā)明不以此為限，使用者可視待測(cè)物280的類型，而調(diào)整儲(chǔ)存單元220中的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表的數(shù)量?？刂茊卧?30耦接儲(chǔ)存單元220與電源單元210，用以依據(jù)電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表或另一電源時(shí)序表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供多個(gè)電源時(shí)序控制信號(hào)與模擬信號(hào)。接著，電源單元210會(huì)依據(jù)前述的電源時(shí)序控制信號(hào)，依序提供電壓給待測(cè)物280。并且，控制單元230還可依據(jù)模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供對(duì)應(yīng)待測(cè)物280所需的模擬信號(hào)?？刂茊卧?30會(huì)接收待測(cè)物280回應(yīng)于前述電壓與模擬信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)狀態(tài)信號(hào)。顯示單元240耦接控制單元230，用以通過控制單元230接收待測(cè)物280所回傳的狀態(tài)信號(hào)，以顯示狀態(tài)信號(hào)。如此一來，使用者便可通過顯示單元240所顯示的狀態(tài)而得知待測(cè)物280是否產(chǎn)生錯(cuò)誤，進(jìn)而對(duì)待測(cè)物280進(jìn)行相應(yīng)的處理。檢測(cè)單元250耦接控制單元230，用以檢測(cè)待測(cè)物280的類型，以產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)。舉例來說，檢測(cè)單元250可配置有多接腳的連接端口，以便于檢測(cè)單元250通過連接端口與待測(cè)物280連接時(shí)，檢測(cè)單元250可通過連接端口連接的針腳數(shù)量與位置，檢測(cè)出待測(cè)物280的類型，例如記憶體模塊或中央處理器模塊。之后,檢測(cè)單元250據(jù)此產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)，并傳送給控制單元230。接著，控制單元230可依據(jù)檢測(cè)信號(hào)，于儲(chǔ)存單元220中選用對(duì)應(yīng)此檢測(cè)信號(hào)的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表或另一電源時(shí)序表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，而據(jù)以提供相關(guān)的電源時(shí)序信號(hào)以及模擬信號(hào)。例如，記憶體模塊對(duì)應(yīng)電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表，而中央處理器模塊對(duì)應(yīng)另一電源時(shí)序表與另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表。另外，更新單元260耦接儲(chǔ)存單元220，用以接收并依據(jù)更新信號(hào)，以更新儲(chǔ)存單元220中所儲(chǔ)存的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表。也就是說，使用者可通過更新單元260更新儲(chǔ)存單元220中所儲(chǔ)存的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表的版本與數(shù)量。如此一來，可增加使用的便利性。在本實(shí)施例中，控制單元230與儲(chǔ)存單元220可以復(fù)雜可程序邏輯裝置來實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明的實(shí)施例的輔助測(cè)試裝置，其通過在輔助測(cè)試裝置與待測(cè)物連接后，依據(jù)待測(cè)物所對(duì)應(yīng)的電源時(shí)序，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的電源時(shí)序控制信號(hào)，以依序提供電壓給待測(cè)物，使得待測(cè)物可依據(jù)其正確的電源時(shí)序進(jìn)行上電，并提供待測(cè)物對(duì)應(yīng)的模擬信號(hào)。藉此，可進(jìn)行單一模塊測(cè)試而無須整機(jī)組合后測(cè)試，以可減少待測(cè)物的電路元件的損壞機(jī)率。另外，輔助測(cè)試裝置還可顯示上電時(shí)序過程的狀態(tài)，且依據(jù)待測(cè)物的類型提供對(duì)應(yīng)待測(cè)物所需的電源時(shí)序的電壓以及模擬信號(hào)，并可更新電源時(shí)序表的版本與數(shù)量，進(jìn)而可增加測(cè)試的便利性。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種輔助測(cè)試裝置，適于一待測(cè)物，其特征在于，該輔助測(cè)試裝置包括: 一電源單元，用以提供多個(gè)電壓，其中該些電壓互不相同； 一儲(chǔ)存單兀，用以儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)該待測(cè)物的一電源時(shí)序表與一模擬信號(hào)產(chǎn)生表；以及 一控制單元，耦接該儲(chǔ)存單元與該電源單元，用以依據(jù)該電源時(shí)序表，提供多個(gè)電源時(shí)序控制信號(hào)，使該電源單元依據(jù)該些電源時(shí)序控制信號(hào)，依序提供該些電壓給該待測(cè)物，并依據(jù)該模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供對(duì)應(yīng)該待測(cè)物的一模擬信號(hào)給該待測(cè)物，且該控制單元接收該待測(cè)物回應(yīng)于該些電壓與該模擬信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)狀態(tài)信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輔助測(cè)試裝置，其特征在于，還包括: 一更新單元，耦接該儲(chǔ)存單元，用以接收并依據(jù)一更新信號(hào)，以更新該電源時(shí)序表與該模擬信號(hào)產(chǎn)生表。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輔助測(cè)試裝置，其特征在于，還包括: 一顯示單元，耦接該控制單元，用以通過該控制單元接收該些狀態(tài)信號(hào)，以顯示該些狀態(tài)信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輔助測(cè)試裝置，其特征在于，該儲(chǔ)存單元還用儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)該待測(cè)物的一另一電源時(shí)序表與一另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，而該輔助測(cè)試裝置還包括: 一檢測(cè)單元，用以檢測(cè)該待測(cè)物的類型，以產(chǎn)生一檢測(cè)信號(hào)； 其中，該控制單元用以接收并依據(jù)該檢測(cè)信號(hào)，而選用并依據(jù)該電源時(shí)序表與該模擬信號(hào)產(chǎn)生表或該另一電源時(shí)序表與該另一模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供該些電源時(shí)序信號(hào)以及該模擬信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輔助測(cè)試裝置，其特征在于，該控制單元與該儲(chǔ)存單元配置于一復(fù)雜可程序邏輯裝置中。
全文摘要
一種輔助測(cè)試裝置，適于一待測(cè)物。輔助測(cè)試裝置包括電源單元、儲(chǔ)存單元與控制單元。電源單元用以提供多個(gè)電壓，其中這些電壓互不相同。儲(chǔ)存單元用以儲(chǔ)存對(duì)應(yīng)待測(cè)物的電源時(shí)序表與模擬信號(hào)產(chǎn)生表?？刂茊卧罱觾?chǔ)存單元與電源單元，用以依據(jù)電源時(shí)序表，提供多個(gè)電源時(shí)序控制信號(hào)，使電源單元依據(jù)這些電源時(shí)序控制信號(hào)，依序提供前述電壓給待測(cè)物，并依據(jù)模擬信號(hào)產(chǎn)生表，提供對(duì)應(yīng)待測(cè)物的模擬信號(hào)給待測(cè)物，且控制單元接收待測(cè)物回應(yīng)于前述電壓與模擬信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)狀態(tài)信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK103185847SQ201110461168
公開日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者金志仁, 黃培倫 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司