專利名稱：卷尺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及尺，具體講是一種卷尺。
背景技術(shù)：
目前的卷尺包括殼體和卷在殼體內(nèi)的尺條，這樣在光線不好很好的環(huán)境下使用， 卷尺上的刻度很難讀取，而且還無法準(zhǔn)確判斷卷尺是否跟被測物貼合，直接影響測量結(jié)果。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是，提供一種讀取刻度方便、能保證測量結(jié)果的卷尺。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是，提供一種具有以下結(jié)構(gòu)的卷尺，包括殼體和卷在殼體內(nèi)的尺條，所述尺條的表面設(shè)有熒光層。所述熒光層的厚度為0. 5MM。采用上述結(jié)構(gòu)后，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)由于所述尺條的表面設(shè)有熒光層，這樣即使在光線不好很好的環(huán)境下使用，卷尺上的刻度也很方便讀取，而且能準(zhǔn)確判斷卷尺是否跟被測物貼合，能保證測量結(jié)果。

附圖1是本實(shí)用新型的卷尺的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖2是圖1的A-A剖面示意圖。圖中所示，1、殼體，2、尺條，3、熒光層。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型卷尺作進(jìn)一步說明。如圖1、圖2所示，本實(shí)用新型的卷尺，包括殼體1和卷在殼體1內(nèi)的尺條2，所述尺條2的表面設(shè)有熒光層3。所述熒光層3的厚度為0. 5MM。
權(quán)利要求1.一種卷尺，包括殼體(1)和卷在殼體(1)內(nèi)的尺條(2)，其特征在于所述尺條(2) 的表面設(shè)有熒光層(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的卷尺，其特征在于所述熒光層(3)的厚度為0.5MM。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種卷尺，包括殼體(1)和卷在殼體(1)內(nèi)的尺條(2)，所述尺條(2)的表面設(shè)有熒光層(3)，所述熒光層(3)的厚度為0.5MM。該卷尺讀取刻度方便、能保證測量結(jié)果。
文檔編號G01B3/10GK202066436SQ201120004769
公開日2011年12月7日 申請日期2011年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月6日
發(fā)明者施賢佳 申請人:施賢佳