專利名稱：檢驗物體尺寸的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢驗物體尺寸的裝置，更具體地，涉及一種檢驗記憶卡尺寸的裝置。
背景技術(shù)：
記憶卡是一種小型的記憶裝置，能夠儲存大量的數(shù)據(jù)。在使用時，將記憶卡插入電子裝置的插槽內(nèi)，以讓電子裝置能夠存取其中的數(shù)據(jù)。然而，當(dāng)記憶卡的寬度過大時，在插入插槽時可能會無法順利插入或插入后卡住而無法順利拔出來。為確保記憶卡的尺寸合乎規(guī)定，目前是以光標(biāo)卡尺(vernier caliper)來檢驗記憶卡。然而，以光標(biāo)卡尺檢驗不僅會有人為的測量誤差、工具本身的精度誤差，還會有檢驗時動作及工時的浪費。有鑒于此，需要提出一種方案，以解決上述問題。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種檢驗物體尺寸的裝置，僅需將物體置于檢驗槽內(nèi)，即可檢驗出物體的尺寸是否合乎規(guī)定。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型的實施方式的檢驗物體尺寸的裝置是在檢驗平臺上形成檢驗槽，該檢驗槽由所述檢驗平臺的一個側(cè)邊延伸至另一側(cè)邊，所述檢驗槽包括第一側(cè)壁、第二側(cè)壁以及底壁，其中該第一側(cè)壁具有前段以及與該前段相連的后段，所述前段和后段相交于相接處，所述第二側(cè)壁具有前段、后段以及與該前段和后段相連的中段，其中所述第一側(cè)壁的前段與所述第二側(cè)壁的前段之間的距離大于所述第一側(cè)壁的后段與所述第二側(cè)壁的后段之間的距離，而小于所述相接處至所述第二側(cè)壁的中段的距離，且該第一側(cè)壁的前段與后段之間的夾角大于90度并小于180度。本實用新型的另一實施方式的檢驗物體尺寸的裝置是在檢驗平臺上形成檢驗槽， 該檢驗槽由所述檢驗平臺的一個側(cè)邊延伸至另一側(cè)邊，所述檢驗槽包括第一側(cè)壁、第二側(cè)壁以及底壁，所述檢驗槽具有前段、后段以及與該前段和后段相連的中段，所述前段的寬度大于后段的寬度，而小于中段的寬度，所述檢驗槽的中段具有讓位空間，所述檢驗槽的中段處的第二側(cè)壁設(shè)置成使該待檢驗物體轉(zhuǎn)動并推向所述讓位空間內(nèi)，其中所述檢驗槽的后段相對于前段具有偏轉(zhuǎn)角度，該偏轉(zhuǎn)角度大于90度并小于180度。

圖1為本實用新型的第一實施方式的檢驗記憶卡尺寸的裝置；圖加至圖2d為顯示利用圖1的裝置來檢驗記憶卡尺寸的方法；圖3為本實用新型的第二實施方式的檢驗記憶卡尺寸的裝置；圖如至圖4d為顯示利用圖3的裝置來檢驗記憶卡尺寸的方法。附圖標(biāo)記說明[0013]100裝置110底座[0014]112靜電消散材料120支撐架[0015]130檢驗平臺132側(cè)邊[0016]134側(cè)邊140檢驗槽[0017]142檢驗槽的前段144檢驗槽的后段[0018]146檢驗槽的中段148突起[0019]150側(cè)壁152側(cè)壁的前段[0020]154側(cè)壁的后段158相接處[0021]160側(cè)壁162側(cè)壁的前段[0022]164側(cè)壁的后段166側(cè)壁的中段[0023]170底壁200記憶卡[0024]210長側(cè)邊220短側(cè)邊[0025]230切邊240角落[0026]250虛線300裝置[0027]340檢驗槽342檢驗槽的前段[0028]344檢驗槽的后段346檢驗槽的中段[0029]348突起350側(cè)壁[0030]352側(cè)壁的前段354側(cè)壁的后段[0031]356側(cè)壁的中段358相接處[0032]359相接處360側(cè)壁[0033]362側(cè)壁的前段364側(cè)壁的后段[0034]366側(cè)壁的中段368虛擬延伸面[0035]370底壁α角度[0036]θ角度
具體實施方式
為了讓本實用新型的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯，下文將配合所附圖示，作詳細(xì)說明如下。此外，在本實用新型的說明中，相同的構(gòu)件均以相同的符號來表示，在此先予以說明。參考圖1，本實用新型的第一實施方式的檢驗記憶卡尺寸的裝置100包括底座 110，該底座110上延伸出有支撐架120，支撐架120的另一端則與檢驗平臺130連接。檢驗平臺130傾斜設(shè)置，該檢測平臺130的表面上形成有內(nèi)壁光滑的檢驗槽140。檢驗槽140從檢驗平臺130的側(cè)邊132開始，向下延伸至另一側(cè)邊134，該檢驗槽 140包括兩相對的側(cè)壁150、160以及底壁170。側(cè)壁150包括前段152以及與該前段152 相連的后段154。側(cè)壁的前段152與側(cè)壁的后段巧4大致上呈直線延伸，該前段152和后段巧4相交于相接處158，且之間夾有一個θ角度，其中θ大于90度且小于180度。側(cè)壁160則包括前段162、后段164以及與該前段162和后段164相連的中段166，其中側(cè)壁的前段162的長度小于側(cè)壁的前段152的長度，而側(cè)壁的后段164的長度小于側(cè)壁的后段 154的長度。側(cè)壁的前段162和側(cè)壁的后段164大致上呈直線延伸，大致上分別與側(cè)壁的前段152和側(cè)壁的后段巧4相平行，且側(cè)壁的前段152、162之間的距離大于側(cè)壁的后段154、 164之間的距離。而側(cè)壁的中段166呈弧形，該弧形的凹部面對側(cè)壁150，且側(cè)壁的中段166 各處至對面相接處158的距離大于側(cè)壁的前段152、162之間的距離。根據(jù)本實施方式的裝置100，檢驗槽140的前段142的寬度大于檢驗槽的后段144的寬度，但小于檢驗槽的中段 146的寬度。參考圖加至圖2d，顯示了利用本實施方式的裝置100來檢驗記憶卡200的尺寸的方法，其中所欲檢測的記憶卡200大致上為矩形，具有一對平行的長側(cè)邊210與一對平行的短側(cè)邊220，以及與其中一個長側(cè)邊210和其中一個短側(cè)邊220相連的切邊230。在利用裝置100來檢測記憶卡200的尺寸時，以切邊230朝上以及相對的長側(cè)邊 210朝下的方式置入檢驗槽的前段142(見圖2a)。由于重力的作用，記憶卡200會在傾斜的檢驗槽140內(nèi)向下滑動。當(dāng)記憶卡200的角落M0，即在本實施方式中的右下角碰到鄰近相接處158的側(cè)壁的后段154時，由于慣性作用，記憶卡200會逆時針轉(zhuǎn)動(見圖2b)。若記憶卡200的寬度小于檢驗槽的后段144的寬度時，記憶卡200便會以短側(cè)邊220朝下的方式滑入檢驗槽的后段144內(nèi)(見圖2c)。最后，記憶卡200會滑出檢驗槽140掉落在底座 110上(見圖2d)。根據(jù)本實施方式的裝置100，當(dāng)記憶卡200能夠以長側(cè)邊210朝下的方式置入檢驗槽的前段142內(nèi)時，則表示記憶卡200的長度小于檢驗槽的前段142的寬度；而當(dāng)能夠滑入檢驗槽的后段144時，則表示記憶卡200的寬度小于檢驗槽的后段144的寬度。因此，根據(jù)本實施方式的裝置100，檢驗槽的前段142是用來檢驗記憶卡200的長度，檢驗槽的后段 144是用來檢驗記憶卡200的寬度，而檢驗槽的中段146則是使記憶卡200轉(zhuǎn)向。因而，當(dāng)記憶卡200可順利滑出檢驗槽140時，則表示記憶卡200的尺寸合乎規(guī)定。除此之外，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)了解，為了能夠精確地檢驗記憶卡200的尺寸，檢驗槽的前段142的寬度要僅略大于記憶卡200的標(biāo)準(zhǔn)長度，而檢驗槽的后段144的寬度則要僅略大于記憶卡200的標(biāo)準(zhǔn)寬度。為了要避免因大氣壓力而使記憶卡200吸附在檢驗槽140內(nèi)，可在檢驗槽140底壁170上設(shè)置多條沿著檢驗槽140延伸方向的突起148，如此，將可減少記憶卡200與檢驗槽140接觸的面積，有助于讓記憶卡200順利滑動。參考圖3，本實用新型的第二實施方式的檢驗記憶卡尺寸的裝置300也包括底座 110、支撐架120以及檢驗平臺130。裝置300還具有檢驗槽340，該檢驗槽340內(nèi)壁光滑， 形成在傾斜設(shè)置的檢驗平臺130上。檢驗槽340從檢驗平臺130的側(cè)邊132開始，向下延伸至側(cè)邊134，該檢驗槽340 包括兩相對的側(cè)壁350、360以及底壁370。側(cè)壁350包括前段352、后段354以及與該前段 352和后段3M相連的中段356。側(cè)壁350的前段352、中段356與后段3M大致上皆呈直線延伸，其中側(cè)壁的前段352與側(cè)壁的中段356相交于相接處358，而側(cè)壁的中段356與側(cè)壁的后段3M則相交于相接處359。側(cè)壁360則包括前段362、后段364以及與該前段362 和后段364相連的中段366，其中側(cè)壁的前段362的長度小于側(cè)壁的前段352的長度，而側(cè)壁的后段364的長度小于側(cè)壁的后段354的長度。側(cè)壁的前段362和側(cè)壁的后段364大致上呈直線延伸，大致上分別與側(cè)壁的前段352和側(cè)壁的后段邪4相平行，且側(cè)壁的前段352、 362之間的距離大于側(cè)壁的后段354、364之間的距離。側(cè)壁的中段356從相接處358朝向遠(yuǎn)離側(cè)壁的中段364的方向延伸出，側(cè)壁的中段356與側(cè)壁的后段邪4之間的夾角α則大于90度且小于180度。側(cè)壁的中段366呈弧形，該弧形的凹部面對側(cè)壁350，且側(cè)壁的中段366各處至對面相接處358的距離大于側(cè)壁的前段352、362之間的距離。此外，沿著側(cè)壁的前段362延伸出的虛擬延伸面368與弧形的側(cè)壁的中段366相交。根據(jù)本實施方式的裝置300，檢驗槽340的前段342的寬度大于檢驗槽的后段344的寬度，但小于檢驗槽的中段346的寬度。參考圖如至圖4d，顯示了利用本實施方式的裝置300來檢驗記憶卡200的尺寸的方法。在利用裝置300來檢測記憶卡200的尺寸時，以切邊230朝上以及相對的長側(cè)邊 210朝下的方式置入檢驗槽的前段342(見圖4a)。由于重力的作用，記憶卡200會在傾斜的檢驗槽；340內(nèi)向下滑動。當(dāng)記憶卡200接觸到弧形的側(cè)壁的中段366時，側(cè)壁的中段366 會施力使記憶卡200轉(zhuǎn)動并推向側(cè)壁的中段356與側(cè)壁的后段3M所夾的預(yù)先讓位空間內(nèi) (見圖4b)。接著，若記憶卡200的寬度小于檢驗槽的后段344的寬度時，記憶卡200便會因重力的作用轉(zhuǎn)向以短側(cè)邊220朝下的方式滑入檢驗槽的后段344內(nèi)(見圖如)。最后，記憶卡200會滑出檢驗槽340掉落在底座110上(見圖4d)。根據(jù)本實施方式的裝置300，當(dāng)記憶卡200能夠使用長側(cè)邊210朝下的方式置入檢驗槽的前段342內(nèi)時，則表示記憶卡200的長度小于檢驗槽的前段342的寬度；而當(dāng)能夠轉(zhuǎn)向滑入經(jīng)過檢驗槽的后段344時，則表示記憶卡200的寬度小于檢驗槽的后段344的寬度。 因此，根據(jù)本實施方式的裝置300，檢驗槽的前段342是用來檢驗記憶卡200的長度，檢驗槽的后段344是用來檢驗記憶卡200的寬度，而檢驗槽的中段346則是使記憶卡200轉(zhuǎn)向。 因此，當(dāng)記憶卡200可順利滑出檢驗槽340時，則表示記憶卡200的尺寸合乎規(guī)定。除此之外，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)了解，為了能夠精確地檢驗記憶卡200的尺寸，檢驗槽的前段342的寬度要僅略大于記憶卡200的標(biāo)準(zhǔn)長度，而檢驗槽的后段344的寬度則要僅略大于記憶卡 200的標(biāo)準(zhǔn)寬度。為了要避免因大氣壓力而使記憶卡200吸附在檢驗槽340內(nèi)，同樣地，可在檢驗槽340底壁170上設(shè)置多條沿著檢驗槽340延伸方向的突起348，如此，將可減少記憶卡200與檢驗槽340接觸的面積，有助于讓記憶卡200順利滑動。根據(jù)本實用新型的裝置100、300，檢驗平臺130是可相對于支撐架120轉(zhuǎn)動的，以調(diào)整檢驗槽140、340的傾斜方向。底座110上還可鋪上一層靜電消散材料112，而檢驗平臺 130的表面是采用金屬硬化處理的材料，以達(dá)到靜電消散的特性。根據(jù)本實用新型的檢驗記憶卡尺寸的裝置，操作人員僅需將記憶卡置于檢驗槽內(nèi)，即可檢驗出記憶卡的尺寸是否合乎規(guī)定。除此之外，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)了解，本實用新型的檢驗裝置并不限于檢驗記憶卡，也可用來檢驗大致上呈長方形或正方形的物體的尺寸。雖然本實用新型已由前述實施方式所揭示，然其并非用以限定本實用新型，任何本實用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi)，可作各種更動與修改。因此本實用新型的保護范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求書所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種檢驗物體尺寸的裝置，該裝置包括檢驗平臺，該檢驗平臺具有至少兩個側(cè)邊，其特征在于該檢驗平臺上形成有檢驗槽，該檢驗槽由所述檢驗平臺的一個側(cè)邊延伸至另一側(cè)邊， 所述檢驗槽包括第一側(cè)壁、第二側(cè)壁以及底壁，其中該第一側(cè)壁具有前段以及與該前段相連的后段，該前段和后段相交于相接處，所述第二側(cè)壁具有前段、后段以及與該前段和后段相連的中段，其中所述第一側(cè)壁的前段與所述第二側(cè)壁的前段之間的距離大于所述第一側(cè)壁的后段與所述第二側(cè)壁的后段之間的距離，而小于所述相接處至所述第二側(cè)壁的中段的距離，且所述第一側(cè)壁的前段與后段之間的夾角大于90度并小于180度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第二側(cè)壁的中段呈弧形，該弧形的凹部面對所述第一側(cè)壁。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一側(cè)壁的前段和后段的長度分別大于所述第二側(cè)壁的前段和后段的長度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述檢驗槽的底壁上設(shè)置有多條沿著該檢驗槽延伸方向的突起。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括底座；以及支撐架，該支撐架由所述底座延伸出，并與所述檢驗平臺連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述檢驗平臺能夠相對于所述支撐架轉(zhuǎn)動。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述底座上設(shè)置有靜電消散材料。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述檢驗平臺的表面是使用金屬硬化處理的材料。
9.一種檢驗物體尺寸的裝置，該裝置包括檢驗平臺，該檢驗平臺具有至少兩個側(cè)邊，其特征在于該檢驗平臺上形成有檢驗槽，該檢驗槽由所述檢驗平臺的一個側(cè)邊延伸至另一側(cè)邊， 所述檢驗槽包括第一側(cè)壁、第二側(cè)壁以及底壁，所述檢驗槽具有前段、后段以及與該前段和后段相連的中段，該前段的寬度大于后段的寬度，而小于中段的寬度，所述檢驗槽的中段具有讓位空間，所述檢驗槽的中段處的第二側(cè)壁設(shè)置成使待檢驗物體轉(zhuǎn)動并推向所述讓位空間內(nèi)，其中所述檢驗槽的后段相對于前段具有偏轉(zhuǎn)角度，該偏轉(zhuǎn)角度大于90度并小于180 度。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述檢驗槽的中段處的第二側(cè)壁呈弧形，該弧形的凹部面對所述第一側(cè)壁。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，由所述檢驗槽的前段處的第二側(cè)壁延伸出有虛擬延伸面，該虛擬延伸面與所述檢驗槽的中段處的第二側(cè)壁相交。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述檢驗槽的底壁上設(shè)置有多條沿著該檢驗槽延伸方向的突起。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括底座；以及支撐架，該支撐架由所述底座延伸出，并與所述檢驗平臺連接。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述檢驗平臺能夠相對于所述支撐架轉(zhuǎn)動。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述底座上設(shè)置有靜電消散材料。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述檢驗平臺的表面是使用金屬硬化處理的材料。
專利摘要本實用新型提供一種檢驗物體尺寸的裝置，包括檢驗平臺，該檢驗平臺具有至少兩側(cè)邊，檢驗平臺上形成有檢驗槽，該檢驗槽由檢驗平臺的一個側(cè)邊延伸至另一側(cè)邊，該檢驗槽包括第一側(cè)壁、第二側(cè)壁以及底壁，其中第一側(cè)壁具有前段以及與該前段相連的后段，兩者相交于相接處，第二側(cè)壁則具有前段、后段以及與該前段和后段相連的中段，其中第一側(cè)壁的前段和后段以及第二側(cè)壁的前段和后段大致上呈直線延伸，而第二側(cè)壁的中段則呈弧形，第一側(cè)壁的前段和后段長度分別大于第二側(cè)壁的前段和后段長度，且第一側(cè)壁的前段與第二側(cè)壁的前段之間的距離大于第一側(cè)壁的后段與第二側(cè)壁的后段之間的距離，而小于相接處至第二側(cè)壁的中段的距離。
文檔編號G01B5/02GK202013164SQ20112003894
公開日2011年10月19日 申請日期2011年2月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月15日
發(fā)明者鄭益騏 申請人:華泰電子股份有限公司