專利名稱：接觸式粒度檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及礦物處理工藝過程中磨礦、分級作業(yè)工序物料粒度的檢驗領(lǐng)域， 特別涉及一種專門檢測樣品中最大顆粒的接觸式粒度檢測裝置。
背景技術(shù)：
目前在線檢驗或離線檢驗物料粒度所用的激光粒度儀、超聲波粒度儀均為檢驗樣品全粒度分布，儀器結(jié)構(gòu)復雜，價格昂貴。現(xiàn)有技術(shù)中，專利號“03208683. 0” “載流接觸式礦漿粒度檢測儀”中公開了一種粒度檢測儀，結(jié)構(gòu)稍微簡單些，其測量頭是由測量馬達經(jīng)傳動組件帶動的，作用是檢驗礦漿中的粒度分布，其造價也不低。在很多場合，如磨礦、分級作業(yè)中，不需要知道樣品中全部粒度的分布狀況，只要連續(xù)地知道最大顆粒的狀況就可以了。目前專門檢測樣品中最大顆粒的粒度檢測裝置，還沒見有報道。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種接觸式粒度檢測裝置，克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，適應(yīng)礦物分級作業(yè)中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。為解決上述技術(shù)問題，本實用新型的技術(shù)方案是—種接觸式粒度檢測裝置，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設(shè)有進樣空間，活動檢測柱設(shè)在殼體下部，活動檢測柱與殼體側(cè)壁構(gòu)成滑動副，活動檢測柱上部設(shè)有固定檢測頭，固定檢測頭內(nèi)設(shè)有位移傳感器，殼體頂部出口依次與儲液閥和儲液囊相連，進樣空間一側(cè)設(shè)有樣品閥，進樣空間另一側(cè)設(shè)有高位放液閥和低位放液閥，樣品閥側(cè)還設(shè)有清水閥。所述位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。高位放液閥和低位放液閥設(shè)置高度差為15mm-40mm。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是1)適應(yīng)礦物分級作業(yè)中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。2)結(jié)構(gòu)簡單，成本低。3)適用于濃度低于60% 的固液混合物，粒度檢測范圍為0. 02mm-3mm。

圖1是本實用新型實施例結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1-清水閥 2-樣品閥 3-殼體 4-活動檢測柱 5-儲液囊 6_儲液閥 7-固定檢測頭8-高位放液閥9-低位放液閥10-進樣空間
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步說明[0014]見圖1，是本實用新型一種接觸式粒度檢測裝置實施例結(jié)構(gòu)示意圖，包括有殼體 3、活動檢測柱4、固定檢測頭7和儲液囊5，在密閉的殼體3底部設(shè)有進樣空間10，活動檢測柱4設(shè)在殼體3下部，活動檢測柱4與殼體3側(cè)壁構(gòu)成滑動副，活動檢測柱4上部設(shè)有固定檢測頭7，固定檢測頭7內(nèi)設(shè)有位移傳感器，位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。殼體3頂部出口依次與儲液閥6和儲液囊5相連，儲液囊5的作用是儲存和釋放活動檢測柱4上方的液體；進樣空間10 —側(cè)設(shè)有樣品閥2，進樣空間10另一側(cè)設(shè)有高位放液閥8和低位放液閥9，高位放液閥8和低位放液閥9設(shè)置高度差為15mm-40mm，樣品閥側(cè)進樣空間10底部設(shè)有清水閥1，儲液閥6與其它閥門配合可使活動檢測柱4在殼體3內(nèi)起落浮動。本實用新型的使用方法，是向活動檢測柱4底部進樣空間10注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱4降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱4 前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值，其具體步驟如下1)活動檢測柱抬起清水閥1打開，儲液閥6打開，向容器3內(nèi)注入清水，儲液囊5 充水同時活動檢測柱4抬起；2)沖洗儲液囊5充滿后，關(guān)閉儲液閥6，同時打開高位放液閥8和低位放液閥9， 對活動檢測柱4底部進樣空間10進行沖洗，沖洗10-30秒鐘；3)校準關(guān)閉清水閥1，打開儲液閥6，儲液囊5中的水快速從高位放液閥8和低位放液閥9中流出，活動檢測柱4落至容器3底部，位移傳感器檢測此時活動檢測柱4的位置記為“0”；4)活動檢測柱二次抬起清水閥1打開，儲液閥6打開，向容器3內(nèi)注入清水，儲液囊5充水同時活動檢測柱4抬起；5)進樣關(guān)閉清水閥1和儲液閥6，打開樣品閥2和高位放液閥8，向活動檢測柱4 底部進樣空間10注入樣品，注入量為5-15ml ；6)測量計算打開儲液閥6和和高位放液閥8，儲液囊5釋放清水，活動檢測柱4 在重力和儲液囊5與高位放液閥8之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱4位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；7)重復上述步驟1)-步驟6)，可實現(xiàn)連續(xù)測量，所測得數(shù)據(jù)可列表給出，可作曲線表達，也可采用數(shù)學模型(例如統(tǒng)計學方法)來進行數(shù)據(jù)分析，使檢驗結(jié)果更真實反映實際，為生產(chǎn)工藝過程提供時實可靠的控制依據(jù)。本實用新型動作步驟如下表1 表 1
權(quán)利要求1.一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設(shè)有進樣空間，活動檢測柱設(shè)在殼體下部，活動檢測柱與殼體側(cè)壁構(gòu)成滑動副，活動檢測柱上部設(shè)有固定檢測頭，固定檢測頭內(nèi)設(shè)有位移傳感器，殼體頂部出口依次與儲液閥和儲液囊相連，進樣空間一側(cè)設(shè)有樣品閥，進樣空間另一側(cè)設(shè)有高位放液閥和低位放液閥，樣品閥側(cè)還設(shè)有清水閥。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，所述位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，高位放液閥和低位放液閥設(shè)置高度差為15mm-40mm。
專利摘要本實用新型涉及一種接觸式粒度檢測裝置，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設(shè)有進樣空間，活動檢測柱設(shè)在殼體下部，活動檢測柱與殼體側(cè)壁構(gòu)成滑動副，活動檢測柱上部設(shè)有固定檢測頭，固定檢測頭內(nèi)設(shè)有位移傳感器，殼體頂部出口依次與儲液閥和儲液囊相連，進樣空間一側(cè)設(shè)有樣品閥，進樣空間另一側(cè)設(shè)有高位放液閥和低位放液閥，樣品閥側(cè)還設(shè)有清水閥。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是1)適應(yīng)礦物分級作業(yè)中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。2)結(jié)構(gòu)簡單，成本低。3)適用于濃度低于60％的固液混合物，粒度檢測范圍為0.02mm-3mm。
文檔編號G01N15/02GK202166588SQ20112025203
公開日2012年3月14日 申請日期2011年7月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月16日
發(fā)明者吳曉元, 都業(yè)富 申請人:吳曉元