專(zhuān)利名稱(chēng)：一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于光學(xué)測(cè)量設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置。
背景技術(shù)：
折射率是物質(zhì)的重要光學(xué)常數(shù)之一，折射率可反映物質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)、濃度、純度、 散射等性能。一般氣體常溫常壓下的折射率都接近于1.0，且各種氣體的折射率相差都不是很大，只有用靈敏度極高的儀器才能測(cè)出，精確測(cè)定氣體折射率具有重要的實(shí)用意義。在目前已有的測(cè)量方法中，直接利用折射定律或全反射定律的測(cè)量方法誤差比較大；而利用光纖測(cè)量的方法，其缺點(diǎn)是光斑邊緣的清晰度將影響到測(cè)量精度，對(duì)毛玻璃屏的質(zhì)量要求較高且毛玻璃表面的漫反射不能太強(qiáng)；利用光干涉原理測(cè)量氣體折射率的邁克爾遜干涉法和馬赫-澤德干涉法的儀器結(jié)構(gòu)復(fù)雜，使用不方便。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測(cè)量條件要求高、誤差大、使用受限制的問(wèn)題。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是，一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，包括氣體室， 氣體室的下端通過(guò)螺紋套裝在安裝座上，安裝座內(nèi)腔底面上設(shè)有一圓形凹槽，氣體室的上端通過(guò)螺紋套裝有外保護(hù)體，外保護(hù)體的上端安裝有上保護(hù)蓋，上保護(hù)蓋沿軸心開(kāi)有圓口， 沿圓口的軸心上方設(shè)置有與水平面呈45度夾角的反射鏡，反射鏡的下表面鍍有半透膜B， 反射鏡的上方設(shè)置有讀數(shù)顯微鏡，反射鏡的水平入射方向設(shè)置有氦氖激光源；氣體室的上端口粘接有光學(xué)平面玻璃，光學(xué)平面玻璃上表面鍍有半透膜A ；氣體室的下端口粘接有牛頓環(huán)鏡片，牛頓環(huán)鏡片的上表面為凸面且鍍有全反膜，牛頓環(huán)鏡片的下表面為平面。本實(shí)用新型的氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，其特征還在于所述的圓口與圓形凹槽的直徑一致。所述的讀數(shù)顯微鏡、圓口、光學(xué)平面玻璃、氣體室、牛頓環(huán)鏡片與圓形凹槽均同軸設(shè)置。所述的氣體室的圓壁開(kāi)有換氣孔A和換氣孔B，在換氣孔A和換氣孔B上通過(guò)過(guò)盈配合分別安裝有密封塞A和密封塞B。本實(shí)用新型的有益效果是，基于牛頓環(huán)等厚干涉原理的氣體折射率光學(xué)測(cè)量結(jié)構(gòu)，能夠用于氣體折射率的測(cè)量；相對(duì)于現(xiàn)有的基于光干涉原理的氣體折射率測(cè)量?jī)x器，結(jié)構(gòu)更為簡(jiǎn)單，所需光學(xué)元件更少，且使用方便。

圖1是本實(shí)用新型裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中，1.氦氖激光源，2.上保護(hù)蓋，3.圓口，4.外保護(hù)體，5.換氣孔A，6.密封塞 A，7.牛頓環(huán)鏡片，8.安裝座，9.圓形凹槽，10.氣體室，11.氣體室外螺紋A，12.安裝座內(nèi)螺紋，13.全反膜，14.換氣孔B，15.密封塞B，16.氣體室外螺紋B，17.外保護(hù)體內(nèi)螺紋A， 18.外保護(hù)體內(nèi)螺紋B，19.上保護(hù)蓋外螺紋，20.光學(xué)平面玻璃，21.半透膜A，22.反射鏡， 23.半透膜B，24.讀數(shù)顯微鏡。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。如圖1，本實(shí)用新型的測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)是，包括氣體室10，氣體室10的下端通過(guò)螺紋套裝在安裝座8上，安裝座8內(nèi)腔底面上設(shè)有一圓形凹槽9，氣體室10的上端通過(guò)螺紋套裝有外保護(hù)體4，外保護(hù)體4的上端安裝有上保護(hù)蓋2，上保護(hù)蓋2沿軸心開(kāi)有圓口 3，沿圓口 3的軸心上方設(shè)置有與水平面呈45度夾角的反射鏡22，反射鏡22的下表面鍍有半透膜 B23，反射鏡22的上方設(shè)置有讀數(shù)顯微鏡M，反射鏡22的水平入射方向設(shè)置有氦氖激光源 1 ；氣體室10的上端口粘接有光學(xué)平面玻璃20，光學(xué)平面玻璃20上表面鍍有半透膜A21 ；氣體室10的下端口粘接有牛頓環(huán)鏡片7，牛頓環(huán)鏡片7的上表面為凸面且鍍有全反膜13，牛頓環(huán)鏡片7的下表面為平面；氣體室10的圓壁開(kāi)有換氣孔A5和換氣孔B14，在換氣孔A5和換氣孔B14上通過(guò)過(guò)盈配合分別安裝有密封塞A6和密封塞B15 ；圓口 3與圓形凹槽9的直徑一致，且讀數(shù)顯微鏡24、圓口 3、光學(xué)平面玻璃20、氣體室10、牛頓環(huán)鏡片7與圓形凹槽9均同軸設(shè)置。氣體室10下端通過(guò)氣體室外螺紋All與安裝座8的安裝座內(nèi)螺紋12套接，氣體室10上端通過(guò)氣體室外螺紋B16與外保護(hù)體4的外保護(hù)體內(nèi)螺紋A17套接，上保護(hù)蓋2通過(guò)上保護(hù)蓋外螺紋19與外保護(hù)體4的外保護(hù)體內(nèi)螺紋B18套接。本實(shí)用新型裝置的工作原理是，打開(kāi)兩個(gè)密封塞A6和密封塞B15，使待測(cè)氣體通過(guò)換氣孔A5和換氣孔B14進(jìn)入氣體室10 ；等待3-5分鐘時(shí)間，使待測(cè)氣體均勻充滿氣體室 10 ；利用氦氖激光源1發(fā)出激光，入射激光經(jīng)反射鏡22反射后垂直入射到光學(xué)平面玻璃20 上表面鍍的半透膜A21上，一部分光被反射，一部分光透過(guò)光學(xué)平面玻璃20向下入射到牛頓環(huán)鏡片7的全反膜13上并被全反射，經(jīng)光學(xué)平面玻璃20上表面鍍的半透膜A21反射的光和牛頓環(huán)鏡片的全反膜13反射的光是相干光，以上兩束反射光產(chǎn)生牛頓環(huán)干涉圖樣，通過(guò)讀數(shù)顯微鏡M測(cè)量干涉條紋，即可測(cè)出待測(cè)氣體的折射率。
權(quán)利要求1.一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，其特征在于包括氣體室(10)，氣體室(10)的下端通過(guò)螺紋套裝在安裝座(8)上，安裝座(8)內(nèi)腔底面上設(shè)有一圓形凹槽(9)，氣體室 (10)的上端通過(guò)螺紋套裝有外保護(hù)體G)，外保護(hù)體的上端安裝有上保護(hù)蓋O)，上保護(hù)蓋(2)沿軸心開(kāi)有圓口(3)，沿圓口(3)的軸心上方設(shè)置有與水平面呈45度夾角的反射鏡(22)，反射鏡0 的下表面鍍有半透膜B (23)，反射鏡0 的上方設(shè)置有讀數(shù)顯微鏡 (M)，反射鏡0 的水平入射方向設(shè)置有氦氖激光源(1)；氣體室(10)的上端口粘接有光學(xué)平面玻璃(20)，光學(xué)平面玻璃00)上表面鍍有半透膜AQl)；氣體室(10)的下端口粘接有牛頓環(huán)鏡片(7)，牛頓環(huán)鏡片(7)的上表面為凸面且鍍有全反膜(13)，牛頓環(huán)鏡片(7)的下表面為平面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，其特征在于所述的圓口(3) 與圓形凹槽(9)的直徑一致。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，其特征在于所述的讀數(shù)顯微鏡04)、圓口(3)、光學(xué)平面玻璃(20)、氣體室(10)、牛頓環(huán)鏡片(7)與圓形凹槽(9)均同軸設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，其特征在于所述的氣體室 (10)的圓壁開(kāi)有換氣孔A (5)和換氣孔B (14)，在換氣孔A (5)和換氣孔B (14)上通過(guò)過(guò)盈配合分別安裝有密封塞A (6)和密封塞B (15)。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種氣體折射率的光學(xué)測(cè)量裝置，包括氣體室的下端套裝在安裝座上，安裝座內(nèi)腔底面上設(shè)有一圓形凹槽，氣體室的上端套裝有外保護(hù)體，外保護(hù)體的上端安裝有上保護(hù)蓋，上保護(hù)蓋沿軸心開(kāi)有圓口，沿圓口的軸心上方設(shè)有與水平面呈45度夾角的反射鏡，反射鏡下表面鍍有半透膜B，反射鏡上方設(shè)有讀數(shù)顯微鏡，反射鏡的水平入射方向設(shè)有氦氖激光源；氣體室上端口粘接有光學(xué)平面玻璃，光學(xué)平面玻璃上表面鍍有半透膜A；氣體室下端口粘接有牛頓環(huán)鏡片，牛頓環(huán)鏡片上表面為凸面且鍍有全反膜，牛頓環(huán)鏡片下表面為平面；氣體室的圓壁開(kāi)有兩個(gè)換氣孔，在兩個(gè)換氣孔上分別安裝有密封塞。本實(shí)用新型的裝置，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。
文檔編號(hào)G01N21/41GK202210075SQ201120322718
公開(kāi)日2012年5月2日 申請(qǐng)日期2011年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月31日
發(fā)明者李勇, 郭長(zhǎng)立 申請(qǐng)人:西安科技大學(xué)