光學(xué)檢驗(yàn)方法
【專利摘要】一種光學(xué)檢驗(yàn)方法，包括下列步驟。利用一檢驗(yàn)設(shè)備取得一待檢驗(yàn)物的一圖像。決定該圖像的一目標(biāo)圖像區(qū)域。取得目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)。將該些中心坐標(biāo)填入一陣列，并依據(jù)該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系重新定序該些中心坐標(biāo)而得到一重新定序坐標(biāo)陣列。比較重新定序坐標(biāo)陣列與一原始坐標(biāo)陣列，以檢驗(yàn)該些檢驗(yàn)范圍所對應(yīng)的待檢驗(yàn)物的部分是否有缺失。
【專利說明】光學(xué)檢驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明是有關(guān)于一種光學(xué)檢驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的光學(xué)檢驗(yàn)方法都是采用標(biāo)準(zhǔn)圖片(golden sample)以與生產(chǎn)線上的待檢驗(yàn)物的圖像進(jìn)行比對。然而，所謂標(biāo)準(zhǔn)圖片卻是在檢驗(yàn)環(huán)境中(亦即生產(chǎn)線上)取得。因此，標(biāo)準(zhǔn)圖片會(huì)受各種環(huán)境因素的影響而產(chǎn)生多種變異，例如:不同的環(huán)境光源、待檢驗(yàn)物的定位與角度、或光學(xué)相機(jī)的高度與角度偏移等，使得標(biāo)準(zhǔn)圖片無法在不同的檢驗(yàn)設(shè)備中使用，不利于系統(tǒng)維護(hù)且不具可移植性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明是有關(guān)于一種光學(xué)檢驗(yàn)方法，不需使用傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)圖片即可通過定序算法檢驗(yàn)待檢驗(yàn)物是否有缺失。
[0004]根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提出一種光學(xué)檢驗(yàn)方法，包括下列步驟。利用一檢驗(yàn)設(shè)備取得一待檢驗(yàn)物的一圖像。決定該圖像的一目標(biāo)圖像區(qū)域。取得目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)。將該些中心坐標(biāo)填入一陣列，并依據(jù)該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系重新定序該些中心坐標(biāo)而得到一重新定序坐標(biāo)陣列。比較重新定序坐標(biāo)陣列與一原始坐標(biāo)陣列，以檢驗(yàn)該些檢驗(yàn)范圍所對應(yīng)的待檢驗(yàn)物的部分是否有缺失。
[0005]為了對本發(fā)明的上述及其它方面有更佳的了解，下文特舉一實(shí)施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1繪示依照一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的流程圖。
[0007]圖2?圖4A繪示依照一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的圖像示意圖。
[0008]圖4B繪示用以記錄該些中心坐標(biāo)的一表格。
[0009]圖5A繪示一重新定序坐標(biāo)陣列。
[0010]圖5B繪示對應(yīng)至圖5A的數(shù)據(jù)陣列的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。
[0011]圖6A繪示另一重新定序坐標(biāo)陣列。
[0012]圖6B繪示對應(yīng)至圖6A的數(shù)據(jù)陣列的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。
[0013]圖7繪示對應(yīng)至規(guī)格書的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。
[0014]圖8繪示將圖7的與圖6B結(jié)合后，所得到的補(bǔ)齊后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。
[0015]圖9所示乃有瑕疵的待檢驗(yàn)物的圖像。
[0016]圖10繪示從圖9中擷取的目標(biāo)圖像區(qū)域的圖像。
[0017]圖11為將圖10細(xì)化后的圖像。
[0018]圖12則為對應(yīng)至圖10的補(bǔ)齊后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。
[0019]圖13?圖15，其繪示依照另一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的圖像示意圖。[0020][主要元件標(biāo)號說明]
[0021]SlOO~S140:流程步驟202:目標(biāo)圖像區(qū)域
[0022]302:檢驗(yàn)范圍402:像素點(diǎn)
[0023]501、502:方格
【具體實(shí)施方式】
[0024]本發(fā)明所提出的光學(xué)檢驗(yàn)方法，利用一定序算法對多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)進(jìn)行排序以與一原始坐標(biāo)陣列進(jìn)行比對，故不需使用傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)圖片即可檢驗(yàn)待檢驗(yàn)物是否有缺失。
[0025]請參照圖1~圖4A，圖1繪示依照一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的流程圖，圖2~圖4A繪示依照一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的圖像示意圖。于步驟SlOO中，利用一檢驗(yàn)設(shè)備取得一待檢驗(yàn)物的一圖像，如圖2所示，該待檢驗(yàn)物例如為在主機(jī)板上的一中央處理器(CPU)插座(socket)。更進(jìn)一步地,該圖像會(huì)被轉(zhuǎn)正以利后續(xù)處理。于步驟SllO中，決定該圖像的一目標(biāo)圖像區(qū)域202，亦即所想要檢驗(yàn)的CPU插座區(qū)域，如圖3所示。之后，于步驟S120中，取得目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)。詳細(xì)來說，于步驟120中是進(jìn)行細(xì)化操作，將目標(biāo)圖像區(qū)域進(jìn)行細(xì)化。所謂的檢驗(yàn)范圍例如為一個(gè)接腳(pin)所占據(jù)的范圍，例如是檢驗(yàn)范圍302。上述的細(xì)化操作是指，將每個(gè)檢驗(yàn)范圍細(xì)化為單個(gè)像素點(diǎn)，每個(gè)像素點(diǎn)為對應(yīng)的檢驗(yàn)范圍的中心點(diǎn)，如圖4A所示。舉例來說,像素點(diǎn)402為將檢驗(yàn)范圍302的中心點(diǎn)。之后，取得所有圖4A的像素點(diǎn)的坐標(biāo)值(亦即該些接腳所對應(yīng)的檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo))，并將該些中心坐標(biāo)儲(chǔ)存于一緩存器的一表格中。圖4B所不者為此種表格的一例。
[0026]于步驟S130中，將該些中心坐標(biāo)填入一陣列，并依據(jù)該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系重新定序該些中心坐標(biāo)而得到一重新定序坐標(biāo)陣列，如圖5A所示。為了節(jié)省運(yùn)算量，可先定義多個(gè)X坐標(biāo)范圍與多個(gè)y坐標(biāo)范圍。于圖5A中，基于該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系，將圖4B所示的表格中屬于相同X坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)填入該陣列的同一行，并讓各個(gè)中心坐標(biāo)以針對X坐標(biāo)為升序的方式進(jìn)行排列，以進(jìn)行排序操作。亦即是將圖4B的表格中的所有像素點(diǎn)的坐標(biāo)值重新排列，并將X坐標(biāo)接近者(亦即屬于相同的X坐標(biāo)范圍者)歸為同一行。例如，坐標(biāo)值(553，557)、(553，549)、(553，560)、(553，572)、(554，584)等是屬于同一行。圖5B所示為圖5A的數(shù)據(jù)陣列所對應(yīng)的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。例如坐標(biāo)值(553，557)與(553，549)分別對應(yīng)至圖5B的方格501與502。圖5B中畫斜線的方格是代表在圖5A的數(shù)據(jù)陣列中有坐標(biāo)值的位置，白色區(qū)域代表在圖5A的數(shù)據(jù)陣列中沒有坐標(biāo)值的位置。須注意的是，為了簡化說明起見，圖5B所繪示者僅為簡化后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖，其僅用以示意性與圖5A的陣列對應(yīng)。
[0027]之后，進(jìn)行對齊動(dòng)作，針對圖5A中，基于該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系，將屬于相同y坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)位移以填入該陣列的同一列，并讓各個(gè)中心坐標(biāo)以針對y坐標(biāo)為升序的方式進(jìn) 行排列。亦即是將圖5A的表格中的所有像素點(diǎn)的坐標(biāo)值再次排列，將y坐標(biāo)接近者(亦即屬于相同的y坐標(biāo)范圍者)歸為同一列。例如，坐標(biāo)值(553,537)與(553, 549)等是往下移三個(gè)單位，坐標(biāo)值(565,526)與(564,537)等是往下移二個(gè)單位，坐標(biāo)值(575,514)與(575,525)等是往下移一個(gè)單位，使坐標(biāo)值(575,514)與(586,514)等位于同一列，坐標(biāo)值(565,526)、(575,525)與(587,525)等位于同一列，其它列依此類推。如以一來，即可得到另一重新定序坐標(biāo)陣列，如圖6A所示。該重新定序坐標(biāo)陣列所表現(xiàn)為圖3的該些檢驗(yàn)范圍的相對關(guān)系。圖6B所示為圖6A的數(shù)據(jù)陣列所對應(yīng)的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。圖6B中畫斜線的方格是代表在圖6A的數(shù)據(jù)陣列中有坐標(biāo)值的位置，白色區(qū)域代表在圖6A的數(shù)據(jù)陣列中沒有坐標(biāo)值的位置。同樣地，為了簡化說明起見，圖6B所繪示者僅為簡化后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖，其僅用以示意性地與圖6A的陣列對應(yīng)。
[0028]之后，于步驟S140中，比較該重新定序坐標(biāo)陣列與一原始坐標(biāo)陣列，以檢驗(yàn)該些檢驗(yàn)范圍所對應(yīng)的待檢驗(yàn)物的部分是否有缺失。其中，該原始坐標(biāo)陣列為該待檢驗(yàn)物在原始設(shè)計(jì)圖中的檢驗(yàn)范圍中心坐標(biāo)基于圖4B?圖6B的原理而得。因此，于該重新定序坐標(biāo)陣列與原始坐標(biāo)陣列中，不匹配的元素所對應(yīng)的該待檢驗(yàn)物的部分有缺失。以此實(shí)施范例而言，不匹配的該元素所對應(yīng)的檢驗(yàn)范圍的接腳可能不存在或是歪斜。
[0029]茲將步驟S140的具體作法的一例說明如下。首先，根據(jù)圖2的待檢驗(yàn)物(于本例中為主機(jī)板上的CPU插座)的規(guī)格書，將原本就沒有接腳的位置標(biāo)注于圖7所示的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖中，例如圖7的反斜線方格所表示者。接著，進(jìn)行補(bǔ)齊操作，將圖7的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖與圖6B的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖結(jié)合，以產(chǎn)生補(bǔ)齊后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖，如圖8所示。之后，進(jìn)行比對操作，檢查圖8的補(bǔ)齊后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖，以確認(rèn)是否有缺少的情況，亦即是判斷是否有未填滿斜線的空白方格存在。若有，則代表空白方格所對應(yīng)的檢驗(yàn)范圍有缺失，例如是空白方格所對應(yīng)的檢驗(yàn)范圍的接腳不存在或歪斜
坐寸ο
[0030]茲舉將圖1所示的光學(xué)檢驗(yàn)方法應(yīng)用于一有瑕疵的CPU插座為例做說明。請參考圖9?12，其中圖9所示乃有瑕疵的待檢驗(yàn)物的圖像，圖10繪示從圖9中擷取的目標(biāo)圖像區(qū)域的圖像，圖11為將圖10細(xì)化后的圖像，圖12則為對應(yīng)至圖10的補(bǔ)齊后的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖。于圖9?11中虛線范圍所示者乃對應(yīng)至缺漏的接腳之處。由圖12的像素點(diǎn)相對位置關(guān)系圖可知，空白方格所代表者即為缺漏的接腳與其它接腳的相對位置，如此即可檢驗(yàn)出CPU插座有缺漏接腳，而為一瑕疵品。通過本實(shí)施例的方法，可以不需使用傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)圖片，而是通過該待檢驗(yàn)物本身的圖像以及使用本實(shí)施例的方法所得到的對應(yīng)至各個(gè)接腳的相對位置關(guān)系圖，即可檢驗(yàn)待檢驗(yàn)物是否有缺失，并可減少檢驗(yàn)待檢測物時(shí)，待檢測物的環(huán)境差異所造成的影響。上述的環(huán)境差異例如是待檢測物被置放的傾斜度、待檢測物于輸送帶上放置的位置、待檢測物所在處的環(huán)境的光源種類、光線強(qiáng)度與光線照射方向、圖像擷取器置放的高度與角度等等。
[0031]另以待檢驗(yàn)物為一鍵盤為例做說明，請參照圖13?圖15，其繪示依照另一實(shí)施范例的光學(xué)檢驗(yàn)方法的圖像示意圖。如圖13所示，鍵盤的圖像被轉(zhuǎn)正以利后續(xù)處理。于圖14中，目標(biāo)圖像區(qū)域?yàn)樗胍獧z驗(yàn)的按鍵區(qū)域。于圖15中，目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)被偵測得到。所謂檢驗(yàn)范圍例如為文字輪廓范圍。之后,該些中心坐標(biāo)如圖4B?圖6B的原理所示被重新定序而得到一重新定序坐標(biāo)陣列，并與依據(jù)該鍵盤的原始設(shè)計(jì)圖而得的原始坐標(biāo)陣列做比較，以檢驗(yàn)該些文字輪廓范圍所對應(yīng)的按鍵的部分是否有缺失。因此，于重新定序坐標(biāo)陣列與原始坐標(biāo)陣列中，不匹配的元素所對應(yīng)的文字輪廓范圍的印刷文字可能未印刷或是不正確。
[0032]本發(fā)明上述實(shí)施例所揭露的光學(xué)檢驗(yàn)方法，利用一定序算法對多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)進(jìn)行排序而得到一重新定序坐標(biāo)陣列，并將該重新定序坐標(biāo)陣列與待測驗(yàn)物的原始設(shè)計(jì)圖所對應(yīng)的一原始坐標(biāo)陣列進(jìn)行比對，故不需使用傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)圖片即可檢驗(yàn)待檢驗(yàn)物是否有缺失，利于系統(tǒng)維護(hù)且具可移植性。
[0033]綜上所述，雖然本發(fā)明已以多個(gè)實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明。本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤飾。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視所附的權(quán)利要求范圍所界定者為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種光學(xué)檢驗(yàn)方法，包括: 利用一檢驗(yàn)設(shè)備取得一待檢驗(yàn)物的一圖像； 決定該圖像的一目標(biāo)圖像區(qū)域； 取得該目標(biāo)圖像區(qū)域的多個(gè)檢驗(yàn)范圍的中心坐標(biāo)； 將該些中心坐標(biāo)填入一陣列，并依據(jù)該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系重新定序該些中心坐標(biāo)而得到一重新定序坐標(biāo)陣列；以及 比較該重新定序坐標(biāo)陣列與一原始坐標(biāo)陣列，以檢驗(yàn)該些檢驗(yàn)范圍所對應(yīng)的該待檢驗(yàn)物的部分是否有缺失。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，還包括: 轉(zhuǎn)正該圖像，并從轉(zhuǎn)正后的該圖像取得該目標(biāo)圖像區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，其中該重新定序該些中心坐標(biāo)的步驟包括: 定義多個(gè)X坐標(biāo)范圍與多個(gè)y坐標(biāo)范圍；以及 基于該些中心坐標(biāo)的相對關(guān)系，將屬于相同X坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)填入該陣列的同一行，并將屬于相同y坐標(biāo)范圍的該些中心坐標(biāo)填入該陣列的同一列，以得到該重新定序坐標(biāo)陣列。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢驗(yàn)方法，其中于該重新定序坐標(biāo)陣列與該原始坐標(biāo)陣列中，不匹配的一元素所對應(yīng)的該待檢驗(yàn)物的部分有缺失。
【文檔編號】G01N21/88GK103808729SQ201210512945
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2012年12月4日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月8日
【發(fā)明者】林金霖 申請人:廣達(dá)電腦股份有限公司