專利名稱：一種x熒光光譜分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種X熒光光譜分析儀技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及X熒光光譜分析，為一種譜峰實(shí)時(shí)檢測式的多元素同時(shí)測定型X 熒光光譜分析儀。
背景技術(shù)：
[0002]現(xiàn)有的能量色散多元素同時(shí)測定型X熒光光譜分析儀EDXRF中，一般每個(gè)元素通 道道的特征X射線由探測器檢測，產(chǎn)生的脈沖信號經(jīng)放大器放大后，脈沖高度將按照一峰 形曲線分布，即稱為該元素的特征X射線譜峰，簡稱元素譜峰。儀器調(diào)試時(shí)必須仔細(xì)調(diào)節(jié)元 素譜峰峰位，并使譜峰分辨率達(dá)到最佳，然后設(shè)定元素通道區(qū)，計(jì)算區(qū)內(nèi)的譜峰面積，又稱 脈沖計(jì)數(shù)率，即代表該元素特征X射線的強(qiáng)度，與該元素含量成正比，借此即可以對元素含 量進(jìn)行定量分析。[0003]現(xiàn)有的EDXRF中的元素譜峰檢測系統(tǒng)，主要是采用單道脈沖高度分析器，為了使 譜峰峰位穩(wěn)定，要求X光管高壓和信號放大電路具有很高的穩(wěn)定性；另一方面為了防止因 元器件溫度漂移或老化等引起較大的譜峰漂移而導(dǎo)致出現(xiàn)過大的元素分析誤差，一般要用 戶定時(shí)，例如每隔24小時(shí)，用參考銀標(biāo)樣初始化各元素的譜峰，以監(jiān)測和校正譜峰的漂移。發(fā)明內(nèi)容[0004]本實(shí)用新型要解決的問題是現(xiàn)有的能量色散多元素同時(shí)測定型X熒光光譜分析 儀要求X光管高壓和信號放大電路具有很高的穩(wěn)定性，并且要定時(shí)進(jìn)行初始化調(diào)整，操作 繁瑣。[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案為一種X熒光光譜分析儀，包括X光管、準(zhǔn)直器、元素特征 X射線探測器、自動控制系統(tǒng)以及上位計(jì)算機(jī)，X光管、準(zhǔn)直器和元素特征X射線探測器對應(yīng) 設(shè)有至少一組，X光管發(fā)出的X射線經(jīng)準(zhǔn)直器輸出至待分析試樣，元素特征X射線探測器接 收試樣反射出的X射線，所有元素特征X射線探測器的輸出信號通過自動控制系統(tǒng)輸入上 位計(jì)算機(jī)。[0006]本實(shí)用新型所有元素特征X射線譜峰檢測全部有探測器完成，采集到的各路元素 特征X射線信號直接由計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，得到元素譜峰圖，經(jīng)過算法計(jì)算得到各元素 的含量。由于采用探測器完成信號采集，計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，減少了對X光管高壓和信號 放大電路的穩(wěn)定性要求，不需要用戶頻繁使用標(biāo)樣初始化定標(biāo)。


[0007]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
[0008]如圖1，本實(shí)用新型包括X光管1、準(zhǔn)直器2、元素特征X射線探測器4、自動控制系 統(tǒng)5以及上位計(jì)算機(jī)6，X光管1、準(zhǔn)直器2和元素特征X射線探測器4對應(yīng)設(shè)有至少一組，X光管I發(fā)出的X射線經(jīng)準(zhǔn)直器2輸出至待分析試樣3，元素特征X射線探測器4接收試樣 3反射出的X射線，所有元素特征X射線探測器4的輸出信號通過自動控制系統(tǒng)5輸入上位 計(jì)算機(jī)6。[0009]本實(shí)用新型所有元素特征X射線譜峰檢測全部有探測器完成，采集到的信號直接 由計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，得到元素譜峰圖，經(jīng)過算法計(jì)算得到各元素的含量。由于采用探測 器完成信號采集，計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，減少了對X光管高壓和信號放大電路的穩(wěn)定性要 求，不需要用戶頻繁使用標(biāo)樣初始化定標(biāo)。上位計(jì)算機(jī)也提供了良好的人機(jī)操作界面，更利 于用戶操作使用。
權(quán)利要求1. 一種X熒光光譜分析儀，其特征是包括X光管、準(zhǔn)直器、元素特征X射線探測器、自動控制系統(tǒng)以及上位計(jì)算機(jī)，X光管、準(zhǔn)直器和元素特征X射線探測器對應(yīng)設(shè)有至少一組，X光管發(fā)出的X射線經(jīng)準(zhǔn)直器輸出至待分析試樣，元素特征X射線探測器接收試樣反射出的X射線，所有元素特征X射線探測器的輸出信號通過自動控制系統(tǒng)輸入上位計(jì)算機(jī)。
專利摘要一種X熒光光譜分析儀，包括X光管、準(zhǔn)直器、多個(gè)元素特征X射線探測器、自動控制系統(tǒng)以及上位計(jì)算機(jī)，X光管發(fā)出的X射線經(jīng)準(zhǔn)直器輸出至待分析試樣，元素特征X射線探測器接收試樣反射出的X射線，元素特征X射線探測器的輸出信號通過自動控制系統(tǒng)輸入上位計(jì)算機(jī)。本實(shí)用新型所有元素特征X射線譜峰檢測全部有探測器完成，采集到的信號直接由計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，得到元素譜峰圖，經(jīng)過算法計(jì)算得到各元素的含量，由于采用探測器完成信號采集，計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行分析，減少了對X光管高壓和信號放大電路的穩(wěn)定性要求，不需要用戶頻繁使用標(biāo)樣初始化定標(biāo)。
文檔編號G01N23/223GK202854069SQ20122018559
公開日2013年4月3日 申請日期2012年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月26日
發(fā)明者趙敏, 楊紹雨 申請人:南京第四分析儀器有限公司