專利名稱：50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種50kA電流等級的短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置。
背景技術(shù)：
在低壓電器產(chǎn)品檢測認(rèn)證中，很多標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)條件要求都涉及到試驗(yàn)電源合閘相位的控制問題，有的是明確提到合閘相位角度的要求，有的是隱含在試驗(yàn)條款的要求中。如GB14048. 2《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備-斷路器》中在進(jìn)行脫扣極限合特性測試時要求試驗(yàn)電流應(yīng)無非對稱分量，其實(shí)質(zhì)上是要求消除試驗(yàn)回路的浪涌流造成的測試誤差。而晶閘管選相開關(guān)試驗(yàn)裝置，則就是通過控制晶閘管的觸發(fā)脈沖相位來控制合閘角度，以達(dá)到檢測設(shè)備所需的電流電壓波形等要求。目前，檢測設(shè)備主要采用的技術(shù)是通過機(jī)械式開關(guān)控制和電子式控制兩種方式?！C(jī)械式開關(guān)控制方式靠人工操作來實(shí)現(xiàn)，但傳統(tǒng)的機(jī)械開關(guān)無法任意開通角度和輸出波形的控制；電子式控制方式靠可控硅來實(shí)現(xiàn)，但是現(xiàn)今的電子式開關(guān)存在很大缺陷1、只能滿足20kA的短路電流，不能符合低壓電器GB14048. 2標(biāo)準(zhǔn)的要求；2、包括常熟開關(guān)廠、施耐德等開關(guān)廠斷路器的額定極限短路分?jǐn)嗄芰﹄娏饕话阍?5A-100kA。因此，不難看出，現(xiàn)今的選相控制技術(shù)的電流等級已經(jīng)不能滿足開關(guān)電器的要求。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠滿足現(xiàn)有斷路器的額定極限短路分?jǐn)嗄芰Φ挠糜诙搪吩囼?yàn)的角度合閘試驗(yàn)裝置。為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是提供了一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于包括由4-8個并聯(lián)的晶閘管組成的晶閘管電路單元，晶閘管電路單元的控制端連接晶閘管觸發(fā)電路，閘管觸發(fā)電路及晶閘管電路單元的輸出端同時連接信號處理單元，信號處理單元連接主控單元，主控單元分別連接開關(guān)電源及CPLD信號處理單元。優(yōu)選地，在所述主控單元上擴(kuò)展有輸入輸出接口。優(yōu)選地，所述主控單元還連接觸摸屏。優(yōu)選地，所述主控單元與上位機(jī)進(jìn)行通訊。本實(shí)用新型具有如下有益效果I、在現(xiàn)今的斷路器制造和研發(fā)中，低壓電器的最大電壓可實(shí)現(xiàn)1140V高電壓，并且在感性試驗(yàn)回路中，由于勵磁涌流而造成的晶閘管開關(guān)換流相位角的不確定性以及恢復(fù)電壓為額定電壓的4-5倍等現(xiàn)實(shí)性問題，本實(shí)用新型的技術(shù)改進(jìn)很好地彌補(bǔ)了這方面的缺陷；2、在本實(shí)用新型的試驗(yàn)回路中，各回路阻抗基本相同；3、保證了晶閘管電路單元的同時合閘。
圖I為實(shí)施例中的50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置的電路圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型更明顯易懂，茲以一優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說明如下。如圖I所示，為本實(shí)用新型提供的一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置系統(tǒng)，包括由4-8個并聯(lián)的晶閘管組成的晶閘管電路單元，晶閘管電路單元的控制端連接晶閘管觸發(fā)電路，閘管觸發(fā)電路及晶閘管電路單元的輸出端同時連接信號處理單元，信號處理單元連接主控單元，主控單元分別連接開關(guān)電源、CPLD信號處理單元及觸摸屏。在主控單元上還擴(kuò)展有輸入輸出接口，并且該主控單元與上位機(jī)進(jìn)行通訊。本實(shí)用新型利用晶閘管觸發(fā)電路發(fā)觸發(fā)信號，此時信號處理單元經(jīng)過幾個周波后，發(fā)同步信號，減小了失真率，保證了所有晶閘管同時合閘，在采樣過程中，提高采樣率的方式是利用機(jī)構(gòu)執(zhí)行控制16位采樣頻率，在Ims內(nèi)有O. 95ms是在采樣過程，做到每個點(diǎn)采樣角度為O. 18度，達(dá)到了很高的采樣精度。還有一般的選相合閘角度裝置的修正系數(shù)只能做到±4度，而本實(shí)用新型的選相合閘角度裝置的修正系數(shù)已能達(dá)到I度。
權(quán)利要求1.一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于包括由4-8個并聯(lián)的晶閘管組成的晶閘管電路單元，晶閘管電路單元的控制端連接晶閘管觸發(fā)電路，閘管觸發(fā)電路及晶閘管電路單元的輸出端同時連接信號處理單元，信號處理單元連接主控單元，主控單元分別連接開關(guān)電源及CPLD信號處理單元。
2.如權(quán)利要求1所述的一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于在所述主控單元上擴(kuò)展有輸入輸出接口。
3.如權(quán)利要求1所述的一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于所述主控單元還連接觸摸屏。
4.如權(quán)利要求1所述的一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于所述主控單元與上位機(jī)進(jìn)行通訊。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種50kA短路試驗(yàn)用角度合閘試驗(yàn)裝置，其特征在于包括由4-8個并聯(lián)的晶閘管組成的晶閘管電路單元，晶閘管電路單元的控制端連接晶閘管觸發(fā)電路，閘管觸發(fā)電路及晶閘管電路單元的輸出端同時連接信號處理單元，信號處理單元連接主控單元，主控單元分別連接開關(guān)電源及CPLD信號處理單元。本實(shí)用新型具有如下有益效果本實(shí)用新型的技術(shù)改進(jìn)很好地彌補(bǔ)了現(xiàn)今的斷路器制造和研發(fā)中面臨的缺陷，并且，各回路阻抗基本相同，保證了晶閘管電路單元的同時合閘。
文檔編號G01R31/327GK202676840SQ20122024777
公開日2013年1月16日 申請日期2012年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月29日
發(fā)明者安平, 王愛國, 杜文, 江威, 徐獻(xiàn)清, 李新強(qiáng) 申請人:上海電器科學(xué)研究院, 上海電器科學(xué)研究所(集團(tuán))有限公司